「test data generation」を含む例文一覧(155)
＜前へ 1 2 3 4 次へ＞- A test specification generation processing part 9 extracts a data item concerned with test specification generation from the request specification file 2 (7), extracts a data item of the test scenario pass from the test scenario pass file 5 (8), automatically generates the test specification in an item other than a "judgement" item, and stores the generated data in a test specification file 3 (9).
テスト仕様生成処理部９は、要求仕様ファイル２からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出する(７)とともに、テストシナリオパスファイル５からテストシナリオパスのデータ項目を抽出して(８)、「判定」項目以外の項目にテスト仕様を自動生成し、テスト仕様ファイル３に生成したデータを格納する(９)。 - 特許庁 - The test data generation device previously stores basic test data wherein information related to a date is configured by a date function, substitutes information showing a test day inputted by an operator for the date function of the stored basic test data to generate the test data, and outputs the generated test data.
テストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、前記生成した前記テストデータを出力する。 - 特許庁 - The analysis means analyzes test image data acquired by reading a test image, detects a reference shadow generation region from a test image region that corresponds to the test image data based on the result of analyzing the test image data, and detects reference shadow image data that corresponds to the reference shadow generation region.
前記解析手段は、テスト画像の読み取りにより得られるテスト画像データを解析し、前記テスト画像データの解析結果に基づき、前記テスト画像データに対応するテスト画像領域から基準影発生領域を検出し、前記基準影発生領域に対応する基準影画像データを検出する。 - 特許庁 - To provide an efficient method and system for automatic test data generation for lookup tables.
ルックアップテーブルのための効率的な自動テストデータ発生方法およびシステムを提供する。 - 特許庁 - The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41.
トラフィック生成装置３２から試験サーバ装置４１へ試験トラフィックデータ５５を送信する。 - 特許庁 - The memory access circuit is provided with a test data generation circuit for generating test data and a memory access test control circuit for outputting a memory write test start signal in response to an external synchronizing signal.
メモリアクセス回路は、テストデータを生成するテストデータ生成回路と、外部同期信号に応答してメモリ書き込みテストスタート信号を出力するメモリアクセステスト制御回路とを具備する構成である。 - 特許庁 - The output data generation circuit generates a plurality of test output data each of which is synchronous with the corresponding writing test clock signal.
前記出力データ生成回路は、対応する前記書き込みテストクロック信号にそれぞれ同期した複数のテスト出力データを生成する。 - 特許庁 - To preclude a data of an indefinite value from being taken from an indefinite value generation circuit into a test result compression part therefor, in a scan test using the test result compression part.
テスト結果圧縮部を使用するスキャンテスト時に不定値発生回路からの不定値のデータがそのテスト結果圧縮部に取り込まれないようにする。 - 特許庁 - A test data generation part 13 generates test data simulating the link states between the respective nodes constituting the node group by integrating all the graph data generated by the graph data generation part 12 based upon the identification information by performing control such that the cluster generation processing and graph data generation processing are repeated as many times as multiplex association is possible.
テストデータ生成部１３は、クラスタ生成処理及びグラフデータ生成処理を多重帰属可能数繰り返すように制御することでグラフデータ生成部１２により生成された全てのグラフデータを識別情報に基づいて統合することで、ノード群を構成する各ノード間のリンク状態を模擬したテストデータを生成する。 - 特許庁 - Test data from a test data generation circuit 10 are alternatively supplied through a test channel selection circuit 12-1 to diffusion circuits 6-1 to 6-N and its diffusion output is derived through a test channel selection circuit 12-2 to a test data collation circuit 14.
試験データ生成回路１０からの試験データを試験チャネル選択回路１２−１を介して拡散回路６−１〜６−Ｎに択一的に供給し、その拡散出力を試験チャネル選択回路１２−２を介して試験データ照合回路１４へ導出する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TEST GENERATION FROM HYBRID DIAGRAMS WITH COMBINED DATA FLOW AND STATECHART NOTATION
データ・フロー及びステートチャート表記を組み合わせた混成図からの検査生成方法及び装置 - 特許庁 - A test data generation device 100 includes: a test case storage part 101 for storing test cases; a test input data generation part 102 for generating new test cases; a program execution part 103 for executing a program (hereafter called application 110) to be tested according to a test case; and a test case generating part 104 for generating new test cases.
上記課題を解決するために、テストデータ生成装置１００に、テストケースを記憶するテストケース記憶部１０１と、新たなテストケースを生成するテスト入力データ生成部１０２と、テストケースにしたがってテスト対象のプログラム（以下、「アプリケーション１１０」という）を実行させるプログラム実行部１０３と、新たなテストケースを生成するテストケース生成部１０４と、を備える。 - 特許庁 - The multivariable test function generation system 1 is provided with: a data for training recording means 2 for recording data for training; a multivariable test function generation means 3 for correcting classification data, based on the data for training, and for generating multivariable test functions, based on the corrected classification data; and a multivariable test function recording means 4 for recording the generated multivariable test functions.
多変数テスト関数生成システム１は、訓練用データを記録する訓練用データ記録手段２と、訓練用データに基づいて分類データの修正を行い、修正された分類データに基づいて多変数テスト関数を生成する多変数テスト関数生成手段３と、生成された多変数テスト関数を記録する多変数テスト関数記録手段４とを備えている。 - 特許庁 - In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data.
第１のクロックＣＫ１で動作するメモリ１０５をテストするために、第２のクロックＣＫ２で動作し、テストデータを生成する第１のテストパターン生成部１０１と、第２のクロックＣＫ２の反転クロックである第３のクロックＣＫ３で動作し、テストデータを生成する第２のテストパターン生成部１０２とを設ける。 - 特許庁 - To provide a print data generation device, a print data generation method and a program, capable of generating print data whose image can be partially printed as a test with the same print image as actual printing.
本印刷と同じ印刷画質で画像の一部を試し印刷可能な印刷データを生成できる印刷データ生成装置、印刷データ生成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a combination test data generation device for efficiently improving the quality of a computer system.
コンピュータシステムの品質向上を効率的に図るための組み合わせ試験データ生成装置を提供する。 - 特許庁 - In procedure 4, the captured test chart read data are sent to a color conversion characteristic generation server 18.
手順４は、この取り込まれたテストチャート読み取りデータを色変換特性生成サーバ１８に送信する。 - 特許庁 - An operation reproducing means 54 executes the same operation as that of the information processing means 51 on the basis of the test alarm data generated by the test data generation means 53.
動作再現手段５４は、テストデータ生成手段５３により生成されたテスト用アラームデータに基づいて、情報処理手段５１と同一動作を実行する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive and simple test magnetic recording signal generation device capable of writing magnetic data in which optional jitters are generated, a test bankbook preparation device, a test magnetic recording signal generation method, and a program.
任意のジッタを生じさせた磁気データを書き込むことが可能な安価で簡易なテスト用磁気記録信号発生装置、テスト用通帳作成装置、テスト用磁気記録信号発生方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - A waveform generation block generates a test signal output having the amplitude noises in the selected segment of the test signal in response to the digital data.
波形生成ブロックは、このデジタル・データを受けて、試験信号の選択されたセグメントに振幅ノイズのある試験信号出力を生成する。 - 特許庁 - Then, an educational material image data generation section 77 generates image data wherein the acquired solution information is added to the image data relevant to test materials.
次いで、教材画像データ生成部７７は、前記試験教材に係る画像データに対し、前記取得した解法情報を付加した画像データを生成する。 - 特許庁 - A generation processing part 11 generates, based on the input data item definition 3 and the function definition 4, the test item list 5 including test items and typical data for an item type contained in the input data item definition 3, and substitutes the input data 2 by the typical data, thereby generating output data 6 for performing a test based on the test item list 5.
生成処理部１は、入力データ項目定義３と機能定義４とに基づいて、入力データ項目定義３に含まれる項目タイプについてのテスト項目及び典型データを含むテスト項目リスト５を生成し、入力データ２を典型データで置換することにより、テスト項目リスト５に基づくテストを行うための出力データ６を生成する。 - 特許庁 - A memory tester distributes test pattern data generated by a pattern generation part 10 into a plurality of DUTs, and outputs the data from a driver 30 individually.
メモリテスタは、パターン発生部１０で生成した試験パターンデータを複数のＤＵＴに分配し、ドライバ３０から個別に出力する。 - 特許庁 - Further, a test data selection section 104 is disposed to selectively output one of test data output from the first and second test pattern generation sections 101 and 102 based on the signal value of the second clock CK2, and input it as test data to a memory 105.
さらに、第１のテストパターン生成部１０１および第２のテストパターン生成部１０２から出力されるテストデータのいずれか一方を、第２のクロックＣＫ２の信号値によって選択的に出力し、メモリ１０５へテストデータとして入力するテストデータ選択部１０４を設ける。 - 特許庁 - A waveform generation circuit generates the test signal having the packet group containing the PPDU in response to the digital data.
波形生成回路は、このデジタル・データを受けて、ＰＰＤＵを含むパケット・グループを有する試験信号を生成する。 - 特許庁 - The test generator then propagates a TRI stored in a TRI data structure through the diagram, and determines a test generation plate (430).
次いで、検査生成装置は、ＴＲＩデータ構造に格納されているＴＲＩを、線図を通して伝搬させ、検査生成テンプレートを決定する（４３０）。 - 特許庁 - To easily generate test data, to reduce repairing operation due to misinput in signal information generation, and to shorten a test time.
試験データを容易に作成し、また、信号情報作成時の誤入力による修復作業を軽減するとともに、試験時間の短縮化を図る。 - 特許庁 - The data generation program 30 reads a column definition file 60 (S1) to obtain a test data generation condition and generates real tables 110 and 120 (S3) by using outside data 50 and the like (S2) to store them in a database 40.
データ生成プログラム３０は、カラム定義ファイル６０を読み込んで（S1）、テストデータ生成条件を把握し、外部データ５０等を利用して（S2）、実テーブル１１０，１２０を生成し（S3）、データベース４０に記憶させる。 - 特許庁 - This multivariable test function generation system 1 is configured to generate multivariable test functions for classifying input data having the element data of a plurality of elements into a plurality of clusters.
本発明に係る多変数テスト関数生成システム１は、複数要素の要素データを有する入力データを複数のクラスに分類するための多変数テスト関数を生成するシステムである。 - 特許庁 - To provide a test data generation apparatus capable of generating test data approximated with the actual distribution of personal data while preventing an individual from being specified, by defining a part of data with which the individual can be specified, as a conversion target.
個人を特定可能なデータの一部を変換対象とすることにより、個人の特定を防止しつつ、実際の個人データの分布と近似になるようなテストデータの生成を可能とするテストデータ生成装置を提供する。 - 特許庁 - The generation instruction receiving means receives an instruction of data generation, the first data processor 2 converts personal data of the personal data storing means on the basis of the registered conversion rule and transfers generated test data to the second data processor 3.
生成指令受付手段がデータ生成の指令を受付け、第１データ処理装置２が、データ変換手段にて個人データ格納手段の個人データを登録された変換ルールに基いて変換し、生成したテストデータを第２データ処理装置３に転送する。 - 特許庁 - Data generated by a test data generation circuit 122 of a processing section 12 is sent as serial data to a transmission section 14, and transmitted as serial data to serial communication from the transmission section 14 to an external apparatus.
処理部１２のテスト用データ生成回路１２２で生成されたデータはシリアルデータとして送信部１４に送られ、送信部１４からシリアルデータとして外部装置にシリアル通信される。 - 特許庁 - To provide a test-data generation apparatus, by which the operation of a semiconductor device with reference to the input of data is evaluated at low costs and easily.
データの入力に対する半導体装置の動作評価を低コストで容易に実現するための試験用データ生成装置を提供する。 - 特許庁 - A data conversion part 2 modifies the input database generation information 11 and input data generation information 12 so that a confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested can be conducted.
データコンバート部２は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行うことができるように変更する。 - 特許庁 - A test data generation device performs processing for generating a large amount of test data corresponding to many document files including plural words, that is, data including word frequency and document frequency, on the basis of the so-called Monte Carlo method.
テストデータ作成装置は、所謂モンテカルロ法を基づいて、複数の単語を含む多数の文書ファイルに相当するテストデータ、つまり単語頻度及び文書頻度を含むデータを大量に作成する処理を行う。 - 特許庁 - A test scenario pass generation processing part 8 processes an event (series) of an event flow of the request specification file 2 while imaging the form of the test scenario pass (4), automatically generates a test scenario pass correspondingly to specified test strategy, and stores the generated data in a test scenario pass file 5 (5).
テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。 - 特許庁 - When a test selection signal S2 is inputted into a selection signal terminal (trigger terminal) of each selector of a test selection circuit part 7, the test selection circuit part 7 supplies a test signal inputted from a test selection signal generation part 6 to a data selection circuit part 3.
テスト用選択回路部７の各セレクタの選択信号端子（トリガ端子）へテスト用選択信号Ｓ２を入力すれば、テスト用選択回路部７はテスト用選択信号生成部６から入力されるテスト用信号をデータ選択回路部３へ供給する。 - 特許庁 - A calibration value generation part 14 generates a calibration value based on the optical environment, test image data and the calibration image.
キャリブレーション値生成部１４は、光環境とテスト画像データとキャリブレーション画像とに基づきキャリブレーション値を生成する。 - 特許庁 - A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.
テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁 - A reading part 500 reads and executes a scenario stored in a scenario DB, and generates test data(signal), and a model generation part 501 generates image data of a reference image used for the verification of a test result.
読込部５００は、シナリオＤＢに記憶されているシナリオを読み出して実行し、テストデータ（信号）を生成し、モデル生成部５０１は、テスト結果の検証に用いる基準画像の画像データを生成する。 - 特許庁 - A control part 11 of this test data generation system 10 specifies a character code included in a conversion range, for each record constituting production data.
テストデータ生成システム１０の制御部１１は、本番データを構成する各レコードにおいて、変換対象範囲に含まれる文字コードを特定する。 - 特許庁 - A waveform data generation unit 2 generates a waveform data DW which describes a test pattern signal to be fed to a DUT in synchronization with the rate signal RATE.
波形データ生成部２は、レート信号ＲＡＴＥと同期して、ＤＵＴに供給すべきテストパターン信号を記述する波形データＤＷを生成する。 - 特許庁 - In a data generation device, a database information acquisition unit or a screen information acquisition unit acquires a data type indicating an attribute of data for each data item used in a business application of a test target.
開示の装置は、データベース情報取得部又は画面情報取得部が、テスト対象の業務アプリケーションによって用いられるデータの項目ごとに、当該データの属性を示すデータ種別を取得する。 - 特許庁 - When a test application 22 is started, the communication script 18 is opened, and a transmission data generation part 20 analyzes the script according to a communication data format 19 and generates transmission data.
検査用アプリケーション２２が起動すると通信スクリプト１８を開き、送信データ生成部２０が通信データフォーマット１９に従ってスクリプトを解析し、送信データを生成する。 - 特許庁 - This system characteristically comprises: the random number generation means for generating the random number using at least one among the lot number of the test object, the number of wafer number, and the coordinate representing the position on the wafer; and the data collection means for selecting and collecting the test result data from the test result memory by the random number by the random data generation means.
本システムは、被試験対象のロット番号、ウェハ番号、ウェハ上の位置を示す座標の少なくとも１つを用いて乱数を発生する乱数発生手段と、この乱数発生手段の乱数により、試験結果記憶部から試験結果データを選択して収集するデータ収集手段とを備えたことを特徴とするシステムである。 - 特許庁 - Then, a test data generation unit generates test data for each data item according to at least one of the attribute indicated by the data type acquired by the database information acquisition unit or the screen information acquisition unit and the reference relation indicated by the reference information acquired by the database information acquisition unit.
そして、テストデータ生成部が、データの項目ごとに、データベース情報取得部又は画面情報取得部によって取得されたデータ種別の属性及び参照情報の参照関係のうち少なくとも一方に応じたテストデータを生成する。 - 特許庁 - A fast clock generating circuit, which generates fast clock signal of half a cycle of clock signal during normal operation and a fast data generation circuit, which generates fast scan data of half a cycle of scan data used for a scan path test are provided, and a scan path test is carried out by fast clock signal generated by a fast clock generation circuit and fast scan data generated in the fast data generation circuit.
通常動作時のクロック信号の半分の周期の高速クロック信号を生成する高速クロック生成回路と、スキャンパステストに使用するスキャンデータの半分の周期の高速スキャンデータを生成する高速データ生成回路とを設け、高速クロック生成回路で生成した高速クロック信号および高速データ生成回路で生成した高速スキャンデータによってスキャンパステストを行うように構成したものである。 - 特許庁 - A pattern recognition device, upon receiving a test object signal and data for selecting various types of prescribed events, generates an output signal 402 indicating the generation of all the selected events in the test object signal.
パターン認識器は、被試験信号と種々の所定イベントを選択するデータとを受け、被試験信号内の選択イベントの全ての発生を示す出力信号402を発生する。 - 特許庁 - To provide a pseudo call for a load test and a result-verifying information generation method, capable of easily generating data for verification and the pseudo call for the load test corresponding to a load after operation.
稼動後の負荷に相当する負荷テスト用擬似呼及び検証のためのデータを容易に生成可能な負荷テスト用擬似呼・結果検証用情報生成方法を提供する。 - 特許庁 - In a scan test mode, a second data fetching/holding means fetches and holds a scan test signal according to a control signal from the control signal generation means, and the first data fetching/holding means fetches and holds output from the second data fetching/holding means.
スキャンテストモード時には、制御信号発生手段からの制御信号により、第２のデータ取込保持手段はスキャンテスト信号を取り込み保持し、第１のデータ取込保持手段は、第２のデータ取込保持手段からの出力を取り込んで保持する。 - 特許庁
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