「test generation method」を含む例文一覧(188)
＜前へ 1 2 3 4 次へ＞- AUTOMATIC FUNCTIONAL TEST PROCEDURE GENERATION METHOD AND GENERATION SYSTEM
機能テスト手順自動生成方法およびその自動生成システム - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION SYSTEM AND METHOD
テストパタン生成システム、及びテストパタン生成方法 - 特許庁 - TEST DATA GENERATION SYSTEM AND METHOD
テストデータ生成システム及びテストデータ生成方法 - 特許庁 - TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD
テストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法 - 特許庁 - To provide a scan base ATPG (automatic test pattern generation) test circuit and test method, and a scan chain reconfiguration method.
スキャンベースＡＴＰＧテスト回路、テスト方法及びスキャンチェーン再配置方法を提供する。 - 特許庁 - TEST DATA GENERATION SYSTEM AND METHOD THEREFOR AND RECORD MEDIUM RECORDING TEST DATA GENERATION PROGRAM
テストデータ生成システム及び方法並びにテストデータ生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - CHARGE SHARING TEST VECTOR GENERATION METHOD AND SYSTEM
電荷分散試験ベクトル発生方法及びシステム - 特許庁 - METHOD FOR COMPENSATING HEAT GENERATION OF SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST HANDLER
半導体素子テストハンドラの発熱補償方法 - 特許庁 - TEST COMMAND FILE GENERATION SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM
テストコマンドファイル作成システムと方法およびプログラム - 特許庁 - TRACKING GENERATOR AND TEST SIGNAL GENERATION METHOD
トラッキング発生器及び試験信号発生方法 - 特許庁 - TEST CASE GENERATOR, AND TEST CASE GENERATION PROGRAM AND METHOD
テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、およびテストケース生成方法 - 特許庁 - DATA PATTERN/TEST DATA GENERATION/STORAGE METHOD AND SYSTEM
データパターン／テストデータ生成・蓄積方法及びシステム - 特許庁 - CAN SEAM GAP GENERATION TEST METHOD AND DEVICE
缶のシームギャップ発生試験方法およびその装置 - 特許庁 - VIDEO TEST SYSTEM, AND VIDEO SEQUENCE DATA GENERATION METHOD
ビデオ・テスト・システム及びビデオ・シーケンス・データ発生方法 - 特許庁 - MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION DEVICE, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION SYSTEM, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING MULTIVARIABLE TEST FUNCTION
多変数テスト関数生成装置、多変数テスト関数生成システム、多変数テスト関数生成方法および多変数テスト関数を生成するためのプログラム - 特許庁 - To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.
ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁 - AUTOMATIC TEST GENERATION SYSTEM AND METHOD FOR WEB APPLICATION
ウェブアプリケーションの自動テスト生成システム及び方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TEST DATA GENERATION
試験データ作成装置および試験データ作成方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATION OF TEST PATTERN
半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム - 特許庁 - AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATOR, AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATING METHOD, AND AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION PROGRAM
テストプログラム自動生成装置、テストプログラム自動生成方法及びテストプログラム自動生成プログラム - 特許庁 - CIRCUIT, METHOD, AND APPARATUS FOR BURN-IN TEST AND PATTERN GENERATION PROGRAM
バーンインテスト回路、方法、装置、及びパターン生成プログラム - 特許庁 - TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS
電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁 - METHOD OF CREATING INITIAL INPUT VECTOR OF TEST GENERATION CIRCUIT
テスト発生回路の初期入力ベクトルの作成方法 - 特許庁 - METHOD FOR SETTING TEST SEQUENCE AND PARAMETER OF TEST SIGNAL, AND SIGNAL GENERATION DEVICE
試験信号の試験シーケンス及びパラメータ設定方法及び信号生成装置 - 特許庁 - COMBINATION TEST DATA GENERATION DEVICE AND OPERATION METHOD THEREOF
組み合わせ試験データ生成装置およびその動作方法 - 特許庁 - TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD AND PROGRAM
テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム - 特許庁 - DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR INPUT DATA GENERATION FOR TEST
テスト用入力データ生成装置及び方法及びプログラム - 特許庁 - METHOD FOR TEST PROGRAM GENERATION, APPARATUS THEREFOR AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
試験プログラム生成方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁 - The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.
テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁 - To provide a test pattern generation device for automatically generating a test pattern without using a test pattern generation method and device related to an ATPG.
ＡＴＰＧに係るテストパターン生成方法・装置を用いずに、自動的にテストパターンを生成するテストパターン生成・装置を提供する。 - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION, FAILURE DETECTION RATE CALCULATING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION, AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD
テストパターン作成及び故障検出率算出装置並びにテストパターン作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁 - To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁 - PSEUDO ROAD SURFACE GENERATION DEVICE FOR VEHICLE TEST, AND RUNNING TEST METHOD OF AUTOMOTIVE VEHICLE
車両試験用疑似路面発生装置及び自走式車両の走行試験方法 - 特許庁 - TEST CASE GENERATING DEVICE AND ITS METHOD AND MEDIUM FOR RECORDING TEST CASE GENERATION PROGRAM
テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING TEST PATTERN AND RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN GENERATION PROGRAM RECORDED
テストパタン生成方法および装置ならびにテストパタン生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - CLOCK GENERATION CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体試験用クロック生成回路、半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR AUTOMATIC TEST DATA GENERATION FOR LOOKUP TABLE
ルックアップテーブルのための自動テストデータ発生方法およびシステム - 特許庁 - TEST METHOD FOR REPRODUCING TROUBLE GENERATION STATE OF DISK ARRAY DEVICE
ディスクアレイ装置における障害発生時の再現テスト方法 - 特許庁 - DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR SUPPORTING TEST SPECIFICATION GENERATION AND RECORDING MEDIUM
テスト仕様生成支援装置、方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁 - To provide a test program generation device and a test program generation method capable of inputting a parameter corresponding to a template of the test program.
テストプログラムのテンプレートに応じて、パラメータが入力できるテストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法を実現することを目的にする。 - 特許庁 - METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE
電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR SOLVING TEST GENERATION PROBLEM
テスト生成問題解決システム及びテスト生成問題解決方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT
半導体集積回路のテスト方法及びテストパターン発生回路 - 特許庁 - To provide a pattern generation circuit of a BIST(build in self test) circuit capable of generating a prescribed test pattern in a small area by reducing the number of test pattern generation circuits, and a test pattern generation method for the BIST circuit.
テストパターン発生回路の数を減じることにより、小面積で所定のテストパターンを発生することができるＢＩＳＴ回路のパターン発生回路及び発生方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test pattern generation managing system for easy storing and managing of the test pattern of a semiconductor memory, and to provide a test pattern generation management method for the semiconductor memory.
半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システムおよび半導体メモリのテストパターン生成管理方法を提供する。 - 特許庁 - TEST DATA GENERATION SYSTEM, TEST SYSTEM, TEST DATA GENERATING METHOD, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH RECORDED TEST DATA GENERATING PROGRAM, AND TEST DATA GENERATING PROGRAM
テストデータ生成方式及び試験方式及びテストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体及びテストデータ生成プログラム - 特許庁 - IMAGE PROCESSING UNIT, METHOD OF GENERATING CHART, TEST CHART, AND CHART GENERATION PROGRAM
画像処理装置、チャート生成方法、テストチャート及びチャート生成プログラム - 特許庁 - METHOD FOR ADDING AMPLITUDE NOISE TO TEST SIGNAL AND SIGNAL GENERATION DEVICE
試験信号に振幅ノイズを加える方法及び信号生成装置 - 特許庁 - TEST MAGNETIC RECORDING SIGNAL GENERATION DEVICE, AND PREPARATION METHOD AND PROGRAM FOR THE SAME
テスト用磁気記録信号発生装置、該作成方法及び該プログラム - 特許庁 - To provide a test pulse generation method and a system for testing an electronic apparatus.
電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステムの提供。 - 特許庁
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