「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • To provide an automatic multi-electrode gas shielded arc welding device that prevents the occurrence of a welding defect caused by an unstable molten pool and is suitable for automating gas shielded arc welding.
    湯だまりの不安定化による溶接欠陥の発生を防止するとともに、ガスシールドアーク溶接の自動化に適合する多電極ガスシールドアーク自動溶接装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To prevent and improve hallux valgus, digitus minimus varus, and also hammer toe hallux valgus, etc., in addition to arthrogryposis in foot and a circulation defect.
    足関節の拘縮や循環不良の予防・改善とともに、外反母趾や内反小趾、更にハンマートゥ性外反母趾等の予防・改善が図れる足首訓練装置を提供することにある - 特許庁
  • To provide a semiconductor device which can prevent the occurrence of a crystal defect caused by thermal oxidation in a fabrication method, while reducing the capacitance caused by the gate electrode.
    ゲート電極起因の容量を低減し、かつ製造工程における熱酸化に起因する結晶欠陥の発生が抑制できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a synchronous semiconductor memory in which timing at which a word line is disabled is set by utilizing frequency information of a clock signal and defect of cell operation can be prevented.
    クロック信号の周波数情報を利用してワードラインのディスエーブルするタイミングを設定し、セル動作不良を防止することができる同期式半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing semiconductor device by which gigantic crystal grains or single crystals reduced in crystal defect can be formed at high yield, low cost, and high throughput.
    結晶欠陥の低減された巨大な結晶粒または単結晶を高歩留まり、低コストおよび高スループットで形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a compound semiconductor thin film evaluation device which can detect a partial defect in a compound semiconductor thin film and inspect the whole of the compound semiconductor thin film.
    化合物半導体薄膜の部分的な欠陥の検出と化合物半導体薄膜全体の検査が可能となる化合物半導体薄膜の評価装置を提供すること。 - 特許庁
  • To improve yield by calculating the optimal dividing point of a coil from the information of defect of a steel sheet in a process for manufacturing the coil and dividing the coil at this calculated optimal dividing point.
    コイルの製造プロセスにおいて鋼板の欠陥情報からコイルの最適分割点を算出し、この算出した最適分割点で分割することにより、歩留を改善させる。 - 特許庁
  • Thereby the visible defect in the panel 13 is improved owing to stress relaxation at a caret part 15 and vacuum stress dispersion at the suction hole 14 resulting from a cushion effect of the buffering means 12.
    これにより、緩衝手段12のクッション効果によるカレット部15の応力緩和と、吸着孔14の真空応力分散によるパネル13表示不良を改善することができる。 - 特許庁
  • A method is provided that includes a defect detection step to detect one or more defects in a software application composed of heterogeneous languages using a configurable web services architecture.
    設定可能なウェブサービスアーキテクチャにより異種言語から成るソフトウェアアプリケーションにおける1又はそれ以上の欠陥を検出する欠陥検出段階を有する方法が提供される。 - 特許庁
  • To provide a device where treatment tanks are not required to be so enlarged for corresponding to the enlargement of a substrate, and the defect in etching does not occur as in the case where dipping treatment is performed.
    基板の大型化に対応するために処理槽をそれほど大型化する必要が無く、浸漬処理した場合のようなエッチング不良を生じることもない装置を提供する。 - 特許庁
  • The fisheye breakdown is generated in a metallic specimen by a fatigue test, and the type of defect that exists in risk volume and extremely causes fatigue breakdown is specified for measuring the dimensions.
    疲労試験により金属製試験片にフィッシュアイ破壊を生じさせ、危険体積中に存在する最も疲労破壊の原因となった欠陥の種類を特定し、その寸法を測定する。 - 特許庁
  • Thereafter, a defect correction circuit 208 reads the stored addresses of the defective pixels according to the reading method at photographing and applies prescribed correction processing to the defective pixels.
    その後、撮影時に、欠陥補正回路208は、記憶された欠陥画素のアドレスを、その読み出し方法に応じて読み取り、その欠陥画素に対して所定の補正処理を施す。 - 特許庁
  • To provide a catalyst layer transfer film which prevents a defect portion (a void of the catalyst layer) from occurring in a catalyst layer and has good transfer properties.
    触媒層に欠陥部分(触媒層の抜け)の発生が抑制された触媒層転写フィルムであって、さらに転写性が良好な転写フィルムを提供することを主な課題とする。 - 特許庁
  • To provide a binder for covering metallic vessels, usable as a single binder having no defect of conventional technologies or only having decreased defects.
    従来技術の欠点を有していないかまたは少なくとも低減した程度でしか有していない単独バインダーとして使用できる、金属製容器用被覆のためのバインダーの提供。 - 特許庁
  • To provide a developing device capable of accurately comprehending the cause of a trouble, by analyzing the toner, in a short time, when the trouble such as image defect is caused by the toner.
    トナーが原因で画像不良等の問題が発生した場合、トナーの分析を短時間に行って問題発生の原因を正確に把握することができる現像装置を提供すること。 - 特許庁
  • Next the second etchant that may be the same as the defect etchant or different from it is used to corrode the SiGe layer 14 under the pit while Si 16 is kept unhurt.
    次いで、欠陥エッチング液と同じか異なるものとすることができる第2のエッチング液を用いて、ピットの下のSiGe層14を浸食する一方で、Si16は無傷のままとする。 - 特許庁
  • To provide a Schottky diode which is improved in electrical properties by forming a clean Schottky interface where irregularities at atomic level are not present and no crystal defect and no contaminant reside.
    ショットキーダイオードにおいて、原子レベルで凹凸がなく、結晶欠陥や汚染物を挟まない清浄なショットキー界面を形成することによって、電気特性を向上させること。 - 特許庁
  • To obtain an epoxy resin composition for use in sealing semiconductors, which has excellent reflow-crack resistance as a result of low hygroscopicity and high adhesion, by improving the defect of conventional sealing resins.
    従来の封止樹脂の欠点を改善し、低吸湿性及び高密着性により、優れた耐リフロークラック性を有する半導体封止用エポキシ樹脂組成物を提供する。 - 特許庁
  • To provide a burn-in method of a semiconductor apparatus with which initial defect of a semiconductor memory apparatus having a micronized transistor can be eliminated appropriately without applying stress of high voltage.
    高い電圧のストレスを印加せずに、微細化されたトランジスタを有する半導体装置の初期不良を適切に取り除くことができる半導体装置のバーンイン方法を提供する。 - 特許庁
  • The defect-free layer 16 is formed by diffusing oxygen and the oxygen precipitated nucleus to the outside from the surface layer of the wafer 10 through the reduction process of the ion-implanted hydrogen.
    無欠陥層16は、イオン注入された水素の還元作用によりウエハ10の表面層から酸素及び酸素析出核が外方拡散されることによって形成される。 - 特許庁
  • To provide a laser-engraving printing original plate which is transparent so as to detect inner defect easily and which can form a laser-engraving printing plate to make a high contrast when laser-engraved.
    内部の欠陥が検出され易いように透明性が高く、レーザー彫刻した際にコントラストが高いレーザー彫刻印刷版を形成できるレーザー彫刻印刷原版の提供。 - 特許庁
  • To provide an imaging apparatus that executes a defect correction processing in response to a photographing condition so as to reduce an arithmetic time performed in photographing and the power consumption.
    撮影条件に対応して欠陥補正の処理を実行することにより、撮影時に行う演算時間を短縮し、消費電力を低減可能とした撮像装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide new precursor materials having no or at least practically improved conventional defect, and for forming a tantalum nitride or niobium nitride thin film by a CVD method.
    従来の欠点を有しないか、又は少なくとも実質的に改善された窒化タンタル及び窒化ニオブ薄膜をCVD法で成膜するための新規な前駆物質を提供する。 - 特許庁
  • For a reproducing information signal processed by a signal processing part 50 and a decoding part 55 for performing binary decoding, no filter processing for eliminating a defect signal component is performed.
    一方、二値化復号を行う信号処理部50及び復号部55で処理される再生情報信号については、ディフェクト信号成分を除去するフィルタ処理は行わない構成とする。 - 特許庁
  • To provide a heat treatment method and heat treatment apparatus for performing both activation of implanted ions and recovery of an introduced defect without damaging a substrate.
    基板にダメージを与えることなく、注入されたイオンの活性化および導入された欠陥の回復の双方を行うことができる熱処理方法および熱処理装置を提供する。 - 特許庁
  • A correction determining means determines necessity of layout correction by comparing the feature value with a correction determining criterion matching the electric property defect read from a database.
    修正判定手段は、この特徴量とデータベースから読み出した電気特性不良に対応する修正判定基準とを比較することでレイアウト修正の要否を判定する。 - 特許庁
  • To realize a semiconductor device having a semiconductor element made of single crystal SiC by solving a problem of micropipe defect and utilizing characteristics of high temperature, high breakdown strength and high reliability.
    単結晶SiCから構成される半導体素子を有する半導体デバイスを、マイクロパイプ欠陥を克服して高温、高耐圧、高信頼性の特性を活かして実現する。 - 特許庁
  • To provide a material and a method for welding a martensite stainless steel pipe, wherein a weld having no welding defect and high toughness can be obtained.
    溶接欠陥もなく高靭性を有する溶接部を得ることができるマルテンサイト系ステンレス鋼管用溶接材料およびマルテンサイト系ステンレス鋼管の溶接方法を提案する。 - 特許庁
  • To complement an ejection defect of a nozzle for black ink with a dot formation obtained by mixed color of cyanogen, magenta, and yellow inks, while a control load is minimalized without impairing printing quality.
    印刷品質を損なうことなく、制御負荷を最小限にしながら、ブラックインク用ノズルの吐出不良をシアン、マゼンタ、イエローインクの混色により得られるドットの形成で補完する。 - 特許庁
  • To obtain a fixed image with high image quality by preventing an image defect from being caused by contact with a separating member when the separating member separates sheet paper from a fixing device.
    分離部材により定着装置からシート紙を分離する時に、分離部材との接触を原因とする画像欠陥を生じるのを防止して、高画質の定着画像を得る。 - 特許庁
  • To obtain high-grade single crystal SiC in which strain and micropipe defect do not appear by growing the single crystal so that influence of micropipe which a single crystal substrate has is not taken over.
    単結晶基板の有するマイクロパイプの影響が引き継がれないようにして、歪み及びマイクロパイプ欠陥が出現しない高品位な単結晶SiCが得られるようにする。 - 特許庁
  • The groove portions 3 and 6 adjacent to the terminal electrodes 4 are irradiated with laser beam 8 heating the solder 5 to preheat solder paste on the lower surface of the semiconductor device 1, thereby preventing a joining defect.
    はんだ5を加熱するレーザー光8を、端子電極4に隣接する溝部3、6に照射することで、半導体装置1の下面のはんだペーストを予備加熱し、接合不良を防ぐ。 - 特許庁
  • To provide a photomask appearance verification system for converting a coordinate value detected by a wafer inspection into a coordinate value to be used in a photomask inspection and for performing defect analysis of a photomask in an early stage.
    ウエハ検査で検出された座標値をフォトマスク検査で使用される座標値に変換し、フォトマスクの不具合解析を早期に行うフォトマスク外観検証システムを提供する。 - 特許庁
  • The defect of the electric connection between the both electrodes is detected by measuring negative pressure of a decompression chamber 4, because contact pressure deficiency between the both electrodes is detected as negative pressure deficiency in the decompression chamber 4 by measurement.
    両電極の接圧の不足は、減圧室4の負圧不足として計測により検知できるので、その電気的接続の不良は減圧室4の負圧測定により検出される。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus capable of achieving efficient recycling of residual toner as well as prevention of image defect due to foreign matter in residual toner without complicating the configuration of the apparatus.
    装置構成を複雑にすることなく、残留トナー中の異物による画像欠陥の発生を防ぎつつ残留トナーを効率的に再利用できる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
  • A composite film 2 composed of calcium phosphate and a biodegradable material softer than the calcium phosphate is joined to a porous material 3 composed of the calcium phosphate to form a filling material of an osteochondral defect 1.
    リン酸カルシウムとそれよりも軟質の生分解性材料とからなる複合膜2と、リン酸カルシウムからなる多孔体3とを接合してなる骨軟骨補填材1を提供する。 - 特許庁
  • Since the automatically detected integrated hot water injection quantity L0 to the reference level P0 is taken as the bunged-off quantity Ld, an automatic bung defect detection corresponding to the bathtub size can be performed.
    自動的に検出する基準水位P0までの積算注湯量L0を栓抜け判定量Ldとするため、浴槽サイズに対応した自動栓抜け検出を行なうことができる。 - 特許庁
  • When the defect pixel is repaired, the pixel display electrode 3 and the BM wiring 1 are disconnected by irradiation with a laser beam, and further the pixel display electrode 3 is connected with the BM wiring 2.
    欠陥画素を修正する場合には、レーザ照射により、画素表示電極3とBM配線1を切断し、さらに画素表示電極3とBM配線2を接続する。 - 特許庁
  • Ions of at least one of oxygen(O), silicon(Si) and carbon(C) are introduced into the vicinity of a bottom in the non-defect layer 13 by ion implantation to form a gettering region 14.
    無欠陥層13内の底部付近に、酸素(O)、シリコン(Si)及び炭素(C)のうちの少なくとも1つをイオン注入によって導入することで、ゲッタリング領域14を形成する。 - 特許庁
  • To provide a toner for forming a toner image on offset printing paper and fixable at a low temperature so as to suppress an image defect due to water vapor generation during fixing.
    オフセット印刷用紙上にトナー画像を形成し、低い温度で定着を行えるようにして、定着時の水蒸気発生による画像欠陥の発生を抑制するトナーを提供する。 - 特許庁
  • To form internal electrodes for positively preventing the structural defect and decreasing electrostatic capacity of laminated ceramic electronic parts and obtain inexpensive and good-quality laminated ceramic electronic parts.
    積層セラミック電子部品の構造欠陥,静電容量の低下等を確実に防げる内部電極を形成し、価格的に安価で品質的に良好な積層セラミック電子部品を得る。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device and its fabricating method in which such problems as desorption of grain, generation of defect in a gate oxide film and intrusion of impurities into a semiconductor substrate are eliminated.
    結晶粒の脱離や、ゲート酸化膜の欠陥生成や、不純物の半導体基板への進入といった問題のない、半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The correction system employs RGB/RGB data conversion adopting matrix coefficients and places a limit on number of the conversion coefficients to avoid a defect due to excessive color conversion.
    色変換手段として、マトリスク係数によるRGB/RGBデータ変換を用いると共に変換係数に制限を設けて、過度な色変換による不具合が発生しないようにする。 - 特許庁
  • To provide a deceleration controller for a hybrid car which can decelerate or stop the vehicle safely by suppressing the drop of braking performance even at defect of a brake assist means.
    ブレーキアシスト手段の失陥時であっても、制動性能低下を抑制し、車両を安全に減速・停止することができるハイブリッド車の減速度制御装置を提供すること。 - 特許庁
  • To precisely inspect the mechanical defect of a lip in the inspection of sealing performance for an elastic body-made lip seal and perform the automatic inspection.
    弾性体製のリップシールの密封性能を検査する装置と方法であって、リップの機械的欠陥を精度よく検査することが可能で、かつ自動検査を可能とする検査方法を開発する。 - 特許庁
  • To provide an ellipse detection method and an ellipse detection device capable of detecting even a defect ellipse in a practical time by using two kinds of hough transforms.
    欠損楕円であっても二種類のハフ変換を用いることによって実用的な時間内で検出することができる楕円検出方法及び楕円検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To solve the problem that the substrate area becomes large by the trace of the rescue wiring on the array substrate which relieves disconnection defect, and the effective display area becomes small.
    断線不良を救済するアレイ基板上のレスキュー配線のトレースにより基板面積が大きくなり有効表示領域が小さくなってしまうという問題を解決すること。 - 特許庁
  • To provide an electronic device capable of preventing the defect of a soldered joint without enlarging a package in a surface-mounted semiconductor package having solder balls.
    半田ボールを有する面実装型半導体パッケージにおいてパッケージを大きくすることなく半田接合部の不良を防止することのできる電子機器を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Thus, in the subsequent etching treatment, etchant intrudes from the defect 22b of the oxide film 22 into the property modification region 7, so that the etching progresses selectively along the property modification region 7.
    よって、その後のエッチング処理では、酸化膜22の欠陥22bから改質領域7へとエッチング剤が侵入され、改質領域7に沿ってエッチングが選択的に進展される。 - 特許庁
  • To provide a nonvolatile semiconductor memory device permitting program verifying readout by a wired-OR system and capable of efficiently blocking data transmission from a page buffer related to a defect.
    ワイヤードオア方式によるプログラム確認読出しが可能であり、欠陷と関連したページバッファーからのデータ伝送を効率よく遮断できる不揮発性半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁
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