TESTDATA GENERATION SUPPORT PROGRAM AND TESTDATA GENERATION SUPPORT METHOD テストデータ作成支援プログラムおよびテストデータ作成支援方法 - 特許庁
CONTROL SYSTEM FOR DATA ON DRUG TEST 薬品試験データ管理システム - 特許庁
TDM DATA COMPARISON TEST CIRCUIT TDMデータ比較試験回路 - 特許庁
To provide a testdata generation system, a testdata generation method and a testdata generation program for efficiently generating testdata to be used in a test environment. テスト環境において用いるテストデータを効率的に生成するためのテストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを提供する。 - 特許庁
TEST DEVICE OF DATA STORAGE DEVICE AND TEST METHOD OF DATA STORAGE DEVICE データ記憶装置のテスト装置及びデータ記憶装置のテスト方法 - 特許庁
DATA WRITE-IN DEVICE, DATA WRITE-IN METHOD, TEST DEVICE, AND TEST METHOD データ書込装置、データ書込方法、試験装置、及び試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTDATA ANALYZING SYSTEM 半導体試験データ解析システム - 特許庁
A testdata comparing means 1g compares the received testdata with testdata attached by the testdata attaching means 1c. 試験データ比較手段1gは、受信された試験データと、試験データ付加手段1cによって付加された試験データとを比較する。 - 特許庁
The test print material is formed by printing the testdata after processing the testdata by means of the RIP. また、そのテストデータをRIPによって処理した後に印刷したテスト印刷物。 - 特許庁
TEST CELL GENERATING CIRCUIT AND TESTDATA GENERATING CIRCUIT 試験セル生成回路および試験データ生成回路 - 特許庁
TESTDATA GENERATION DEVICE AND METHOD テストデータ生成装置及び方法 - 特許庁
TESTDATA GENERATION METHOD AND SYSTEM テストデータ生成方法及びシステム - 特許庁
A testdata attaching means 1c attaches testdata to the first data frame and the second data frame. 試験データ付加手段1cは、第1のデータフレームと第2のデータフレームとに試験データを付加する。 - 特許庁
TEST EQUIPMENT AND TEST METHOD FOR OBTAINING MEASURED DATA 測定データを得るための試験装置及び試験方法 - 特許庁
TESTDATA GENERATING PROGRAM AND TAPE LIBRARY TEST PROGRAM 試験データ生成プログラムおよびテープライブラリ試験プログラム - 特許庁
To speed up a test processing or generation of testdata. 試験処理や試験データの生成を高速化すること。 - 特許庁
METHOD FOR PROCESSING TESTDATA OF SEMICONDUCTOR 半導体試験データ処理方法 - 特許庁
A testdata voltage is applied to the data lines through a data pad. データパッド部は、データラインに検査用データ電圧を印加する。 - 特許庁
TESTDATA GENERATION SYSTEM, TEST SYSTEM, TESTDATA GENERATING METHOD, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH RECORDED TESTDATA GENERATING PROGRAM, AND TESTDATA GENERATING PROGRAM テストデータ生成方式及び試験方式及びテストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体及びテストデータ生成プログラム - 特許庁
The testdata is received thereafter from the data document. 次いで、データ・ドキュメントからテキスト・データを受け取る。 - 特許庁
TEST TUBE HAVING DATA STORAGE FUNCTION データ保存機能を有するテストチューブ - 特許庁
Example 58-4. Ignoring test and data files
例 58-4テストファイルやデータファイルの無視 - PEAR
Testdata storing memory 6 stores the results of the test on the predetermined electric characteristics as testdata. テストデータ格納メモリ6は、この所定の電気的特性テストの結果をテストデータとして格納する。 - 特許庁
After the testdata is written in the DRAM array 100, data corresponding to the testdata is read. DRAMアレイ100にテストデータを書込んだ後、テストデータに対応するデータを読出す。 - 特許庁
To provide selective testdata log method and selective testdata log system for selectively logging to testdata. テストデータに選択的にログするための選択的テストデータログ方法および選択的テストデータログシステムを提供する。 - 特許庁
A testdata request section 21 requests a receiver side 2 to transmit testdata, and a testdata transmission section 12 transmits the testdata in response to the request. 試験データ要求部21は、受信側2に対して試験データを要求し、試験データ送出部12は、その要求に応じて試験データを送出する。 - 特許庁
DISPLAY SYSTEM FOR BOUNDARY SCANNING TESTDATA 境界走査テスト・デ—タ表示システム - 特許庁
PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA 印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ - 特許庁
DATA PROCESSOR AND TEST METHOD FOR DATA PROCESSOR データ処理装置及びデータ処理装置のテスト方法 - 特許庁
DATA PATTERN/TEST DATA GENERATION/STORAGE METHOD AND SYSTEM データパターン/テストデータ生成・蓄積方法及びシステム - 特許庁
DATA PROCESSING SYSTEM OF TEST EQUIPMENT USING IMAGE DATA 画像データを用いる検査装置のデータ処理システム - 特許庁
TEST CONDUCTING SYSTEM FOR DATA PROCESSOR データ処理装置の試験実行方式 - 特許庁
CONTENTS DATATEST METHOD AND SYSTEM コンテンツデータの試験方法およびシステム - 特許庁
IMMUNOGLOBULIN TESTDATA MANAGEMENT SYSTEM 免疫グロブリン検査情報管理システム - 特許庁
Creating a Sample Database with TestData テストデータを持つサンプルデータベースの作成 - NetBeans
・Testdata serving as basis for classification in GHS 3.5.2 ・GHS 3.5.2 分類の基礎となる試験データ - 経済産業省
A data manager may ensure variability in test case data. データマネージャは、テストケースデータの可変性を保証し得る。 - 特許庁
PIPING PRESSURE TESTDATA COLLECTION SYSTEM 配管耐圧試験データ収集システム - 特許庁
To provide a testdata generation device and a testdata generation method, allowing generation of testdata of an effective date. 有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供する。 - 特許庁
CALIBRATION DATA INPUT SYSTEM FOR TEST DEVICE 試験機器の較正データ入力システム - 特許庁
MEMORY DEVICE AND TESTDATA SETTING METHOD メモリ装置およびテストデータ設定方法 - 特許庁
PROGRAM AND DEVICE FOR GENERATING TESTDATA テストデータ生成用プログラム、および装置 - 特許庁
TESTDATA GENERATION SYSTEM, ITS PROGRAM, ITS RECORDING MEDIUM AND TESTDATA GENERATION METHOD テストデータ生成システム、そのプログラム、その記録媒体、及びテストデータ生成方法 - 特許庁
SOFTWARE FUNCTION TESTDATA PREPARATION PROGRAM, AND SOFTWARE FUNCTION TESTDATA PREPARATION METHOD ソフトウェア機能テストデータ生成プログラムおよびソフトウェア機能テストデータ生成方法 - 特許庁
A data transfer control circuit 15 is provided with a testdata register 151 holding temporarily testdata from the outside, and a test code register 152 holding temporarily a test code corresponding to the testdata. データ転送制御回路15は、外部からのテストデータを一時保持するテストデータレジスタ151と、このテストデータに対応するテストコードを一時保持するテストコードレジスタ152とを備える。 - 特許庁
Testdata is written on a test track to measure a second difference between the wobble reference signal and the testdata. テスト・データをテスト・トラック上に書き込んで、ウォブル基準信号とテスト・データとの第2の差を測定する。 - 特許庁
This self-test circuit responds to an external test activating signal WBIZ and activated, generates a test operation command WBI-CMD, generates a test address WBI-ADD, and generates a testdata WBI-DATA. この自己試験回路は、外部からの試験活性化信号WBIZに応答して活性化し、試験動作コマンドWBI-CMDを発生し、試験アドレスWBI-ADDを発生し、試験データWBI-DATAを発生する。 - 特許庁
The testdata generator 200 can be utilized in an automatic test system. このテストデータ発生器200は自動テストシステムに利用できる。 - 特許庁
METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁
IC TEST SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD IN IC TEST SYSTEM ICテストシステム及びICテストシステムにおけるデ—タ転送方法 - 特許庁