「unit testing」を含む例文一覧(350)

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  • Unit testing usually entails a set of test cases independent from each other.
    単体テストでは通常、それぞれが独立した一連のテストケースが必要です。 - NetBeans
  • The chip testing device consists of a plurality of testing units including a selector, a flip-flop unit, the first buffer, a display and the second buffer.
    セレクター、フリップフロップユニット、第一緩衝器、表示装置及び第二緩衝器を含む複数のテストユニットから構成される。 - 特許庁
  • The performance information 2a is outputted as the result of execution of the automatic unit testing.
    自動単体試験実施の結果として、性能情報２ａが出力される。 - 特許庁
  • After that, the primality of the remaining prime candidates is tested using the primality testing unit.
    その後、残りの素数候補は素数性判定テストユニットを使用してテストされる。 - 特許庁
  • GAS LEAKAGE ALARM UNIT HAVING AUTOMATIC TESTING FUNCTION, FIRE SENSOR, AND COMBINED ALARM ANNUNCIATOR
    自動試験機能を備えたガス漏れ警報器、火災感知器及び複合警報器 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING AND CALCULATING PROTOCOL DATA UNIT RANGE APPLIED TO WINDOW-BASED POLLING
    ウィンドウベースポーリングに適用されるプロトコルデータユニット範囲の試験および計算の方法 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR ESTIMATING UNIT WATER AMOUNT OF CONCRETE AND TESTING MACHINE USING IT
    コンクリートの単位水量推定試験方法および同方法に用いる試験装置 - 特許庁
  • An operation testing system 10 is provided with an image pickup unit 200 and a testing device 300 for confirming the operations of members 120 constituting the image pickup unit 200 from the outside of the case body of the image pickup unit 200.
    動作試験システム１０は、撮像装置２００と、撮像装置２００の筐体の外部から撮像装置２００を構成する部材１２０の動作を確認するための試験装置３００とを備える。 - 特許庁
  • To miniaturize an optical pulse testing device (OTDR) by light-transmitting/receiving a testing light and a return light, and a monitor communication light, by means of a single unit.
    試験光及び戻り光と、モニタ通信光とを単体で送受光して、光パルス試験器（ＯＴＤＲ）の小型化を図る。 - 特許庁
  • When we talk about unit testing, we mean testing that developers do to validate that individual units of an application's source code work properly.
    単体テストとは、アプリケーションのソースコードの各ユニットが適切に動作することを検証するために開発者が行うテストを意味します。 - NetBeans
  • METHOD OF CONTROLLING ELECTRIC POWER SOURCE FOR DEVICE IN SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND ELECTRIC POWER SOURCE UNIT FOR DEVICE THEREIN
    半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 - 特許庁
  • To make efficient pursuing the causes of abnormalities generated in a testing unit and setting programs thereof.
    試験ユニットやその設定用プログラムに発生した異常の原因追究を効率化する。 - 特許庁
  • The internal-combustion engine testing apparatus 1 includes: a radiator 2; and a cooling water supply unit 3.
    内燃機関試験装置１は、ラジエータ２と、冷却水供給ユニット３と、を備えている。 - 特許庁
  • There are several testing options available to you that make it easy to unit test your application.
    使用可能なテストのオプションはいくつかあり、アプリケーションの単体テストが簡単になります。 - NetBeans
  • A test case is the smallest unit of testing. It checks for a specific response to a particular set of inputs.
    テストケースはテストの最小単位で、各入力に対する結果をチェックします。 - Python
  • SENSOR HOLDER, HOLDER UNIT IN WHICH BLOOD SENSOR IS MOUNTED TO THE SENSOR HOLDER, AND BLOOD TESTING DEVICE TO WHICH THE HOLDER UNIT IS MOUNTED
    センサホルダと、このセンサホルダに血液センサが装着されたホルダユニットと、このホルダユニットが装着される血液検査装置 - 特許庁
  • To provide an electronic component testing device comprising a pin assign converter capable of converting a logical pin number of a testing unit into a physical pin number.
    試験ユニットの論理ピン番号を物理ピン番号に変換することができるピンアサインコンバータを備えた電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A device comprises a testing unit 12 disposed outside of a wafer 16 and at least one testing circuit 14 formed on the wafer including an integrated circuit.
    ウェーハ１６の外部にある試験ユニット１２、および集積回路を含むウェーハ上に製造された少なくとも1つの試験回路１４を含む。 - 特許庁
  • holder of the testing laboratory must establish and maintain the testing laboratory as an organisationally independent unit so that proper operation is guaranteed.
    試験所の所有者は，適切な運営を保障するために組織的に独立したユニットとして試験所を設立，運営しなければならない - 経済産業省
  • The testing control unit selects one testing voltage source from among a plurality of voltage sources, outputs a testing voltage-source selection commanding signal to an input/output pad, and outputs a target voltage to a single pad.
    試験制御装置は複数の電圧源からテスト電圧源を１つ選択し、テスト電圧源選択指示信号を入出力パッドに出力し、目標電圧を単一パッドに出力する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit device, where a testing unit optimal to a memory macro can be tested on an optimal testing condition in the case of testing the memory macro mounted in the semiconductor integrated circuit device.
    半導体集積回路装置に搭載されたメモリマクロの試験の際、メモリマクロに最適な試験単位を最適な試験条件で試験することが可能な半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁
  • The control unit 15 informs (display) a monitoring device 8 and a data rewriting device 9 of a testing result.
    制御部１５はモニタ装置８やデータ書換装置９に試験結果を通知（表示）する。 - 特許庁
  • To provide a test unit and a test method enabling accurate examination of phenomena during testing.
    試験中の現象を的確に検証できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor device testing device including a power source unit to supply a low noise voltage.
    低ノイズ電圧を供給する電源ユニットを含む半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The pin unit for testing comprises a coil spring 12, a movable piece 20, a supporting part 30, and a test pin 40.
    テスト用ピンユニットは、コイルバネ１２と、可動片２０と、保持部３０と、テストピン４０とを備える。 - 特許庁
  • The pin assign converter outputs a logical pin number by converting it into a physical pin number of the testing unit.
    ピンアサインコンバータは、論理ピン番号を、試験ユニットの物理ピン番号に変換して出力する。 - 特許庁
  • A testing part is formed in an alarm device arranged in each dwelling unit of the apartment house, and the testing part executes automatically a test on the fire sensor or the like.
    共同住宅の各住戸内に配置される警報装置に試験部を設け、試験部は、火災感知器などに対する試験を自動的に実施する。 - 特許庁
  • To shorten testing time by diagnosing units included in a semiconductor testing device to estimate a unit to be replaced.
    半導体試験装置に備えられるユニットの診断を行って、交換するユニットを推定することで、試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁
  • This allows testing machine constituted of the pressure unit and the load meter to be mounted from a lateral surface of the steel bar 4 of the testing material, thereby improving workability.
    これにより、加圧ユニットおよび荷重計で構成される試験機を試験材の棒鋼４の横面から取付可能となり、作業性が向上する。 - 特許庁
  • A modular dissolution-testing apparatus 100 has a base unit 101 holding 1-8 dissolution-testing modules 102 and controlling operation between the modules.
    モジュール式溶出試験装置１００が１〜８の溶出試験モジュール１０２を保持し且つその間の動作を制御するベースユニット１０１を有する。 - 特許庁
  • The control unit outputs an optical signal for testing the dummy signal transmission unit, according to a fault search instruction outputted from a monitoring terminal and confirms the reception of the optical signal for testing via the signal monitoring unit, thereby verifying the alarm information stored in the log memory unit.
    制御部は、監視端末が出力する障害探索指令に応じて、ダミー信号送信部の試験用光信号を出力し、信号モニタ部で試験用光信号の受信を確認することでログ記憶部に記憶されている警報情報を検証する。 - 特許庁
  • To provide a managing device capable of managing the whole of a testing schedule even if the testing schedule includes both a driving schedule defined by a time unit and a driving schedule defined by a distance unit.
    時間を単位として定義された運転スケジュールと、距離を単位として定義された運転スケジュールと、が混在している場合にも試験スケジュール全体を管理可能な管理装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an alarm unit which reduces a current consumption in testing, and improves its usability.
    試験実施に係る消費電流を低減しユーザビリティを向上させた警報器を提供すること。 - 特許庁
  • A continuity test processing unit for comparing and testing inter-bus information of each system is connected to each system.
    各系統には各系統のバス間の情報を比較して検定する連続検定処理部を接続する。 - 特許庁
  • The tester controller outputs an address signal which specifies a logical pin number of the testing unit to the pin assign converter.
    テスタコントローラが、ピンアサインコンバータに、試験ユニットの論理ピン番号を指定するアドレス信号を出力する。 - 特許庁
  • A control unit 11 of a test device 1 outputs a signal for controlling testing of an integrated circuit 6.
    テスト装置１の制御部１１は、集積回路６のテストを制御するための信号を出力する。 - 特許庁
  • The testing device 20 includes a first and a second power supply units 22 and 23, as well as a changeover switching unit 24.
    試験装置２０は第１及び第２電源ユニット２２，２３と切換えスイッチユニット２４とを備えている。 - 特許庁
  • The testing device 100 is equipped with a unit 102 for tests housing a large number of test cards 104.
    試験装置１００は、多数のテスト用カード１０４が収容された試験用ユニット１０２を備える。 - 特許庁
  • A test unit 950 is provided for testing the selected part of the coefficient register for each coefficient expression.
    係数レジスタの選択部分を各係数表現に対してテストするテストユニット９５０が設けられる。 - 特許庁
  • A switching unit 7 switches in a testing mode an input origin to the control operation unit 3 and an output destination of the control operation unit 3 to a simulator unit 6 inside of the plant monitoring control device.
    そして試験モード時に、切り換え部７により、制御演算部３への入力元および制御演算部３からの出力先を、プラント監視制御装置の内部のシミュレータ部６に切り換える。 - 特許庁
  • To provide a discharge characteristic testing apparatus and a discharge characteristic testing method which can shorten a charge time per discharge characteristic test and reduce a unit price of the apparatus.
    １回の放電特性テスト当たりの充電時間を短くでき、また、装置単価を低廉にできる放電特性テスト装置、および放電特性テスト方法の提供を図る。 - 特許庁
  • The chip test unit 2 has at least one chip test module 20 disposed adjacently to the rotation unit 1, and testing the mounted chip C.
    チップテストユニット２は、回転ユニット１に隣接するように配置され、実装チップＣをテストする少なくとも１つのチップテストモジュール２０を有する。 - 特許庁
  • This simplified body fluid testing unit is comprised of a porous sheet member with a dripping part, a testing tip comprised of the reagent part which comes into contact with the surface edge part opposite to the dripping part of the porous sheet member in such a way as to be overlapping, and a rotating means for rotating the testing tip.
    滴下部を有する多孔質シート部材、前記多孔質シート部材の滴下部に対向する面の縁部に重なるように接触する試薬部よりなる検査チップ、前記検査チップを回転させる回転手段よりなる。 - 特許庁
  • To accurately and easily move an imaging means to the testing location on a substrate and to improve testing efficiency, even if there are manufacturing errors detected in the location reference unit and an allocation error of substrate in the substrate testing apparatus and method.
    基板検査装置および方法において、位置基準部の製作誤差や、基板の配置誤差があっても、基板上の検査位置に撮像手段を正確かつ容易に移動することができ、検査効率を向上できるようにする。 - 特許庁
  • If a normal communication is recognized from the determination result, the user decides to install the slave unit at the site and terminates testing.
    判定結果がＯＫであれば、ユーザは、子機の設置場所をこの場所に決定して、テストを終了する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit device test unit which is suitable for testing a three-dimensional semiconductor integrated circuit device.
    ３次元半導体集積回路装置に好適な半導体集積回路装置のテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • STRUCTURE OF EAR PIECE IN SPEECH UNIT, PORTABLE TELEPHONE, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING WATERPROOF PERFORMANCE OF THE PORTABLE TELEPHONE
    通話装置における受話口の構造、携帯電話機、およびその防水性能試験方法並びに装置 - 特許庁
  • The application of the wettability testing liquid and the measurement of the repelling area after the passage of the preset time are repeated for every unit area.
    単位面積毎に濡れ性試験液の塗布と所定時間経過後にはじいた面積の測定を繰り返す。 - 特許庁
  • A programmable voltage generator source 13 controls a power source unit and supplies power to a device under testing (DUT) 1.
    プログラマブル電圧発生源１３は電源ユニット１４を制御してＤＵＴ１へ電源を供給する。 - 特許庁
  • ANTENNA FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE, AND METHOD FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE IN MANUFACTURING/TESTING PROCESS OF MAGNETIC DISK UNIT
    電磁ノイズ計測用アンテナおよび磁気ディスク装置の製造・検査工程における電磁ノイズの計測方法 - 特許庁
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