「total reflection method」を含む例文一覧(86)
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全反射分光計測方法 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION PRISM SHEET, TOTAL REFLECTION PRISM SHEET MANUFACTURING METHOD, AND REAR PROJECTION TYPE DISPLAY DEVICE
全反射プリズムシート、全反射プリズムシートの製造方法、背面投射型表示装置 - 特許庁 - SENSOR UNIT UTILIZING ATTENUATED TOTAL REFLECTION AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING ATTENUATED TOTAL REFLECTION
全反射減衰を利用するセンサユニット及び全反射減衰を利用する測定方法。 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION SAMPLE ILLUMINATOR AND ILLUMINATION METHOD
全反射試料照明装置及び照明方法 - 特許庁 - DATA ANALYSIS METHOD IN TOTAL REFLECTION SPECTROSCOPIC MEASUREMENT
全反射分光計測におけるデータ解析方法 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS PRETREATMENT DEVICE, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER
全反射蛍光Ｘ線分析方法、全反射蛍光Ｘ線分析前処理装置及び全反射蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION AND ITS DEVICE
全反射減衰を利用した測定方法および装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS
全反射蛍光Ｘ線分析方法および装置 - 特許庁 - MEASURING APPARATUS UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION AND METHOD THEREFOR
全反射減衰を利用した測定装置及び方法 - 特許庁 - MEASURING DEVICE AND METHOD USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した測定装置及び方法 - 特許庁 - SPECIMEN DRIP SUBSTRATE FOR TOTAL-REFLECTION FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD
全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板および全反射蛍光Ｘ線分析装置ならびに全反射蛍光Ｘ線分析方法 - 特許庁 - SENSOR UNIT USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND MEASURING METHOD
全反射減衰を利用するセンサユニット及び測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING TOTAL REFLECTION TYPE FRESNEL LENS SHEET WITH BLACK MATRIX
ブラックマトリクス付全反射型フレネルレンズシートの製造方法 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS APPARATUS
全反射蛍光Ｘ線分析方法および分析装置 - 特許庁 - TOTAL INTERNAL REFLECTION MICROSCOPE APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING FLUORESCENT SAMPLE
全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION AND ITS PROGRAM
全反射減衰を利用した測定方法及びそのプログラム - 特許庁 - TOTAL REFLECTION BIOCHIP FOR FLUORESCENCE MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND TOTAL REFLECTION BIOCHIP ASSEMBLY FOR THE FLUORESCENCE MICROSCOPE
蛍光顕微鏡用全反射バイオチップ及びその製法、並びに蛍光顕微鏡用全反射バイオチップアセンブリ - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT USING ATTENUATED TOTAL REFLECTION
全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND APPARATUS UTILIZING TOTAL INTERNAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁 - SENSOR UNIT, MEASURING METHOD AND MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用したセンサユニット，測定方法及び装置 - 特許庁 - MEASURING DEVICE USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND ITS MEASURING METHOD
全反射減衰を利用した測定装置及びその測定方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF INFRARED ABSORPTION SPECTRUM BY ATTENUATED TOTAL REFLECTION METHOD
減衰全反射法による赤外吸収スペクトルの測定方法及び装置 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION FLUORESCENT OBSERVATION DEVICE AND METHOD OF COMPENSATING DISPLACEMENT OF SUBSTRATE
全反射蛍光観察装置、及び基板の位置ずれを補正する方法 - 特許庁 - QUANTIFICATION OF MASS SPECTROMETRY USING TOTAL REFLECTION LASER IRRADIATION METHOD
全反射レーザー照射法を用いた質量分析測定の定量化 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD AND GASEOUS PHASE DECOMPOSITION TREATMENT APPARATUS
全反射蛍光Ｘ線分析方法および気相分解処理装置 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION ILLUMINATION TYPE SENSOR CHIP, MANUFACTURING METHOD OF SAME, AND SENSING METHOD USING SAME
全反射照明型センサチップ、その製造方法およびそれを用いたセンシング方法 - 特許庁 - LIQUID SENDING SYSTEM, LIQUID SENDING METHOD, FLOW CHANNEL UNIT AND MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION RETURN LOSS
送液システム、送液方法、流路ユニット、及び全反射減衰を利用した測定方法 - 特許庁 - MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND METHOD FOR IDENTIFYING SENSOR UNIT THEREOF
全反射減衰を利用した測定装置及びそのセンサユニットの識別方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF REACTION RATE COEFFICIENT IN ANALYSIS UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した分析における反応速度係数の測定方法 - 特許庁 - TOTAL INTERNAL REFLECTION(TIR) HOLOGRAPHY DEVICE, ITS METHOD AND USED OPTICAL ASSEMBLY
全反射（ＴＩＲ）ホログラフィ装置、その方法及び使用される光学アセンブリ - 特許庁 - MEASURING UNIT USED IN MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION, METHOD OF MANUFACTURING MEASURING UNIT, AND MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION
全反射光を利用した測定装置に用いられる測定ユニット、該測定ユニットの製造方法および全反射光を利用した測定装置 - 特許庁 - LIQUID SENDING SYSTEM, LIQUID SENDING METHOD, FLOW CHANNEL UNIT AND MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION RETURN LOSS
送液装置、送液方法、及び全反射減衰を利用した測定方法、並びに流路ユニット - 特許庁 - TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD AND APPARATUS HAVING CONFIGURATION USING SAMPLE SUBSTRATE AND REFLECTOR FOR ACHIEVING MULTIPLE TOTAL REFLECTION AND CONVERGENCE OF X RAYS
試料基板と反射板を用いてＸ線が多重全反射して収束する構成にした全反射蛍光Ｘ線分析法および該分析装置 - 特許庁 - LIQUID FEEDER, LIQUID FEED METHOD, AND MEASURING INSTRUMENT USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
送液装置及びその送液方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 - 特許庁 - LIQUID FEED APPARATUS, ITS METHOD, AND MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
送液装置及びその送液方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 - 特許庁 - IMAGING METHOD OF HIGH TIME RESOLVING POWER, IMAGING DEVICE THEREFOR AND TOTAL REFLECTION TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE
高時間分解能画像化方法及び装置並びに全反射型蛍光顕微鏡 - 特許庁 - To enhance analyzing precision and sensitivity in a gas phase decomposition-total reflection fluorescent X-ray method.
気相分解−全反射蛍光Ｘ線法における分析精度、感度を高める。 - 特許庁 - TOTAL REFLECTION PRISM SHEET, MANUFACTURING METHOD OF THE SAME, AND REAR PROJECTION TYPE DISPLAY APPARATUS
全反射プリズムシート、全反射プリズムシートの製造方法、背面投射型表示装置 - 特許庁 - To provide a microscope in which vertical illumination method and a total reflection illumination method can be easily switched.
簡便に落射照明と全反射照明方法とを切り替えることができる顕微鏡を提供する - 特許庁 - To provide a total reflection X-ray analyzing method which enables a gaseous phase decomposition-total reflection fluorescent X-ray analyzing method capable of a quantitative measurement of higher sensitivity and precision, and an analyzer therefor.
より高感度、高精度の定量測定が可能な気相分解−全反射蛍光Ｘ線分析法を可能とする全反射Ｘ線分析方法および分析装置を提供する。 - 特許庁 - To suppress a fall in measurement precision of a total reflection damping angle due to incidence of stray light into a light receiving means in a measuring method and a measuring apparatus utilizing total reflection light.
全反射光を利用した測定方法および装置において、受光手段への迷光の入射による全反射減衰角の測定精度の低下を抑制する。 - 特許庁 - SAMPLE PLATE FOR TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSES, AND CARBON PURIFICATION METHOD FOR PRODUCING SAMPLE
全反射蛍光Ｘ線分析用試料板及び試料作成用のカーボン純化方法 - 特許庁 - To provide a measuring method of a reaction rate coefficient in analysis utilizing total reflection attenuation.
全反射減衰を利用した分析における反応速度係数の測定方法を提供する。 - 特許庁 - DISPENSER, ATTACHING METHOD OF PIPETTE CHIP OF DISPENSER AND MEASURING INSTRUMENT UTILIZING ATTENUATION OF TOTAL REFLECTION
分注装置及びそのピペットチップ取付方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 - 特許庁 - SELF ORGANIZATION FILM-FORMING METHOD TO MEASUREMENT CHIP USED FOR MEASURING APPARATUS UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップへの自己組織化膜形成方法 - 特許庁 - Particularly, the laser beam of the total reflection or partial reflection is measured by a power meter by a method for directly inserting the power meter to each optical path or inserting the total reflection mirror for reflecting the laser beam to each optical path or the partial reflection mirror, and the oscillator output is controlled by the measured data.
特に、各光路にパワーメータを直接挿入する方法や、各光路にレーザ光を反射する全反射ミラーまたは部分反射ミラーを挿入して全反射または部分反射のレーザ光をパワーメータにより測定し、測定したデータで発振器出力を制御する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR RECORDING INTENSITY PATTERN GENERATED IN CONTACT SURFACE BY DISTURBED TOTAL REFLECTION WITH LESS DISTORTION
妨害された全反射により接触面に生じる強度パターンを少ない歪みで記録するための方法及び装置 - 特許庁 - To provide a total internal reflection(TIR) holography system device, its method and an optical instrument used in the TIR holography device.
全反射（ＴＩＲ）ホログラフィシステム装置とその方法、及びＴＩＲホログラフィ装置に用いられる光学器を提供する。 - 特許庁 - To provide a data analysis method in total reflection spectroscopic measurement capable of accurately and simply deriving a desired optical constant.
所望の光学定数を正確かつ簡便に導出することができる全反射分光計測におけるデータ解析方法を提供する・ - 特許庁
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