「testpiece」を含む例文一覧(134)
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試料位置決め装置 - 特許庁 - METHOD OF FORMING TESTPIECE IMAGE
試料像形成方法 - 特許庁 - TESTPIECE DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料装置 - 特許庁 - ION SOURCE TESTPIECE PLATE IRRADIATION SYSTEM
イオン源試料プレート照射システム - 特許庁 - TESTPIECE MOUNTING ELECTRODE FOR PLASMA PROCESSING APPARATUS
プラズマ処理装置用試料載置電極 - 特許庁 - TONING TESTPIECE AND METHOD FOR REPAIRING COATING
調色用テストピース、補修塗装方法 - 特許庁 - TESTPIECE EDGE PROCESSOR, TESTPIECE EDGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
試料エッジ処理装置、試料エッジ処理方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To provide a testpiece edge processor and a testpiece edge processing method that can detect the edge of a testpiece with less efforts.
少ない労力で試料のエッジを検出することができる試料エッジ処理装置及び試料エッジ処理方法を提供する。 - 特許庁 - TESTPIECE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND HOLDING METHOD OF TESTPIECE
試料保持機，半導体製造装置，半導体検査装置、および試料の保持方法 - 特許庁 - TESTPIECE COOLING SYSTEM OF FOCUSED ION BEAM APPARATUS
集束イオンビーム装置の試片冷却システム - 特許庁 - METHOD OF OBSERVING TESTPIECE AND ELECTRON MICROSCOPE
試料観察方法及び電子顕微鏡 - 特許庁 - The electron beam device is provided with a testpiece retaining pallet to take an electric contact with a measured testpiece and a testpiece retaining pallet not to take an electric contact, and a pallet is selected according to the measured testpiece.
被測定試料と電気的なコンタクトをとる試料保持パレットと電気的なコンタクトをとらない試料保持パレットとを設け、被測定試料に応じてパレットを選択する。 - 特許庁 - MICRO TESTPIECE PROCESSING AND OBSERVATION METHOD AND DEVICE
微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁 - When a sectional processing is carried out as a pre-treatment to observe a cross section of a testpiece, the testpiece is processed with the testpiece inclined to a first angle with regard to the angle of incidence of the ion beam, and after processing is finished, the testpiece is observed with the testpiece inclined to a second angle.
試料断面観察の前処理としての断面加工を行う際、イオンビームの入射角に対し、試料を第一の角度に傾斜して加工を行い、加工終了後、試料を第二の角度に傾斜して観察する。 - 特許庁 - INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER TESTPIECE
半導体ウェハ試料の検査方法および装置 - 特許庁 - The testpiece chamber 1 is made as a dual structure and an inner testpiece chamber 10a for maintaining low vacuum is provided inside the outer testpiece chamber 10b of high vacuum.
１試料室を二重構造とし、高真空の外側試料室１０ｂ内に低真空を保持するための内側試料室１０ａを設ける。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND TESTPIECE STAND FOR PROCESSING
荷電粒子線装置、及び加工用の試料台 - 特許庁 - If the microscope is used for a large sized testpiece or a large shifting and observation range of a testpiece, a part of the testpiece chamber 8 is structured to enlarge a space in the testpiece chamber, and an adaptor 13 is installed for enabling to mount a large sized testpiece and have a large shifting and observation range of the testpiece.
試料３のサイズや試料３の移動範囲および観察範囲の大きい電子顕微鏡として利用する場合は、試料室８の一部を構成し、試料室８の空間を大きくし、搭載できる試料のサイズや試料の移動範囲および観察範囲を大きくすることができるアダプタ１３を取り付ける。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR IDENTIFYING AND MANAGING METAL PLATE TESTPIECE
金属板試験片識別管理方法およびシステム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR COLLECTING TESTPIECE OF NOBLE METAL ON SITE
貴金属試料の現場での採取方法及び装置 - 特許庁 - TESTPIECE MOLDING FORM FOR TESTING STRENGTH OF CEMENT MATERIAL
セメント材料強度試験用供試体成形型枠 - 特許庁 - METHOD OF AND DEVICE FOR PUNCHING TESTPIECE AND TESTPIECE TESTING MACHINE INCORPORATING THE METHOD AND THE DEVICE
試験片打ち抜き方法、試験片打ち抜き装置、及びその方法又はその装置を備えた試験片試験機。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁 - As a result, a shape of the testpiece chamber 8 is easily changed without exchanging the testpiece chamber 8 itself.
これにより試料室８そのものを交換しなくても容易に試料室８の形状を変更できるようにした。 - 特許庁 - To provide an effective means for enabling to easily discriminate a region containing a testpiece of a testpiece plate from other regions.
試料プレートの試料を含む領域を、他の領域から容易に識別できるようにするための有効な手段を提供する。 - 特許庁 - CHROMATOGRAPHY TESTPIECE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
クロマトグラフィー試験片およびクロマトグラフィー試験片の製造方法 - 特許庁 - The rubber testing machine is constituted so as to press a rubber testpiece 1 to a rubstone or false road surface 11 to perform the test of the rubber testpiece 1.
砥石または擬似路面１１にゴム試験片１を押し付けて、ゴム試験片１の試験を行うゴム試験機である。 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT
走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁 - When a speed-reduced voltage V_R is impressed on a testpiece 20, a lens is formed near a surface of the testpiece 20 and an aperture angle of the beam will be increased.
試料２０に減速電圧Ｖ_Rを印加すると、試料２０の表面付近にレンズが形成され、ビームは開き角を増す。 - 特許庁 - In the manufacturing process of the chromatography testpiece 1, identification information is easily given to the chromatography testpiece 1 by giving identification information by a code to the chromatography testpiece 1.
クロマトグラフィー試験片１の製造工程において、クロマトグラフィー試験片１にコードによる識別コードを付与することにより、クロマトグラフィー試験片１に容易に識別情報を付与することができる。 - 特許庁 - TESTPIECE FORMING METHOD, RESIDUAL STRESS MEASURING METHOD OF WIRE MATERIAL, TESTPIECE FORMING DEVICE AND RESIDUAL STRESS MEASURING INSTRUMENT OF WIRE MATERIAL
試験片の作成方法、線材の残留応力測定方法、試験片の作成装置及び線材の残留応力測定装置 - 特許庁 - To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method.
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。 - 特許庁 - The micro testpiece processing and observation device are equipped with a focused ion beam optical system and an electron optical system in an identical vacuum device, and separate a micro testpiece including the desired region of the testpiece by a charged particle beam forming process, and have a probe for sampling the micro testpiece separated.
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁 - In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped.
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF TESTPIECE SURFACE, ANALYSIS DEVICE AND ELECTRON BEAM DEVICE
試料鏡面の測定方法及び分析装置並びに電子ビーム装置 - 特許庁 - The secondary column is to catch a secondary electron generated from the surface of the testpiece.
二次コラムは、試料表面から発生する二次電子を捕獲する。 - 特許庁 - In the lower part of a wafer testpiece 3, an electrode plate 7 is arranged in parallel with the back of the wafer testpiece 3, and a space (this space is a vacuum) is designed to be provided between the back of the wafer testpiece 3 and the plate 7.
ウェハ試料３の下部には、ウェハ試料３の裏面に平行に電極プレート７が配置されており、ウェハ試料３の裏面とプレート７との間には空間（この場合の空間は真空）を設けるようにしている。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND TESTPIECE CHAMBER FITTED WITH ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡、及びそれに取り付けられる電子顕微鏡用試料室 - 特許庁 - QUALITY TESTING METHOD, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS FOR TESTPIECE USED FOR ANALYZING BIOLOGICAL MATTER, AND METHOD USING ABOVE TESTPIECE FOR ANALYZING BIOLOGICAL MATTER
生体関連物質解析用試験片の品質検査方法、製造方法および製造装置ならびに該試験片を用いた生体関連物質の解析方法 - 特許庁 - To enable to carry out working, analysis and inspection by preventing the deterioration of accuracy of relation between the irradiated position of an electronic beam at the tip part of the testpiece and the testpiece position.
試料の端部の電子線の照射位置と試料位置との関係の精度の低下を防止して、加工，分析や検査ができるようにする。 - 特許庁 - TESTPIECE AND DETECTION APPARATUS FOR DETECTION OF STRESS CORROSION CRACKING
応力腐食割れ検知用試験片及び応力腐食割れ検出装置 - 特許庁 - CHROMATOGRAPHY TESTPIECE AND METHOD OF DETERMINING USE STATE OF THE SAME
クロマトグラフィー試験片およびクロマトグラフィー試験片の使用状態判定方法 - 特許庁 - To provide an electrokinetic vibration generator capable of automatically setting testing acceleration condition of a testpiece by providing a mass measuring function of the testpiece.
試験体の質量測定機能を具備することにより、試験体の試験加速度条件を自動的に設定可能な動電式振動発生機を提供する。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD
荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁 - To easily give identification information to a chromatography testpiece.
クロマトグラフィー試験片に容易に識別情報を付与することを目的とする。 - 特許庁 - The ion milling apparatus is provided with an ion beam source for emitting ion beams and a testpiece holder for fixing the testpiece, and a mask is provided for shielding a part of the testpiece, and a non-axially symmetric lens is arranged between the ion beam source and the mask, and the ion beam is deformed to meet a desired range for processing the testpiece.
イオンビームを照射するイオンビーム源と、試料を固定する試料ホルダを備えたイオンミリング装置において、試料の一部を遮蔽するマスクを備え、イオンビーム源とマスクとの間に非軸対称レンズを配置し、試料の加工の希望範囲に合わせてイオンビームを変形させるようにした構成のイオンミリング装置を提供する。 - 特許庁 - A light source 5 for emitting infrared light is provided at an end of the testpiece cell 1 and a detector 2 for detecting infrared light passed through the testpiece cell 1 is provided at the other end of the testpiece cell 1 and a sector 3 for interrupting the infrared light is provided between the light source 5 and the end part of the testpiece cell 1.
試料セル１の一端には赤外光を発する光源５が配設され、試料セル１の他端には試料セル１を透過した赤外光を検出するための検出器２が配設され、光源５と試料セル１端部の間には赤外光を断続するためのセクタ３が設けられている。 - 特許庁 - A testing method for peracetic acid ESC resistance includes forming the member into a testpiece being narrow at its center, securing the testpiece at one end to the lower part of a container holding the solution of peracetic acid and to a weight at the other, dipping the testpiece in the solution, and measuring breaking time until the testpiece breaks.
洗浄殺菌機用部材を中央部で幅が狭い被試験片に成形し、被試験片の端を過酢酸溶液の入った容器の下部に固定し、他の端を重りに固定し、被試験片を過酢酸溶液に浸し、被試験片の破断するまでの破断時間を測定する耐過酢酸ＥＳＣ性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testpiece analyzing method and its equipment which samples (extracts) only a testpiece strip including a desired specific region from a semiconductor wafer or a device chip and mount it on the testpiece stage of analysis/measuring apparatus without taking a testpiece making-process executed by manual operation which requires experience, skill or time duration.
半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁 - The primary column has an electron gun irradiating a primary beam on the surface of the testpiece.
一次コラムは、試料表面に一次ビームを照射する電子銃を有する。 - 特許庁
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