「testing」を含む例文一覧(14405)

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  • In order to measure a target 250 on the device, two contacts 200a, 200b on the general-purpose testing tool 30 are selected based on the position of the target 250 on the device 20 to the contact 200.
    デバイス２０上のターゲット２５０の測定を行うため、汎用テスト治具３０上の２つの接点２００ａ、２００ｂが、接点２００に対するデバイス２０上のターゲット２５０の位置に基づいて選択される。 - 特許庁
  • To provide an automatic, convenient, and small-sized polishing machine in which, in a pretreatment process requiring grinding and polishing by means of various testing methods, the grinding and polishing are performed even at a narrow part and a high location work and the like.
    各種検査手法で研削及び研磨を必要とする前処理過程において、狭隘部及び高所作業等においても研削及び研磨が実施できる自動、小型、簡便な研磨機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.
    サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • In the method for testing or calibrating the lithographic device or the part thereof, a measurement point is individually excluded at each field of view or each substrate by using a predetermined objective criterion such as a Chauvenet's criterion.
    リソグラフィ装置又はその一部を検定又は較正する方法において、チョーベネットの判定基準などの所定の客観的判定基準を使用して、視野毎に、又は基板毎に個々に測定ポイントが除外される。 - 特許庁
  • To provide an anisotropic electric conductive sheet having superior inadhesive character preventing the state of adhesion to a substance, even if the substance is pressed against the sheet, and a testing device using thereof.
    その表面に対して物体が圧接された場合にも、当該物体と粘着状態となることが防止され、優れた非接着性を有する異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置を提供することにある。 - 特許庁
  • Even in the case the small lens to be a test object is a small eccentric lens, a standard pattern image for testing can be easily detected y moving the CCD camera 291 along the direction of curvature of the small lens.
    測定対象となる小レンズが、小（偏心）レンズであっても、ＣＣＤカメラ２９１を小レンズの曲率方向に沿って移動させることで、検査用基準パターン画像を検出することを容易にできる。 - 特許庁
  • To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.
    半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for efficiently testing whether any content whose output is inappropriate is included in content to be output via display devices arranged under various environments.
    様々な環境下に配置された表示装置を介して出力されるコンテンツの中に、出力することが不適切な内容が含まれていないか、効率的に考査するための技術を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To relieve an operator from constantly having to walk back and forth placing electrodes in different positions, and also obviate the need to return to the main unit of the testing device to refer to a display and/or change parameters or settings.
    電極を異なる位置に設置しながら常に歩いて往来する必要がなく、また、試験用機器のメインユニットまで戻ってディスプレイを参照しおよび／またはパラメータもしくは設定を変更する必要がない。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.
    本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus can obtain a reliable result related to the moltality rate of the larvae of a marine organism in a predetermined number of tests in the case where the larvae of the marine organism are exposed to chlorine.
    海生生物の幼生を塩素に暴露した場合において、所定回数の試験で幼生の何個体のうちの何個体が死亡したか信頼性のある結果を得られる試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To measure an error rate by performing a loopback test by LSI itself when testing high-speed serial transmission LSI that cannot be coped with a data speed in terms of throughput, and to determine the quality of the LSI.
    データ速度の処理能力上、対応不可能な高速シリアル伝送ＬＳＩのテストにおいてＬＳＩ自身によるループバック試験を行うことによりエラーレートを測定し、ＬＳＩの良否を判定することを実現する。 - 特許庁
  • To provide a test apparatus which eliminates the necessity of use of a plant simulator apparatus when testing a plant control apparatus and reduces influence of testers' knowledge on the evaluation accuracy of test results.
    本発明は、プラント制御装置の試験の際にプラントシミュレータ装置を用いる必要がなく、また、試験者の知識量によって試験結果の評価精度が左右されることの少ない試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a torsional fatigue testing machine which loads even a test target low in torsional rigidity with torque to be applied, achieves space saving and the reduction of noise, has excellent maintainabilities and achieves cost reduction.
    捩り剛性の低いものであっても負荷すべきトルクを負荷でき、また省スペース化および低騒音化等が図れ、さらにはメンテナンス性に優れるととともに、低コスト化も達成できる捩り疲労試験機を提供する。 - 特許庁
  • To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating.
    側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。 - 特許庁
  • The semiconductor integrated circuit is provided with a data collecting section for fetching a flip-flop setting value at a time of turning on a power source from a plurality of flip-flops connected to a scan chain set as a pass for testing an integrated circuit, such as, LSI.
    ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェーンに接続された複数のフリップフロップから、電源投入時のフリップフロップ設定値を入力するデータ収集部を設けた。 - 特許庁
  • To provide a new synchronizing method and apparatus whereby, when the pseudo-random-pattern generating circuits having the mark ratio of 1/4, 1/8, or the like are synchronized with each other, their synchronization takes a short time independently of the period of a testing pattern.
    マーク率１/４又は１/８のような擬似ランダムパターン発生回路間の同期をとるに際して、試験パターンの周期に関わらずに、短い時間で同期をとる新規な同期方法及び同期装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a chemical substance data acquisition apparatus highly accurately and efficiently testing the written information of acquired chemical substance data when acquiring chemical substance data and thereby acquiring accurate chemical substance data.
    化学物質データを取得する際に、取得した化学物質データの記載情報について高精度かつ効率的に検査し、正確な化学物質データを取得することができる化学物質データ取得装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit where a scan pass test circuit having no malfunction is realized without taking time for designing, instantaneous current in the scan pass testing time is reduced, and shortage of current supply of the tester hardly occurs.
    設計に時間をかけずに誤動作のないスキャンパス・テスト回路を実現することと、スキャンパス・テスト時の瞬時電流を削減し、テスターの電流供給不足が発生しにくい半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
  • This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.
    本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.
    半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁
  • To provide a maintenance method that allows the online maintenance (testing) of a computer system having two groups (active system and standby system) of peripheral devices that cannot be operated at the same time while being connected to a CPU.
    ＣＰＵに接続して同時には動作させることができない２組（運用系と待機系）の周辺機器群を有するコンピュータシステムにおいて、オンラインでの保守（試験）を可能とする保守方法を提供する。 - 特許庁
  • In the spindle used for a product testing apparatus etc., such as a magnetic disk and a disk head, the rotation of a turntable (a hub 1 having a rotary table 1a) for supporting the disk as a rotation object is supported by a dynamic pressure bearing.
    磁気ディスクやディスクヘッドの製品検査装置等に用いられるスピンドルにおいて、回転対象物としてのディスクを支持するターンテーブル（回転台１ａを備えるハブ１）の回転を、動圧軸受により支持する。 - 特許庁
  • In the environmental testing device 100 for the fuel cell 1, a hood 120 surrounding the fuel cell 1 and having gas permeability and moisture permeability is provided in a constant-temperature constant-humidity oven 110.
    燃料電池１の環境試験装置１００であって、 恒温恒湿槽１１０内において、燃料電池１を取り囲むとともに透気性及び透湿性を有するフード１２０を備えたことを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a facing connection testing method confirming whether a function to respond to various errors which can only occur rarely in communication between communicating functions implemented in relation to communication protocol of a certain hierarchy.
    或る階層の通信プロトコルに準拠した通信機能同士の通信において稀にしか起きえない各種エラーに対処するための機能が適切に動作するかを確認できる対向接続試験方法を、提供する。 - 特許庁
  • The invention relates to use of the transgenic non-human mammals for screening agonists, inverse agonists and antagonists of human C5aR, and for testing efficacy of C5aR agonists, inverse agonists and antagonists in various animal models of disease.
    ヒトC5aRのアゴニスト、逆アゴニスト、およびアンタゴニストをスクリーニングする方法における、ならびに様々な疾患動物モデルにおいてC5aRアゴニスト、逆アゴニスト、およびアンタゴニストの有効性を試験するための、トランスジェニック非ヒト哺乳動物。 - 特許庁
  • The cross-section under an operating condition, where distortion, which is added to the filament bearing superconductivity in a high- temperature superconductive oxide wire or an alloy system superconductive wire, is the optimal, can be determined by testing once.
    酸化物高温超電導線材或いは合金系超電導線材における、超電導を担うフィラメントに加わるひずみが、使用条件下で、最適である断面形状を、一回の試験で決定できる。 - 特許庁
  • Also, the solderability- testing device is provided with a temperature measuring unit with a temperature measuring member 5 for measuring the temperature of solder paste 1 and a temperature display part for displaying temperature being measured by the temperature measuring member 5.
    また、はんだペースト１の温度を測定する温度測定部材５と、温度測定部材５により測定された温度を表示させる温度表示部とを有する温度測定ユニットを具備することも特徴とする。 - 特許庁
  • To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which various semiconductor wafers are tested with an easy operation.
    本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、簡易な操作により、種々の半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁
  • A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.
    半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁
  • The display panel is provided with a panel test terminal for testing the display panel and a driver output terminal electrically connected to a pad for the data driver of the integrated circuit device and to the panel test terminal as well.
    表示パネルには、表示パネルをテストするためのパネルテスト端子と、集積回路装置のデータドライバ用パッドに電気的に接続されると共にパネルテスト端子に電気的に接続されるドライバ出力端子が設けられる。 - 特許庁
  • This generator comprises a digital signal generating part for generating a digital signal, and a band-pass filter for inputting the digital signal of the digital signal generating part and outputting it to the object of testing.
    本装置は、デジタル信号を発生するデジタル信号発生部と、このデジタル信号発生部のデジタル信号を入力し、被試験対象に出力するバンドパスフィルタとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • To provide a method capable of efficiently testing input circuits of a new remote monitoring controller (TC) as well as performing a replacement work with high safety when replacing an existing TC to the new TC.
    既設の遠方監視制御装置（ＴＣ）から新設ＴＣへ切り替える際に、新設ＴＣの入力回路について効率的に試験を行うことができ、安全性の高い切り替え作業を可能にすること。 - 特許庁
  • (3) Upon rescission in accordance with the provisions in paragraph (1) or in the preceding paragraph, or upon ordering suspension of whole or part of the testing procedures as prescribed in the same paragraph, the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism shall announce the same to the public.
    ３　国土交通大臣は、第一項若しくは前項の規定により指定を取り消し、又は同項の規定により試験事務の全部若しくは一部の停止を命じたときは、その旨を公示しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (c) Combustion test equipment capable of testing solid rockets, liquid rockets with thrust exceeding 90 kilonewtons or rocket propulsion units or capable of measuring the thrust components in the three axial directions simultaneously
    ハ　燃焼試験装置であって、推力が九〇キロニュートンを超える固体ロケット、液体ロケット若しくはロケット推進装置を試験することができるもの又は同時に三軸方向の推力成分を測定することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (2) The officers or staff of a Registered Inspection Body engaged in Testing of Organisms shall be regarded as staff engaged in public service by act, with respect to the application of the Penal Code (Code No. 45 of 1907) or other penal provisions.
    ２　生物検査に従事する登録検査機関の役員又は職員は、刑法（明治四十年法律第四十五号）その他の罰則の適用については、法令により公務に従事する職員とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (5) The competent minister may, when a Registered Inspection Body falls under any of the following items, cancel its Registration, or stipulate a period of time and order the work of Testing of Organisms to be suspended in part or in whole.
    ５　主務大臣は、登録検査機関が次の各号のいずれかに該当するときは、その登録を取り消し、又は期間を定めて生物検査の業務の全部若しくは一部の停止を命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To smoothly vary the waveform of torque even when alternating torque is loaded on a sample and to improve the durability of a gear, in a torque load testing device for applying load torque to the sample.
    供試体に負荷トルクを加えることができるトルク負荷試験装置において、供試体に交番トルクを負荷しても、トルクの波形を滑らかに変化させることができるとともに、歯車の耐久性を向上させることができる。 - 特許庁
  • To provide a phenolphthalein derivative which specifically recognizes spermine and spermidine with high sensitivity, excels in water-solubility, and has not only color responsiveness but also fluorescence responsiveness and a testing drug containing the same.
    スペルミン及びスペルミジンを高感度にかつ特異的に認識するとともに、水溶性にも優れ、呈色応答性のみならず蛍光応答性を有するフェノールフタレイン誘導体及びこれを含有する検査薬を提供する。 - 特許庁
  • To provide a modelling testing device capable of performing an infiltration flow test of stratum deformation considering existence of ground water and deformed model stratum in situ or in either of horizontal and vertical directions.
    本発明は、地下水の存在を考慮した地層変形及び変形させた模型地層をその場で水平または垂直の何れの方向にも浸透流試験ができるモデリング試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a device power supply system for a semiconductor tester to suppress variation in power supply voltage for a testing-object semiconductor device without consuming extra current, and also to provide a voltage correction data generating method.
    余分な電流を消費することなく試験対象の半導体デバイスの電源電圧の変動を抑えることのできる半導体試験装置用デバイス電源システムおよび電圧補正データ生成方法を提供する。 - 特許庁
  • Systems are implanted by testing external or implantable devices at different tissue sites, observing physiologic and device responses, and selecting sites with preferred performance for implanting the systems.
    システムは異なる組織部位で外部または移植可能なデバイスを試験し、生理学的な反応およびデバイスの反応を観察し、システムを移植するための好ましい性能を有する部位を選択することにより移植される。 - 特許庁
  • To provide a method for testing the detection voltage level kept by the voltage detection circuit of the semiconductor voltage detection circuit with a small number of DC measurement units for the semiconductor integrated circuit with a built-in voltage detection function.
    電圧検出機能を内蔵した半導体集積回路において、その半導体集積回路の電圧検出回路が保持する検出電圧レベルを少ないＤＣ測定ユニットで検査する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a timing correction device, a timing correction method, and a device evaluation device provided with the timing correction device capable of supplying correction data of highly accurate timing calibration even to a testing device of tester pin branching.
    テスタピン分岐の試験装置に対しても高精度なタイミングキャリブレーションの補正データを供給することができるタイミング補正装置、タイミング補正方法及びタイミング補正装置を備えたデバイス評価装置を提供する。 - 特許庁
  • The servlet container 21 also confirms a log-in user testing tag is described within the LJSP files 36 to 38, and checks whether the ID of the business concerned is described as spid of the tag.
    また、サーブレットコンテナ２１は、ログインユーザ検査タグがＬＪＳＰファイル３６〜３８中に記述されていることを確認し、当該事業者のＩＤがこのタグのｓｐｉｄとして記述されているかチェックを行なう。 - 特許庁
  • To shorten a semiconductor measurement time in a semiconductor measurement device used in a semiconductor product inspection process testing electric characteristics of a semiconductor, a break in a wire, and the like, for example.
    本発明は、例えば、半導体の電気的特性、断線等を検査する半導体製品検査工程において使用される半導体測定装置に関し、半導体測定時間の短縮を図ることが課題である。 - 特許庁
  • The communication application 10 and the cipher communications software 11 or the encryption protocol processor 12 make encrypted communications with the testing host 2 through an outside communications section 13 using the cryptograph data, based on the test data.
    通信アプリケーション１０と暗号通信ソフト１１または暗号化プロトコル処理部１２は、試験データに基づいた暗号文データを用いて、外部通信部１３を介して試験用ホスト２と暗号化通信を行う。 - 特許庁
  • To provide a circuit pattern for inspecting blind via hole misregistration, which inspects within a short time the misregistration of the blind via hole by a wiring test for testing the electrical continuity between required points in a wiring.
    配線内の要所間の電気的導通を検査する布線検査によってブラインドビアホールの位置ずれを短時間内に検査することを可能とするブラインドビアホール位置ずれ検査用回路パターンを提供すること。 - 特許庁
  • To quantitatively research the IT level for each department of an enterprise by automatically testing whether proper talent and capability are available for each of the departments and taking analysis according to statistic data.
    企業内の各部門毎に適切な人材・能力が備わっているかを自動的にテストし、統計データに基づいて解析し企業の各部門毎にＩＴ化のレベルを定量的に調査できるようにすること。 - 特許庁
  • To provide an LSI testing probe card which can materialize an electric conduction with an electrode at a low load without damaging the electrode and a structure thereunder even when the electrode on an LSI becomes at a narrow pitch.
    ＬＳＩ上の電極が狭ピッチになった場合にも、電極およびその下の構造体に損傷を与えることなく低荷重で電極との電気的導通を実現できるＬＳＩ検査用のプローブカードを提供する。 - 特許庁
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