「x-ray diffraction data」を含む例文一覧(29)
- PROCESSING METHOD OF TWO-DIMENSIONAL X-RAY DETECTION DATA, TWO-DIMENSIONAL X-RAY DETECTION DEVICE, AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE
二次元Ｘ線検出データの処理方法、二次元Ｘ線検出装置、およびＸ線回折装置 - 特許庁 - X-RAY DIFFRACTION DEVICE, DATA ANALYSIS METHOD OF X-RAY DIFFRACTION DEVICE, CONTROL METHOD OF X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND PROGRAM FOR IMPLEMENTING THE METHOD
Ｘ線回折装置、Ｘ線回折装置のデータ解析方法、Ｘ線回折装置の制御方法およびその方法を実現するためのプログラム - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING MEASURING DATA OF CCD SENSOR AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE
ＣＣＤセンサの測定データ取得方法及び装置並びにＸ線回折装置 - 特許庁 - POWDER X-RAY DIFFRACTION DATA MEASURING METHOD USING ONE-DIMENSIONAL OR TWO-DIMENSIONAL DETECTOR
１次元または２次元検出器を用いた粉末Ｘ線回折データ測定方法 - 特許庁 - An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.
実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁 - The X-ray intensity data are improved by measuring diffraction X rays from the metallic phase contained in the plated layer at a plurality of positions to the same Debey ring and integrating the obtained diffraction X-ray intensity data.
めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線を、同一のデバイ環に対して複数の位置で測定し、得られる回折Ｘ線強度データを積算することにより、Ｘ線強度データを高める。 - 特許庁 - The crystalline polymorph (form A) of the bazedoxifene acetate characterized according to the powder X-ray diffraction data, IR data, and DSC data, and the composition containing the crystalline polymorph are provided.
より良好なバイオアベイラビリティー又はより良好な安定性を示すバゼドキシフェンアセテートの結晶多形の提供。 - 特許庁 - METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE
結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁 - A series of processes ranging over crystallization in a capillary, cryoprotectant processing and diffraction data collection by X-ray diffraction measurement is carried out using the capillary having a contraction area for preventing a crystal of a size suitable for the X-ray diffraction measurement from flowing out.
Ｘ線回折測定に適した大きさの結晶の流出を防止する絞り領域を有するキャピラリーを用いて、その内部で結晶化、クライオプロテクタント処理およびＸ線回折測定による回折データ収集までの一連の工程を行う。 - 特許庁 - A calculator 19 detects a diffraction angle θ from an intensity distribution of the diffraction X-ray 5 measured by the detector 6, the diffraction angle when no influence of refraction of X-ray exists from the data of the angles α, θ is obtained, and an internal stress of the sample 3 is calculated base on the diffraction angle.
算出部１９は、Ｘ線検出器６で測定された回折Ｘ線５の強度分布から回折角度θを検出し、入射角度αと回折角度θのデータから、Ｘ線の屈折による影響がないときの回折角度を求め、それに基づいて試料３の内部応力を算出する。 - 特許庁 - To provide an X-ray analyzing method for accurately obtaining X-ray diffraction data even from a contaminated destructed surface to enable the judgment of a destruction cause and an apparatus adapted thereto.
汚染された破壊面からでもＸ線回折情報を精度良く得ることにより、破壊原因の判定を可能にするＸ線解析方法及びその装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a membrane X-ray diffraction apparatus capable of obtaining the crystal data of the minute area in a polycrystal membrane sample.
多結晶薄膜試料における微小領域の結晶情報を得ることの可能な薄膜Ｘ線回折装置を提供する。 - 特許庁 - This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.
極点図のためのデータを得るＸ線測定装置と、そのＸ線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.
Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。 - 特許庁 - By comparing a reference data base in which two-dimensional X-ray diffraction line data of an equatorial direction (2θ direction) and a Debye ring direction (β direction) on a plurality of substances is stored with two-dimensional X-ray diffraction line data of the equatorial direction and the Debye ring direction on substance to be measured, the substance to be measured is identified.
複数の物質に関する赤道方向（２θ方向）およびデバイリング方向（β方向）の２次元Ｘ線回折線データを記憶した標準データベースと、被測定物質の赤道方向およびデバイリング方向の２次元Ｘ線回折線データとを比較することにより、被測定物質の同定を行う。 - 特許庁 - To easily acquire the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a short time.
不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を短時間で容易に取得することを実現する。 - 特許庁 - The gamma-crystal form of perindopril tert-butylamine salt suitable for the object expressed by formula 1 characterized by powder X-ray diffraction data is provided.
これらの目的にあう、粉末Ｘ線回折パターンを特徴とする、式１で示すペリンドプリルｔｅｒｔーブチル塩のγ結晶形を提供する。 - 特許庁 - To perform accurate qualitative analysis by accurately performing the comparison of the measured data of the intensity of diffracted X-rays and standard data even in such a case that a measuring condition of the measured data and the standard data is different, especially, a diffusion slit is different in the X-ray diffraction device.
Ｘ線回折装置において、回折Ｘ線強度の測定データと標準データの測定条件、特に、発散スリットが異なる場合でも、測定データと標準データの比較を正確に行い正確な定性分布を行う。 - 特許庁 - A measurement control device 11 reads the wavelength data of the first-order ray from a storage device 14, according to the characteristic X-ray type of a specified element to obtain the actual spectroscopic wavelength position and the measurement wavelength range, based on the diffraction order.
測定制御装置１１は指定された元素の特性Ｘ線種に従って記憶装置１４から１次線の波長データを読出し、回折次数に基づいて実際の分光波長位置と測定波長範囲を求める。 - 特許庁 - When determined that it is a periodic structure, the electron beam diffraction image and a limited visual field image are preserved as one data group together with an observation condition including the position of the sample stage, an X-ray spectrum or the like.
周期構造であると判定したら、電子線回折像、及び、制限視野像を、試料ステージの位置を含む観察条件、Ｘ線スペクトル等と共に１つのデータ群として保存する。 - 特許庁 - To provide a structure analysis method for accurately analyzing the structure and composition of a carbon material to be measured based on the X-ray diffraction data of the carbon material to be measured by utilizing a statistical method.
統計的手法を利用し、被測定炭素材のＸ線回折データに基づいて、高い精度で被測定炭素材の構造および組成分析が可能な構造解析法を提供する。 - 特許庁 - In addition, the D enzyme can be used in combination with its L-enzyme counterpart in co-crystallation admixtures to form racemic crystals for determining crystallographic structures using X-ray diffraction data.
加えて、Ｄ−酵素は、Ｌ−酵素の片割れと共に、Ｘ−線解析データを用いる結晶学的構造を決定するためのラセミ結晶を生成するのに共結晶化混合物で使用すりことができる。 - 特許庁 - To measure X-ray and radiation light powder diffraction data by using one-dimensional or two-dimensional (for example, a position sensitive proportional counter (PSPC), an image plate, a large-scale CCD detector).
１次元又は２次元検出器〔例えは、比例計数管位置敏感検出器（ＰＳＰＣ）、イメージングプレート、大型ＣＣＤ検出器〕を用いたＸ線及び放射光粉末回折データの測定に利用される。 - 特許庁 - Since the 2θ moving speed of the CCD sensor 27 is synchronized with the charge transfer in the CCD sensor 27, the same diffraction angle data are accumulated in respective picture elements of the CCD sensor 27, so as to allow quick and highly sensitive X-ray diffraction measurement.
ＣＣＤセンサ２７の２θ移動の速度と、ＣＣＤセンサ２７における電荷転送とが同期するので、ＣＣＤセンサ２７の各画素に同一の回折角度のデータを蓄積でき、それ故、高速で高感度のＸ線回折測定を行うことができる。 - 特許庁 - A third arithmetic means 38 discriminates the reciprocal lattice point group forming X-ray diffraction at every twin crystal component based on the crystal azimuth matrix at every twin crystal component to form display data for three-dimensionally displaying them in the same way.
第３演算手段３８は，結晶方位行列に基づいて，Ｘ線回折が生じる逆格子点群を，双晶成分ごとに区別して，それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。 - 特許庁 - In a measuring method of an X-ray diffraction pattern of the translin crystal, the translin crystal obtained using sodium formate as a precipitant is frozen in crystallizing solution containing polyalcohol, and X-ray diffraction data is collected in a frozen state.
トランスリン結晶のＸ線回折像の測定方法、該結晶のＸ線回折像より得られる３次元構造座標、該構造座標を含むデータベース若しくは記録媒体、該構造座標を用いるトランスリンの機能を調節する能力を有する化合物の同定方法、該３次元構造座標を用いるトランスリンに潜在的に結合しうる化合物からなる化合物群の調製方法、及び、該３次元構造座標を用いるトランスリンの変異体の作製方法。 - 特許庁 - Accordingly, for example, the intensity ratio between each measurement data having the equal distance from the X-ray diffraction peak is calculated, and an asymmetric curve plotted from the calculation result is used, to thereby determine accurately the displacement of the crystal atom.
そこで、例えばＸ線回折ピークからの距離が等しい測定データ同士の強度比を計算し、それらの計算結果から描画される非対称性曲線を用いることにより、結晶原子の変位量を精度よく求めることができる。 - 特許庁 - To attain a method and program for measuring/analyzing X-ray diffraction capable of performing sufficiently accurate profile analysis by fitting of a specific satellite peak based on known information and measured data, and to two-dimensionally display a match state globally with a good view without losing generality.
既知情報及び実測データに基づく特定サテライトピークのフィッティングにより、十分な精度のプロファイル解析が行えるＸ線回折測定解析方法及びプログラムを実現し、また、一致状態を一般性を失うことなく大局的に見通しよく２次元表示する。 - 特許庁 - This solar cell substrate includes a transparent substrate 411, and a transparent conductive film 412 formed over the transparent substrate, and including a zinc oxide (ZnO) thin-film layer 412a doped with a dopant, where both a growth plane (0002) and a growth plane (α) are present based on X-Ray Diffraction (XRD) pattern data.
太陽電池基板は、透明基板４１１と、透明基板に形成され、Ｘ線回折（ＸＲＤ）パターンのデータを基準に、（０００２）成長面と成長面がともに存在する、ドーパントがドーピングされた酸化亜鉛（ＺｎＯ）薄膜層４１２ａを含む透明導電膜４１２とを含む。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
