超微細構造解析の英語

超微細構造体のＸ線迅速構造解析方法例文帳に追加

RAPID X-RAY STRUCTURE ANALYSIS METHOD FOR ULTRAFINE STRUCTURE - 特許庁

基板結晶表面上に育成された超微細ナノワイヤ、基板結晶とその表面を覆うキャップ層の間に挟まれた、埋もれた超微細ナノワイヤ、あるいは、薄膜結晶などの超微細構造体に、0.1 nm以下の短波長X線を表面から数°以下の角度で入射させ、生じる回折X線を２次元X線検出器に短時間で一度に記録することにより、前記超微細構造体からの回折X線強度を逆格子空間において可視化し、その構造を迅速に解析する。例文帳に追加

Diffraction X rays generated are recorded in a two-dimensional X-ray detector at a stroke in a short period of time, thereby visualizing the intensity of diffraction X rays from the ultrafine structure in a reciprocal lattice space to rapidly analyze its structure. - 特許庁

試料の表面とX線のなす角を制御する入射角変更機構、その機構の高さを調節する台、試料の高さを調節する台、２次元検出器、２次元検出器用の支持台、および試料ホルダから構成される超微細構造体のX線迅速構造解析装置。例文帳に追加

The rapid X-ray structure analyzer for ultrafine structures comprises an incident angle changing mechanism for controlling an angle formed by the surface of a sample and X rays; a mounting block for adjusting the height of the mechanisms; a mounting block for adjusting the height of the sample, a two-dimensional detector, a supporting rack for the two-dimensional detector, and a sample holder. - 特許庁