「testing time」を含む例文一覧(913)

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  • He devotes all his time to testing.
    彼は検査にかかりきりです。 - Weblio Email例文集
  • To reduce the total time for a testing for a semiconductor device testing system.
    半導体装置の試験システムの試験の総時間の短縮。 - 特許庁
  • To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.
    カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING TIME OPTIMIZING METHOD
    半導体テスト装置および半導体テスト時間最適化方法 - 特許庁
  • TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR MEASURING OUTPUT DELAY TIME
    出力遅延時間測定用テスト方法およびそのテスト回路 - 特許庁
  • MULTI-CHIP PACKAGE CAPABLE OF SHORTENING TESTING TIME
    テストタイムを短縮できるマルチチップパッケージ - 特許庁
  • To shorten time for testing a network cable.
    ネットワークケーブルの試験時間を短縮する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING TIME DIVISION SWITCH
    時分割スイッチの試験方法及び装置 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING SECOND COUNTER OF REAL-TIME CLOCK IC
    リアルタイムクロックＩＣの秒カウンタテスト方法 - 特許庁
  • To shorten total testing time, in the testing of a circuit to be tested.
    被試験回路をテストする場合の総合的なテスト時間を短縮する。 - 特許庁
  • Operation testing machine, insulation resistance tester, withstand voltage testing device, temperature testing device, and delay time measuring device
    作動試験用機械、絶縁抵抗計、耐電圧試験装置、温度試験装置及び遅動時間測定装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • INCREASE OF INTERNAL CLOCK FOR SHORTENING TESTING TIME
    テスト時間短縮のための内部クロックの増大 - 特許庁
  • At this time, the testing machine body 10 is not driven.
    このとき試験機本体１０は駆動されない。 - 特許庁
  • TEST STRUCTURE FOR ON-CHIP REAL-TIME RELIABILITY TESTING
    オン・チップ・リアルタイム信頼性試験用の試験構造 - 特許庁
  • To provide an address line of flash memory for shortening the testing time, a testing method of a testing device, and the testing device.
    試験時間の短縮化を図ったフラッシュメモリのアドレス線及び試験装置の試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • I wish we had time for testing, but we don't.
    テストの時間があればよいですが 今はありません - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To provide a circuit and a method for memory testing capable of shortening a memory testing time.
    メモリテストの時間を短縮するメモリテスト回路およびメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To reduce testing time for one semiconductor device.
    半導体デバイス１個あたりのテスト時間を短縮する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TO REDUCE PACKAGE TESTING TIME
    パッケージテスト時間を低減させるための半導体メモリ素子 - 特許庁
  • At the same time, she was testing her new custom-made shoes.
    同時に，彼女は新しい特注のシューズを試した。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • To reduce the time required for testing a semiconductor device.
    半導体装置の検査に要する時間を短縮する。 - 特許庁
  • To shorten testing time and drop a weight safely.
    試験時間が短く、安全に錘を落下させること。 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SHORTEST TIME BIT ERROR RATE
    最短時間ビット誤り率のテスト方法及びシステム - 特許庁
  • THERMAL THROTTLING CONTROL FOR TESTING OF REAL-TIME SOFTWARE
    リアルタイム・ソフトウェアの試験のためのサーマル・スロットリング制御 - 特許庁
  • To reduce a testing time of a semiconductor integrated circuit.
    半導体集積回路のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁
  • CALIBRATION SYSTEM FOR TIME BASE OF DIGITAL ULTRASONIC TESTING APPARATUS
    ディジタル超音波探傷装置の時間軸校正方式 - 特許庁
  • To shorten time mainly required for testing with a testing device for testing an object from a plurality of visual test fields.
    検査対象物を複数の検査視野にて検査する検査装置において、主として、検査に要する時間の短縮を図る。 - 特許庁
  • ERROR TESTING DEVICE IN TIME DIVISION DIRECTION CONTROL INTERFACE
    時分割方向制御インタフェースにおけるエラー試験装置 - 特許庁
  • OUTPUT BUFFER, SYNCHRONOUS MEMORY DEVICE AND ACCESS TIME TESTING METHOD
    出力バッファ、同期型メモリ装置及びアクセスタイムテスト方法 - 特許庁
  • NORMALITY TESTING METHOD OF NEW TIME SIGNAL GUIDE DEVICE AND NORMALITY TESTING DEVICE USED THEREFOR
    新時報案内装置の正常性試験方法およびそれに用いる正常性試験装置 - 特許庁
  • To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time.
    試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。 - 特許庁
  • To reduce testing time for testing a semiconductor integrated circuit using an actual operation frequency.
    実動作周波数を用いて半導体集積回路をテストする際のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor testing device capable of testing a system LSI in a short time.
    本発明は、システムＬＳＩの試験が短時間でできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time.
    テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • Since the same test adapter card as used in the analog testing with the card throttle is employed in the digital testing of card, testing time is shortened and it makes unnecessary the testing device to complicate.
    カード・スロットでのアナログ・テストの場合と同じテスト・アダプタ・カードが、カードのデジタル・テストにも用いられるので、テスト時間が短縮され、テスト装置を複雑にする必要がなくなる。 - 特許庁
  • To obtain a corrosion resistance testing method for metallic material, capable of shortening the corrosion testing time of the metal material and capable of realizing simplification and compactification of corrosion resistance testing equipment, and to provide corrosion resistance testing equipment.
    金属の耐食試験時間を短縮でき、且つ、装置の簡易化及びコンパクト化を実現することができる金属材料の耐食性試験方法及び装置を得る。 - 特許庁
  • To provide an immunological testing method of a specimen, constituted so as not only to more symplify an testing method, but also to shorten the testing time and capable of performing accurate diagnosis, and to provide a simple testing instrument used therein.
    検査方法をより簡便にし、検査所要時間を短縮すると共に正確な診断がおこなえる方法及びその検査に用いる簡便な器具の提供。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EMBEDDED-TYPE TIME DOMAIN REFLECTIVITY
    埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device testing circuit which can set the test mode in a short time and moreover reduce the testing time.
    テストモードを短時間に設定でき、しかも、テスト時間を短縮することを可能にした半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁
  • REAL-TIME TRIGGER PERFORMANCE INDEX INDICATION DEVICE, AND TESTING AND MEASURING DEVICE
    実時間トリガ性能指数指示装置及び試験測定機器 - 特許庁
  • Testing is easy and should only take a few minutes of your time.
    検査は簡単で、わずか数分間のお時間をとるだけです。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
  • On the occasion of testing, besides, the delay control circuit 9 for testing increases the delay time for testing for one side and decreases it for the other, while the total delay time is left fixed.
    また、テストの際、テスト用遅延制御回路９は、合計遅延時間を一定にしたまま、テスト用遅延時間の一方を増加させ他方を減少させてゆく。 - 特許庁
  • To shorten a testing time for a semiconductor device by means of a tester and to lower a testing cost for the semiconductor device.
    テスタによる半導体デバイスのテスト時間を短縮し、半導体デバイスのテスト費用を削減する。 - 特許庁
  • To enhance the accuracy of semiconductor testing by calibration without substantially affecting the length of time required for testing.
    試験時間に大きな影響を与えることなく、校正により半導体試験の精度を向上させる。 - 特許庁
  • To abridge setup time of a semiconductor testing device, and abridge its measurement and evaluation time.
    半導体テスト装置のセットアップ時間を短縮し、その測定・評価時間を短くする。 - 特許庁
  • To provide a testing device for a touch panel and a testing method for a touch panel that are capable of decreasing the number of routing wires and enabling testing in a short period of time.
    引回し配線の数を減らし、短時間の検査を可能とするタッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法を提供する。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL DEVICE USING TRANSITION TIME STAMP
    遷移タイムスタンプを利用したディジタル・デバイスの試験装置および方法 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor tester capable of shortening a testing time.
    試験時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a data transmission system test device that can accurately conduct testing by using time information.
    時刻情報を用いた試験を正確に行えるようにする。 - 特許庁
  • To provide a reliability testing device, capable of shortening the testing time for testing the phenomena having temperature dependence wherein a plurality of semiconductors that are the testing object exist.
    被試験対象である半導体素子が複数あり、温度依存性を有する現象の試験を行う場合の試験時間を短くすることが可能な信頼性試験装置を実現する。 - 特許庁
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