「testing level」を含む例文一覧(133)

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  • TESTING APPARATUS FOR LIQUID TANK LEVEL SENSOR
    液槽レベルセンサの検査装置 - 特許庁
  • DC LEVEL SHIFT CIRCUIT, AND TESTING DEVICE
    直流レベルシフト回路、及び試験装置 - 特許庁
  • GROUNDWATER-LEVEL MEASURING MACHINE AND SOUNDING TESTING MACHINE
    地下水位測定機及びサウンディング試験機 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD OF TESTING WAFER-LEVEL
    ウェハレベル試験装置及びウェハレベル試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING WATER RESERVOIR LEVEL DETECTING APPARATUS
    貯水槽内水位検出装置の試験方法 - 特許庁
  • TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD
    試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁
  • We're testing everyone with a level four classification or above.
    4階級以上の権威者全員に 検査してるところだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • RAY PATH TESTING SYSTEM AND LIGHT SOURCE POWER LEVEL MONITORING METHOD
    光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE AND WAFER LEVEL CHIP SIZE PACKAGE
    半導体ウェハの検査装置及びウェハレベルチップサイズパッケージの製造装置 - 特許庁
  • We'll reopen level r, start testing julia and the rest of the infected patients.
    ジュリアと感染者達に対して レベルRでのテストを 再開できる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING DETECTION LEVEL IN MEASURING PART OF SHUTTER TESTING MACHINE
    シャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法 - 特許庁
  • The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.
    サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁
  • One day, a female chimpanzee used in drug testing shows a high level of intelligence.
    ある日，薬の実験に使われたメスのチンパンジーが高度な知能を示す。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • The level of voltage, the timing and a current level are set by a circuit 10 used to perform the testing.
    電圧レベル、タイミングおよび電流レベルは試験を行うために使用される回路１０によって設定される。 - 特許庁
  • METHOD FOR FITTING SPRING ELEMENT ONTO SEMICONDUCTOR DEVICE AND FOR TESTING WAFER LEVEL
    半導体デバイス上へのばね要素の取り付け、及びウエハレベルのテストを行う方法 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING INSULATION PROPERTY OF WAFER-LEVEL CSP, AND TEG PATTERN USED IN THE METHOD
    ウエハレベルＣＳＰにおける絶縁性テスト方法及びこれに用いるＴＥＧパターン - 特許庁
  • In the device for testing a wafer level, control means for controlling the moving means is provided.
    ウェハレベル試験装置には、更に、移動手段を制御する制御手段が設けられている。 - 特許庁
  • To make the securing of a level setting precision of an optical input signal near to a gain switching level compatible with the reduction of a testing time.
    利得切替レベルの近傍への光入力信号のレベル設定精度確保、試験時間の削減の両立を図る。 - 特許庁
  • A method for testing an allergic disorder using the expression level of a gene in a peripheral blood monocyte as an index is provided based on the discovery of gene defensin 1 exhibiting a different expression level between an allergic disorder patient and a healthy subject.
    アレルギー性疾患の患者と健常者との間で発現レベルに差が見られる遺伝子defensin 1を見出した。 - 特許庁
  • To increase signal level precision of a signal for testing which is to be transmitted to a terminal to be measured.
    測定対象端末に送信する試験用信号の信号レベル精度を向上する。 - 特許庁
  • TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE
    複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁
  • The semiconductor testing device sets high-level and low-level signals, which a driver 2 inputs to the DUT 4 by adjustment DA converters 15 and 16, to a high level for adjustment and a low level for adjustment, respectively.
    半導体試験装置は、その調整用ＤＡコンバータ１５、１６によりドライバ２がＤＵＴ４に入力するハイレベル、ローレベルの信号を、それぞれ調整用ハイレベル、調整用ローレベルに設定する。 - 特許庁
  • To automatically change signal level of the communication signal to a testing terminal only by changing positional relationship between the displayed testing terminal and a pseudo base station.
    表示された被試験端末と擬似基地局との位置関係を変化させるのみで、被試験端末への通信信号の信号レベルを自動変更する。 - 特許庁
  • Thus, noise level during the running characteristic testing can be lowered to the level that the operator does not need earplugs or ear muffler.
    こうして、作業者が耳栓やイヤーマフを装着しなくてもよいレベルまで走行特性試験中の騒音レベルを低減することができる。 - 特許庁
  • For example, the disturbance state environment is generated by the rotating disc in an optical floating level testing device.
    例えば、かく乱状態環境は光学浮動高試験装置中の回転ディスクにより生成される。 - 特許庁
  • A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.
    試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁
  • The audiometric testing apparatuses 3 and 3' stores: a sound file for an audiometric testing to which testing sound of a prescribed frequency and sound pressure is set for carrying out the audiometric testing; and an audiometric model showing the average audiometric level of each frequency of a normal hearing listener.
    聴力検査装置３，３’には、聴力検査を実行するために所定の周波数及び音圧の検査音が設定された聴力検査用サウンドファイルと、健聴者の各周波数毎の平均的聴力レベルを示す聴力モデルとが記憶される。 - 特許庁
  • The audiometric testing apparatuses 3 and 3' correct the audio metric level of each frequency obtained by the audiometric testing to a patient based on the calculated corresponding relation.
    聴力検査装置３，３’は、被検者に対する聴力検査によって得られた各周波数毎の聴力レベルを前記算出した対応関係に基づいて補正する。 - 特許庁
  • A testing pad (22), which is integrated with the bonding pad, is equipped with a probe region for the execution of a wafer level testing (26) prior to the execution of the bumping process.
    試験パッド（２２）は、ボンディング・パッドと一体構築されており、バンピング・プロセスの実行に先立ってウェハ・レベルの試験を実行するためのプローブ領域（２６）を備えている。 - 特許庁
  • To enable an automatic operation when an operational testing is carried out with use of only low-level controllers in a guided vehicle system.
    搬送車システムにおいて、下位のコントローラだけで運用試験を行うときに自動運転を可能にする。 - 特許庁
  • In the examination of the Shinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test) class, the highest level in Kakyo, testing the ability of making a poem was especially emphasized.
    科挙の最高クラスである進士科の試験科目でも詩作の能力が特に重視されている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To provide a testing device capable of automating determination of an electromagnetic interference wave level and suspension of an experiment of an electrically-operated immunity test.
    電動イミュニティ試験の電磁妨害波レベルの決定と実験の停止を自動化した試験装置を得る。 - 特許庁
  • The testing device 20 monitors an output terminal voltage of the testing device 20, and elevates a voltage command value for applying an output voltage of the testing device 20 up to a level of the output terminal voltage, when the actual output terminal voltage is higher than the output voltage of the testing device 20.
    試験装置２０は、試験装置２０の出力端電圧を監視し、試験装置２０の出力電圧よりも実際の出力端電圧の方が高いとき、試験装置２０の出力電圧を与えるための電圧指令値を実際の出力端電圧のレベルに上昇させる。 - 特許庁
  • A quality judging specification result for the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element on a wafer carried out using the determined specification value as the specification value for the avalanche proof level test is made to serve as a quality judged result in the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element.
    決定された規格値をアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値として行ったウエーハ上の試験対象半導体素子のアバランシェ耐量試験の合否判断結果を、その試験対象半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量の試験での合否判断結果とする。 - 特許庁
  • To provide a navigation system for a vehicle, capable of testing a level of a guide route which a driver can image.
    ドライバが案内経路をどれだけ自分でイメージできるかを試すことができる車両用ナビゲーション装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide the device and the method of testing a wafer-level which control the damage and degradation of a probe.
    プローブの損傷及び劣化を抑制することができるウェハレベル試験装置及びウェハレベル試験方法を提供する。 - 特許庁
  • According to this method, each of capacitors 12 on an assembly to be tested is subjected to the same conditioning level during testing.
    この方法によって、試験されるアセンブリ上の各々のコンデンサ１２が試験中に同じ調整レベルにさらされる。 - 特許庁
  • To provide a technique for enabling error verification of a disk device from an upper level device without using a dedicated testing device.
    専用の試験機を用いずに，上位装置からディスク装置のエラー検証を行うことを可能とする技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing a water reservoir level detecting apparatus, whereby performance tests can be conducted without removal of electrode rods.
    電極棒を取り外すことなく動作試験を行うことのできる貯水槽水位検出装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The audiometric testing apparatuses 3 and 3' calculate the corresponding relation of the sound pressure of the testing sound set to the sound file and the sound pressure of the testing sound which is actually generated by reproducing the sound file by the audiometric testing apparatuses 3 and 3' and listened by each frequency based on the audiometric level and the audiometric model of each frequency obtained by the audiometric testing to the normal hearing listener.
    聴力検査装置３，３’は、健聴者に対する聴力検査によって得られた各周波数毎の聴力レベルと聴力モデルとに基づき、サウンドファイルに設定された検査音の音圧と、聴力検査装置３，３’でサウンドファイルを再生することにより実際に発生し聴き取られる検査音の音圧との対応関係を各周波数毎に算出する。 - 特許庁
  • When the water level sensor 2 measures a water level in the water storage tank 1 and informs of a reduced water warning, the water tank device opens the testing valve 5 to start water supply from a second sub water flow path 32 to the water storage tank 1.
    水位センサ２が貯水槽１の水位を計測し、減水警報を報知すると、試験弁５を開けて第２のサブ流水路３２から貯水槽１への給水を開始する。 - 特許庁
  • For each testing item on the semiconductor device, setting processes for respectively setting a voltage, an input/output level, and a plurality of measurement patterns are combined mutually for setting a testing condition, power is turned on, testing and result determination is carried out for a plurality of measurement patterns, and then, the power is turned off.
    半導体デバイスのテスト項目ごとに、電圧，入出力レベル，複数の測定パターンをそれぞれ設定する処理を組み合わせてテスト条件を設定し、パワーオンを行い、複数の測定パターンに対してテスト実行，結果判定を行い、パワーオフを行う。 - 特許庁
  • To provide a portable telephone testing device capable of measuring a voice signal gain such as relation between a sound pressure level at the microphone end of the portable telephone set and a signal level at the input end of a voice encoder without incorporating a level measuring instrument and a circuit to display a level measurement result.
    レベル測定器やレベル測定結果を表示する回路を内蔵することなく、携帯電話機のマイク端における音圧レベル及び音声符号化器の入力端における信号レベルの関係等の音声信号利得を測定できる携帯電話試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a horizontal load testing method of pile for searching for dispersion in level resistance of the pile by a single static horizontal loading test.
    １回の静的水平載荷試験により杭の水平抵抗のばらつきを求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁
  • A plurality of bit lines are simultaneously precharged at testing and the determination circuit determines the level of the bit lines adjacent to the bit lines.
    検査時に同時に複数のビット線をプリチャージすると共に、そのビット線と隣接するビット線のレベルを判定回路で判定する。 - 特許庁
  • Does the institution regularly conduct stress testing for the purpose of evaluating the level of its capital buildup and useful and adequately conservative credit risk stress testing that takes account of a scenario of at least a moderate economic recession?
    自己資本の充実度を評価するためのストレス・テスト及び少なくとも緩やかな景気後退のシナリオの効果を考慮した有意義かつ適度に保守的な信用リスクのストレス・テストを定期的に実施しているか。 - 金融庁
  • The test technique comprises a memory cell, a built-in self-testing cell, a comparing cell and a signature cell, and the signature cell contains one set of first conductive paths at a first level and one set of second conductive paths at a second level.
    メモリセルと、内蔵自己テストセルと、比較セルと、シグナチャセルとを有し、該シグナチャセルは、第一レベルの１組の第一導電性経路と、第二レベルの１組の第二導電性経路と包含している。 - 特許庁
  • To reduce the number of driving power supplies of IGBT in a semiconductor device of a three level inverter circuit to enable testing of the semiconductor device.
    ３レベルインバータ回路の半導体装置におけるＩＧＢＴの駆動電源数を減らし、かつ半導体装置の試験を行えるようにする。 - 特許庁
  • A homotopy level processing block 110 designs program changes caused by operations involved in software development, testing and maintenance as a homotopy.
    ホモトピーレベル処理ブロック１１０は、ソフトウエアの開発、試験、および保守に伴う操作によって生じるプログラムの変化をホモトピーとして設計する。 - 特許庁
  • The IC tester is obtained by improving an IC tester for testing a liquid crystal driver outputting multi-level voltage based on a plurality of reference voltages.
    本発明は、複数の基準電圧に基づいて、多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
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