「visual defect」を含む例文一覧(150)
＜前へ 1 2 3- To eliminate an assembly defect by enabling the light emitted from an LED to be sufficiently discriminated from a display window by the visual sense of a user even if the same axes of a casing and the LED are dislocated.
ケーシング３とＬＥＤ６の同軸Ａがずれても、表示窓１０からＬＥＤ６から放出される光が使用者の視覚に十分識別できるようにし、かつ、組付け不具合を無くす。 - 特許庁 - As compared with visual inspection with the naked eye, the LCD 1 can optically and electrically be inspected, so the detection precision as to foreign matter, a defect, etc., can be maintained uniformly above the constant level.
肉眼による目視検査と比べて、ＬＣＤ１を光学的かつ電気的に検査できるので、異物や欠陥等の検出精度を均一、かつ一定の水準以上に維持することができる。 - 特許庁 - To provide a vibration control rubber molding capable of easily discovering a thick part of a flash to prevent generation of crack by visual inspection of light permeability through the flash and easily determining defect of a die.
バリの光透過度を目視することにより、バリ中の厚肉部を簡単に発見し、もって亀裂を防止するのみならず、金型不良も簡単に判定できる防振ゴム成形品を提供する。 - 特許庁 - To stably detect a micro black deep flaw more fine than a flaw detected by conventional filament type optical visual inspection and a glossy shallow defect flaw difficult to be detected.
従来のフィラメント方式の光学外観検査で検出されるキズよりも微小な黒く深い欠陥及び検出し難い光沢のある浅い欠陥傷の安定した検出を可能ならしめる。 - 特許庁 - To reduce trouble of visual angle characteristics that when a spot light source as a back light is used and the light from the spot light source is converged by a microlens array to make a transmission type display, brightness becomes uneven depending upon a visual angle owing to a defect in convergence at the border between microlenses.
バックライトとして点状の光源を用い、この点状の光源からの光を、マイクロレンズアレイによって集光させて透過型の表示を行う際に、マイクロレンズとマイクロレンズとの境界で生じる集光不良に起因して、視角によって明るさが不均一となる視角特性の不具合を緩和する。 - 特許庁 - To provide a display device inspection method that can inspect a display device in a comparatively short time under an inspection level equal to or higher than that of a conventional visual inspection, that is, the inspection without missing of a defect of a visually recognized level in place of the conven tional visual inspection by a worker and to provide a manufacturing method for the display device.
従来の作業者の目視による欠陥の検査に代って、従来の目視検査と同等のレベル以上の検査、即ち視認可能なレベルの欠陥を見逃すことなく比較的短い時間で検査することが可能な、ディスプレイ装置の検査方法およびディスプレイ装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a visual inspection method which digitizes the position of a defect found in a visual inspection of a construction work on the spot to be specified and writes it on a conventional inspection sheet to enable implementation of correction work only by using the inspection sheet and promote conversion of inspection results into electronic data.
本発明は、建築工事の目視検査で発見された不具合の位置をその場で数値として特定する目視検査方法であり、その数値を従来の検査シートに取り込もことにより、検査シートだけで是正工事の推進を可能とすると共に、検査結果の電子データ化を促進するものである。 - 特許庁 - To provide a defect detection method and system capable of accurately removing in a short time a chip including a defect such as a microvoid which is formed on a wafer stuck by a direct bonding method or through an adhesive and is difficult and takes time to be found by visual observation, and to provide a method of manufacturing a light emitting device.
直接接合方法または接着剤を介して貼り合わせたウエーハにできる目視では発見が困難で時間がかかるマイクロボイド等の欠陥を含むチップを、正確にそして短時間で取り除くことができる欠陥検出方法および欠陥検出システムならびに発光素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.
光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a film that is excellent in handleability in a sheet state and has optical characteristics causing no hindrance to a visual inspection in a cross-nicol method which is typical as a defect inspection of contamination of foreign matters etc. in a polarizing plate.
シート状態の取扱性に優れ、偏光板の異物混入等の欠陥検査として一般的なクロスニコル法による目視検査で障害とならないような光学特性を有するフィルムを提供する。 - 特許庁 - The visual inspection apparatus classifies defects into types of defect, such as chipping 91 and foreign matter 92, on the basis of a luminance profile indicating the luminance of each pixel arranged in a prescribed direction D in a photograph image of the appearance of a wafer 2.
外観検査装置では、ウェハ２外観の撮像画像において所定方向Ｄに並んだ各画素の輝度を示す輝度プロファイルに基いて、欠け９１や異物９２などの欠陥種別に分類する。 - 特許庁 - To quantitatively and accurately stratify a defect such as a surface flaw or segregation with respect to a large number of permanent magnets without relying on visual observation though a powder figure method is utilized.
粉末図形法を利用しつつも、目視に依存することなく、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別する方法と、その装置を提供すること。 - 特許庁 - The standard or optically adjustable intraocular lenses are combined with this optically adjustable "piggyback lens" in such a manner that the piggyback lens may correct every visual acuity defect which is not coped with by a first lens.
標準のまたは光調整可能な眼球内レンズが、「ピギーバック・レンズ」が第１のレンズによって対処されないどのような視力欠陥も矯正するように、光調整可能な「ピギーバック・レンズ」と組み合わされる。 - 特許庁 - To provide a process for continuous galvanizing of a metal strip capable of attaining an extremely low defect density for satisfying the request of a customer demanding a surface free from visual defects, and to provide an apparatus therefor.
外観欠陥のない表面を求める顧客の要求を満足させるだけの、きわめて低い欠陥密度を達成することのできる、金属ストリップの連続亜鉛めっきプロセスおよび装置を提供する。 - 特許庁 - This visual inspection system has a recording means for recording information including at least defect coordinates provided from an inspection result in an automatic inspection means arranged at least one portion or more in a manufacturing process while combined to an identification code imparted on a device substrate, and a visual inspection terminal for reading out the information recorded in the recording means by the identification code to be informed to a visual inspector.
製造工程の少なくとも１箇所以上に配置された自動検査手段の検査結果から得た、少なくとも欠陥座標を含む情報をデバイス基板上に付された識別コードと結び付けて記録する記録手段を有し、該記録手段に記録された情報を該識別コードによって読み出して目視検査員に通知する目視検査端末を有することを特徴とする目視検査支援システム。 - 特許庁 - To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.
半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a solder ball which can solve the problem of defects in the deletion judgement, the height measurement, and the visual inspection of a solder bump defect due to the discoloration of the solder bump in soldering, and further to provide the solder bump using the same solder ball.
本発明の目的は、はんだ付け時の変色に起因したはんだバンプの欠損判定、高さ測定、ならびに目視検査での不良の問題を解決するはんだボールおよびそれを用いたはんだバンプを提供することである。 - 特許庁 - To provide a method for enabling visual, intuitive recognition of the behavior of bulk micro defect (BMD) by displaying the behavior of BMD by computer simulation as the image represented by the infra-red tomographic method.
コンピュータシミュレーションによって得られる酸素析出物（ＢＭＤ）の挙動を、赤外線トモグラフ法で得られる画像イメージで表示することによって、ＢＭＤの挙動を直感的、視覚的に理解することを可能にする方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, when the lens mount 42 of the imaging camera 14 is located at the front imaging position, a defect of part of the display panel body 13 intruding the region 44 in the vertical visual field angle can be prevented.
これによって、撮像カメラ１４のレンズ装着部４２が前方撮像位置に配置された状態において、表示パネル本体１３の一部が上下方向の視野角内の領域４４に入り込んでしまうという不具合が防がれる。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device for a semiconductor device that protects adjacent non-defectives against damage by virtue of short-time and precise marking when marking a corresponding obverse surface after inspecting a defect in a reverse surface of a semiconductor substrate.
半導体基板裏面の欠陥を検査した後、対応する表面にマーキングする際に、短時間かつ精度良くマーキングを行うようにし、隣接する良品に傷を付けることのない半導体素子の外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - Since the object image on the monitor 11 can display the enlarged object image even when the visual angle is narrowed in the magnified observation mode changed from the usual observation mode, a defect of missing a concerned part can be avoided.
これにより、通常観察から拡大観察に切り替えた際に視野角が狭くなっても、モニタ装置１１上の被写体像を大きく表示することができるため、関心部位を見失う不都合を防止することができる。 - 特許庁 - In the system, image data obtained by photographing the bad place of a substrate determined to be defective by visual examination is stored in a memory medium as a work unit and the image stored in the memory medium is successively displayed on a monitor screen in a process separate from a visual examination process to perform only the input work of the defect classification data.
目視検査で不良と判断された基板の不良箇所を撮影した画像データを、記憶媒体に作業単位に保存しておき、目視検査工程とは別工程で、記憶媒体に保存された画像を順にモニター画面に表示することにより不良区分の入力作業だけを行うことを特徴とする不良分類システム。 - 特許庁 - In an optical element 1 having optical function surfaces 7, 8 including optically effective regions 10, 11, there are provided comparison standard parts 12, 14 for the visual inspection, that become comparison references when performing the visual inspection of surface defect of the optically effective regions 10, 11 based on their appearances, outside the optically effective regions 10, 11.
光学有効領域１０、１１を含む光学機能面７、８を有する光学素子１において、前記光学有効領域１０、１１の外側に、前記光学有効領域１０、１１の表面欠陥を外観に基づいて検査する外観検査を行う際の比較基準となる外観検査用比較基準部１２、１４を有すること。 - 特許庁 - To provide a practical method and device for detecting a small surface irregularity defect, capable of detecting surely a small concave and convex defect having a contour of the irregularity of several micrometers which is difficult to an automatic detection like the detection by a grinding stone, in an object to be inspected with a coarse surface roughness and a visual inspection which is usually difficult.
表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度でなだらかな輪郭を持つ微小凹凸性疵を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an electrochromic light control element excellent in heat resistance and in durability which is further maintained over an extended time period, generating no visual defect such as white turbidity inside the element and no variation of performance of the element such as response speed and having high reliability.
耐熱耐久性に優れ、しかもその耐久性が長期に渡って維持され、素子内部に白濁等の外観上の欠陥が発生したり、応答速度等の素子性能が変化せず、信頼性が高いエレクトロクロミック調光素子の提供。 - 特許庁 - To enable a person to efficiently recognize the location and other information of a defect which is hardly found visually with a transparent film or a translucent film, with a simple structure in a transparent film visual inspection system.
透明フィルム外観検査システムにおいて、簡単な構成により、透明フィルムや半透明フィルムにおける目視による発見が困難な欠陥に対し、その欠陥場所やその他情報を効率よく人に認識させることができるようにする。 - 特許庁 - To provide a method for detecting defects of a welding gun for a capacitor discharge type stud welding, enabling visual capturing, being capable of carrying out data inspection and being capable of exactly detecting defects in action of the welding gun, and also to provide a defect detection device.
視覚的に捉えることができ、データ的点検が可能で、しかも正確に溶接ガンの作動良否の判定を行うことができるコンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a color correction program for producing visual information, public display objects and information media widely seen by the general public with a universal design by uniformly improving color visibility even without considering the possibility, type and level of a defect in color perception.
色覚障害の有無、種別、程度を個別に考慮しなくても、統一的に配色の視認性を改善し、広く一般の人々が目にする視覚情報、公共の表示物、情報メディアをユニバーサルデザイン化する色修正プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device capable of detecting sufficiently an appearance defect by widening the setting width of an irradiation condition of light irradiated to an inspection object, and having a wide tolerance of the shape, the size and the material of the inspection object and a high utility value.
被検査物に対して照射する光の照射条件の設定幅を広げることにより、外観不良を十分に検出することができる被検査物の形状，サイズ，材質の許容範囲を広げ、利用価値の高い外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic inspection method with high accuracy not by visual inspection, for detecting a defect on a stencil mask, in particular, detecting a foreign substance on the surface, and to provide an inspection device for obtaining a reference image for comparison inspection.
ステンシルマスク上の欠陥検出、特に表面異物を検出する方法について、目視検査によらず自動的な高精度検査方法を提案すると共に、比較検査を行うための基準画像が取得できる検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - A digital camera 7 images a micro result on the substrate 2, to generate a stereoscopic microscope image under the condition fixed onto a stereoscopic microscope 5, and images the defect on the substrate 2 in a visual position of an inspector, to generate a macro image, under the condition removed from the stereoscopic microscope 5.
デジタルカメラ７は、実体顕微鏡５に固着された状態では、被検査基板２上の微小な結果を撮像して実体顕微鏡画像を生成し、実体顕微鏡５から取り外された状態では、検査者の目視位置で被検査基板２上の欠陥を撮像してマクロ画像を生成する。 - 特許庁 - To allow visual confirmation for a process data over a long period, to call out a data older than a recordable period in a trend history file, and to trend-display a data in which a defect of the process data caused by a trouble and the like is corrected.
長期間にわたるプロセスデータを視覚的に確認することができ、また、トレンド履歴ファイルの収録可能期間よりも古いデータを呼び出すことができ、さらに、故障等によるプロセスデータの欠損を修正したデータをトレンド表示することができるトレンド表示装置および方法を得る。 - 特許庁 - To provide an organism-associated substance-immobilized gel-retaining fiber alignment body thin piece improved in visual confirmability so that a defect of a gel or the like in manufacture can be easily detected, and the adhesion of bubbles or the deformation or falling of the gel in hybridization operation can be easily detected, and a detection method using it.
製造時ゲル等の欠陥を容易に検出でき、ハイブリダイゼーション操作での泡の付着やゲルの変形、脱落等を容易に検出できる視認性の改良された生体関連物質固定化ゲル保持繊維配列体薄片及びそれを用いた検出方法の提供。 - 特許庁 - In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁 - To provide a display panel defect inspection system which keeps a throughput of an inspection process even if the number of inspectors is reduced, and improving the throughput of the inspection process by dispersing a visual inspection work to the plurality of inspectors.
本発明は、検査員の数を減らしたとしても、検査工程のスループットを維持することができ、更に、目視検査の作業を複数の検査員に分散させることで、検査工程のスループットを向上させることが可能なディスプレイパネル欠陥検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To realize a method for inspecting a semiconductor device, which can inspect for the presence of generation of etching stop phenomenon or a mis-etching during hole formation with a simple visual inspection, can find defects in manufacture at a early stage, and can prevent flow out of the defect to a next step.
ホール形成時におけるエッチングストップ現象又は抜け不良の発生の有無を簡単な外観検査により検査することができ、製造不良を早期に発見することができると共に、次工程への流出を防止することができる半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁 - The Cl group of the silicon source gas is reduced to a hydrogen chloride(HCl) by the hydride compound gas and is removed together with an exhaust gas, it is possible to prevent a visual defect due to a SiClx crystal obtained by coupling chloride to silicon, and an abnormal growth of the lower polysilicon film.
水素化合物ガスによりシリコンソースガスのＣｌ基を塩化水素（ＨＣｌ）に還元し、排気ガスと共に除去するので、塩素とシリコンが結合したＳｉＣｌｘ結晶による視覚不良、ならびに下部のポリシリコン膜の異常成長を防止することができる。 - 特許庁 - To solve problems of an image display device using a self-luminous element as a pixel since shipment inspection is complicated when a black spot detect pixel is determined by visual check or luminance measurement in shipping and a black spot defect occurring in use by a user after shipment cannot be corrected.
自発光素子を画素として用いた画像表示装置において、黒点欠陥の画素を出荷時の目視、または、輝度測定により判別する場合、出荷検査が煩雑となるとともに、出荷後、ユーザが使用中に発生する黒点欠陥に対しては、補正が不可能となる。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.
ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁 - An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁 - To provide a polyester film allowing a worker to detect a defect, foreign matter or the like with high precision in a visual inspection by a crossed Nicol method which is one of inspection methods for polarizing plate and favorably usable as a mold releasing film hardly scratched in a manufacturing process for the mold releasing film and a process by use of the mold releasing film.
偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルム用として好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - This device has an inspection head 4 for photographing each fuel rod 100 which is an inspection object, a moving means for moving the fuel rod 100 and the inspection head 4, and a fuel rod inspection control device 6 for performing visual dimension inspection or defect inspection from an appearance image of the fuel rod 100 photographed by the inspection head 4.
被検査体である燃料棒１００を撮影する検査ヘッド４と、燃料棒１００または検査ヘッド４を移動させる移動手段と、検査ヘッド４で撮影した燃料棒１００の外観画像から外観寸法検査または欠陥検査をする燃料棒検査制御装置６とを有する。 - 特許庁 - To provide a favorable polyester film as a base film of a release film capable of achieving a high precision of an inspection when performing an inspection of defect such as strain and irregularity and presence/absence of a foreign matter in a polarizing plate formed by sticking release films to each other with a visual inspection using crossed Nichol method.
離型フィルムが貼り合わされた状態の偏光板について、歪みやムラのような欠陥や異物の有無の検査をクロスニコル法による目視検査によって行う場合において、高度な検査の精度を実現することのできる離型フィルムのベースフィルムとして好適なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - This visual inspection device includes a linear light source 2 for obliquely illuminating the surface of an inspecting object 5 sent in a fixed direction, a line sensor type camera 1 for capturing reflected light on the surface of the inspecting object of the light from the light source, and an image processing circuit 3 for detecting a defect from the contrast of an output image from the camera.
一定方向に送られる被検査物５の表面に斜光照明を行うライン状光源２と、該光源からの光の被検査物表面での反射光を捕らえるラインセンサ型カメラ１と、上記カメラの出力画像の明暗から欠陥を検出する画像処理回路３とからなる。 - 特許庁 - To provide a simulated beverage for a toy, which enables young children or the like to enjoy playing house and mothering with the simulated beverage which always presents fresh external appearance because of suppressing growth of mold and bacteria without producing visual defect due to a color tone change and floating matter so as to maintain an aspect of fresh milk or juice for a long period of time.
黴や細菌の繁殖を抑制し、色調変化や浮遊物による視覚的な不具合を生じることがなく、常に新鮮なミルクやジュースの様相を長期的に維持できるため、幼児等が常に新鮮な外観を呈した模擬飲料を使用して、楽しくままごとや育児のまねごと等の遊戯が可能な玩具用模擬飲料を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and system for updating a recipe, capable of updating an optical condition stored in the recipe in order to detect a defect of a circuit pattern more easily without reducing an inspection time in a visual inspection device inspecting a semiconductor substrate including the circuit pattern formed thereon based on the recipe storing the optical condition.
回路パターンが形成された半導体基板を光学条件が格納されたレシピに基づいて検査する外観検査装置において、回路パターンの欠陥をより検出し易くするために、検査時間を削ることなく、レシピに格納された光学条件を更新することが可能なレシピ更新方法およびレシピ更新システムを提供すること。 - 特許庁 - To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image.
顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のＳＮ比を向上する。 - 特許庁 - The visual inspection method conducted in the inspection of the construction work comprises establishing plane coordinates on the surface or on the floor of the object to be inspected such as individual room or a section of the divided partition, and the position of a defect found in the inspection is specified by numerals according to the coordinates.
建築工事の検査において実施する目視検査方法であって、検査の対象となる１室ごとに、または分割された１区画ごとにその床面に、あるいは検査の対象となる面ごとに平面座標を設定し、検査にて発見された不具合の位置を前記座標上の数値で特定することを特徴としている。 - 特許庁 - To provide a polyester film, of which hue of reflected light is excellent in decorativeness depending on an angle of visual recognition when used as a prism sheet for a liquid crystal display (LCD) and a lens sheet substrate, and which also has optical characteristics satisfying antiglare properties and resolution properties with sufficient balance, has neither unevenness nor defect, achieves high luminance, and provides a high-quality image.
液晶ディスプレー（ＬＣＤ）向けのプリズムシート用やレンズシート基材として使用した際に、視認する角度によって反射光の色相が装飾性に優れ、また、防眩性と解像性をバランス良く満たす光学特性を兼ね備え、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、高品質な画像を与えることができるポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - The relative positions of the columnar spacer 14 and green, blue and red pixel regions 21 to 23 as well as rubbing directions and a relation between these directions 26 are adequately set to prevent an alignment defect 28 from arising in the green pixel regions 21 having higher visual sensitivity when compared with that of red and blue, thereby, the liquid crystal display 1 making the display unevenness hardly visible is realized.
本発明では、柱状スペーサ１４と緑、青、及び赤の画素領域２１〜２３との相対位置並びにラビング方向及びその向き２６との関係を適切に設定して、配向不良２８が赤や青に比べて視感度の高い緑の画素領域２１で発生するのを防止することにより、表示ムラが視覚され難い液晶表示装置１を実現する。 - 特許庁
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