To solve the problems that the characteristic of a TFT element formed on a substrate is adversely affected when inspecting a sealing part by using a sealing material, to which a fluorescent substance reactive with UV rays is mixed, and irradiating the sealing part withe the UV rays. 紫外光に反応する蛍光物質を混入させたシール材を使用して、紫外光をシール部に照射することによって検査する場合には、基板上に形成されたTFT素子の特性に悪影響を及ぼす。 - 特許庁