「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 240 241 242 243 244 245 246 247 248 .... 366 367 次へ＞- To provide an electronic component having high electrostatic capacitance and a high breakdown voltage even when an internal electrode layer is made thin and multi-layered, and also having a suppressed structural defect.
内部電極層を薄層化および多層化した場合であっても、高い静電容量および破壊電圧を得ることができ、構造欠陥が抑制された電子部品を提供すること。 - 特許庁 - To provide a light-emitting element including a laser resonance surface having a high optical reflectivity, which attains a high perpendicularity with respect to a growth surface, causing no defect due to damage by reactive ions.
成長面に対する垂直性が高く、反応性イオンによるダメージに起因する欠陥がなく、高い光反射率を有するレーザ共振面を備えた発光素子を提供すること。 - 特許庁 - To provide an oil-adsorbing material resolved with the defect of a usual polypropylene nonwoven, an inorganic fiber material and polyurethane foam, and excellent in recyclability, lightness and oil adsorbing performance.
従来のポリプロピレン不織布や無機繊維材料、ポリウレタンフォームの欠点が解消された、リサイクル性、軽量性および油吸収性能に優れた油吸収材を提供する。 - 特許庁 - Fluctuation of a rotating torque of the tapered shaft 3 is detected by a torque sensor 5, and a signal detected by the torque sensor 5 is subjected to signal processing, to thereby detect a defect on the rolling contact surface or on the roller.
このテーパ軸３の回転トルクの変動をトルクセンサ５で検出し、トルクセンサ５で検出された信号を信号処理することで前記転走面またはころの欠陥を検出する。 - 特許庁 - When this light source is heated, light of a wavelength corresponding to the transition between sub-bands is generated, and this light is taken through the defect 23 in the direction vertical to the slab 21.
この熱輻射光源を加熱すると、サブバンド間遷移に対応する波長の光が生じ、その光は点状欠陥２３からスラブ２１に垂直な方向に取り出される。 - 特許庁 - As a result of observing the section of the wafer by a TEM, it is confirmed that the dislocation (defect) of GaN of a first nitride semiconductor layer is not propagated to a second nitride semiconductor layer.
ウェハーの断面をＴＥＭで観察した結果、第一窒化物半導体層のＧａＮの転位（欠陥）が第二窒化物半導体層に伝播していないことが確認された。 - 特許庁 - To provide a flexible polyurethane foam which hardly has the defect of discoloration by sunlight and heat found in the conventional flexible polyurethane foam and excels in compression permanent set and mechanical property performance.
従来の軟質ポリウレタンフォームの欠点であった太陽光や熱による変色がほとんど無く、圧縮永久歪みや機械物性性能に優れた軟質ポリウレタンフォームを提供する。 - 特許庁 - As a result, the poor insulation by an insulator in the circuit board is prevented, and eventually the defect of the circuit board due to the short circuit between the connection parts 11a is prevented.
その結果、回路基板中の絶縁物が絶縁不良となることが防止され、最終的に接続部１１ａ間が短絡し、回路基板が故障すること等を防止することができる。 - 特許庁 - To provide a failure diagnosis system for executing diagnosis by applying an existing failure diagnostic rule as it is without changing it even when any defect occurs in data necessary for diagnosis.
診断に必要なデータに欠損があった場合でも、既存の故障診断ルールを変更することなくそのまま適用して診断を行うことが可能な故障診断システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus improving image uniformity and contrast quality in detection of defects in a patterned semiconductor substrate by a charged particle utilization type defect inspection device.
帯電粒子利用型欠陥検査装置によるパターン形成ずみの半導体基板の欠陥の検出に、画像の均一性およびコントラストの質を改善する方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a cell for an electrochromic mirror eliminating a sealing defect of a seal and suppressing the reduction of performance in the cell and to provide the electrochromic mirror using the cell.
シールの密封不良を解消して、セル内部の性能の低下を抑制したエレクトロクロミックミラー用セルの製造方法、及びこのセルを用いたエレクトロクロミックミラーを提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a silicon single crystal giving void restraining effect by hydrogen addition along the whole length of an ingot and yet free in grown-in defect at a high yield.
インゴットの全長にわたって水素添加による空孔抑制効果が得られ、高い歩留まりでＧｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥フリーのシリコン単結晶が得られる製造方法を提供する。 - 特許庁 - To solve the problems that Cr emerging at the time of evaporating laser becomes a particulates and attaches to a substrate again in a method of laser repair that repairs a residual defect of a photo mask.
フォトマスクの残留欠陥を修正するレーザリペア方法では、レーザ蒸散時に発生するＣｒが微粒子となり基板上に再付着すること大きな問題となっている。 - 特許庁 - To provide a method of improving productivity of a semiconductor device, in a manufacturing technique of a semiconductor device having a process of detecting a crystal defect occurring in a semiconductor substrate.
半導体基板に発生する結晶欠陥を検出する工程を有する半導体装置の製造技術において、半導体装置の生産性を向上させる方法の提供。 - 特許庁 - To provide a radio frequency integrated circuit (RFIC) device in which adjustment processing or the like can be speedily and accurately performed, and an error or a defect can be easily detected.
迅速かつ正確に精算処理等を行うことが可能であり，エラーまたは不良を容易に検出することが可能な無線周波数集積回路（ＲＦＩＣ）装置を提供する。 - 特許庁 - In case a defect of leak is found at the organic EL display, it can be remedied by impressing reverse bias between the transparent first electrode 40 and the second electrode 70.
この有機ＥＬディスプレイにリークの欠陥がある場合は、透明な第１の電極４０と第２の電極７０との間に逆バイアスを印加することで、リークは修復される。 - 特許庁 - To provide a technology of detecting a fine crystal defect present in an N-region of a wafer obtained by a Czochralski method and accurately assessing the quality of the wafer.
チョクラルスキー法によって得られたウェーハのＮ領域内に存在する微細な結晶欠陥を検出し、ウェーハの品質を正確に評価することが可能な技術を提供する。 - 特許庁 - To obtain a defect-free forming body in the convexity and its back side of a light alloy-made thin thickness forming body having a thicker projection than the platy section formed on the platy section composed of light alloy.
軽軽合金からなる板状部に形成される板状部よりも厚肉の突部を有する軽合金製薄肉成形体の凸部及びその裏側に欠陥のない成形体を得る。 - 特許庁 - Crystal-defect is introduced into the semiconductor substrate 1 so that the resistance value of the same becomes not less than two times of a resistance value determined by the concentration of impurities added to the semiconductor substrate 1.
半導体基板１は、その抵抗値が半導体基板１に添加された不純物濃度で決まる抵抗値の２倍以上となるように結晶欠陥が導入されている。 - 特許庁 - To provide an optoelectronic apparatus wherein the occurrence of a contact defect between a semiconductor element and wiring on a substrate can be prevented when mounting the semiconductor element on the substrate.
半導体要素を基板上に実装したときに半導体要素と基板上の配線との間に接触不良が発生することを防止できる電気光学装置を提供する。 - 特許庁 - To protect optical parts from being damaged by reflection beam by securely detecting reflection beam attributed to such a laser processing defect as cutting failure even if laser beam processing is performed by pulse output.
パルス出力のレーザ加工であっても、切断不良などのレーザ加工不良による反射光を確実に検出し、光学部品を反射光による損傷から保護する。 - 特許庁 - To provide a photosensitive layer peeling method for a photosensitive drum capable of peeling a photosensitive layer having a defect inexpensively and safely so as to recycle an element pipe of the photosensitive drum.
感光ドラムの素管を再生利用するために、欠陥を有する感光層を安価にかつ安全に剥離することができる感光ドラムの感光層剥離方法を提供する。 - 特許庁 - The control section 5 brings the needle 441 into proximity to the photomask 9 according to the material applying distance and the pattern correcting material is applied at the adequate size onto the defect on the photomask 9.
制御部５は材料付与距離に従って針４４１をフォトマスク９に対して近接させ、フォトマスク９上の欠陥に適切な大きさにてパターン修正材料が付与される。 - 特許庁 - To provide a hair-washing agent composition which gives the advantage of the compounding of an amino acid type surfactant, can dissolve its defect of weak foamability, and improves the strength of hair.
アミノ酸型界面活性剤の配合の利点が得られると共にその欠点である起泡性の弱さが解消され、しかも毛髪の強度が向上する洗浄剤を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of silicon epitaxyial which remarkably reduces defect of crystal detected optically as large particles on the surface of the silicon epitaxyial wafer.
シリコンエピタキシャルウエーハの主表面において光学的に大きなパーティクルとして検出される結晶欠陥の発生を大幅に抑制することができるエピタキシャルウエーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a molding method for obtaining a molded product with a beautiful appearance without causing a molding defect in the thermal molding of a deeply colored foamed polypropylene resin sheet.
濃色系に着色されたポリプロピレン系樹脂発泡シートの加熱成形において、成形不良を生じずに外観美麗な成形体を得るための成形方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of suppressing the occurrence of an image defect such as fogging or density irregularity by positively collecting deteriorated toner and keeping a toner state on a developing roller excellent.
劣化トナーを積極的に回収し，現像ローラ上のトナー状態を良好に保ち，カブリや濃度ムラ等の画像欠損の発生を抑制した画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a voltage impressing type economical pinhole inspection machine for inspecting a defect of a specimen of a resin-made sealed packing container sealed with fluid contents including gas.
気体を含有する流動性内容物を密封した樹脂製密封包装容器の被検体の欠陥を検査する、電圧印加方式の経済的なピンホール検査機を提供する。 - 特許庁 - To provide a thin film transistor preventing deterioration resulting from reduction of an oxide semiconductor layer and an oxygen defect, thereby keeping stable characteristics for a long term.
酸化物半導体層の還元および酸素欠陥による劣化を防止でき、これにより長期に安定した特性を維持可能な薄膜トランジスタを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and an LED array capable of reducing influence to device characteristics even if a conductive epitaxial defect or the like is present on a semiconductor wafer.
半導体ウエハに導電性のエピタキシャル欠陥等が存在したとしても、デバイス特性への影響を少なくすることができる半導体装置及びＬＥＤアレイを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which efficiency of relieving defect can be improved by enabling replacing a defective normal word line by a redundant word line having other decoding signal.
不良のノーマルワードラインと他のデコーディング信号を有するリダンダントワードラインに代替が可能であることによって不良救済効率を増やすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁 - An electric fuse cutoff circuit 13 cuts off an electric fuse corresponding to a memory cell based on the defect address information inputted from an address line 15 in the period in which the signal ϕ1 is in the H level.
電気ヒューズ切断回路１３は、信号φ１がＨレベルの期間でアドレス線１５から入力した不良アドレス情報に基づいてメモリセルに対応する電気ヒューズを切断する。 - 特許庁 - By a cam, a solenoid 38, and a die; the coil component 14 judged as the disconnection defect is cut off from a lead frame 12 on the basis of a judged result in the measurement part 48.
カム、ソレノイド３８及び金型により、計測部４８での判定結果に基づいて、断線不良であると判定されたコイル部品１４がリードフレーム１２から切り離される。 - 特許庁 - The beads spacers are disposed on the longitudinal signal line and/or the lateral signal line of the substrate by an ink jetting system to improve the defect due to the beads spacers on the pixel electrode.
ビーズスペーサーを、基板上の縦方向信号線及び／又は横方向信号線上に、インクジェット方式で配置することで、画素電極上のビーズスペーサによる不具合を改善する。 - 特許庁 - To provide a very simple and highly reliable high pressure pump with an ON/OFF valve inexpensive to manufacture and easy to assemble for eliminating the known defect of the pump having the ON/OFF valve.
オンオフ弁を有する公知のポンプの欠点をなくすために、製造が安価で組立が容易なオンオフ弁を有する極めて簡単な信頼性の高い高圧ポンプを提供すること。 - 特許庁 - The nanocomposite magnet raw material powder 1 of the polycrystal has its plastic deformation restricted very much, so it also has dislocation (defect) restricted to prevent an increase of generation sites of crystal nucleuses.
多結晶のナノコンポジット磁石原料粉末１は塑性変形が非常に制限されているので転位（欠陥）も制限され、結晶核の生成サイトの増加が防止される。 - 特許庁 - The defect 16 caused in the edge of a glass substrate 12 constituting a liquid crystal cell 10 is filled with a UV curing resin 18 having 500 cp viscosity, and then the resin is hardened.
液晶セル１０を構成するガラス基板１２の縁部に発生した欠損部１６に粘度が５００ｃｐの紫外線硬化樹脂１８を充填して硬化させたものである。 - 特許庁 - A defect evaluation part 20 performs arithmetic processing of periodic magnetic field information extracted by the periodic information extraction means 15 and evaluates defects of the specimen such as scars and cracks.
欠陥評価部２０は、周期情報抽出手段１５によって抽出された周期的な磁場情報を演算処理し、被検体のきず及びや割れなどの欠陥を評価する。 - 特許庁 - Moreover, it prepares a detection unit 24 which detects a defect of pixels included in the imaging elements as a defective pixel based on the pixel values of the digital image signals synchronously added for each line.
また、ライン毎に同期加算されたデジタル画像信号の画素値に基づいて、撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部２４を備える。 - 特許庁 - A disposition inhibition area Zm formed with the sealing material 16 having the defect on the mother substrate MA is detected and a dummy spacer DS is formed on the inner side of the disposition inhibition area Zm.
マザー基板ＭＡ上の欠陥のあるシール材１６で形成された配置禁止領域Ｚｍを検出し、配置禁止領域Ｚｍの内側にダミースペーサーＤＳを形成した。 - 特許庁 - To reduce surface defect by reducing the density of dislocation of a crystal layer in a process for forming a crystal layer of a nitride semiconductor using a lateral growth technology of seed crystal.
種結晶による横方向成長技術を用いて窒化物半導体の結晶層を形成する工程において、結晶層の転位密度を低減し、表面欠陥を少なくする。 - 特許庁 - A vertical black line retrieving unit compares each histogram value on the histogram table with a specified threshold value and stores an image address indicative of the histogram value and the defect position if the histogram value is larger than the threshold value.
垂直黒線検索処理装置がヒストグラム・テーブルにおける各ヒストグラム値を所定の閾値と比較し、閾値より大きいときはヒストグラム値と欠陥位置を示す画像アドレスを記憶する。 - 特許庁 - This method includes a step of performing a test in a domain and implementing a first subset of a domain of a plurality of circuits provided with a dynamic defect detection test pattern.
１つの実施形態では、方法は、ドメイン内テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第１サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁 - To provide a die for manufacturing a thermoplastic resin sheet which is free from a defect due to the generation of mouthpiece streaks and shows excellent thickness uniformity, and a method for manufacturing the thermoplastic resin sheet.
口金スジの発生による欠点がなく、かつ厚み均一性に優れた熱可塑性樹脂シートを製造するためのダイ、およびその熱可塑性樹脂シートの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - A laser scattering detector detects the top surface of the defect emphasis protrusion, and the type of the crystal defects is identified by the dimension information of the detected top surface.
欠陥強調突起部の頂面部をレーザー散乱式検出装置にて検出し、その検出された頂面部の寸法情報により結晶欠陥の種別を識別する。 - 特許庁 - Methods and devices are described using different defect detection standards to detect and map defects of different sizes and in specific regions that can affect a drive operation.
サイズが異なり、特定の領域においてドライブ動作に影響し得る欠陥を検出してマップするために、異なる欠陥検出基準を用いる方法及び装置が説明される。 - 特許庁 - To provide an exhaust emission control system and its control device for exhaust emission control determining which causes exhaust gas temperature rise defect, abnormality of fuel addition valve or abnormality of oxidation catalyst.
排気温度の上昇不良が燃料添加弁または酸化触媒のいずれの異常によるものかを判定する排気浄化システムおよびその排気浄化制御装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a water leakage detecting device for endoscopes for automatically performing quick and accurate detection of water leakage even at a place of the leakage due to a defect such as tiny pinholes.
微小なピンホール等の欠陥による漏洩箇所であっても迅速かつ正確な漏水検知を自動化して行うことのできる内視鏡の漏水検知装置を提供する。 - 特許庁 - One method includes classifying defects on a specimen using inspection data generated for the specimen combined with defect review data generated for the specimen.
一方法は、試料のために生み出された検査データを、この試料のために生み出された欠陥レビューデータと組み合わせたものを使用して、この試料上の欠陥を分類することを含む。 - 特許庁 - To provide a clip circuit which can set a clip level with high degree of flexibility while eliminating delay due to saturation of an operational amplifier and can stably clip a signal waveform of a defect section.
オペアンプの飽和による遅延を解消するとともに、クリップレベルを高い自由度で設定でき、ディフェクト部の信号波形を安定してクリップすることのできるクリップ回路を提供する。 - 特許庁
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