「testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 240 241 242 243 244 245 246 247 248 .... 288 289 次へ＞- A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.
ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁 - To provide a structure of a cylinder of an extruder which allows observation of the state of mixing-and-kneading and dispersion within the cylinder, reduces the testing extrusion period, and enables taking appropriate measures against troubles during molding.
シリンダー内における混練り・分散状態が観察できて、テスト押出し期間を短縮し、成形中におけるトラブルにも適切に対策をとることが可能となる押出機のシリンダーの構造を提供する。 - 特許庁 - To provide a wire rod for a spring excellent in surface properties and applicable not only in the case a surface quality control system executing EC testing is introduced before SV treatment but also in the case the system is not introduced.
ＳＶ処理前にＥＣ検査を行う表面品質管理システムを導入する場合は勿論のこと、該システムを導入しない場合においても適用可能な表面性状に優れたばね用線材を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device capable of executing, simply and surely, a permeability test of a coating film applied onto the surface of armoring material such as ALC or the like in an extremely short time without using consumables such as liquid, sealing material.
ＡＬＣ等の外装材の表面に施された塗膜の透水試験を極めて短時間で、かつ液体やシーリング材等の消耗品を用いずに簡単かつ確実に実施し得る試験装置を目的とする。 - 特許庁 - In this vibration/excitation testing machine for driving a hydraulic cylinder (actuator) 3 linearly expanding and contracting for exciting a test object with optional excitation characteristic, a hydraulic damper 20 moving sequentially with a cylinder rod (moving part) 7 of the hydraulic cylinder 3 is provided.
直線状に伸縮する油圧シリンダ（アクチュエータ）３を駆動し、被試験体を任意の加振特性で加振する振動／加振試験機において、油圧シリンダ３のシリンダロッド（可動部）７に連動する油圧ダンパ２０を備える。 - 特許庁 - To provide a method of testing an optical fiber having a branch capable of monitoring increase in loss or the like in an N-branch optical fiber network, in a branched part of an optical fiber, by a simple process.
本発明の課題は、簡単なプロセスにより、Ｎ分岐光ファイバネットワークの損失増加等のモニタリングを、分岐部以下の光ファイバにおいて可能とする分岐を有する光ファイバの試験方法を提供することにある。 - 特許庁 - This running testing device 50 for the railway vehicle is equipped with a rail wheel 16, a rail wheel motor 7, a rail wheel hydraulic shaker, truck hydraulic shakers 34, 35, a car body hydraulic shaker 36, a hydraulic system, a flywheel device and a control means.
鉄道車両用走行試験装置５０は、軌条輪１６、軌条輪電動機７、軌条輪油圧加振機、台車油圧加振機３４、３５、車体油圧加振機３６、油圧システム、フライホイール装置、制御手段を備える。 - 特許庁 - An overall image of a substrate S is formed by composing the image provided at each of the image pick-up positions by driving the camera 1 mounted on a head end of an arm part 3 by positioning it at a plurality of the positions above the testing objective substrate S.
アーム部３の先端に取り付けられたカメラ１を、検査対象の基板Ｓの上方の複数位置に位置決めして駆動し、各撮像位置で得られた画像を合成して、基板Ｓの全体像を生成する。 - 特許庁 - To provide a method for measuring a casting rate of casting slip for pottery capable of evaluating an actually measured value without being affected by various conditions of molds used in measuring the casting rate and an instrument for testing the casting rate.
着肉速度測定時に使用している型の諸条件に影響を受けることなく実測値を評価できる陶磁器用泥漿の着肉速度試験方法並びに着肉速度試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a tester and a testing method for IC device or solder ball of a wafer in which a pressure required for bringing all solder bumps in an IC array into contact with a test array is reduced significantly.
ＩＣアレイ内のすべてのはんだバンプを、テスト用のアレイと接触させるのに必要な圧力を大幅に低減させるような、ＩＣデバイス、あるいはウェハ用のはんだボールのテスト方法／装置を提供する。 - 特許庁 - The measurement method uses the testing apparatus for determination of the shrinkage amount, length and/or crimp properties such as the number of crimps, crimp removal and crimp stability of individual staple fiber.
本発明は、特に、この試験装置を利用することによる、個々のステープルファイバの収縮量、長さ及び／または、捲縮数、捲縮除去及び捲縮安定性のような、捲縮特性の決定のための方法に関する。 - 特許庁 - To provide a method and device for operation for high-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.
発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁 - When the test device is a testing status, one end of the pressurizing probe is physically brought into contact with the conductor, and the other end of the pressurizing probe is brought into contact with the other suitable conductor (a conductor pad in a printed circuit board or the like).
試験装置が試験実施状態となったとき、加圧プローブは１端で導電体と物理的にそれぞれ接触し、他端で他の適当な導電体（プリント回路ボードの導電パッド等）とそれぞれ接触する。 - 特許庁 - The loop-back device includes an incoming data receiving section for receiving incoming data transmitted from the mobile phone testing device side, and a outgoing data transmitting section for transmitting, to a mobile phone, all or a part of received incoming data as outgoing data.
ループバック装置は、携帯電話試験装置側から送信される上りデータを受信するための上りデータ受信部と、受信した上りデータの全部又は一部を下りデータとして携帯電話に対して送信する。 - 特許庁 - To provide a humidifier which can detect a possibility that a heating means is damaged or failed in accordance with scale deposition or the like before it happens, a gas supplier, and a fuel cell evaluation testing apparatus.
スケールの析出等に伴う加熱手段の損傷や故障の可能性を未然に検知できる加湿装置、当該加湿装置を備えたガス供給装置、並びに、燃料電池評価試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - Then, ultrasonic waves are transmitted by a probe drive device 8 from the ultrasonic probe 2 into the inside of the steam valve 1 through the metal shoe 21, thereby testing the presence or absence of defects such as cracks or the like in the steam valve 1.
そして、探触子駆動装置８により超音波探触子２から金属シュー２１を介在して蒸気弁１の内部に超音波を発信して、蒸気弁１内部の亀裂などの欠陥の有無を検査する。 - 特許庁 - An insulating object which is made of the same material as the insulating member 18 is mounted as insulation testing piece 10 on a insulating member 18 covering a conductive part 17 connecting VCB 7 and VT 8 in a high voltage equipment 30.
高電圧機器３０内のＶＣＢ７とＶＴ８とを接続する導電部１７を覆う絶縁部材１８上に、この絶縁部材１８と同じ材質の絶縁物を絶縁試験片１０として取り付ける。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a model structure, which can test physical phenomena occurring when a mobile object moves in a structure, by using a simple model, and to provide the model structure.
構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device, for a prescribed item with reference to an apparatus to be measured, by which a noise is detected in real time and at once and which can urge the early solution of a problem when a test result is affected.
ノイズをリアル・タイムに、又即時に検知し、試験結果に影響が出てくる際には、問題を早期に解決することを促すことができる被測装置に対する所定試験項目の試験測定装置を提供する。 - 特許庁 - This module contains one or many color-sensitive photodiodes(40a, 40b, 40c) accurately measuring true colors and intensity emitted by the device, when it is exposed to a light coupled from an emitter under testing.
該モジュールは、試験中のエミッタから結合された光に露呈された時、デバイスにより発出された真の色と強度とを正確に測定する１つ又は多数の色感知性フォトダイオード（４０ａ，４０ｂ，４０ｃ）を含んでいる。 - 特許庁 - Using a status transition diagram obtained by regarding a given logic circuit as a status transition machine, a test pattern generator 4 generates a test pattern for diagnosing resistor level trouble for testing all transitions from a status to a status.
テストパタン作成器４は、与えられた論理回路を状態遷移機械とみなして得た状態遷移図を用いて、状態から状態への全ての遷移をテストするレジスタレベル故障診断用テストパタンを生成する。 - 特許庁 - To provide a testing device, a method and a test piece capable of preventing deformations or cracks caused by a local high-gradient temperature distribution, even if it is subjected to high-frequency induction heating, and properly evaluating thermal fatigue strength.
高周波誘導加熱されても、局所的な急勾配の温度分布による変形や亀裂を防止することができ、適正に熱疲労強度評価できる試験装置、方法およびテストピースを提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.
広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁 - Further, since a whole pattern stopping command 38 is not received, the pattern displayed before the power cut can be displayed again when the power is on again without outputting test projection testing information to the outside (such as a connector 20).
更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁 - To provide a compact shaft center adjusting device for a material testing machine that allows a user to easily adjust a position and an angle of a gripper and can be attached without forming through holes on a load frame.
全高を小さくしてもつかみ具の位置および角度を容易に調整することができ、また、負荷枠に貫通孔等を形成することなく取付が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁 - Thereafter, it is detected in a statically determinate pressure detection step that the thrust has been statically determinated to be the contacting thrust (Step S14), and the contacting thrust is changed to the adequate thrust in a testing thrusting step (Step S15).
その後、押圧力が当接押圧力に静定されたことが圧力静定検出工程（ステップＳ１４）により検出され、検査用押圧工程（ステップＳ１５）にて当接押圧力が適正押圧力に変更される。 - 特許庁 - The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.
き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁 - To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.
本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁 - A genetic testing system ensures complete traceability of animals and food products involving a method of uniquely identifying animals for data collection, records management and retrieval purpose involving a novel method of genetic analysis using individual DNA fingerprinting of parentage of individual animal to effectively provide for full traceability of animals from birth to consumption.
これには個々の動物の親子関係のＤＮＡフィンガープリントを用いて動物の出生から消費までの完全な追跡可能性を提供する新規な遺伝子分析法が含まれる。 - 特許庁 - Remaining gas in the test finishing high pressure tank 2 is recovered by a recovering apparatus 13, and, preferably, the test finishing high pressure tank 2 is replaced with a high pressure tank for a test as a next testing object.
試験終了高圧タンク２内における残りのガスを回収器１３により回収し、当該試験終了高圧タンク２を次の試験対象たる供試用高圧タンクと入れ替えることも好ましい。 - 特許庁 - To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.
本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a flushing occurrence testing device of powder and grain and a flushing occurrence prediction method of the powder and grain capable of predicting flushing occurrence of the powder and grain more accurately in consideration of a gap size and a differential pressure.
間隙の大きさおよび差圧を考慮して、より正確に粉粒体のフラッシング発生の有無予測を可能とする、粉粒体のフラッシング発生試験装置および粉粒体のフラッシング発生予測方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive anemometer for a weather/light resistance testing machine capable of measuring wind speed accurately even when a sample is rotated around a light source without disturbing wind passing along the sample surface.
安価で、試料表面を通過する風を乱すことなく、試料が光源の周囲を回転した場合においても、風速を精度良く測定することが可能な、耐候光試験機用の風速計を提供する。 - 特許庁 - In addition, since a peripheral part of the sealed body is not fixed on the substrate, a position shift caused by deformation or adhesion of solder is not generated to thereby facilitate the lead adjustment work, when testing the semiconductor device dismounted from the substrate.
更に、基板から取り外した半導体装置を試験する際に、封止体近傍部分は基板に固定されていないため、変形による位置のずれやハンダの付着もなく、リード修正作業が容易となる。 - 特許庁 - To surely make testing a printed circuit board generate pseudo-failures, by setting the printed circuit board in parallel to an arm efficiently in a short time, to reduce errors as far as possible.
本発明は、短時間で効率的に、プリント回路基板とアームとを並行に設定し、誤差をできるだけ小さくすることよって、確実に擬似故障を発生させ、プリント回路基板の試験を行うことを目的とする。 - 特許庁 - The geological survey equipment 1 is equipped with a penetration rod 3 wherein a sampling section 2 for sampling the ground specimen is provided and a sounding testing screw point 4 put on the front end of the penetration rod 3.
本発明の地質調査装置１は、地盤試料をサンプリングするサンプリング部２が設けられた貫入ロッド３と、該貫入ロッド３の先端に装着されたサウンディング試験用のスクリューポイント４とを備えている。 - 特許庁 - In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..
半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁 - To provide a small-sized drying test device not only capable of testing the presence of fly of fine powder in an actual double cone dryer, deposition onto a wall face thereof, and generation of a granule therein, but also capable of facilitating an operation in a test.
実機のダブルコーンドライヤにおける微粉の飛散、壁面への付着や造粒の発生の有無を試験することができるだけでなく、小規模で且つ試験時の操作が容易である乾燥試験装置を提供する。 - 特許庁 - The wiring for connecting the microcomputer 2 drip and the memory chip 4 to the conductive pad 10p for testing is connected to a conductive pad 7p in the outer row out of conductive pads 6p, 7p in two rows connected to the microcomputer chip 2.
また、マイコンチップ２およびメモリチップ４をテスト用導電パッド１０ｐに接続する配線は、マイコンチップ２に接続される２列の導電パッド６ｐ、７ｐのうち、外側の列の導電パッド７ｐに接続する。 - 特許庁 - In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.
メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁 - Thus, the environmental test of the circuit board 20 is conducted by energizing the circuit board 20, using an energizing unit 9, while the temperature inside the testing chamber forming housing 25 is made to change in this manner by low dew-point air.
このように低露点エアーによって試験室形成用ハウジング２５内の温度を変化させながら回路基板２０へ通電装置９を用いて通電することによって回路基板２０の環境試験を行う。 - 特許庁 - The control part 21 incorporates a testing command and expected value data from input terminals 11, 12 and outputs a command to the functional block 31 or the like, and the expected value data to a determining part 40 through an internal bus 30.
制御部２１では、入力端子１１，１２から試験用のコマンドと期待値データが取り込まれ、内部バス３０を介してコマンドが機能ブロック３１等に、期待値データが判定部４０に出力される。 - 特許庁 - To provide an address pattern generation device capable of generating an address pattern for accessing a part of a memory space without forcing an excessive load on user for preparing a device program and to provide a device for testing a semiconductor integrated circuit.
デバイスプログラムを作成する過度の負担をユーザに強いることなくメモリ空間の一部をアクセスするアドレスパターンを発生させることができるアドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a reference position correction device for a conveying mechanism for correcting the reference positions in all of X-axis direction, Z-axis direction, θ-axis direction and R-axis direction with one testing light beam.
１本の検査光を用いることによりＸ軸方向、Ｚ軸方向、θ軸方向及びＲ軸方向の全ての方向の基準位置補正を行うことが可能な搬送機構の基準位置補正装置を提供する。 - 特許庁 - In the dummy terminal forming step, dummy terminals for testing which are wider than the terminal 17 is formed with a gap narrower than the gap part 65 mutually kept therebetween by cutting the dummy terminal forming region 64 in the extending direction of the gap portion 65.
ダミー端子形成工程では、ギャップ部６５が延びる方向にダミー端子形成領域６４を切断して互いにギャップ部６５よりも狭い間隙で端子１７よりも幅が広いテスト用ダミー端子を形成する。 - 特許庁 - To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece.
試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。 - 特許庁 - An intermediary computer 10 acquires personal data and test data from a user's terminal 20 and from a testing institution's terminal 40, and selects, based on the thus collected data, a medical institution suitable for the user.
仲介者のコンピュータ装置１０は、利用者および検査機関の端末装置２０，４０から個人情報および検査情報を取得し、これらの情報に基づいて利用者に適した診療機関を選定する。 - 特許庁 - To provide a magnetic head test device and test method capable of testing the characteristic of a magnetic head with higher precision, and of heightening the quality of the magnetic head by allowing electromagnetic waves to act on the magnetic head.
磁気ヘッドに電磁波を作用させることによって、磁気ヘッドの特性をさらに精度よく試験することができ、磁気ヘッドの品質向上を図ることができる磁気ヘッドの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁 - Then a test signal inputting circuit 22 for inputting a test signal V TEST for testing the AD converter 7 into the AD converter 7 through the lines 18-1 to 18-n is provided.
そして、ＡＤ変換器７をテストするためのテスト信号ＶTESTを、垂直信号線１８-1〜１８-nを通してＡＤ変換器７に入力するテスト信号入力回路２２を具備することを特徴としている。 - 特許庁 - To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.
従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁
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