「test pattern」を含む例文一覧(2179)
＜前へ 1 2 .... 18 19 20 21 22 23 24 25 26 .... 43 44 次へ＞- An initial probability setting file 13 shows the rate of each parameter value for each parameter item, and a test parameter generator 2 generates a plurality of types of test patterns according to a rate of each parameter value of the initial probability setting file 13, and makes a test bench 4 execute simulation by using a test pattern 3.
初期確率設定ファイル１３は、パラメタ項目ごとに各パラメタ値の比率を示しており、テストパターンジェネレータ２は、初期確率設定ファイル１３のパラメタ値ごとの比率に従って複数種のテストパターンを生成し、テストベンチ４にテストパターン３を用いたシミュレーションを実行させる。 - 特許庁 - In the test mode, a row decoder fixes pre-decoding signals RX0-RX3 to an activated state, and word lines selected for writing a test pattern in a short time are activated en bloc by controlling pre-decoding signals X0-X3 in accordance with the test signal in the test mode.
テストモードにおいて、ロウデコーダは、プリデコード信号ＲＸ０〜ＲＸ３を活性化状態に固定し、プリデコード信号Ｘ０〜Ｘ３をテストモードにおいてテスト信号に応じて制御することにより、テストパターンを短時間で書込むために選択したワード線を一括して活性化する。 - 特許庁 - The test result dout is compared with the test pattern din of the expected value by a data comparator 70, and the comparing result compout is held by an output control circuit 80 and fed out synchronously with the test clock tck.
テスト結果ｄｏｕｔは、データ比較器７０によって期待値のテストパターンｄｉｎと比較され、この比較結果ｃｏｍｐｏｕｔが出力制御回路８０に保持され、テストクロックｔｃ ｋに同期して外部へ出力される。 - 特許庁 - On an optical disc, a test pattern including a first test mark longer than the shortest mark in the modulation code by one recording unit length and a second test mark longer than the shortest mark by two recording unit lengthes or more is recorded with plural of recording conditions (step S2).
光ディスクに、変調符号における最短マークより１記録単位長い第１テストマークと、最短マーク長より２記録単位長以上長い第２テストマークとを含むテストパターンを複数の記録条件で記録する（ステップＳ２）。 - 特許庁 - To conduct a tolerance against identical code succession with a clear criterion and high measurement precision without using any complicated circuit in an identical code succession tolerance testing device which conducts a test with test data including a specific identical code succession tolerance test pattern.
所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行う。 - 特許庁 - To store an output pattern of a device under test in the main memory, without increasing the band width request for the main memory by a testing apparatus.
試験装置のメインメモリの要求バンド幅を増やすことなく、被試験デバイスの出力パターンをメインメモリに格納する。 - 特許庁 - Also, in the midst of changing an address, write-in of a test pattern for a semiconductor memory in a write-in control command section is prohibited.
また、アドレスの変更途中は、書き込み制御指令部にて半導体メモリへのテストパターンの書き込みを禁止する。 - 特許庁 - To minimize the influence of uneven density generated by a printer to reading of a test pattern for calibration.
プリンタにおいて発生し得る濃度ムラがキャリブレーションにおけるテストパターンの読取りに与える影響を最小限とする。 - 特許庁 - Then, the image forming apparatus reads the test pattern fixed once and detects the density of the read image.
次に画像形成装置は、一回の定着が行われたテストパターンを読み取り、読み取った画像の濃度を検出する。 - 特許庁 - A 2Pass 4burst pattern is written by the servo track writer, and after that, E, F burst signals are written by a self test.
２Ｐａｓｓ ４ｂｕｒｓｔパターンをサーボトラックライターにて書き込み、その後セルフテストにて、Ｅ、Ｆバースト信号を書き込む。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device wherein the worst data pattern of a memory cell array can be written even in a contracted/parallel test.
縮約・パラレルテストにおいてもメモリセルアレイのワーストデータパターンを書き込むことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - A test pattern generated from a digital signal by a user is outputted to an analog circuit 11 by the D/A converter 22.
ユーザーによりデジタル信号で作成されたテストパターンをＤ／Ａ変換器２２によりアナログ回路１１に出力する。 - 特許庁 - A test pattern is recorded on a blank portion between images on a recording paper 11 or between an image and the side edge of the recording paper 11.
記録紙１１の各画像間の余白や、記録紙側縁部と画像との間の余白に、テストパターンを記録する。 - 特許庁 - When a projection lens 480 projects image light onto the screen 500, the image of the test pattern is displayed on the screen.
投写レンズ４８０が画像光をスクリーン５００上に照射すると、テストパターンの画像がスクリーン上に表示される。 - 特許庁 - Then, the image forming apparatus reads the test pattern fixed twice and detects the density of the read image.
次に画像形成装置は、二回の定着が行われたテストパターンを読み取り、読み取った画像の濃度を検出する。 - 特許庁 - The system determines a test pattern to be printed and an image quality text to be performed after obtaining initial diagnostic information.
初期診断情報を入手した後、システムは印刷するテストパターンと実行するイメージ品質テストとを決定する。 - 特許庁 - By a usual imaging method, the dust check image 1 of the test pattern of a model eye performs normal record as shown in (a).
通常の撮像方法により模型眼のテストパターンの塵埃チェック画像１が（ａ）のように正常に記録する。 - 特許庁 - To analyze a test pattern generated on an image receiving member by a printer for identifying registration between print heads.
プリンタにより画像受容部材上に生成されたテストパターンを分析して、プリントヘッド間の見当合わせを特定する。 - 特許庁 - Then, the ink-discharging operation with a recording head is controlled by the inkjet recorder based on the selected test pattern.
そして、インクジェット記録装置は、選択されたテストパターンに基いて記録ヘッドによるインクの吐出動作を制御する。 - 特許庁 - Deposition of the pattern on the test piece may be carried out by, for example, a beam inducing deposit or an ink jet print.
前記試料上への前記パターンの堆積は、たとえばビーム誘起堆積又はインクジェットプリントによって行われて良い。 - 特許庁 - To stabilize power supply voltage V_DD, when testing a DUT changing an operation state without depending on a test pattern.
動作状態がテストパターンに依存せずに変化しうるＤＵＴを試験する際に、電源電圧Ｖ_ＤＤを安定化する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device that can hold the data stored in a test pattern memory even when power supply is shut off.
電源が遮断された際にも、テストパターンメモリのデータを保持することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - The received test pattern is examined in order to make sure that the voice encoding/decoding operation of the TGW is performed normally.
そして、その受信試験パターンに基づいて、ＴＧＷの音声符号化／再生動作の正常性を確認する。 - 特許庁 - Since the illuminance I is specified, based on a vision result of a test pattern, an illuminometer is not needed.
照度Ｉはテストパターンの視覚結果に基づいて特定することが可能であるため、照度計を用意する必要はない。 - 特許庁 - The correction means corrects the image processing mode based on a result of reading the test pattern recorded on the recording medium.
補正手段は、記録媒体上に記録されたテストパターンの読み取り結果に基づいて画像処理モードを補正する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus and an image forming system capable of forming a test pattern with less uneven density.
濃淡ムラを抑えたテストパターンを形成できる画像形成装置、及び、画像形成システムを実現することにある。 - 特許庁 - To carry out a logic verification of an IC chip without using a complex test pattern generator.
複雑なテストパタン発生器を使用することなくＩＣチップの論理検証を可能にする論理検証システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method which can automatically generate a high quality test pattern for a RTL digital circuit quickly.
本発明は、ＲＴＬデジタル回路のテストパターンを高速かつ高品質に自動生成する方法の提供を目的とする。 - 特許庁 - When the test process is terminated, the value of the display control process flag is changed to the value corresponding to the variable pattern command reception waiting process.
テスト処理を終了すると、表示制御プロセスフラグの値を変動パターンコマンド受信待ち処理に応じた値とする。 - 特許庁 - In the equalizing unit 8b, the power source current signals corresponding to the same test pattern in each time are added up and equalized.
平均化処理部８ｂでは、各回の同一テストパタンに対応する電源電流信号を加算して平均化する。 - 特許庁 - To count up a counter, without having to input clocks as many as the expected count number, and greatly reduce the test pattern length.
期待したカウント数分のクロックを入力すること無くカウンタをカウントアップでき、テストパターン長を大幅に削減する。 - 特許庁 - A probe 31 of an impedance measuring instrument is brought closer from the side for bringing the probe 31 into contact with the test pattern 3 easily.
インピーダンス測定器のプローブ３１を側方から近づけてテストパターン３に容易に接触させることができる。 - 特許庁 - The ground tint recognition unit 135 recognizes whether image data per unit area in a test pattern includes the ground tint.
地紋認識ユニット１３５は、テストパターン中の単位面積当たりの画像データにおける地紋パターンの有無を認識する。 - 特許庁 - With the camera, a distortion parameter giving positional relations between the camera and each screen is computed from a test pattern projected on the display screen.
カメラで表示スクリーン上に投影したテストパターンにより、カメラと各スクリーンの位置関係を与える歪パラメータを得る。 - 特許庁 - To provide an image processing system in which unevenness correction processing can be performed in a predetermined region without using a test pattern.
テストパターンを使わずに、所定の領域においてむら補正処理を行うことができる画像処理システムを提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER HAVING TEST PATTERN, METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER, METHOD FOR MANAGING MANUFACTURING PROCESS, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR
テストパターンを有する半導体ウェハ、半導体ウェハの検査方法、製造プロセス管理方法及び半導体の製造方法 - 特許庁 - To provide a testing device for performing an efficient test by preventing writing of an individual pattern unnecessary for a semiconductor memory device.
半導体メモリデバイスに不要な個別パターンを書き込むことを防ぎ、効率よく試験を行う試験装置を提供する。 - 特許庁 - Then, the EFM signal envelope EFML is obtained by utilizing this test pattern, thereby the positioning adjustment of the focus is performed.
そして、このテストパターンを利用してＥＦＭ信号エンベロープＥＦＭＬを得、これによりフォーカスの位置決め調整を行う。 - 特許庁 - To enable a highly accurate trouble analysis for a DUT not operated stably even if a same test pattern is input.
同一テストパターンを入力しても動作が安定しないＤＵＴに対して精度の高い故障解析を可能とする。 - 特許庁 - To reduce a circuit size and a manufacturing cost, while enabling an integrated circuit to be tested by using a large volume of test pattern data.
大きな容量のテストパターンデータによる集積回路を検査可能にしつつ、回路規模や製造コストを低減する。 - 特許庁 - A selection signal sl3 is set in a test mode, and an output signal S24 is selected by a selector 26, and a pattern matching part 25 is by-passed.
選択信号sl3はテストモードに設定され、セレクタ26で出力信号S24が選択され、パターンマッチング部25がバイパスされる。 - 特許庁 - In comparing edge points on a predicted layout pattern with corresponding points on a design layout pattern, a yield test is first undertaken before movement of the points on the predicted layout pattern to positions of a higher yield.
予測レイアウト・パターン上のエッジ点と設計レイアウト・パターン上の対応点との比較では、最初に歩留りテストを実施し、その後に予測レイアウト・パターン上の点を歩留りがより改善する位置へ移動させる。 - 特許庁 - When comparing the edge points on the expected layout pattern and the corresponding edge points on the designed layout pattern, a yield test is carried out first, and then the point on the expected layout pattern is moved to a higher yield position.
予測レイアウト・パターン上のエッジ点と設計レイアウト・パターン上の対応点との比較では、まず最初に歩留りテストを実施し、その後に予測レイアウト・パターン上の点を歩留りがより高い位置へ移動させる。 - 特許庁 - A thermal head 12 prints a test pattern 22 where a dot pattern printed by heating elements 12a and 12z at the opposite ends is formed differently from a dot pattern printed by other heating elements 12b through 12y.
両端の発熱素子１２ａ、１２ｚで印字されるドットのパターンと、その他の発熱素子１２ｂ〜１２ｙで印字されるドットのパターンとが異なって形成されているテストパターン２２をサーマルヘッド１２で印字する。 - 特許庁 - An image pattern 600 is image data for a piece of paper which has been transmitted from the reading section, and a grid pattern 601 is the test pattern which has been formed in the first IC 510 of the circuit 502.
画像パターン６００は、読取部から転送されてきた用紙１枚分の画像データであり、格子パターン６０１は、ＬＥＤ書込部制御回路５０２の第１ＩＣ５１０にて生成されたテストパターンである。 - 特許庁 - The data transfer control device includes a pattern generator 52 for generating a test pattern of a compliant pattern, a scrambler 54 for performing scrambling, and a data scrambler 56 for scrambling and outputting transmission data.
データ転送制御装置は、コンプライアントパターンのテストパターンを発生するパターンジェネレータ５２と、スクランブル処理を行うスクランブラ５４と、送信データに対してスクランブル処理を行って出力するデータスクランブラ５６を含む。 - 特許庁 - To provide the pattern generating device and method capable of easily generating a pattern such as an address complement pattern without a limit in a maximum value of a line address and a row address, and to provide a semiconductor integrated circuit test device.
行アドレス及び列アドレスの最大値に制限無く、容易にアドレスコンプリメントパターン等のパターンを発生することができるパターン発生装置及び方法並びに半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁 - A test section 40 supplies specified image data to the data line driving section 22 and a specified synchronizing signal to the scanning line driving section 24 to make the display section display a specified test pattern.
テスト部４０は、所定のテストパターンを表示部に表示させるべく、データ線駆動部２２に所定の画像データを供給し、走査線駆動部２４に所定の同期信号を供給する。 - 特許庁 - In a verification support device 100, test patterns 213 and 214 are generated by a test pattern generation part 201 to execute simulation and an expected value is judged by an expected value judgement part 204.
検証支援装置１００では、テストパターン生成部２０１により、テストパターン２１３，２１４を生成してシミュレーションを実行し、期待値判定部２０４により期待値判定する。 - 特許庁 - A control section 1165 prints out a test image outputted from a pattern generator 1161 and sets a correction value of gradation correction devices 1164-1167 on the basis of an image signal obtained by reading the printed test image.
制御部1165は、パターンジェネレータ1161から出力されたテスト画像を印刷し、印刷されたテスト画像を読み取った画像信号に基づき、階調補正器1164〜11167の補正値を設定する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
