「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • Also, the mini-disk used at the occurrence of the error does not exists, analysis of the defect is performed using the mini-disk 2 having a property similar to that of the mini-disk 2 specified by the unique ID.
    また、エラー発生時に使用していたミニディスクがない場合等は、ユニークＩＤで特定されるミニディスク２と類似する特性を持つミニディスク２を用いて不良解析を行う。 - 特許庁
  • A lattice defect region 4 is formed, as a low lifetime region, in the surface layer of an n-type substrate 3 by implanting ions from the surface side of the n-type substrate 3 (Fig. 2(a)).
    Ｎ−型基板３の表面側からイオン注入を行うことで、Ｎ−型基板３の表層部に低ライフタイム領域としての格子欠陥領域４を形成する（図２（ａ））。 - 特許庁
  • To provide a sludge treatment apparatus capable of drying sludge having high water content after passing through a dehydrator to avoid the defect that treatment cost is increased with the increase of the sludge weight.
    脱水機を通過した後の含水率が高い汚泥の乾燥を可能とし、汚泥重量が嵩んで処分費が増大する不都合を回避できる汚泥処理装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a toner which improves the efficiency of transfer, prevents occurrence of an image defect upon each transfer and outputs an image having good reproducibility over a long term, in a high speed full color image formation method.
    高速のフルカラー画像形成方法において、転写効率を向上させ、各々の転写時に画像欠陥をなくし長期的に再現性の良い画像を出力するトナーの提供。 - 特許庁
  • To provide an image forming device which can prevent the occurrence of an image defect known as 'density unevenness' by partial bristle falling of brush fibers without drastically increasing the cost.
    大幅なコストアップを招くこと無く、ブラシ繊維の部分的な毛倒れによる「濃度ムラ」と呼ばれる画像不良の発生を未然に防ぐことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • The PXLEDs are formed with novel fabrication techniques, such as the epitaxial lateral overgrowth technique over a patterned masking layer, yielding semiconductor layers with low defect density.
    ＰＸＬＥＤは、パターン化されたマスク層上で使用されるエピタキシャル横方向過度成長技術のような新しい製作技術で形成され、欠陥密度の低い半導体層が得られる。 - 特許庁
  • To provide a ceramic green sheet pressing apparatus which does not distort the whole ceramic green sheet and does not cause a structural defect to make the density of a ceramic green sheet laminate uneven.
    セラミックグリーンシート全体に歪みを与えず、セラミックグリーンシートの積層体の密度が不均一となる構造欠陥を引き起こすことのないセラミックグリーンシート圧着装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a pneumatic tire effectively restricted in occurrence of a rubber flow defect in vulcanization in the case of providing a side wall part with a display part projecting from the surface of the side wall part.
    サイドウォール部にその表面から突出する表示部を設けるにあたって、加硫時のゴム流れ不良の発生を効果的に抑制するようにした空気入りタイヤを提供する。 - 特許庁
  • A short-circuit defect is prevented by forming a second interlayer insulation layer 15 under an upper electrode power-feeding wire to be a power supply line to an upper electrode 13 of a thin-film electron source array.
    薄膜型電子源アレイの上部電極１３への給電線となる上部電極給電配線の下に、第二層間絶縁層１５を形成して短絡不良を防止する。 - 特許庁
  • As higher voltage than conventional voltage can be applied between the dummy bit lines DBL0, DBL1 and adjacent bit lines BL,/BL, capability of detecting defect is improved.
    ダミービット線ＤＢＬ０，ＤＢＬ１とそれに隣接するビット線ＢＬ，／ＢＬとの間に従来よりも大きな電圧を印加することができるので、不良検出能力が高くなる。 - 特許庁
  • To provide an article holder for electrodeposition coating and electroplating, which does not give rise to an electrodeposition defect due to air pockets even if an article to be coated is not provided with through-holes for air vent.
    塗装すべき物品にエア抜き用の貫通孔を設けなくとも、エア溜まりによる電着不良を生ずることのない電着塗装及び電気鍍金用物品保持具を提供する。 - 特許庁
  • To provide a blanking aperture array device which can prevent contact defect and short circuit caused by falling of an electrode pad during connection to a probe card, and its manufacturing method.
    プローブカードとの接続時に、電極パッドの倒れによる接触不良や短絡を防止できるブランキング・アパーチャ・アレイ・デバイスおよびその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a roll for a film and a manufacturing method for a thermoplastic resin film which enable attainment of the thermoplastic resin film being free of a surface defect and having smoothness with excellent productivity.
    フィルムの表面欠点がない平滑な熱可塑性樹脂フィルムを生産性よく得ることが可能となるフィルム用ロールと熱可塑性樹脂フィルムの製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • An image processing part 30 for processing an electric signal output from an imaging element is composed of a plurality of processing blocks (1) to N such as defect pixel correction, optical black and white balance.
    撮像素子から出力される電気信号を処理するための画像処理部３０は、欠陥画素補正、オプティカルブラック、ホワイトバランスなど複数の処理ブロック 〜Ｎから構成される。 - 特許庁
  • Consequently, moisture and additives causing gasification in the subsequent anneal process are evaporated beforehand and removed and thereby defect and breakage of a piezoelectric film 3 can be avoided in the anneal process.
    これにより、後のアニール工程においてガス化の原因となる水分や添加物を予め気化させて除去し、アニール工程における圧電膜３の欠陥、破壊を回避することができる。 - 特許庁
  • To reduce a shadow loss due to electrode, suppress the deterioration of performance due to crystal defect, and improve the photoelectric conversion efficiency, in a thin-film polycrystalline Si solar cell.
    薄膜多結晶Ｓｉ太陽電池において、電極によるシャドウロスを低減させると共に、結晶欠陥による性能の劣化を抑え、光電変換効率の向上を図ること。 - 特許庁
  • To perform stable electrification over a long term and to prevent a defect on a print sample by completely removing the additive of toner adhering to an electrifying means.
    帯電手段に付着したトナーの外添剤を十分に取り除くことで、長期にわたって安定した帯電を行って、プリントサンプル上のディフェクトを防止可能な画像形成装置を得る。 - 特許庁
  • Then nitride-based semiconductor layers 20 and 20a are formed on the GaN substrate 1, and an element structure portion 22 is formed in the nitride-based semiconductor layer 20 on a low-defect region 1a.
    次に、ＧａＮ基板１上に窒化物系半導体層２０，２０ａを形成するとともに、低欠陥領域１ａ上の窒化物系半導体層２０に素子構造部２２を作製する。 - 特許庁
  • The magnetic recording medium 11 is characterized in that the defect occurrence frequency is reduced to 1/3 or below compared with the frequency when annealing treatment is not performed by performing the annealing treatment.
    アニール処理を行うことによって、アニール処理を行わない場合に比べて欠陥の発生頻度を１／３以下に減少したことを特徴とする磁気記録媒体１１。 - 特許庁
  • To provide a method of producing a high quality single crystal wafer of SiC in a larger size and a lower defect level in the crystal formed in a sublimation system using a seed crystal.
    種結晶を用いた昇華システムにおいて形成された結晶の欠陥レベルが低く、より大きく、高品質のＳｉＣ単結晶ウェハを製造する方法を提供する。 - 特許庁
  • To easily find an illumination angle optimum for detecting a high contrast of image due to a transmission diffraction light, in order to image-detect a defect of periodic structure in an inspection object.
    被検査物の周期構造の欠陥を画像検出するために、透過回折光によるコントラストの高い画像を検出するに最適な照明角度を容易に見出せるようにする。 - 特許庁
  • To remove a substrate defect present in an SiC substrate by removing the SiC substrate by an appropriate thickness portion before a device formation process in manufacturing a semiconductor element.
    半導体素子を製造する際のデバイス作成プロセスに先立ち、ＳｉＣ基板を適切な厚み分だけ除去することで、ＳｉＣ基板に存在する基板欠陥を除去できるようにする。 - 特許庁
  • To reduce noise due to a circuit pattern for performing highly sensitive detection of foreign matter or a defect causing real damage on a test object having a transparent film such as an oxidation film.
    酸化膜などの透明膜が存在する被検査対象に対して、回路パターンに起因するノイズを低減させることで、実害になる異物又は欠陥を高感度に検出可能とする。 - 特許庁
  • By such a structure, adhesive force between a substrate and a transfer layer can be improved in a part of a pixel part of the substrate and an edge open defect of an organic film can be improved.
    かかる構成により、基板の画素部の一部分で基板と転写層との間の接着力を向上させることができ、有機膜のエッジオープン不良を改善することができる。 - 特許庁
  • To provide an aromatic polyamide film reduced in defect and suitable as a base film for magnetic recording medium, particularly for digital data storage being the memory use of a computer, and a method for manufacturing the same.
    欠点が少なく、磁気記録媒体用ベースフィルム、特にコンピュータのメモリ用途であるデジタルデータストレージ用ベースフィルムとして好適な芳香族ポリアミドフィルム及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To reduce returns of defect products and cost by removing the separation of two cups from stacked cups.
    積層カップからの２枚のカップの切り出しをなくし、不良返品およびコストの低減を図ることのできるカップ切り出し方法およびその方法を用いたカップ供給装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a substrate processing apparatus and a semiconductor device manufacturing method, which can form a high quality film with less defect of a semiconductor device at high productivity and inhibit decrease in yield.
    生産性よく、半導体装置の不良の少ない高品質な膜を形成でき、歩留りの低下を防止できる基板処理装置及び半導体製造装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To suppress the occurrence of a transfer defect when transferring a fine transfer pattern formed on a planar portion of a mold to one surface in a thickness direction of a planar molded product.
    型の平面状の部位に形成されている微細な転写パターンを、平板状の被成型品の厚さ方向の一方の面に転写するときに、転写不良の発生を抑制する。 - 特許庁
  • To improve image quality by enhancing characteristics of a transistor which is formed adjacently to a photo-electric transducer, by avoiding the influence of a crystal defect which occurs on the interface of the drain region of the transistor.
    光電変換素子に隣接して形成されたトランジスタのドレイン領域の界面に発生する結晶欠陥の影響を回避してトランジスタの特性を改善し、高画質化を図る。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device and a lead frame, as well as a method for manufacturing a semiconductor device which can prevent the occurrence of mounting defect caused by burr.
    ばりに起因する実装不良の発生を防止することができる、半導体装置およびリードフレーム、ならびにそのリードフレームを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To connect a radio communication terminal to an optimum radio communication network while suppressing a defect at or after communication start in the radio communication terminal connectable to a plurality of radio communication networks.
    複数の無線通信網への接続が可能な無線通信端末において、通信開始後や通信開始時の不具合を抑制しつつ、最適な無線通信網に接続できるようにする。 - 特許庁
  • By this, sufficient adhesiveness can be provided for the conductive pattern 40 itself, and peeling off defect in peeling the base membrane from a ceramic green sheet 20 can be suppressed effectively.
    これにより、導電パターン４０自体に十分な接着性を持たせることができ、セラミックグリーンシート２０からベースフィルム１０を剥離する際の剥離不良を効果的に抑制できる。 - 特許庁
  • When setting the reference motion point of the AF mechanism prior to defect inspection, the transmission image of the mask is imaged, while displacing a focus point of the imaging device in the optical axis direction of the objective lens.
    欠陥検査に先立ってＡＦ機構の基準動作点を設定する際、撮像装置のフォーカス点を対物レンズの光軸方向に変位させながら、マスクの透過画像を撮像する。 - 特許庁
  • To enable embedding of a defect-free wiring material in recesses for wiring, such as trenches, by carrying out electroplating directly on a surface of a ruthenium film serving as a barrier layer.
    バリア層としてのルテニウム膜の表面に直接電解めっきを行って、トレンチ等の配線用凹部内に内部に欠陥のない配線材料を埋込むことができるようにする。 - 特許庁
  • A mask defect inspecting machine obtains EB data 3 (after SUB) corresponding to OPC pattern parts by SUB-calculating the EB data 1 before OPC from the EB data 2 after optical proximity effect correction (OPC).
    光学近接効果補正（ＯＰＣ）後のＥＢデータ２からＯＰＣ前のＥＢデータ１をＳＵＢ演算して、ＯＰＣパターン部分に対応するＥＢデータ（ＳＵＢ後）３を得る。 - 特許庁
  • To provide a method by which defect caused by refresh operation of a specific address is analyzed repeating refresh operation making the specific address as an object of refresh in a short period.
    特定のアドレスをリフレッシュ対象とするリフレッシュ動作を短期間で繰り返し行いつつ特定アドレスのリフレッシュ動作に伴う不良の解析を行う方法を提供すること。 - 特許庁
  • The depth distribution in the overetched portion of the glass is obtained with an atomic force microscope, and the film thickness to fill the defect is controlled according to the distribution to flatten the surface of the filled transparent film.
    原子間力顕微鏡でガラスのオーバーエッチ部の深さ分布を求め、その深さ分布に従って埋める膜厚を制御し埋めた透明膜表面が平坦になるようにする。 - 特許庁
  • Accordingly, when a recording track is formed in the shape of spiral and a cluster is a fixed length, effects by the same defect appears cyclically for every several clusters within the range of several tracks.
    このため、記録トラックがスパイラル状に形成され且つクラスタ長が固定とされる場合、数トラックの範囲内では、同じ欠陥による影響は数クラスタごとに周期的に現れる。 - 特許庁
  • To provide a ring end face defect inspection apparatus for improving efficiency and obtaining improved precision and reproducibility, by automating the inspection of the end face defects of a metal ring 2.
    金属リング２の端面欠陥の検査を自動化できるようにし、以て、効率の改善と、良好な精度及び再現性が得られるリング端面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • Article 287 (1) If an appeal to the court of second instance is unlawful and it is obvious that such defect cannot be corrected, the court of first instance, by an order, shall dismiss the appeal without prejudice.
    第二百八十七条　控訴が不適法でその不備を補正することができないことが明らかであるときは、第一審裁判所は、決定で、控訴を却下しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 290 If an appeal to the court of second instance is unlawful and such defect cannot be corrected, the court of second instance, by a judgment, may dismiss the appeal without prejudice, without oral argument.
    第二百九十条　控訴が不適法でその不備を補正することができないときは、控訴裁判所は、口頭弁論を経ないで、判決で、控訴を却下することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • If your problem still exists, please file a defect in Issuezilla and make this taskdepend on it.
    それでも問題が解決しない場合は、Issuezilla で問題を報告し、このタスクをこの課題に関連付けます。 開発者側で問題が見つかれば、新しい課題を開き、このタスクを新しい課題に関連付けます。 - NetBeans
  • To provide an image forming device, making the image level possible to be stabilized by suppressing a copied image defect due to a toner leak companying the toner agitation in a hopper when replenishing the toner to the hopper.
    ホッパーにトナーを補給する際のホッパー内のトナー攪拌に伴うトナー漏れによるコピー画像不良を抑制し、画像レベルを安定させることを可能とする画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To correctly binarize reproducing signals even in the case that the signal level of the reproducing signals from an optical disk largely fluctuates by a defect on an optical disk surface.
    光ディスク表面上のディフェクトにより光ディスクからの再生信号の信号レベルが大きく変動する場合であっても、正しく再生信号を２値化することを可能にする - 特許庁
  • To improve yield of a product by effectively suppressing occurrence of defect by a resin pitch resulting from a semibleached kraft pulp while using the semibleached kraft pulp in a method for making semibleached kraft paper.
    半晒クラフト紙の抄造方法において、未晒クラフトパルプを使用しながら、それを起因とする樹脂ピッチによる欠陥の発生を効果的に抑制して製品の歩留りを向上する。 - 特許庁
  • To suppress occurrence of a pixel quality defect by making TFT characteristics by laser annealing constant in a pixel layout wherein each auxiliary capacitor is formed straddling the boundary between two pixels.
    補助容量が２つの画素間に跨って形成される画素レイアウトにおいて、レーザーアニールによるＴＦＴ特性を一定にすることで、画質不良の発生を抑えるようにする。 - 特許庁
  • To provide a propeller shaft and the like capable of suppressing a welding defect when balance weights made of an aluminum alloy are welded to tubes made of an aluminum alloy without accompanying increase in thickness of the tubes.
    チューブの肉厚の増大化を伴わずにアルミニウム合金製のチューブにアルミニウム合金製のバランスウェイトを溶接する際の溶接不良を抑制し得るプロペラシャフト等を提供する。 - 特許庁
  • Article 108 (1) In case where an appeal for review on the recognition of internment status is unlawful but correctable, the Review Board shall specify a reasonable period and order that such defect should be corrected within that period.
    第百八条　資格認定審査請求が不適法であって補正することができるものであるときは、審査会は、相当の期間を定めて、補正を命じなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide an optical inspection apparatus capable of identifying a defect of optical characteristics, removing foreign matters from a panel surface during an inspection process, and supplying power to a panel being inspected.
    光学特徴の欠陥を識別でき、かつ検査工程においてパネル表面の異物を除去でき、また検査中のパネルに電力が供給できる光学検査装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for inspecting an external form of a lumber product, capable of automating a sensor-based detection of a defect of a surface-machined lumber product and improving production efficiency.
    表面が加工された製材品の欠陥部をセンサによって検出して自動化を図り、生産効率を高めるようにした製材品の外形検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁
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