「test method」を含む例文一覧(8060)

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  • To provide an emulator and an emulating method for surely executing a stable test with not more than the normal operating frequency of a system without using any expensive tester of high performance.
    この発明は、高性能で高価なテスタを使用することなく、システムの規定動作周波数又はそれ以下の周波数で確実に安定したテストを実施できるエミュレータ及びエミュレート方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a fuel production method and a device, requiring no preliminary test for determining hydrothermal reaction conditions and capable of dealing with the change of properties of the organic sludge added to the hydrothermal treatment.
    水熱反応条件を決定するための予備試験が不要であり、且つ、水熱処理に投入される有機性汚泥の性状が変動した際にも対応することのできる燃料製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.
    大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁
  • The steel comprises Ti in the range of 0.001 to 0.015 wt.%, and in which the crystal grain size in the central part measured by a ferrite crystal grain size test method prescribed in G0552 is mainly controlled to No. 6 or higher.
    鋼材は、Tiを0.001〜0.015重量%の範囲で含み、かつJIS G0552に規定するフェライト結晶粒度試験方法で測定した中心部の結晶粒度が、主として6番以上になっている。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for testing a model structure, which can test physical phenomena occurring when a mobile object moves in a structure, by using a simple model, and to provide the model structure.
    構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method of a fuel cell for guaranteeing the performance of the fuel cell by grasping beforehand a deterioration phenomenon of the polyelectrolyte at the time of operation of the fuel cell, and a fuel cell having high reliability.
    燃料電池運転時の高分子電解質の劣化現象を事前に把握して燃料電池の性能を保証するための燃料電池の試験方法とこれを用いた信頼性の高い燃料電池。 - 特許庁
  • To provide a failure detection improving device, a failure detection improving program, and a failure detection improving method improving a failure detection rate by carrying out change of a circuit such that an ATPG tool can generate a test pattern.
    ATPGツールがテストパターンを生成できるように回路の変更を行うことにより、故障検出率を改善する故障検出改善装置、故障検出改善プログラム、故障検出改善方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a strain measuring device capable of easily measuring a strain of a tubular member by easily sticking strain detecting sections to the inner peripheral surface of the tubular member; and to provide a manufacturing method thereof and a loading test device.
    管状部材の内周面にひずみ検出部を簡単に接着してこの管状部材のひずみを容易に測定することができるひずみ測定装置とその製造方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an NOx sorption and reduction catalyst which has a high NOx sorption capacity even after a high-temperature durability test (750°C×5 hr), can sufficiently sorb NOx in a temperature range above 600°C, and can exhibit a high NOx reduction rate and to provide a method for using the same.
    750℃で5時間の高温耐久試験後にも高いNO_x 吸蔵能を有し、 600℃以上の高温域でもNO_x を充分に吸蔵できかつ高いNO_x 浄化率を示すNO_x 吸蔵還元型触媒とその使用方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device, a method and a test piece capable of preventing deformations or cracks caused by a local high-gradient temperature distribution, even if it is subjected to high-frequency induction heating, and properly evaluating thermal fatigue strength.
    高周波誘導加熱されても、局所的な急勾配の温度分布による変形や亀裂を防止することができ、適正に熱疲労強度評価できる試験装置、方法およびテストピースを提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.
    広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁
  • The probes to be used for detecting an objective substance of test are trapped on fine particles 3 in advance, and the fine particles 3 are fixed in every section 2 formed in a lattice state on a substrate 1 by using a surface-chemical patterning method.
    検査対象物質の検出に用いるプローブを予め微粒子3に捕捉し,微粒子を基板1の上に表面化学的なパターニング方法を用いて格子状に形成される各区画2に固定する。 - 特許庁
  • To provide a wafer-inspecting apparatus and a wafer-inspecting method that perform quality decision tests for deciding the acceptance and rejection of semiconductor chips, and a characteristic measurement test for checking more detailed electrical characteristics in the same wafer inspection apparatus.
    同一ウエハ検査装置で、半導体チップの合否判定を行う合否判定テストと、より詳細な電気的特性をチェックする特性測定テストとを実施するウエハ検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method capable of generally verifying the abnormality detection of a device to be tested, signal retransmission, a processing to a high order protocol and the operation of the high order protocol when the signal of a low order protocol is abnormal.
    下位プロトコルの信号が異常な時に被試験装置の異常検出、信号再送、上位プロトコルへの処理と上位プロトコルの動作とについて総合的に検証可能な試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a polyester film which keeps a smooth face even in a heating process such as a process to form a release layer and allows a precise checkup to be put into practice even in a test by a Cross Nicol prism method by a polarizing plate.
    離型層を設置する工程等の加熱工程においても平面性を保持することができ、偏光板のクロスニコル法による検査においても精度ある検査を実施できるようなポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁
  • To provide an adhesion strength evaluation method of floor polish film capable of obtaining more objectively, comprehensibly, and speedily an adhesion strength of a floor polish film to a floor material, and a test tool for the same.
    フロアーポリッシュ皮膜の床材に対する密着強度がより客観的で分かりやすく、短時間で求めることができるフロアーポリッシュ皮膜の密着強度評価方法、及びそれ用の試験治具を提供する。 - 特許庁
  • To provide a measuring device and a measuring method having high measuring accuracy, easy to operate and having a low load to a test piece, in measuring sheet resistance of a conductive layer formed on a polymer sheet film.
    高分子シート膜上に形成された導電層のシート抵抗を測定するに際し、測定精度が高く操作が容易で試験片に対する負荷の小さな測定装置および測定方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a non-volatile ferroelectric memory, in which a defective cell can be easily detected and removed even if a process condition is changed without requiring another test mode, and a detecting method for a defective cell using the memory.
    別のテストモードが必要なく、工程条件が変わっても容易に不良セルを検知して除去することのできる不揮発性強誘電体メモリ装置並びにそれを用いた不良セル検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and apparatus for processing image data where when a picture image recorded by a digital camera is reproduced, a high quality picture image is immediately reproduced without repetitive test prints for enhancing a picture quality or repetitive minor adjustments based on a confirmation via a monitor.
    デジタルカメラにより撮影された写真画像を再生する際に、画質を高めるためのテストプリントあるいはモニタの確認による微調整を繰り返すことなく、直ちに高画質な写真画像を再生する。 - 特許庁
  • To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.
    入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするICテスタ、及びIC試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an adhesive that simultaneously achieves two kinds of performance of short-time adhesion and high durability and also passes the test of repeated-boiling water-resistant adhesion according to the first class No.1 of JIS K6806, and an adhesion method.
    短時間接着性と高耐久性能の二つの性能を併せ持ち、JISK6806第1種1号煮沸繰り返し耐水接着性試験にも合格する接着剤及び接着方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a secondary battery system and a method of managing the same, wherein it is possible to easily determine the presence or absence of an anomaly in a battery pack or a discharge circuit and reliability is not impaired even in a case of service interruption immediately after the completion of a test.
    組電池や放電回路の異常の有無を簡易に判定することが可能で、しかも試験終了直後の停電に対する信頼性を損なわない二次電池システムおよび管理方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for evaluating cleanness of copper by which the cleanness with high correlation with B10 life to be obtained by a rolling fatigue test is obtained, and which can be applied to measurement of copper on a line at a manufacturing site.
    転動疲労試験により得られるB10寿命との相関が高い清浄度が得られ、且つ、鋼の製造現場のライン上での測定に適用することが可能な鋼の清浄度の評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an evaluation method and a device therefor capable of performing a response evaluation of electrical inertia simultaneously with a vehicle test performed by loading a vehicle on a roller.
    電気慣性部を有するシャシーダイナモメータシステムにおいて、電気慣性データを評価する場合、シャシーダイナモメータ単体での電気慣性性能のみの評価表示であって、車両搭載による性能評価は行われてない。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.
    本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁
  • In the accelerated weathering test method, a paint film surface is irradiated with the ultraviolet ray emitted from the mercury lamp at a normal temperature under a normal pressure, concerning the thermoplastic resin molding having the paint film surface to which painting is applied.
    塗装が施されてなる塗膜表面を有する熱可塑性樹脂成形品であって、該塗膜表面に水銀ランプから発せられる紫外線を常温、常圧下で照射する上記の促進耐候性試験方法。 - 特許庁
  • To realize a wafer collective reliability evaluation device and evaluation method capable of performing a reliability evaluation test with respect to the wafer collectively in a short period of evaluation time and under broad-ranging and precise temperature conditions.
    評価時間が短く、幅広い且つ正確な温度条件においてウエハ一括で信頼性評価試験を行うことができるウエハ一括信頼性評価装置及び評価方法を実現できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.
    試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a piezoelectric ceramic, which reduces the curvature of a test piece and an electric field induced distortion difference between its both surfaces and is formed of non-lead piezoelectric polycrystals, and to provide its manufacturing method and a piezoelectric/electrostrictive device containing the piezoelectric ceramic.
    試料の湾曲、試料両面の電界誘起歪の差を改善する、非鉛圧電多結晶体によって構成された圧電セラミックス、その製造方法、その圧電セラミックスを含む圧電/電歪素子を提供する。 - 特許庁
  • To provide a viscoelasticity measuring device and a test method of a visco-elastic body capable of evaluating a characteristic of the visco-elastic body in the state where both of static deformation and dynamic deformation are inputted simultaneously.
    静的変形と動的変形の両方が同時に入力される状態で粘弾性体の特性を評価することができる粘弾性測定装置および粘弾性体の試験方法を提供する。 - 特許庁
  • A test method of the nonvolatile semiconductor memory device has a (A) step for performing erasion of the memory cell with a FN system, and a (B) step for performing rewriting of the memory cell with the FN system after the (A) step.
    本発明に係る不揮発性半導体記憶装置のテスト方法は、(A)FN方式でメモリセルの消去を行うステップと、(B)上記(A)ステップの後、FN方式でメモリセルの書き戻しを行うステップとを有する。 - 特許庁
  • To provide a system and a method for determining an angular deviation of a charged particle beam and for calibrating a charged particle beam system that are based upon multiple measurements of test objects that include sidewalls with high sidewall angle uniformity.
    帯電粒子ビームの角状変位を判断し、高い側壁角度均一性の側壁を含むテストオブジェクトの複数の測定値に基づく帯電粒子ビームシステムを較正する為のシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
  • To highly accurately measure a frequency of a signal to be measured in a short time by applying to a test device of an integrated circuit for example concerning a frequency measurement device and a frequency measurement method.
    本発明は、周波数計測装置及び周波数計測方法に関し、例えば集積回路の試験装置に適用して、被計測信号の周波数を短時間で高精度に測定することができるようにする。 - 特許庁
  • To provide a new method and a device for reducing the complicity and hardware of an IC tester and simultaneously reducing test circuit overhead in an integrated circuit without sacrificing DFT and BIST functions.
    ICテスタの複雑性及びハードウエアを低減すると同時に集積回路中の試験回路オーバーヘッドをDFT及びBIST機能を犠牲にすることなく低減する為の新規な方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.
    セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a circuit design program for executing circuit design processing based on a test point insertion method capable of enhancing the probability for narrowing the number of trouble candidates in trouble diagnosis, to an assigned number, by a computer.
    故障診断における故障候補数を指定された数まで絞り込める確率を高くすることができるテストポイント挿入法に基づく回路設計処理をコンピュータに実行させる回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide an efficient elevator load test method using adjustment weight included in a balance weight with less labor by reducing the transfer work of the adjustment weights.
    釣合おもりに含まれる加減おもりを利用したエレベータの負荷試験方法であって、加減おもりの移送の手間をより少なくすることにより、より手間の掛からない効率の良いエレベータの負荷試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for measuring the shrinkage of coke after carbonization to stabilize the operation of a coke oven and elongate the life of the oven, by using a test coke oven in which the average shrinkage (cold) of the coke can accurately and efficiently be measured.
    コークス炉の操業の安定化および炉体長寿命化を目的として、乾留後のコークスの平均収縮量(冷間)を、試験コークス炉を用いて正確にかつ効率よく測定する方法を提案すること。 - 特許庁
  • To provide a fluid handler and a method capable of notifying an operator of an automatic analyzer for medical use that a sample or fluid of mistaken quantity or both of them are used in a predetermined medical test.
    特定の医学的試験で誤った量のサンプルまたは流体、あるいはその両方が使用されたときにそのことを自動医用分析器オペレータに知らせることのできる流体ハンドラおよび方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for cleaning a substrate in which burrs occurring on the element forming surface of a substrate through probe test can be removed, and to provide a process for producing a semiconductor device and equipment for cleaning a substrate.
    プローブ検査によって基板の素子形成面にカエリが生じた場合でも、このカエリを除去することができる基板清浄方法及び半導体装置の製造方法、並びに基板清浄装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a system, a method, and an instrument which automate the detection of a characteristic change of a plaque in a longitudinal test so as to appraise a change of disease by treatment, patient behavior correction or continuous management.
    治療、患者行動修正又は継続管理による疾患の変化を評価する目的で、縦断的検査においてプラークの特性変化の検出を自動化するシステム、方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • This method for easily evaluating machine tool rigidity is characterized by evaluating machine rigidity by a value of a measured unshaved quantity by measuring the unshaved quantity when cutting the test piece by using the tool.
    本発明による工作機械剛性簡易評価方法は、工具を用いてテストピースを切削したときの削り残し量を測定し、測定された削り残し量の値より機械剛性を評価することを特徴とする。 - 特許庁
  • This is the manufacturing method of a microgrid 1 which is used for a test piece support at the time of observation by an electron microscope and has a grid mesh 10 and a thin film 20 having a pore installed on the grid mesh.
    電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ10と、グリッドメッシュ上に設けられた、孔部を有する薄膜20と、を備えたマイクログリッド1の製造方法である。 - 特許庁
  • To provide test- and manufacturing method and a device for a magnichanical sensor when an object having a snap ring for holding a bearing is manufactured in order for the sensor to accurately operate when it detects the presence of the snap ring.
    ベアリングを把持するスナップリングを有する物体を製造する際においてスナップリングの存在を検出するときに正確に動作するように、マグニカニカルセンサを試験及び製造する方法並びに装置を提供する。 - 特許庁
  • In the method, when a print preview display operation or a test print operation common to text files to be created is received, a data reading unit 14 reads plural sets of information for each type of information.
    この方法は、作成される文書ファイルについて共通の印刷プレビュー表示又はテスト印刷を行う操作を受け付けた際に、データ読み取り部14が複数セットについて種類毎に情報を読み出す。 - 特許庁
  • To provide a device and method for computing a line characteristic which can determine the line characteristic so that setting of a ground fault relay can be performed highly accurately and exactly, without performing an artificial ground fault test.
    人工地絡試験を行うことなく高精度かつ的確に地絡継電器の整定が行えるように線路特性を求めることができる線路特性演算装置および線路特性演算方法を提供する。 - 特許庁
  • The invention also relates to a test to measure the basal production of endogenous mediators of the inflammatory response by leukocytes and a method of measuring the capacity of a leukocyte to respond to a stimuli.
    本発明はまた、白血球による炎症性の応答の内因性のメディエータ−の基底の産生を測定するための試験、および刺激に応答する白血球の能力を測定する方法にも関する。 - 特許庁
  • To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit.
    半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。 - 特許庁
  • To provide a method for readily and specifically distinguishing for detecting transient abnormalities in liver function inspection, due to thyroid-gland poisoning and drug hepatopathy caused by an anti-thyroid agent by using a blood test.
    甲状腺中毒症による一過的な肝機能検査異常と、抗甲状腺剤による薬剤性肝障害とを、血液検査などにより、簡便にかつ特異的に区別して検出する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a well reproducible method for manufacturing a hollow metal tube for a cracking test where metal crystals in a cracked part are virtually the same as those of parent metals before cracking is induced.
    き裂の部分の金属結晶が、き裂を導入する前の母相金属の金属結晶と実質的に同一であるき裂試験用中空金属管を、再現性良く製造することができる製造方法を提供すること。 - 特許庁
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