「under testing」を含む例文一覧(275)

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  • To manage a testing machine for testing objects under a prescribed environment.
    所定の環境で対象物を試験する試験機を管理する。 - 特許庁
  • LUBRICATING OIL SEDIMENTATION TESTING DEVICE OF PISTON UNDER CROWN
    潤滑油のピストンアンダークラウン堆積性試験装置 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, HAVING SWITCH FOR SELECTING DIFFERENT PATHS
    異なるパスを選択するスイッチを備える、被試験デバイスを試験する試験デバイス - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL
    多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁
  • To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test.
    被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。 - 特許庁
  • This testing device for testing a DUT (Device Under Test) comprises a first electric terminal and a first optical terminal.
    第１の電気端子及び第１の光端子を備えた、ＤＵＴを試験するための試験デバイスが提供される。 - 特許庁
  • To provide a program testing apparatus to test a program under programmable conditions.
    プログラマブルな条件でプログラム試験が行えるプログラム試験装置を提供する - 特許庁
  • To provide a tire testing device and a tire testing method for testing uniformity upon generating a flat spot to a tire under environment close to that of an actual vehicle.
    実車に近い環境でフラットスポットをタイヤに生成した上でユニフォーミティの試験を行うことができるタイヤ試験装置およびタイヤ試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.
    被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁
  • To achieve a semiconductor testing apparatus which can absorb self-heating, produced in an IC under testing by the semiconductor test apparatus itself.
    試験状態のＩＣに発生する自己発熱を、試験装置自体で吸熱することができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
  • To easily maintain humidity in a testing chamber under a stable condition.
    試験室の湿度を安定した状態に容易に維持することができるようにする。 - 特許庁
  • This IC tester for testing devices under test is an improved one.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • The improved IC tester for testing an object under test is provided.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING AND EVALUATING MACHINE COMPONENT UNDER SIMULATED IN-SITU THERMAL OPERATING CONDITIONS
    模擬現場熱作動条件下で機械部品を試験及び評価する装置及び方法 - 特許庁
  • To provide a method and equipment for testing a tire under a reproducible situation.
    再現可能な様態でタイヤを試験するための方法及び機器を提供すること。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE
    被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁
  • This IC tester is acquired by improving on an IC tester for testing a device under test.
    本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • An analysis device 30 is provided, which analyzes the result of the testing of a plurality of devices under test, having the same configuration by a testing device.
    同一の構成を有する複数の被試験デバイスを試験装置により試験した試験結果を解析する解析装置３０を提供する。 - 特許庁
  • (ii) That Testing of Organisms is implemented by persons who fall under any of the following clauses, of whom there are 2 or more per place of business undertaking Testing of Organisms.
    二　次のいずれかに該当する者が生物検査を実施し、その人数が生物検査を行う事業所ごとに二名以上であること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To realize a memory test system which can improve throughput when testing a device under test.
    被試験デバイスのテスト時のスループットを向上することのできるメモリテストシステムを実現すること。 - 特許庁
  • The comparison score calculating means 11 calculates a comparison score only for the hypothesis under testing.
    比較スコア算出部11は、検定中の状態にある仮説についてのみ比較スコアを算出する。 - 特許庁
  • Under glibc, programs can check for the availability of the fields not defined in POSIX.1 by testing whether the macros _DIRENT_HAVE_D_NAMLEN ,
    glibc では、プログラムが POSIX.1 で定義されていないフィールドが利用できるかをチェックすることができる。 - JM
  • To quickly make alignment of a lens under testing while capable of under standing the moving direction of the lens at the time of making the alignment of the point marking etc.
    被検レンズへ印点等のアライメントに際し、レンズの移動方向を一目で判断でき、アライメントを迅速に行えるようにする。 - 特許庁
  • Article 63 If an Accredited Testing Laboratory Operator falls under any of the following items, the competent minister may cancel the Accreditation of its testing laboratory:
    第六十三条　主務大臣は、登録試験事業者が次の各号のいずれかに該当するときは、その試験所についての登録を取り消すことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (3) If an Accredited Foreign Testing Laboratory Operator falls under any of the following items, the competent minister may cancel the Accreditation of its testing laboratory:
    ３　主務大臣は、登録外国試験事業者が次の各号のいずれかに該当するときは、その試験所についての登録を取り消すことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a testing device and a testing method capable of properly evaluating cleanliness of lubrication oil for an internal combustion engine at a piston under a crown in a laboratory.
    実験室で内燃機関用潤滑油のピストンアンダークラウンでの清浄性を適正に評価することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a system and method for testing integrated circuits under a variation in power supply voltage.
    電源電圧の変動下において集積回路を試験するための装置および方法を提供する。 - 特許庁
  • a place equipped with instruments for testing (e.g. engines or machinery or computer programs etc.) under working conditions
    使用条件下での試験（例えば、エンジン、機械、コンピュータープログラムその他）に対する手段を備えている場所 - 日本語WordNet
  • 3. Test Equipment designed for testing microwave integrated circuits that fall under item (ii), (c)
    （三）　第二号ハに該当するマイクロ波用集積回路の試験を行うことができるように設計したもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a handover testing device carrying out a handover test under various communication conditions.
    多様な通信条件においてハンドオーバー試験を実行可能であるハンドオーバー試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.
    本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁
  • To provide a scratchability testing machine for floor material easily measuring and evaluating the scratchability of a floor material under a condition similar to the actual using state of the floor material with good reproducibility, and a testing device and testing method using it.
    床材の傷付き性を、床材の実際の使用状況と類似した条件で容易に再現性よく測定・評価できる床材用傷付き性試験機、及びこれを用いた試験装置、試験方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a testing method capable of testing a product with high accuracy for an occupant discrimination system made by installing a sensor mat 6 under the seating surface of a seat 1.
    シート１の座面下部にセンサマット６を組み込んだ乗員判別システムにおいて、精度の高い製品検査を実施できる検査方法を提供することにある。 - 特許庁
  • The average of the results of the testing referred to in sub-section (3) and of the further testing under sub-section (4) shall be conclusive proof of the number, quantity, measure, gauge or weight, as the case may be, of the goods.
    (3)に掲げた検査及び(4)による再検査結果の平均値は，商品の数，量，寸法，容量，又は場合に応じて重量についての確定した証拠とする。 - 特許庁
  • To provide a vertical loading testing method of the directly under ground confirming availability of the directly under ground of a structure without pulling down a foundation of the existing structure.
    既存構造物の基礎を取り壊すことなく、構造物の直下地盤の利用可能性を確認する直下地盤の鉛直載荷試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The internal circuit 4 is formed under the layer of the pad 1 for bonding, however, the internal circuit 4 is not formed under the layer of the pad 2 for testing.
    このボンディング用パッド１の下層には、内部回路４が形成されているが、テスト用パッド２の下層には、内部回路４が形成されていない。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus which can efficiently detect faulty openings, in the wiring of a device under measurement.
    被測定デバイスにおける配線の開放不良を、効率よく検出することができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A programmable voltage generator source 13 controls a power source unit and supplies power to a device under testing (DUT) 1.
    プログラマブル電圧発生源１３は電源ユニット１４を制御してＤＵＴ１へ電源を供給する。 - 特許庁
  • To provide a testing device which can conduct an environmental test with a plurality of modules under different test conditions.
    複数のモジュールの環境試験を異なる試験条件で行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test chamber capable of testing a semiconductor device efficiently under a more accurate temperature condition.
    半導体デバイスをより正確な温度条件の下で、効率的に試験することができるテストチャンバを提供する。 - 特許庁
  • . Type E: Self-reactive substances that, in laboratory testing, neither detonate nor deflagrate at all, and show only minimal or no effect when heated under confinement.
    タイプE：実験室の試験において、全く爆轟も爆燃もせず、密封下の加熱で反応が弱いかまたは無い。 - 経済産業省
  • This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.
    半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁
  • After displaying all testing condition data currently held by the testing system, the tester tests the DUT 4 under an arbitrary testing condition by inputting the testing condition data so that the testing condition may be changed to a fixed condition or a condition having an arbitrary range in accordance with the purpose of the test.
    このとき、試験システムが現在保持している試験条件データを全て表示した上で、試験者は、試験の目的に応じて、固定の条件あるいはある任意の範囲をもつ条件に変更することができるように試験条件データを入力処理することにより、試験対象の多周波符号器を任意の条件のもとで試験する。 - 特許庁
  • To provide a corrosion testing method and a corrosion testing system suitable for evaluating corrosion resistance of electric wires with a terminal used under an environment in which corrosion relatively gradually advances.
    腐食が比較的緩やかに進行する環境下で利用される端子付き電線の耐食性の評価に適した腐食試験方法、及び腐食試験システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device and a type-switching method capable of shortening a type switching operation time of a device, in testing of the semiconductor device under a low-temperature environment.
    低温環境下での半導体デバイスの試験における該デバイスの品種切替作業時間を短縮させることができる試験装置及び品種切替方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a weather resistance testing apparatus capable of simultaneously testing at one side and other side of one test specimen under different weather conditions.
    本発明は、１つの被試験体の一方側と他方側で異なる耐候条件で同時に試験を行うことが出来る耐候試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁
  • Measured values peculiar to a moving object under testing are sampled by at least two frequencies or frequency channels.
    テスト中の移動体に特有の計測値が、少なくとも２つの周波数または周波数チャネルにおいてサンプルされる。 - 特許庁
  • To store an output pattern of a device under test in the main memory, without increasing the band width request for the main memory by a testing apparatus.
    試験装置のメインメモリの要求バンド幅を増やすことなく、被試験デバイスの出力パターンをメインメモリに格納する。 - 特許庁
  • Testing objects 10, 10' are installed on different ground surfaces under the environmental conditions same respectively to investigation objective portions 21, 22.
    試験体１０、１０′は、調査対象部位２１、２２と同じ環境条件であって異なる地面に設置される。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for testing chips that allow a more inexpensive function test under high-temperature environment.
    より安価な高温環境下での機能テストを可能とするＩＣチップのテスト方法及びそのテスト装置を提供する。 - 特許庁
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