「test loop」を含む例文一覧(130)

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  • LOOP BACK TEST CIRCUIT
    ループバック試験回路 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT FOR PHASE LOCKED LOOP CIRCUIT
    フェーズロックドループのテスト回路 - 特許庁
  • MEDIA CONVERTER, LOOP TESTING METHOD, AND LOOP TEST PROGRAM
    メディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラム - 特許庁
  • CLOCK SWITCHING DEVICE IN CASE OF LOOP TEST
    ループ試験時のクロック切替装置 - 特許庁
  • To automate a hardware-in-the-loop test.
    ハードウェア・イン・ザ・ループ試験を自動化する。 - 特許庁
  • RADIO BASE STATION UNIT AND LOOP BACK TEST METHOD
    無線基地局装置および折り返し試験方法 - 特許庁
  • RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT FOR LOOP-BACK SELF-TEST
    ループバック自己検査用無線周波数集積回路 - 特許庁
  • SIGNAL TRANSMISSION/RECEPTION APPARATUS, CIRCUIT AND LOOP- BACK TEST METHOD
    信号送受信装置、回路、およびループバックテスト方法 - 特許庁
  • To provide a method and a system of loop back test by which a loop back test is executed between devices in a LAN (local area network).
    ＬＡＮ内の装置間でループバックテストを実行することができるループバックテスト方法及びループバックテストシステムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device that facilitates an external loop-back test.
    外部ループバックテストが容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • The bridge terminal which transmits the several loop test messages detects that a loop does not exist, if the loop test messages do not return after a prescribed time period.
    幾つかのループ試験メッセージを送信したブリッジ端末は、所定の時間期間の後にループ試験メッセージが戻らなければループがないことを検出する。 - 特許庁
  • A communication node 2, which receives such a loop test signal LT, applies information P(2,1) 62 of the present receiving port to the received loop test signal LT and repeats the loop test signal LT.
    このループテスト信号ＬＴを受信した通信ノード２は、受信したループテスト信号ＬＴに自己の受信ポートの情報Ｐ（２、１）６２を付与してループテスト信号ＬＴをリピートして行く。 - 特許庁
  • To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.
    ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR CONDUCTING TEST ON SUBSCRIBER LOOP INTERFACE
    加入者ル—プインタ—フェ—スを試験するための装置及び、方法 - 特許庁
  • At the time of receiving the test frame, the test frame transmission/reception part 12 loops back the test frame at the time of a loop-back station and sends the test frame to the next station when it is not the loop-back station.
    試験フレーム送受信部１２は試験フレームを受信すると、折返し局であればその試験フレームを折返し、折返し局でなければその試験フレームを次局に送る。 - 特許庁
  • A digital signal generating/analyzing section 11 performs loop-back test for determining whether the loop-back test data output to the transmission/reception part 19 and loop-back test data fed back from the transmitting/receiving section 19 match.
    デジタル信号生成・解析部１１は、送受信部１９に出力したループバック試験データと、送受信部１９から帰還したループバック試験データとが一致するかを判定するループバック試験を行う。 - 特許庁
  • LOOP BACK TEST SYSTEM, IN-HOUSE APPARATUS, CENTER APPARATUS, AND PROGRAM
    折り返し試験システム、宅内装置、及びセンター装置、並びにプログラム - 特許庁
  • To suppress interference between a TST signal used upon a loop back test and a usual call and carry out a good loop back test.
    折り返し試験の際に用いるＴＳＴ信号と通常呼との干渉を抑制でき、良好な折り返し試験を実施できるようにする。 - 特許庁
  • A loop line control section 12 forms a loopback loop for an opposite transmitter at the start of a quality test.
    品質試験の開始時に、ループ回線制御部１２は、対向する伝送装置に折り返しループを形成する。 - 特許庁
  • To provide a remote loop back control method and the system which improve the operability of a remote loop back test.
    リモートループバックテストの操作性を向上させるリモートループバック制御方法およびシステムを提供することにある。 - 特許庁
  • The loop detection unit determines that a loop has occurred when it has received the test frame that the device including itself transmitted.
    ループ検出部は、自装置から送信された試験フレームを受信したとき、ループが発生したと判定する。 - 特許庁
  • To reduce the number of testing members required for a test in conducting an instrumentation loop test of a digital controller or the like.
    デジタル制御装置等の計装ループ試験を行なう場合に、その試験に必要な試験員の人数を減らす。 - 特許庁
  • METHOD OF PURIFYING TEST BODY OR THE LIKE IN HIGH TEMPERATURE HIGH PRESSURE LOOP, AND APPARATUS FOR THE SAME
    高温高圧ループにおける試験体等の純化方法及びその装置 - 特許庁
  • To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.
    ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁
  • The loop selection circuits selectively output either of the resultant data or the test data.
    ループ選択回路は、結果データとテストデータとの一方を選択的に出力する。 - 特許庁
  • In addition, the communication device includes a test frame transmission unit and a loop detection unit.
    さらに、通信装置は、試験フレーム送信部およびループ検出部を有している。 - 特許庁
  • A loop-like test route 8 is provided inside an intra-bay route 6 and an ceiling traveling car 30 circulates and travels along the test route.
    イントラベイルート６の内側にループ状のテストルート８を設けて、天井走行車３０を周回走行させる。 - 特許庁
  • When a power source is inputted, the operation margin test of the device connected to the loop is executed prior to the connection of the loop to a host computer.
    電源投入に際し、ホストコンピュータへのループ接続前に、ループに接続されたデバイスの動作マージンテストを実行する。 - 特許庁
  • A test processing part 3 sets a transfer route in a router 1 into a loop shape.
    試験処理部３によりルータ１における転送経路がループ状に設定される。 - 特許庁
  • To restrain the peeling of an electrode pad by suppressing stress concentration in a loop pull test.
    ループプル試験時に応力集中を抑制し、電極パッドの剥がれを抑制する。 - 特許庁
  • ASYMMETRICAL MODEM AND ASYMMETRICAL TRANSMISSION SYSTEM USING THE SAME, AND METHOD FOR LOOP-BACK TEST OF THE SYSTEM
    非対称モデム、及びそれを用いた非対称伝送システムとその折返し試験方法 - 特許庁
  • To provide a loop-back self-test circuit particularly applicable to cellular phone base stations.
    セルラ電話基地局を特に適用対象とするループバック自己検査回路を提供する。 - 特許庁
  • A pseudo terminal 204 for a test with a pseudo terminal control part 205 for a test connected thereto is connected to a VoIP subscriber circuit 203 to be a test target, and thus, a direct current loop forming part 245 simulatively forms a direct current loop.
    試験用擬似端末制御部２０５の接続された試験用擬似端末２０４を試験対象となるＶｏＩＰ加入者回路２０３に接続し、直流ループ形成部２４５で擬似的に直流ループを形成する。 - 特許庁
  • Make sure that your ineer loop reps are2 or greater in order to exercise this test fully (see -reps). -modify1
    このテストを完全に行うために、必ず2回以上ループを繰り返すこと(-reps オプションを参照)。 - XFree86
  • The ExportDrawable x andy offset is modified randomly during each iteration of the test functioninner loop.
    ExportDrawable の x, y オフセットは、テスト関数の内部ループのそれぞれの繰り返しの間にランダムに変更される。 - XFree86
  • The Ethernet-HSD converter includes: an HSD line termination section; a speed conversion section; and an Ethernet frame termination section, and the HSD line termination section has: a means that detects LOOP 2 bits received at the loop test and capsulates a random pattern for the loop test to an Ethernet frame; and a means that uncapsulates the capsulated random pattern for the loop test from the Ethernet frame.
    ＨＳＤ回線終端部と、速度変換部と、イーサネットフレーム終端部とを備え、ＨＳＤ回線終端部は、ループ試験時に送信されるＬＯＯＰ２ビットを検出し、ループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームにカプセリング化する手段と、当該カプセリング化されたループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームからアンカプセリング化する手段とを有する。 - 特許庁
  • To quickly perform a recovery process in the occurrence of a failure by performing the margin test of a device connected to a fiber channel loop to improve the reliability of the whole loop.
    ファイバチャネルループに接続されたデバイスのマージンテストを行い、ループ全体の信頼性の向上を図り、障害発生の際の回復処理を迅速に行う。 - 特許庁
  • Just as Fortran-77 introduced the zero-trip loop in order to remove the need to test on a zero iteration loop, so Fortran 90 removes the need for further testing on zero.
    Fortran-77がゼロ繰り返しループをテストする必要をなくすためにゼロトリップループを導入したのと同様に、Fortran 90はゼロのさらなるテストの必要をなくしている。 - コンピューター用語辞典
  • To prevent both controllability and observability from being lowered in a scanning test, and to prevent a loop of test signals from being generated caused by a bidirectional terminal.
    スキャンテスト時に制御性および観測性の双方の低下がない上に、双方向端子に起因するテスト信号のループの発生がないこと。 - 特許庁
  • To provide a loop piping type sprinkler piping installation in which piping for terminal test valves required for a water supply test can be executed at a low cost.
    ループ配管式スプリンクラー配管設備において、送水試験に必要な末端試験弁用配管を低コストで施工できるようにする。 - 特許庁
  • In addition to a 1st loop back point that loops back the test data as they are at a remote end of a speech line, a 2nd loop back point and a 3rd loop back point are provided in a high efficiency code CODEC 4.
    通話路の遠端において試験データをそのまま折り返す第１折り返しポイントの他に、高能率符号ＣＯＤＥＣ４内に第２折り返しポイントと第３折り返しポイントを設ける。 - 特許庁
  • After receiving the loop control response frame, the transmission apparatus 1-31 transmits the test frame to the frame transmission interval and checks the returned test frame to test the quality of the lines.
    伝送装置１−３１はループ制御応答フレームを受信後、試験フレームをフレーム伝達区間に送出し、返送された試験フレームをチェックして回線の品質を試験する。 - 特許庁
  • To perform a loop back test precisely in which a jitter proof strength of a device to be tested is tested with a sufficient accuracy and a simple constitution.
    簡易な構成で、被試験デバイスのジッタ耐力を試験するループバック試験を精度よく行う。 - 特許庁
  • The communication node 1 similarly applies information P(1,0) 63 of the receiving port to the loop test signal LT as well.
    通信ノード１も同様に受信ポートの情報Ｐ（１、０）６３をループテスト信号ＬＴに付加する。 - 特許庁
  • To test the connection of a clock and all circuits in a CDR circuit at a high speed, in a loop back test of a two-way communication circuit having the CDR circuit.
    ＣＤＲ回路を有する双方向通信回路のループバックテストにおいて、クロックの結線及びＣＤＲ回路内の全回路を高速でテスト可能とする。 - 特許庁
  • To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.
    ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.
    ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁
  • To test normality of each of devices under operating by determining normality of an optimization loop.
    最適化ループの正常性を判定して、運用中における各機器の正常性を試験することを課題とする。 - 特許庁
  • To efficiently perform test adjustment of measuring instrument 2 at site, a controller 11, and a measurement signal loop.
    現場計器２、制御装置１１及び計測信号ループの試験調整を効率的に行えるようにする。 - 特許庁
  • DELAY LOCK LOOP CIRCUIT, TIMING GENERATOR, SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND DELAY AMOUNT CALIBRATION METHOD
    遅延ロックループ回路、タイミング発生器、半導体試験装置、半導体集積回路及び遅延量校正方法 - 特許庁
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