「test function」を含む例文一覧(984)

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  • INTERNAL OPERATION CLOCK GENERATION CIRCUIT PROVIDED WITH TEST FUNCTION
    テスト機能を備えた内部動作クロック生成回路 - 特許庁
  • Examination of Design Document, Function Test and Other Methods
    設計書類の審査、機能試験その他の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • PORTABLE INTERNET ANALYZER HAVING HANDOVER TEST FUNCTION
    ハンドオーバテスト機能を有する携帯インターネット計測器 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD FOR PERITONEAL FUNCTION AND IMMUNOCHROMATO TEST PAPER FOR EVALUATING PERITONEAL FUNCTION
    腹膜機能の評価方法および腹膜機能評価用イムノクロマト試験紙 - 特許庁
  • AC MEASURING CIRCUIT USING FUNCTION OF BOUNDARY SCAN TEST
    バウンダリ・スキャン・テスト機能を用いたＡＣ測定回路 - 特許庁
  • TEST SYSTEM FOR ADDRESS MULTIPLEXER MEMORY WITH SERIAL ACCESS FUNCTION
    シリアルアクセス機能付きアドレスマルチプレクサメモリのテスト方式 - 特許庁
  • DC BURN-IN TEST OF DRAM WITH SELF-REFRESH FUNCTION
    自己リフレッシュ機能付きＤＲＡＭのＤＣバ—ンイン・テスト - 特許庁
  • IC TEST APPARATUS WITH WRONG SETTING DETECTION FUNCTION
    誤設定検出機能を具備したＩＣ試験装置 - 特許庁
  • TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS HAVING SELF-TESTING FUNCTION
    自己試験機能を有する電子装置の試験方式 - 特許庁
  • WDM TYPE OPTICAL FIBER GYRO WITH SELF-TEST FUNCTION
    セルフテスト機能付きＷＤＭ方式光ファイバジャイロ - 特許庁
  • The class relationships define the function of the electronic test system.
    クラス関係は、電子テストシステムの機能を定義する。 - 特許庁
  • The setUp function can access the test globals as the globs attribute of the test passed.Optional argument tearDown specifies a tear-down function for the test suite.
    setUp はglobs 属性を介してテストのグローバル変数にアクセスできます。 オプション引数 tearDown には、テストを解体 (tear-down) するための関数を指定します。 - Python
  • To improve test efficiency of a unit test of software by automatically generating a stub function mounted with an interface of input/output between a lower function called by a function of a test target and the function of the test target, in the unit test of the software using the stub function.
    スタブ関数を用いたソフトウェアの単体試験において、試験対象の関数が呼び出す下位関数と試験対象の関数との間の入出力のインターフェースを実装したスタブ関数を自動的に生成することにより、ソフトウェアの単体試験の試験効率を向上させること。 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT PREPARING METHOD USING ANALOG FUNCTION DESCRIPTION
    アナログ機能記述を利用したテスト回路作成方法 - 特許庁
  • AUTOMATIC NETWORK ANALYZER WITH NOISE/NPR TEST FUNCTION
    雑音／ＮＰＲ試験機能を有する自動ネットワークアナライザ - 特許庁
  • FLIP-FLOP CIRCUIT WITH SCANNING FUNCTION, AND SCANNING TEST CIRCUIT
    スキャン機能付きフリップフロップ回路およびスキャンテスト回路 - 特許庁
  • To reduce the number of timing sets in a test pattern for a tester without lowering test accuracy of a function test by a tester.
    テスタによる機能テストのテスト精度を低下させずに、テスタ用テストパタンにおけるタイミングセット数を削減する。 - 特許庁
  • The new technology is applicable for a full-function test system, a low-cost test circuit, and an on-chip test circuit.
    この新規な技術は、フル機能のテストシステム、低コストのテスト回路、及び、オンチップテスト回路に適用可能である。 - 特許庁
  • A self-test corresponding to a security function of an information processor is performed, and a security function for which self-test has failed and a function relating to the security function for which self-test has failed are made unavailable.
    情報処理装置のセキュリティ機能に対応した自己テストを実施し、自己テストに失敗したセキュリティ機能と自己テストに失敗したセキュリティ機能に関連した機能とを利用不可能にする。 - 特許庁
  • The operations of the respective test functions are controlled by describing a command, which designates the communication protocol in the communication test function, in the test program described using a command for designating the operations of the in-circuit test function and the function test function.
    そしてインサーキットテスト機能およびファンクションテスト機能の動作をそれぞれ指定するコマンドを用いて記述されるテストプログラム中に、通信テスト機能における通信プロトコルを指定するコマンドを記述することで、前記各テスト機能の作動をそれぞれ制御する。 - 特許庁
  • To test an infrared emitting function and an infrared light receiving function in equipment having an infrared communication function.
    赤外線通信機能を有する機器において、赤外線の発光機能と受光機能のテストを行う。 - 特許庁
  • Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit.
    アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。 - 特許庁
  • To provide a function for arbitrarily adding a test execution part without changing a test algorithm.
    テストアルゴリズムの変更無しでテスト実行部を任意に追加する機能を提供する。 - 特許庁
  • FLIP-FLOP CIRCUIT WITH SCANNING FUNCTION, SCANNING TEST CIRCUIT, AND SCANNING TEST CIRCUIT WIRING METHOD
    スキャン機能付フリップフロップ回路およびスキャンテスト回路ならびにスキャンテスト回路配線方法 - 特許庁
  • To achieve a memory test device which can test a memory provided with a DBI function.
    ＤＢＩ機能を備えたメモリを試験することが可能なメモリ試験装置を実現する。 - 特許庁
  • LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD
    無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁
  • To provide a function test method of an electronic control device for a vehicle capable of shortening a time required for a function test.
    機能検査に要する時間を短縮可能な車両用電子制御装置の機能検査方法を提供する。 - 特許庁
  • FLOORING MADE OF FIBER AND TEST METHOD FOR ITS STATIC ELECTRICITY-PREVENTIVE FUNCTION
    繊維製床敷物及びその除電性能試験方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE WITH TEST SIGNAL MONITORING FUNCTION, AND REMOTE TESTING SYSTEM
    検査信号モニタ機能付き検査装置とリモート検査システム。 - 特許庁
  • FUNCTION VERIFICATION DEVICE, TEST BENCH, SIMULATOR PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
    機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁
  • The test init function obtains a photomap using ICP - EP.
    テストの初期化関数は、ICP ->EP を用いてフォトマップを取得する。 - XFree86
  • To provide a function verification system efficiently generating high quality test items, test specifications, and test groups for function verification of a logic circuit.
    論理回路の機能検証用のテスト項目、テスト仕様、テスト群を高品質かつ高効率に作成すること等を可能とした機能検証システムを提供する。 - 特許庁
  • A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.
    インサーキットテスト機能１１と、ファンクションテスト機能１２と、通信テスト機能１３とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段１４とを備える。 - 特許庁
  • To provide a Web application function test terminal that can execute a multiple Web application function test despite a low throughput.
    処理能力が低くてもWebアプリケーション機能試験を多重化して実施できるWebアプリケーション機能試験端末を提供する。 - 特許庁
  • MATCHING CIRCUIT DEVICE WITH CELL TEST FUNCTION FOR PREVENTING STATIC DISCHARGE
    セルテスト機能を具えた静電放電防護整合回路装置 - 特許庁
  • TELEVISION DEVICE WITH VISUAL ACUITY TEST FUNCTION, AND VIDEO DISPLAY DEVICE
    視力検査機能付きテレビジョン装置および映像表示装置 - 特許庁
  • ELECTRONIC DICTIONARY PROVIDED WITH CONFIRMATION TEST FUNCTION AND ITS CONTROLLING METHOD
    確認テスト機能を備えた電子辞書及びその制御方法 - 特許庁
  • REPEATER WITH REMOTE TEST FUNCTION AND AUTOMATIC FIRE ALARM SYSTEM
    遠隔試験機能付き中継器及び自動火災報知システム - 特許庁
  • RESPIRATION FUNCTION TEST APPARATUS AND RESPIRATION RATE DATA ANALYSIS PROGRAM
    呼吸機能検査装置及び呼吸流量データ解析プログラム - 特許庁
  • INTERCOM WITH REMOTE TEST FUNCTION FOR MULTIPLE DWELLING HOUSE AND CAMERA INTERCOM
    集合住宅用遠隔試験機能付ドアホン及びカメラドアホン - 特許庁
  • MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER
    セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁
  • To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.
    誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING TEST FUNCTION AND MANUFACTURING METHOD
    テスト機能を有する半導体集積回路および製造方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE EQUIPPED WITH RADIO CONTROL TEST FUNCTION
    無線制御テスト機能を備えた半導体集積回路装置 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device which can test a programmable impedance control function simultaneously with a function test of a device.
    デバイスのファンクションテストと同時にプログラマブル・インピーダンス制御機能の試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • An address after scramble is recorded in a test result recording section 11c as a result of a function test.
    スクランブル後のアドレスは、ファンクションテスト結果としてテスト結果記録部１１ｃに記録される。 - 特許庁
  • mysql CREATE TABLE test (test VARCHAR(20), foobar VARCHAR(2));ERROR 1044: Access denied for user: 'guest@localhost' to database 'gentoo' As you can see, this function fails, as our user does not have the appropriate access.
    ご覧のように、適切なアクセス権を持っていないので失敗しました。 - Gentoo Linux
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING SCAN TEST FUNCTION, AND SCAN TEST METHOD THEREFOR
    スキャンテスト機能を有する半導体集積回路及び半導体集積回路のスキャンテスト方法 - 特許庁
  • BUILT-IN TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF INITIALIZATION TEST OF SYNCHRONOUS CIRCUIT HAVING SCAN FUNCTION, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN DATA
    ビルトインテスト回路、集積回路装置、スキャン機能付き同期回路の初期化テスト方法、およびテストパターンデータの生成方法 - 特許庁
  • The test execution device 500 delivers input data to the test target device 402 to the function of the test program to execute the test program, and notifies the test management device 600 about an execution situation thereof.
    そして、試験対象装置４０２への入力データをテスト・プログラムの関数に渡すことによりテスト・プログラムを実行し、その実行状況を試験管理装置６００へ通知する。 - 特許庁
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