「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 234 235 236 237 238 239 240 241 242 .... 366 367 次へ＞- The target defect clusters classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups, so that the groups of substrates classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups (S105).
未知グループに分類された対象欠陥クラスタを複数のサブグループに分類することによって、未知グループに分類された基板群を複数のサブグループに分類する（Ｓ１０５）。 - 特許庁 - The defect inspecting device is also equipped with a photodetector 19a for detecting the optical beam of one side bifurcated by the wedge and a photodetector 19b for detecting the optical beam of another side.
ウェッジによって分岐された一方の光ビームを検出する光検出器１９ａともう一方の光ビームを検出する光検出器１９ｂをさらに備えている。 - 特許庁 - To provide a defect factor countermeasure device which selectively outputs countermeasures on the basis of a person in charge of process improvement considering a balance between permanent countermeasures and tentative countermeasures.
恒久的な対策と暫定的な対策とのバランスを考慮した、工程改善員の立場に立った対策を選択可能に出力する、不良要因対策装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal device wherein a zigzag defect is hardly generated even when a liquid crystal layer is constituted of a smectic liquid crystal, to provide a manufacturing method therefor and to provide an electronic instrument using the liquid crystal device.
スメクティック液晶にて液晶層を構成した場合にも、ジグザグ欠陥の生じ難い液晶装置とその製造方法、及び該液晶装置を備えた電子機器を提供する。 - 特許庁 - If a detected amount of the defect data obtained in the section 17 exceeds the limit value, a region to be inspected by the mechanism 13 is changed on the midway of the inspection.
画像データ演算処理部１７で得られた欠陥データの検出量が制限値を越えると、画像データ取得機構１３による検査対象領域を検査途中で変更させる。 - 特許庁 - To provide a method of cleaning an inkjet head by which discharge defect does not occur and a stable high quality printed material is obtained in a simple and space-saved inkjet printing device.
本発明は、簡単かつ省スペースで、インクジェット印刷装置において不吐出なく、安定した高品質の印刷物が得られる、インクジェットヘッドの洗浄方法を提供する。 - 特許庁 - In the deposition of copper on the plate of a semiconductor integrated circuit equipment having the undulation of a submicron siz by the electroplating, a substrate is immersed in an electroplating bath prepared from a concentrated solution containing an effective amount of an ionic copper and a defect reducing agent.
サブミクロンサイズの起伏を有する半導体集積回路機器基板上に銅を電気鍍金で析出させる方法および対応する電気鍍金浴を調製する濃厚液。 - 特許庁 - To provide a control method of a plane shape in a thick plate rolling by which the trouble of conveyance and defect in length which are caused by the generation of a crop are mostly prevented and yield is more improved.
クロップの発生による搬送トラブルや長さ不良がほとんど無く、歩留りの一層の改善を図ることができる厚板圧延における平面形状制御方法を提供する。 - 特許庁 - To solve problems that when an image is consecutively formed on a rear face after an image is formed on a front face, an image defect such as white stripes occurs on the rear face to decrease the picture quality compared to the front face.
表面側に画像形成した後、引き続き裏面側に画像形成を行うと、裏面側に白スジなどの画像不良が発生し、表面と比べて画質が低下する。 - 特許庁 - To provide a friction winding shaft, for properly holding a plurality of short cores, and making narrow band-like sheets wound around each core all together to prevent defect of the sheets.
短い複数の巻芯を適正に保持することができ、各巻芯上に幅の狭い帯状シートを不良品にならないように一斉に巻取ることができるフリクション巻軸を提供する。 - 特許庁 - To obtain a direct drawing type original film for lithography which is scumming-free as an offset original film and enables printing of a large number of prints of a clear image free of defect, distortion and the like.
オフセット原版として地汚れがなく、また画像の欠落・歪み等のない鮮明な画像の印刷物を多数枚印刷可能とする直描型平版印刷用原版を得る。 - 特許庁 - For example, the device for detecting the defect on the surface of the image medium is provided in an imaging system including at least the surface of one image medium.
本発明の一実施例によれば、少なくとも１つの画像媒体表面を含むイメージングシステムにおいて、画像媒体表面上の欠陥を検出するための装置が提供される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can detect a structure defect, such as damage which is difficult to detect by a conventional characteristic check such as a performance test, and has an IC chip of improved reliability.
機能試験など従来の特性チェックでは検出が困難なキズなどの構造不良も検出可能にし、信頼性を向上したＩＣチップを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent a serious defect from being generated on a disk-shaped magnetic recording medium by a disk driving device which records data on the disk-shaped magnetic recording medium.
円盤状磁気記録媒体にデータを記録するディスクドライブ装置によってこの円盤状磁気記録媒体上に重大な欠陥が発生することを防止することができるようにする。 - 特許庁 - To shorten a test time by parallel processing of a plurality of chips when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND type flash-memory.
NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁 - To provide a method for reducing pitch that is a cause of troubles such as a papermaking defect and a contamination by a simple addition method in a papermaking process of paper and paperboard.
紙及び板紙の製紙工程において、簡易な添加方法で製紙欠陥や汚れ発生等のトラブルの要因となるピッチの低減方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To enable a polishing pad to entirely satisfy the polishing rate, the in-plane uniformity of polishing rate, flattening property, defect characteristic, etc., when the pad is used for the chemical mechanical polishing of a film to be polished.
被研磨膜に対して化学的機械研磨を行なう際に、研磨レート、研磨レートの面内均一性、平坦化特性及び欠陥特性等のすべてを満足できるようにする。 - 特許庁 - To provide an image processing method and image processing apparatus detecting a defect in an image with high accuracy when the image is printed on a recording medium or on an intermediate transfer body.
記録媒体あるいは中間転写体に印刷された状態での画像における欠陥を精度良く検出することができる画像処理方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sheet-loading device which prevents the occurrence of a contact defect by making uniform the close contactness between two sheets, which are vacuum chucked to a vacuum chucking drum one over the other.
真空吸着ドラムに重ねて吸着させる２枚のシート相互の密着性を均一化し、密着不良個所の発生を防止することのできるシートローディング装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electric field distribution detecting device of a circuit pattern for detecting and inspecting a wire disconnection defect of the circuit pattern having a resistance that does not result in complete disconnection.
完全な断線に至らない抵抗値をもつ回路パターンの断線欠陥を検出し、検査するための回路パターンの電界分布検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a plating method by which a uniform plating film is formed on numerous objects to be plated at the same time with high production efficiency without causing plating defect or the like.
めっき不良などを生じることなく、一度に多量の被めっき物に対して均一なめっき膜を形成することができ、しかも生産効率に優れためっき方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a substrate capable of shortening the tact time of defect correction of a wiring pattern, and a substrate manufacturing system, and a method for manufacturing a display device.
配線パターンの欠陥修正のタクトタイムを短縮することができる基板の製造方法および基板製造システム、並びにこれを用いた表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a new regenerating method for irradiation embrittlement monitoring piece capable of minimizing and uniforming a thermally influenced part width and providing a regeneration test piece of good quality free from connecting defect.
熱影響部幅が狭小と均一化を図ると共に、接合欠陥のない良質な再生試験片が得られる新規な照射脆化監視試験片の再生方法の提供。 - 特許庁 - To provide a method of evaluating crystal defects capable of detecting the crystal defects precisely based on the formation of a defect emphasis protrusion, and capable of identifying the type of the crystal defects.
欠陥強調突起部の形成に基づいて結晶欠陥を高精度に検出できるとともに、結晶欠陥の種別の特定も可能な結晶欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a composition for memory hard disk polishing having a high polishing speed and giving an excellent surface with small roughness and no defect and a polishing method using the same.
大きい研磨速度を有し、表面粗さが小さく、表面欠陥のない優れた表面をもたらす、メモリハードディスク研磨用組成物およびそれを用いた研磨方法を提供する。 - 特許庁 - The through hole of a small opening diameter to the thickness of the sheet-shape part can thus be bored, and at the same time a flash 53 of the opening 51 can be prevented from causing a lamination defect.
これにより、薄板状部品の板厚に対して開口径の小さい貫通孔を穿設できるとともに、開口５１のバリ５３が、積層不良を引き起こすことを防止できる。 - 特許庁 - To automatically recognize a side face of a pattern, an image of each layer, and a layer having a defect from an SEM image of a wafer formed with a pattern which is formed of a single layer or a multilayer structure.
単層あるいは多層構造から成るパターンが形成されたウェーハのＳＥＭ像から、パターンの側面および各層の像、さらに欠陥を有する層を自動認識する。 - 特許庁 - To provide an equipment and a method for visual inspection in which an inspection area can be determined accurately and a defect in the inspection area can be detected with high accuracy.
検査領域を正確に決定することができるとともに、検査領域内の欠陥を高精度で検出することができる外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical pickup which reduces the influence of the defects of an optical disk, if any, and is strong to the disk defect and an optical disk device using the same.
光ディスクのディスク欠陥に対して、ディスク欠陥があった場合においてもサーボ系への影響が小さく、ディスク欠陥に強い光ピックアップ及びそれを用いた光ディスク装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a multistage amplifier that comprises an improved interstage coupling, for overcoming the defect wherein one gain stage in the multistage amplifier badly effects on the previous gain stage.
多段増幅器内の１つの利得段が直前の利得段に不利な影響を及ぼすという欠点を克服するための、改良された段間結合を有する多段増幅器を提供する。 - 特許庁 - The nondefective portion has a tendency of concentrating the half-value widths to a fixed value, but the half-value width tends to become large and the distribution thereof is dispersed, when there is no defect.
欠陥がない箇所は、半値幅が一定値に集中する傾向があるが、欠陥がない場合は、半値幅が大きくなる傾向があり、また、分布がばらつくことがわかった。 - 特許庁 - To enable detection of a defect in a conductive pattern portion that faces an electrode, in a circuit pattern inspection device using the electrode capacitive-coupled to a conductor pattern in a non-contact state.
非接触で導体パターンに容量結合する電極を用いた回路パターン検査装置において、電極と対向する導電パターン部分の欠陥を検出可能にする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a high-quality semiconductor device in which the generation of an eave-shaped portion to be formed during anisotropic etching is suppressed and a coverage defect or step cut does not occur.
異方性エッチング時に形成されるひさし状部分の発生が抑制され、カバレージ不良や段差切れのない、高品質な半導体装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - Compared to the case that it is locked only at one part, the inter-stand machine body is locked to the inter-stand machine holder without play, and the generation of the connection defect at a connector is surely prevented.
一箇所のみでロックしている場合に比べて、台間機本体をがたつき無く台間機ホルダにロックでき、コネクタに接続不良が発生することを確実に防止できる。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detection method capable of detecting surely a micro internal defect, irrespective of a cross-sectional dimension different in every inspected material, and an ultrasonic flaw detector used therefor.
被検査材ごとの異なる断面寸法に拘わらず、微小な内部欠陥を確実に検出できる超音波探傷方法、およびこれに用いる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical transparent film which is excellent in heat resistance, hardly causes a stripe-like defect and, in particular, is suitable for a transparent conductive film, and to provide a method of manufacturing the optical transparent film.
耐熱性に優れ、かつスジ状欠点の少ない、特に透明導電性フィルム用に好適な、光学用透明フィルム、およびそのフィルムの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - This defect detecting method has a means to detect an image of a whole chip, and, an inspection region of this image is divided into a plurality of regions based on sensitivity to fatal defects so that inspection sensitivity can be set up in each region.
チップ全域の画像を検出する手段を設け、この画像を用いて致命性毎に検査領域を区分けし、それぞれの領域で検査感度を設定可能とした。 - 特許庁 - Further, a mask 21 generates a masked image MS wherein the inspected image S is masked with a defect candidate image Q, and a feature extraction part 31 extracts features from the masked image MS.
また、マスク部２１は、被検査画像Ｓを欠陥候補画像Ｑでマスクした被マスク画像ＭＳを生成し、特徴抽出部３１は、被マスク画像ＭＳにおいて特徴抽出を行う。 - 特許庁 - An image comparison part 124 compares, in each pixel in an inspection image data 120, a correspondence of an inspection image data 120 in the pixel to a reference image data 121 with a judgment threshold 141 acquired in each region comprising the computed slit pixel group, and judges defects or defect candidates.
次に、検査画像の各画素毎にその画素の階調値と、その画素と対応する参照画像内の画素の画素値との第２の相関関係を求める。 - 特許庁 - To make a venting way for inspecting the defect of a junction surely securable by interposing a venting member which does not melt when the junction is heated, in a juncture.
接合部を加熱したときに融けることのない通気部材を接合部に介在することによって、接合部の欠陥を検査するための通気路を確実に確保することができる。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for detecting a defective substrate which treat a wafer as a failure substrate only when the wafer has a defect whose size is too large to ignore at the clamping position of the wafer.
ウエハのクランプ位置に無視し得ない大きさの欠損が存在する場合にのみ、不良基板として扱う欠損基板の検出方法及び検出装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a process for producing a film while avoiding the occurrence of a defect in the film or breakage of the film during annealing, and to provide ceramic particles suitable for producing such a film.
アニール処理時における膜の欠陥の発生や破壊を回避できる膜の製造方法、およびこのような膜の製造に好適なセラミックス粒子を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a picture reader which obtains a read picture free from deviation and a defect of magnification or the like when reading pictures on documents of various sizes.
本発明は、種々のサイズの原稿に対する画像読み取りを行う場合に、片寄りや倍率等の不良のない読み取り画像を得ることができる画像読み取り装置を提供する。 - 特許庁 - While the two memories 7 and 8 are alternatively switched by the multiplexers 5 and 6, the defect information of a memory (DUT) 10 to be tested detected by a logic comparator 3 is alternatively written.
マルチプレクサ５、６で２個の不良解析メモリ７、８を交互に切換えて、論理比較器３で検出した被試験メモリ（ＤＵＴ）１０の不良情報を交互に書き込んでいく。 - 特許庁 - As a result, a protected pattern free from defect can be formed by transferring the transfer layer 70 on an acceptor plate by using the donor film 80.
結果的に、ドナーフィルム８０を用いてアクセプタ基板上に転写層７０を転写させて有機膜パターンを形成することにおいて不良パターンがない養護なパターンを形成することができる。 - 特許庁 - To provide an adapter for an optical disk which eliminates a defect caused by birefringence due to uneven stress applied in the radial direction of the optical disk, and realizes good reproduction and good recording.
光ディスクの半径方向に加わる不均一な応力による複屈折に起因する不具合を解消し、良好な再生及び記録を実現する光ディスク用アダプタを提供する。 - 特許庁 - Subsequently, the wafer is subjected to continuous annealing for 10 seconds at 1,150°C under an atmosphere of oxidizing gas in the lamp furnace, as a second annealing step for injecting interstitial silicon into the void defect.
その後、連続してランプ炉内でウェーハを酸化性ガスの雰囲気下、１１５０℃で１０秒熱処理し、ボイド欠陥に格子間シリコンを注入する第２熱処理工程を施す。 - 特許庁 - To provide a punching device minimizing the number of defective products in punching of a ceramic green sheet by immediately deciding a punching defect and raising an alarm.
セラミックグリーンシートの穴明け加工において、穴明け不良を即座に判定して警報を発することにより、不良品発生の数を最小にする穴明け装置を提供することにある。 - 特許庁 - To maintain image quality by polishing a photoreceptor having a possibility of causing an electrification defect by surface accumulation of deposited substances, charged products, etc., due to high surface roughness and inability to scrope the surface.
表面硬度が高く、表面が削れないため付着物、帯電生成物などの表面蓄積により帯電不良を引き起こす虞のある感光体を研磨し、画質の維持を図る。 - 特許庁 - To provide a folded roof-greening system which scarcely has a defect on its culture surface, hardly corrodes the folded roof, can easily set to the folded roof, and is scarcely affected by wind pressures.
植栽面での難が少なく、しかも、折版を腐食させにくく、加えて、折版屋根への設置工事も容易に行え、風圧にも影響されにくい、折版屋根の緑化システムの提供。 - 特許庁
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