「test items」を含む例文一覧(212)

1 2 3 4 5 次へ＞
  • Test items include "priority" and "test time" necessary for test execution, and when a test item document is created, the test items whose priority is high are extracted first.
    試験項目に「優先度」と試験実施に必要な「試験時間」を設け、試験項目書作成時に、優先度が高い試験項目から先に抽出する。 - 特許庁
  • To improve test efficiency by facilitating association between test items and communication logs which become the basis for acceptance/rejection determination of test items when a communication test is performed.
    通信テストを行う際に、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定の根拠となる通信ログとの対応付けを容易にして、テスト効率を向上させる。 - 特許庁
  • To prevent an explosive increase in test items to be generated.
    生成されるテスト項目の爆発的増加を防ぐ。 - 特許庁
  • To provide a method for obtaining a test order of test items easily in a short time, by which the total test time becomes shortest, in an integrated circuit test constituted by plural test items.
    複数のテスト項目で構成される集積回路のテストに於いて、総テスト時間が最短となるテスト項目の試験順序を短時間で容易に求める手法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test support device, capable of easily forming a test item list 5 composed of test items in software test.
    ソフトウェアのテストにおけるテスト項目からなるテスト項目リスト５を容易に作成することができるテスト支援装置を提供する。 - 特許庁
  • To enable execution of test cases (items) for a test object program without omission.
    テスト対象プログラムに対するテストケース（項目）を漏れなく実施することを可能にする。 - 特許庁
  • Test condition items are managed in association with a request transmitted from a test execution terminal.
    テスト条件項目をテスト実施端末から送信されるリクエストと関連付けて管理する。 - 特許庁
  • A communication tester is provided with a test item management section 11 which stores test items and the acceptance/rejection determination of the test items by associating the date and time of the acceptance/ rejection determination.
    通信テスタに、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定と、その合否判定の日時とを対応付けて記憶するテスト項目管理部１１を設ける。 - 特許庁
  • The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items.
    複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。 - 特許庁
  • To provide a test management server or the like that efficiently executes a test by redistributing test items according to a test result.
    試験結果に応じて試験項目の再分配を行うことで、試験を効率よく実行することができる試験管理サーバ等を提供する。 - 特許庁
  • A test pattern data generating part 11 generates test pattern data based on the combination of simultaneously settable test items among test items stored in a test item matrix file 21.
    試験パターンデータ生成部１１は、試験項目マトリックスファイル２１に記憶されている試験項目の組合せのうち、同時に設定することが可能な試験項目の組合せに基づいて試験パターンデータを生成する。 - 特許庁
  • The test piece is adjusted to the area size required for performing tests on the plurality of test items.
    試験片は複数の試験項目の実施に必要な面積サイズに調製したものを使用する。 - 特許庁
  • When unverified items exist in the one chip verification (ST11) among the items 25 to be verified (in the case of NO), test items to verify the items are added to the test bench 12 (ST13).
    検証すべき項目２５のうち１チップ検証（ＳＴ１１）において検証していない項目がある場合（ＮＯの場合）、この項目を検証するためのテスト項目をテストベンチ１２に追加する（ＳＴ１３）。 - 特許庁
  • The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data.
    テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。 - 特許庁
  • To provide test progress management method and system by which the change of the transition relation of test items is suppressed to absolute minimum even in the case that the test items are changed during a test and a person easily performs the operations of increasing/decreasing the test items and changing a performance order or the like.
    テスト中にテスト項目の変更が発生した場合でも、テスト項目の遷移関係の変更を最小限に抑え、かつ、人がテスト項目の増減や実施順序の変更などの操作を行いやすいテスト進捗管理方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
  • To verify types of test/operation items without recognizing them.
    試験／動作項目の種類を認識することなく検証すること。 - 特許庁
  • To provide a software test item selecting device which efficiently selects test items to be retested from already performed test items in consideration of an uncorrected fault module.
    未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、再試験すべき試験項目を効率的に選択するソフトウェア試験項目選択装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.
    板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁
  • The personal computer acts like an entry section that enters test items of the mobile telephone system and a control section that executes the test to automatically take care of the test items and to record the test result.
    パーソナルコンピュータの役割は、携帯電話システムの試験項目を入力する入力部と試験を実施する制御部によって自動的に試験項目を消化し、試験結果を記録する。 - 特許庁
  • The test item determining portion 226 determines whether all testers are available for test items.
    試験項目判断部２２６は、各試験項目で使用する測定器が全て使用可能か否か判断する。 - 特許庁
  • To support software development by linking operation specifications of software with test items in a system test.
    ソフトウェアの操作仕様とシステムテストにおけるテスト項目とを連携させてソフトウェアの開発を支援する。 - 特許庁
  • To automatically extract test items in just proportion when a software test is performed.
    ソフトウェア試験を実施する際、試験項目を過不足なく自動的に抽出することができるようにする。 - 特許庁
  • Validate your test users: If you want your test users to sell items on eBay, you will need to validate them.
    テストユーザの認証 テストユーザに eBay 上で出品させたいのなら、そのユーザを認証する必要があります。 - PEAR
  • To provide an apparatus for analyzing and displaying clinical test data that is capable of clearly extracting any hidden relationship between items of the clinical test data using small test items, and detecting undetected diseases.
    臨床検査データの項目間の隠れた関係を、少ない検査項目で明確に抽出し、未病を検知することができる臨床検査データ解析表示装置を提供する。 - 特許庁
  • To extract threshold value test items (test path) with high correctness including an upper limit value, a vicinity value, and an abnormal value, and only items sufficiently needed for threshold value test in the early stage of development.
    正当性が高く、上限値、近傍値、異常値を含む限界値テスト項目（テスト経路）、また、限界値テスト用に十分必要なテスト項目のみを、開発段階の早期に抽出する。 - 特許庁
  • To provide a test sequence determination method capable of preventing a throughput of a test from getting low caused by fluctuation of a fraction defective in test items in every production lot, as to test sequence determination for a device, saying in detail, when a test for the device such as a semiconductor and a magnetic head comprises the plurality of test items.
    デバイスの試験順序決定に関し、より詳細には半導体や磁気ヘッドなどのデバイスの試験が複数の試験項目からなる場合に、製造ロット毎の試験項目に対する不良率変動に起因する試験のスループット低下を防ぐための試験順序最適化に関する。 - 特許庁
  • To apply the cause and effect graph technique, that is a hardware test technique, to the generation of hardware test items.
    ソフトウェア・テストの技法である「原因−結果グラフ」技法をハードウェアのテスト項目生成にも適用可能とすること。 - 特許庁
  • To provide a software test method for effectively detecting a failure by using of a small number of test items.
    少ない試験項目で効果的に不具合を検出することの可能なソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test item preparation aiding device capable of preparing test items necessary for a test of an object directional program with less manhour.
    オブジェクト指向プログラムのテストに必要なテスト項目を少ない工数で作成することができるテスト項目作成支援装置を提供すること。 - 特許庁
  • When one of a plurality of test items is specified, a test device 19 generates a test code and a test item identification code corresponding to the specified item to generate a modulated test signal T.
    試験装置１９では、複数のテスト項目の１つを指定すると、テスト符号と指定テスト項目に応じたテスト項目識別符号が生成され、被変調試験信号Ｔが生成される。 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST ITEMS OF SEMICONDUCTOR WAFERS AND ITS SYSTEM
    半導体ウエーハの電気的特性テスト項目の評価方法およびそのシステム - 特許庁
  • A virtual test is performed in a planning level, and the pertinent number of test items is displayed for each level sub-divided into 5 levels as virtual test situations and reliability degrees as the test result, and detail items and identification numbers or the like are displayed especially for the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.
    企画段階で仮想試験を行い、その結果として、仮想試験状況と信頼度として５段階に細分化された各レベル毎に該当する試験項目数が表示され、特にレベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については詳細な項目及び識別番号などが表示される。 - 特許庁
  • As a result, the number of test items to be test NG can be reduced, thereby reducing the number of test items to be visually confirmed by a tester and performing an effective test to determine whether or not degradation is generated.
    この結果、検証ＮＧとなる試験項目数を減らすことができるので、試験者が目視確認を行う試験項目数を減らすことができ、デグレードが発生しているか否かを効率的に検証することが可能になる。 - 特許庁
  • The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.
    被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁
  • A redundancy relieving previous test having plural test items is performed, a test result of the redundancy relieving previous test is analyzed, and a test item of a redundancy relieving post test being performed successively is selected based on the analyzed result.
    複数の試験項目による冗長救済前試験を行い、冗長救済前試験の試験結果を解析し、その解析結果に基づいて、続いて行われる冗長救済後試験の試験項目を選択する。 - 特許庁
  • A passing module information storing means 105 associates a module where processing passes when a test of a plurality of test items is executed for the uncorrected source code with the test items to store the module.
    通過モジュール情報記憶手段１０５は、修正前のソースコードに対して複数のテスト項目のテストを実行した際に処理が通過するモジュールを、テスト項目と対応付けて記憶する。 - 特許庁
  • Then, a test specification preparing part 14 prepares a unit test specification C in which the inspection items extracted by the test item extracting part 13 are listed.
    そして、テスト仕様書作成部１４が、このテスト項目抽出部１３により抽出された検査項目を列挙した単体テスト仕様書Ｃを作成する。 - 特許庁
  • To provide a function verification system efficiently generating high quality test items, test specifications, and test groups for function verification of a logic circuit.
    論理回路の機能検証用のテスト項目、テスト仕様、テスト群を高品質かつ高効率に作成すること等を可能とした機能検証システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a radiation monitor device that greatly shorten a test time, and changes test items according to circumstances by automatically and sequentially optimizing the frequency of a test pulse.
    テスト時間を大幅に削減し、テストパルスの周波数を自動で逐次最適化してテスト項目を臨機応変に変更可能な放射線監視装置を得る。 - 特許庁
  • To generate test items for performing a security test without manufacturing an IC in which a program is written.
    プログラムを書き込んだＩＣを製造することなくセキュリティ試験を行うための試験項目を生成することができる。 - 特許庁
  • The instruction output part 16 creates a test instruction, in which test items corresponding to the decided element work are written.
    指示書出力部１６は、決定された要素作業に対応する検査項目を記載した検査指示書を作成する。 - 特許庁
  • To provide a test sequencer software application for managing and executing sequence items.
    シーケンス項目の管理と実行のためのテストシーケンサソフトウェアアプリケーションを提供する。 - 特許庁
  • To obtain a light beam path testing device with a simple structure, without reducing test items.
    試験項目を減らすことなく簡易な構成の光線路試験装置を実現する。 - 特許庁
  • (xviii)-3 Test equipment, calibration equipment, or alignment equipment for those listed in preceding two items
    十八の三　前二号に掲げるものの試験装置、校正装置又は心合わせ装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Thereafter, the monitoring test specimens 7 are used to acquire data related to predetermined items.
    その後、モニタリング供試体７を用いて、所定の項目についてのデータを取得する。 - 特許庁
  • To support improvement in the level of proficiency in technical knowledge of each constructor by making the constructor of work perform test items following a test instruction and evaluating achievement of element work based on the test items.
    工事の施工者に検査指示書に従う検査項目を実施させ、要素作業の実施実績を検査項目により評価することにより各施工者ごとの技術知の習熟度の向上を支援する。 - 特許庁
  • A function definition 4 is a file which defines a test function of software 300 and includes test items to be executed predetermined for each item type and typical data effective for confirming execution results of the test items concerned.
    機能定義４は、ソフトウェア３００のテストの機能を定義するファイルであって、項目タイプ毎に予め定められた実施すべきテスト項目及び当該テスト項目の実施結果の確認に有効な典型データを含む。 - 特許庁
  • To provide a relief analysis device for a semiconductor memory for performing a relief analysis after the test of all test items is completed.
    全テスト項目のテスト完了後に救済解析を行なうようにした半導体メモリの救済解析装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test item generation device extracting a test item from a branch condition of control of specification information, and generating test item combination information wherein a combination of the extracted test items is optimized.
    仕様情報の制御の分岐条件からテスト項目し、抽出したテスト項目の組合せを最適化したテスト項目組合せ情報を生成するテスト項目生成装置を得ること。 - 特許庁
  • Each test items of the generated test specification is collated with the facility change information to create a test terminal which determines a result of the test, thereby automating the full-point test of the display device screen.
    上記で生成した試験仕様書の各試験項目と、設備変化情報を照合することによって、試験結果を判定する試験端末を作成することにより、表示装置画面の全点試験の自動化を実現する。 - 特許庁
1 2 3 4 5 次へ＞

例文データの著作権について