「test mode」を含む例文一覧(1182)
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テストモードモニタ回路 - 特許庁 - TEST MODE SETTING CIRCUIT
テストモード設定回路 - 特許庁 - TEST MODE CIRCUIT AND RESET CONTROL METHOD OF THE TEST MODE CIRCUIT
テストモード回路及びテストモード回路のリセット制御方法 - 特許庁 - To appropriately switch a normal mode and a test mode.
通常モードとテストモードを適宜切り替える。 - 特許庁 - A mode switching signal TEST is set 'high' at the test mode time.
テストモード時はモード切り替え信号ＴＥＳＴをハイとする。 - 特許庁 - TEST MODE SETTING CIRCUIT OF MCU
ＭＣＵのテストモ—ド設定回路 - 特許庁 - MODE DRIVE TEST APPARATUS OF VEHICLE
車両のモード運転試験装置 - 特許庁 - mode The mode= form of the $if directive is used to test whether readline is in emacs or vi mode.
mode$if ディレクティブの mode= 形式は、readline が emacs モードかvi モードのどちらになっているかを調べるために使います。 - JM - TEST MODE SETTING METHOD AND TEST CIRCUIT AND MICROCONTROLLER
テストモード設定方法とテスト回路およびマイクロコントローラ - 特許庁 - A test mode decision circuit 12 sets a test mode in the semiconductor memory.
テストモード判定回路１２は、半導体記憶装置にテストモードを設定する。 - 特許庁 - METHOD OF STARTING TEST MODE OF PRINTER APPARATUS
プリンタ装置のテストモード起動方法 - 特許庁 - To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.
ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST MODE CONTROL CIRCUIT
半導体装置、テストモード制御回路 - 特許庁 - The host program will also have a test mode,
ホストプログラムにはまたテストモードも持つ。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』 - In the event of the mode of the handheld device 102 being changed from the test mode to the non-test mode, the handheld device 102 generates a non-test mode signal.
携帯装置１０２のモードがテストモードから非テストモードへ変更される場合、携帯装置１０２は非テストモード信号を生成する。 - 特許庁 - OPEN OR SHORT TEST-CIRCUIT OF CHARGE MODE
チャージモードのオープン又はショートテスト回路 - 特許庁 - ERROR CORRECTION CODE (ECC) CIRCUIT TEST MODE
エラー修正コード（ＥＣＣ）回路テストモード - 特許庁 - The test mode discriminating circuit 26 activates other test mode signals in addition to a test mode signal already activated.
テストモード判別回路２６は、既に活性化されているテストモード信号に加えて別のテストモード信号を活性化する。 - 特許庁 - A control part 3 executes a program for test on the basis of the test mode generated at the test mode generating part 2.
制御部３はテストモード生成部２で生成したテストモードに基づいてテスト用プログラムを実行する。 - 特許庁 - The slave controller operates in a test mode or a game mode.
下位制御装置はテストモードまたは遊技モードで動作する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING PRE-REPAIR TEST MODE
プリ・リペアテストモ—ドを有する半導体装置 - 特許庁 - By a test mode designation signal (Norm/Test Mode), a semiconductor integration circuit (IC_Chip) is set to the test mode.
テストモード指定信号Ｎｏｒｍ／Ｔｅｓｔ Ｍｏｄｅにより半導体集積回路ＩＣ＿Ｃｈｉｐは、テストモードに設定される。 - 特許庁 - To provide a test mode circuit capable of easily resetting test mode, even when the circuit is carelessly shifted to the test mode.
不用意にテストモードに移行してしまった場合でも、そのテストモードを簡単に解除することが出来るテストモード回路を提供する。 - 特許庁 - The battery pack is shifted to a test mode in response to the test command.
電池パックはテスト・コマンドに応答して試験モードに移行する。 - 特許庁 - The LSI 1 is transited from a general operation mode to a test mode by asserting a test mode signal TM1 and a test mode signal TM2 to H-level.
ＬＳＩ１は，テストモード信号ＴＭ１およびテストモード信号ＴＭ２がＨレベルにアサートされることによって，通常動作モードからテストモードに遷移する。 - 特許庁 - TEST MODE CHANGEOVER METHOD AND TEST MODE CHANGEOVER DEVICE FOR IC FOR FDD, FDD DEVICE
ＦＤＤ装置用ＩＣのテストモード切換方法およびテストモード切換装置、ＦＤＤ装置 - 特許庁 - To start a test mode quickly and easily.
テストモードを迅速容易に起動させること。 - 特許庁 - The operation mode is selected from a burst length mode, a DLL set mode, a test mode, a CAS latency mode, and a burst type mode.
前記動作モードは、バースト長さモード、ＤＬＬセットモード、テストモード、ＣＡＳレイテンシモードおよびバースト型モードのうちの一つである。 - 特許庁 - A functional block 12 has a normal operation mode and a test mode.
機能ブロック１２は、通常動作モードおよびテストモードを有する。 - 特許庁 - Execution mode information 1320 defining a real execution mode and a test mode is stored.
本番モードおよびテストモードを定める実行モード情報１３２０が記憶される。 - 特許庁 - MEDIA CONVERTER AND TEST MODE START METHOD THEREFOR
メディアコンバータおよびそのテストモード起動方法 - 特許庁 - MULTI-MODE OPTIMIZATION TECHNOLOGY IN TEST FORMATION
テスト生成におけるマルチモード最適化技術 - 特許庁 - A test mode signal is held in the latch circuit.
テストモード信号は、ラッチ回路に保持される。 - 特許庁 - Next, a test signal TE1 is assumed as '1', and a a test mode is set to the memory.
次に、テスト信号ＴＥ１を”１”とし、テストモードに設定する。 - 特許庁 - To provide a test circuit that can set a test mode and input a test signal after setting the test mode even if a terminal to be used only in the test mode is not provided in a semiconductor package.
半導体パッケージにテストモード時にのみ使用される端子を設けなくても、テストモードの設定及びテストモード設定後のテスト信号入力ができるテスト回路を提供する。 - 特許庁 - A mode setting circuit switches an operation mode to a normal operation mode or a test mode in accordance with an external control.
モード設定回路は、外部制御により動作モードを通常動作モードまたはテストモードに切り替える。 - 特許庁 - Preferably, the first operation mode is a terminal test mode, and the second operation mode is a normal operation mode.
好ましくは、第１の動作モードは、端子試験モードであり、第２の動作モードは、通常動作モードである。 - 特許庁 - A test mode generating part 2 at least generates a test mode according to input selection from the outside.
テストモード生成部２は外部からの入力選択に応じて少なくともテストモードを生成する。 - 特許庁 - When a test mode is set, a high-level test mode signal TM is outputted from a bus controller 2.
テストモードが設定されると、バスコントローラ２からハイレベルのテストモード信号ＴＭが出力される。 - 特許庁 - A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.
内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁 - TEST MODE CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテストモード回路装置 - 特許庁 - In a test mode, a test data generating means 14 outputs test data and a scramble means 16 encrypts the test data.
テストモード時は、テストデータ生成手段１４よりテストデータを出力し、スクランブル手段１６で暗号化する。 - 特許庁 - Test codes A1-An are inputted to a test mode control circuit 21, and the test mode control circuit 21 generates test decode signals TMadd1-n.
テストコードＡ１〜Ａｎは、テストモード制御回路２１に入力され、テストモード制御回路２１は、テストデコード信号ＴＭａｄｄ１〜ｎを生成する。 - 特許庁 - An LSI has a scan test mode for performing a scan test of an internal circuit.
ＬＳＩは、内部回路をスキャンテストするためのスキャンテストモードを有する。 - 特許庁 - An output scan cell 102 receives a mode selection signal 122 which indicates an input test mode or output test mode.
出力走査セル１０２は、入力テストモード、または出力テストモードを指示するモード選択信号１２２を受ける。 - 特許庁 - VIBRATION MODE EXCITATION DEVICE DURING ROTATIONAL VIBRATION TEST
回転振動試験時の振動モード励振装置 - 特許庁 - MULTI-SAMPLE READ CIRCUIT HAVING TEST MODE OPERATION
テストモード動作を有するマルチサンプル読み出し回路 - 特許庁 - A Pachinko machine changes an operation mode from a business mode to a trial shooting mode or a test mode by receiving a mode change request from a CU.
Ｐ台は、ＣＵからのモード変更要求を受けて、動作モードを営業モードから試打モードあるいはテストモードに切り換える。 - 特許庁 - A Pachinko machine changes an operation mode from a business mode to a maintenance mode or a test mode by receiving a mode change request from a CU.
Ｐ台は、ＣＵからのモード変更要求を受けて、動作モードを営業モードからメンテナンスモードあるいはテストモードに切り換える。 - 特許庁 - An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.
個別ユーザーデータ挿入回路１は、テストモード設定／テストデータ生成回路１９からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁
- 特許庁
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- 大規模オープンソース日英対訳コーパス
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- JM
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- 日英対訳文対応付けデータ
- この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の集積したものであり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。
- 原題：”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ”
邦題：『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』 - This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.
日本語版の著作権保持者は ©1999
山形浩生<hiyori13@alum.mit.edu>である。この翻訳は、全体、部分を問わず、使用料の支払いなしに複製が認められる。
- 原題：”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ”
