To provide a testclassification system of electronic components which conducts electric characteristic test and visual inspection of electronic components such as small semiconductor, classifies into characteristic ranks and contains in a containing part. 小型半導体等の電子部品について電気特性検査及び外観検査を行い、特性ランクにより電子部品を分類し、収納部に収納する電子部品の検査分類装置を提供する。 - 特許庁