「testing set」を含む例文一覧(233)

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  • To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.
    ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁
  • A high-temperature nitrogen gas of a specific pressure is sprayed to silver being melted by a silver particle generator to allow a silver particle to fly, and the silver particle borne on a nitrogen gas flow is carried to a filter 81 for testing where a filter holder 6 is set and a rear-stage filter 82.
    所定圧力の高温窒素ガスを銀粒子発生器５において溶融した銀に吹き付けて銀粒子を飛ばし、これにより窒素ガス流に乗った銀粒子をフィルタホルダ６にセットされている試験用フィルタ８１と後段フィルタ８２に輸送する。 - 特許庁
  • Disclosed is the performance testing method for the HGA having a magnetic head and a microactuator precisely positioning the magnetic head over a magnetic medium, wherein the microactuator is driven in a previously set positive direction using DC voltage driving and driven in a previously set minus direction using DC voltage driving, and lastly, three track center values are calculated.
    磁気ヘッドと、磁気媒体に対して精密に磁気ヘッドの位置決めを行うマイクロアクチュエータと、を備えたＨＧＡの性能試験方法であって、直流電圧駆動を用いて予め設定された正方向にマイクロアクチュエータを駆動し、また、直流電圧駆動を用いて予め設定された負方向にマイクロアクチュエータを駆動し、最後に、３つのトラック中心値の算出を行う。 - 特許庁
  • The tester 36 measures corresponding to each test item in accordance with a test pattern in which a plurality of test items are set in the given order, and determines by a measured result determination part 60 whether the measured result is succeeded or failed, thereby testing the presence or absence of the failure of the solid-state imaging device.
    テスタ３６は、複数の検査項目が所定の順序で設定されたテストパターンに従って各検査項目に応じた測定を行い、その測定結果の良否を測定結果判定部６０で判定することによって、固体撮像素子の不良の有無を検査する。 - 特許庁
  • The load testing device 9 arbitrarily sets each transient communication rate of a packet service and a set communication rate duration time to make a fluctuation evaluation of a data communication rate in transmitting and receiving user data to/from a UE 5 from the user data generating/inspecting part 9b through the node B device 4.
    負荷試験装置９はユーザデータ生成／検査部９ｂからノードＢ装置４を介してＵＥ５との間でユーザデータの送受信を行う際に、パケットサービスの各過度的な通信レート及び設定通信レート継続時間を任意設定し、データ通信レートの揺らぎ評価を実施する。 - 特許庁
  • A plurality of periodic time-stamp packets are transmitted to a communications apparatus of a receiver side with a testing transmission rate (R) set currently, and the variation trend of the transmission delay time difference between the time-stamp packets is evaluated, based on the respective times at which the time-stamp packets are received by the communications apparatus of the receiver side.
    複数の周期的なタイムスタンプパケットを、受信側の通信装置へ、現在設定されている試験伝送率(R)で伝送し、受信側の通信装置にタイムスタンプパケットのそれぞれが受信された時刻に基づいて、タイムスタンプパケット間の伝送遅延時間差の変化傾向を検査する。 - 特許庁
  • To provide a portable telephone testing device capable of measuring a voice signal gain such as relation between a sound pressure level at the microphone end of the portable telephone set and a signal level at the input end of a voice encoder without incorporating a level measuring instrument and a circuit to display a level measurement result.
    レベル測定器やレベル測定結果を表示する回路を内蔵することなく、携帯電話機のマイク端における音圧レベル及び音声符号化器の入力端における信号レベルの関係等の音声信号利得を測定できる携帯電話試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Therefore, a weight of a setting weight loaded into a car for setting a braking force of the hoisting machine is halved, so that labor and a working time for loading/unloading the setting weight in a braking action testing time can be reduced and braking force of the hoisting machine can be set easily.
    したがって、巻上機の制動力設定のためにかごに積み込む設定用おもりの重量が１／２となり、制動作用の検定時に設定用おもりをかごに積み込み、また撤去する作業の労力と作業時間が減少し巻上機の制動力設定を容易化する。 - 特許庁
  • In this material testing machine 100, a changing speed of a stress or strain in a specimen is detected by a load cell 105 or an extensometer 106, and a pulse number P is determined based on a value of a deviation ΔV between a set target changing speed and a detected actual changing speed to control a rotating speed of a motor 1.
    材料試験機１００は、供試体の応力または歪みの変化速度をロードセル１０５や伸び計１０６により検出し、設定された目標変化速度と検出した実変化速度との偏差ΔＶの値によりパルス数Ｐを決定して、モータ１の回転速度を制御する。 - 特許庁
  • When a command (positions of SW1-SW4) acquired at the time of switching on a power source is 1110, a sound source substrate is set in a test mode, and when the switches SW1-SW4 are made ON after commanded to start testing, they start to pronounce a scale corresponding to them.
    電源投入時に取得したコマンド（スイッチＳＷ１〜４のポジション）が１１１０であるとテストモードになり（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、テスト開始のコマンド（Ｓ１０２：ＹＥＳ）の後、スイッチＳＷ１〜４がオンにされると（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、それに対応する音階の発音を開始する（Ｓ１０４）。 - 特許庁
  • To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.
    過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁
  • A reference pellet marking prober 1 is provided independently of the wafer-testing device, a reference pellet that becomes the position reference of each pellet is arranged at the wafer by a reference pellet marking prober 1, and the position coordinates of each pellet are successively set in reference with the reference pellet to create a common wafer map.
    ウェハテスト装置に独立して基準ペレットマ−キングプロ−バ１を設け、基準ペレットマ−キングプロ−バ１により各ペレットの位置基準となる基準ペレットをウェハに配置させ、基準ペレットを基準にし各ペレットの位置座標を順次設定し共通のウェハマップを作成する。 - 特許庁
  • The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.
    テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁
  • Concerning measures against radionuclides in foods, the establishment of the survey system is supported by subsidizing the local governments to set up testing equipment and facilitating their monitoring surveys under new standard limits, and proceed with research on and investigations into the radioactive materials in foods
    食品中の放射性物質対策について、新たに設定する基準値の下で円滑にモニタリング検査が行えるよう、自治体の検査機器の整備に対して補助を行い、検査体制の整備を支援するとともに、食品中の放射性物質に関する調査研究を進める。 - 厚生労働省
  • This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.
    表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁
  • A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.
    前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁
  • (2) With regard to an application for testing as set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act (including the case where it is applied mutatis mutandis pursuant to Article 23, paragraph (2) or Article 25-3, paragraph (2) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act; the same shall apply in the following paragraph) which was filed prior to the enforcement of Article 10 and for which a disposition of success or failure in passing said testing had not been made at the time of enforcement of the relevant provisions, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such application.
    ２　第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項（旧電気用品取締法第二十三条第二項又は第二十五条の三第二項において準用する場合を含む。次項において同じ。）の試験の申請であって、第十条の規定の施行の際、合格又は不合格の判定がされていないものについての合格又は不合格の判定については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • A start condition comprising a day Y of the week, an hour T and a diagnostic item S is set, an IC testing device 30 is controlled to execute a self-diagnostic program 34 about the prescribed diagnostic item S when reach to the prescribed day Y of the week and the prescribed hour T is detected, and the self-diagnosis is thereby conducted automatically.
    曜日Ｙと時刻Ｔと診断項目Ｓから成る起動条件を設定し、所定の曜日Ｙと時刻Ｔに到達したことを検出した場合に、ＩＣ試験装置３０を制御し所定の診断項目Ｓについての自己診断プログラム３４を実行させることにより、自動的に自己診断を行う。 - 特許庁
  • To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.
    本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁
  • The chromate treated article is obtained by forming a galvanized layer 2 on the surface of an iron plate 1 and forming a heat treated chromate coating film 3 on the surface of the galvanized layer 2, and the adhesion strength of the heat treated chromate coating film 3 is set to be 0.5 to 0.7 N when the strength is measured by a scratch testing machine.
    鉄板１表面に亜鉛系めっき層２が形成され、上記亜鉛系めっき層２の表面に熱処理クロメート皮膜３が形成されてなるクロメート処理品であって、スクラッチ試験機による上記熱処理クロメート皮膜３の密着強度が０．５〜０．７Ｎの範囲に設定されている。 - 特許庁
  • Article 29 (1) The State and prefectures shall set up the necessary facilities for inspections where inspections under Article 25, paragraph (1) or Article 26, paragraphs (1) to (3) (hereinafter referred to as "product inspections") and affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out.
    第二十九条　国及び都道府県は、第二十五条第一項又は第二十六条第一項から第三項までの検査（以下「製品検査」という。）及び前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.
    半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.
    シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.
    所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁
  • To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.
    本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁
  • To provide a method for automatically calibrating a detection level in a measuring part of a shutter testing machine, in which manual adjusting operation of an adjusted value VR is eliminated and an output level of a comparator to electric output (voltage) of reflected light is automatically set just by opening the shutter of a camera, whereby the shutter speed of the camera is easily, speedily and accurately detected.
    人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッタを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータの出力レベルを設定できるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供すること。 - 特許庁
  • This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.
    テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁
  • A system for testing a collection of the device chips by temporarily attaching them to a carrier having a plurality of receptacles with microdendritic features; the receptacles matching with and pushed in contact with a matching set of contact pads on the device chips; the carrier additionally having test pads connected to the receptacles through interconnect wiring.
    マイクロ樹枝状フィーチャを有する複数のレセプタクルを有するキャリアに一時的に取り付けることによってデバイス・チップの集合体を試験するためのシステムであって、レセプタクルが、デバイス・チップ上のコンタクト・パッドの合致する組と合致し、接触した状態で押され、前記キャリアがさらに、相互接続配線を介してレセプタクルに接続されたテスト・パッドを有するシステムを提供すること。 - 特許庁
  • (3) Where an application for approval for product types pursuant to the provisions of Article 18 or of Article 23, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act or an application for authorization for product types pursuant to the provisions of Article 25-3, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act was filed by a person who had passed the testing set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act prior to the enforcement of Article 10, or where such an application was filed by a person who had filed an application for testing for which the provisions then in force are to remain applicable pursuant to the provisions of the preceding paragraph and who had passed said testing, where either of said persons has filed such an application for approval or authorization for such product types by attaching a test certificate therefor within 10 days from the day of having passed said testing, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such an application.
    ３　第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項の試験について合格とされた者が第十条の規定の施行の日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請又は前項の規定によりなお従前の例によることとされた試験の申請をした者であって当該試験に合格とされたものがその合格とされた日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請についての処分については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • In this semiconductor testing device constituted so that input terminals of the plurality of DUTs are connected in parallel, and that a test signal is applied thereto simultaneously, the plurality of DUTs are mounted on a common DUT interface board, and a wiring pattern distributed in the branched state to the plurality of DUTs is branched at one branch point, and formed so that each length from the branch point to each DUT point is set to be equal.
    複数のＤＵＴの入力端子を並列接続して試験信号を同時に印加するように構成された半導体試験装置において、 前記複数のＤＵＴは共通のＤＵＴインタフェースボードに実装され、前記複数のＤＵＴに分岐配線する配線パターンは１箇所の分岐点で分岐され、この分岐点から各ＤＵＴ点までが等しい長さになるように形成されていることを特徴とするもの。 - 特許庁
  • Article 149 The employer shall, when carrying out a rotating test of a high speed rotating body (meaning the rotor of a turbine rotor, a basket of a centrifugal separator, etc., having the circumferential speed exceeding 25 m/sec.; hereinafter the same shall apply in this Section), carry out the test inside of a purpose-built sound building or at place isolated by sound barriers, etc., in order to prevent dangers due to the destruction of the rotating body. However, this shall not apply to the case where a rotating test of the high speed rotating body other than those set forth in the next Article is carried out, and when taking measures such as providing a sound cover in the testing facilities for preventing dangers due to destruction of the said rotating body.
    第百四十九条　事業者は、高速回転体（タービンローター、遠心分離機のバスケツト等の回転体で、周速度が毎秒二十五メートルをこえるものをいう。以下この節において同じ。）の回転試験を行なうときは、高速回転体の破壊による危険を防止するため、専用の堅固な建設物内又は堅固な障壁等で隔離された場所で行なわなければならない。ただし、次条の高速回転体以外の高速回転体の回転試験を行なう場合において、試験設備に堅固な覆いを設ける等当該高速回転体の破壊による危険を防止するための措置を講じたときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 34-4 A person who intends to submit the notification pursuant to the provision of paragraph (1) of Article 57-3 of the Act shall submit the notification using Form No. 4-3 accompanied by the document showing the result of the toxicity test prescribed by paragraph (1) of the preceding Article for the new chemical substances prescribed by the same paragraph of the same Article of the Act pertaining to the said notification document (hereinafter referred to as "new chemical substance" in this Section), the document certifying that the said test has been carried out at the testing laboratory, etc., which satisfies the standard provided by the Minister of Health, Labour and Welfare set forth in paragraph (2) of the same Article and the document indicating designed methods of manufacturing and handling of the new chemical substance to the Minister of Health, Labour and Welfare.
    第三十四条の四　法第五十七条の三第一項の規定による届出をしようとする者は、様式第四号の三による届書に、当該届出に係る同項に規定する新規化学物質（以下この節において「新規化学物質」という。）について行つた前条第一項に規定する有害性の調査の結果を示す書面、当該有害性の調査が同条第二項の厚生労働大臣が定める基準を具備している試験施設等において行われたことを証する書面及び当該新規化学物質について予定されている製造又は取扱いの方法を記載した書面を添えて、厚生労働大臣に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 10 (1) A person who intends to engage in a business that handles animals (such animals shall be limited to mammals, birds, and reptiles, and shall exclude those pertaining to livestock farming and those being cared for or kept in order to be provided for use in testing and research, use in manufacturing biological preparations, or for other uses specified by a Cabinet Order; hereinafter the same shall apply in this Section and the following Section) (such business shall include selling [including acting as an intermediary or agent therefor; the same shall apply in the following paragraph], keeping, lending, training, exhibiting [including the provision of opportunities for contact with animals; the same shall apply in the following paragraph] or other handling specified by a Cabinet Order with regard to animals; hereinafter referred to as the "animal handling business") shall receive registration from the prefectural governor having jurisdiction over the location of the place of business where the person intends to engage in said business (in the case of a designated city set forth in Article 252-19(1) of the Local Autonomy Act [Act No. 67 of 1947] [hereinafter referred to as the "designated city"], the mayor of said designated city; hereinafter the same shall apply in this Section, Article 25(1) and (2) and Section 4).
    第十条　動物（哺乳類、鳥類又は爬虫類に属するものに限り、畜産農業に係るもの及び試験研究用又は生物学的製剤の製造の用その他政令で定める用途に供するために飼養し、又は保管しているものを除く。以下この節及び次節において同じ。）の取扱業（動物の販売（その取次ぎ又は代理を含む。次項において同じ。）、保管、貸出し、訓練、展示（動物との触れ合いの機会の提供を含む。次項において同じ。）その他政令で定める取扱いを業として行うことをいう。以下「動物取扱業」という。）を営もうとする者は、当該業を営もうとする事業所の所在地を管轄する都道府県知事（地方自治法（昭和二十二年法律第六十七号）第二百五十二条の十九第一項の指定都市（以下「指定都市」という。）にあつては、その長とする。以下この節、第二十五条第一項及び第二項並びに第四節において同じ。）の登録を受けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
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