「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 245 246 247 248 249 250 251 252 253 .... 366 367 次へ＞- Record of an inspection result in the preceding process is displayed on the outside development displayed for the input, and the display of the input of the outside inspection result of the defect in the own process is made different from the display of the inspection result in the preceding process such that the operator can decide whether the defect inputted in the own process is generated in the own process or in the preceding process.
入力用として表示してなる外観展開図上に、前工程における検査結果の記録を表示しておき、前記オペレータが自工程で入力する欠陥について、自工程で発生したものか、前工程で発生したものかを判別できるように、自工程での欠陥の外観検査結果の入力を、前工程での検査結果の表示とは異なる表示とする。 - 特許庁 - In the display device which has a pair of substrates 1 and 5 and a display medium layer intervening between the pair of substrates 1 and 5 and in which a display defect exists, at least one substrate of the pair of substrates 1 and 5 has the closed low transmittance layer 9 lowering the transmittance so that the transmittance is lower than the transmittance in the other region in a region corresponding to the display defect.
一対の基板１、５と、前記一対の基板１，５間に介在する表示媒体層とを有し、表示欠点が存在する表示装置であって、前記一対の基板１，５のうち少なくとも一方の基板は、前記表示欠点に対応する領域に、他の領域での透過率よりも透過率を低下させる、密閉された低透過率層９を有する。 - 特許庁 - An actual vehicle test is conducted using an ECU to analyze characteristics (S22), durability deterioration simulation is performed using a model while changing parameters (oil temperature TATF, etc.), to estimate gear shift defect event occurring in the simulation from model behavior changes (S26, S28), and endurance deterioration simulation is repeated until the gear shift defect event is removed to correct control algorithm (S30).
ＥＣＵを用いて実機テストを行って特性を解析し（Ｓ２２）、パラメータ（油温ＴＡＴＦなど）を変化させつつ、モデルを用いて耐久劣化シミュレーションを実行し、よって生じる変速不具合事象をモデル挙動変化から予測し（Ｓ２６，Ｓ２８）、変速不具合事象が解消されるまで、耐久劣化シミュレーションを繰り返しつつ、制御アルゴリズムを修正する（Ｓ３０）。 - 特許庁 - An image processing part 109 captures pick-up images acquired by the imaging of an imaging part 106 via the relatively moved optical system 104 to acquire second positional information indicating the position of the defect.
画像処理部１０９は、相対的に移動された光学系１０４を介して撮像部１０６が撮像した撮像画像を取り込み、欠陥の位置を表す第２の位置情報を取得する。 - 特許庁 - To provide a superior thermal transfer receiving sheet having no printing defect caused by blocking generated in a manufacturing step of the thermal transfer receiving sheet without causing a fusion trouble with a dye thermal transfer sheet.
熱転写受容シートの製造工程で発生するブロッキングに起因する印画欠陥がなく、染料熱転写シートとの融着トラブルも発生しない優れた熱転写受容シートを提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an inkjet recording material having glossiness comparable to a conventional silver salt photograph with no surface defect such as pits or losses and which can be operated for a long period of time.
従来の銀塩写真に匹敵する光沢を有し、ピットやトラレ等の表面欠陥が無く、長時間での連続操業も可能なインクジェット記録材料の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a low-cost and space-saving image forming apparatus which can prevent adjustment defect of a photosensor due to wear of a photoreceptor over time.
低コスト化、省スペース化を図った画像形成装置において、経時的な感光体偏摩耗によるフォトセンサの調整不良を防止することが可能な画像形成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a cast slab cooling apparatus in a continuous casting facility with which the cast slab can be cooled without developing surface defect, such as crack, at both edge parts in the width direction of the cast slab drawn out from a mold.
鋳型から引抜かれた鋳片の幅方向両端部に割れ等の表面欠陥を発生させることなく鋳片を冷却することのできる連続鋳造設備の鋳片冷却装置を提供する。 - 特許庁 - To detect a defect in each display region with high accuracy, in the case that an inspection pattern simultaneously having at least two kinds or more display regions with mutually different gray scale levels exists on a transmissive display panel.
透過型表示パネルに、少なくとも２種類以上の異なる階調の表示領域を同時に有する検査パターンを有する場合において、表示領域毎の欠陥を高精度に検出する。 - 特許庁 - To easily inspect a high pressure gas vessel in a short time, positively inspecting a dangerous defect apt to be overlooked in visual observation, without depending on individual criterion.
個人の判断基準に依存することなく、また目視では見落としがちな危険な欠陥を確実に点検でき、さらに簡単で短時間に高圧ガス容器の検査を行うことができるようにする。 - 特許庁 - Thereby, it is made possible to partially form a thin film on the part 14 to remove a defect in a filter film 13 without causing unevenness of film thickness and to restore a color filter for a liquid crystal panel.
これによって、膜厚むらを生じさせることなくフィルタ膜１３中の欠陥除去部分１４に部分的に薄膜を形成し、液晶パネル用カラーフィルタを修復することができる。 - 特許庁 - To provide a substrate for an electronic device, preventing a work from adhering to an upper level block, causing no flaw and defect in the work, and favorably separating the work from the upper level block in a polishing process.
研磨工程において、ワークが上定盤に付着することなく、ワークに傷や欠陥を発生させずに、上定盤からのワークの剥離を良好に行うことができる電子デバイス用基板を提供する。 - 特許庁 - To obtain a manufacturing method with which any defect produced by short-circuiting between adjacent pixels and opposing electrode substrates via a foreign matter is eliminated by retaining and capturing the foreign matter produced by cleaning with a brush on the outside of a display region.
ブラシ洗浄により生じた異物を表示領域外で塞き止め捕捉することができ、異物が隣接画素間や対向電極基板と短絡して生じる欠陥をなくす製造方法を得る。 - 特許庁 - To improve an operation rate of an inspection device by setting an inspection condition, in a state where an actual inspection object does not exist, in defect inspection that uses a substrate with a pattern as the inspection object.
パターン付基板を検査対象とした欠陥検査において，実際の検査対象物物が存在しない状態で、検査条件を設定することにより、検査装置の稼働率を向上させる。 - 特許庁 - To provide a halftone phase shift mask having no black defect in a light shielding layer or in a phase shift layer and no decrease in the transmittance due to gallium stain, and no change in the phase difference due to a decrease in the thickness of the phase shift layer.
遮光層及び位相シフト層の黒欠陥のない、ガリウムステインによる透過率の低下、位相シフト層の厚み低下による位相差の変化のないハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法。 - 特許庁 - The first light receiving system including a CCD line sensor 21 receives scattered light acquired by scattering the inspection light by a surface/internal defect of the substrate 1 in the focused state onto the substrate 1 surface.
ＣＣＤラインセンサー２１を含む第１の受光系は、検査光が基板１の表面又は内部の欠陥により散乱された散乱光を、基板１の表面に焦点を合わせて受光する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a laminated sheet, capable of preventing the generation of a thickness defect by properly setting the clearance between laminating rolls before the thickness of the molded laminated sheet can be measured.
成形された積層板の板厚測定ができるまでの間、ラミネートロールのクリアランスを適切に設定して、板厚不良が発生することを防ぐことができる積層板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To stably detect a micro black deep flaw more fine than a flaw detected by conventional filament type optical visual inspection and a glossy shallow defect flaw difficult to be detected.
従来のフィラメント方式の光学外観検査で検出されるキズよりも微小な黒く深い欠陥及び検出し難い光沢のある浅い欠陥傷の安定した検出を可能ならしめる。 - 特許庁 - The occurrence of crack by the enhanced ductility is substantially prevented and such thing that the defect in brazing results from wedging of the cracked splinters during assembly and the occurrence of the float in joint surfaces can be prevented.
また、延性が上がることにより割れが発生し難くなり、組立中に割れた破片が何処かに挟み込まれ、接合面に浮きが発生してろう付け不良となる様なことも防げる。 - 特許庁 - To realize an electroluminescent element with improved luminous sensitivity and to realize an electroscope of a power line, a conduction display power line, and a circuit board defect inspection device using the electroluminescent element.
発光感度を増大させた電界発光素子を実現し，電界発光素子利用して電力線の検電器及び通電表示電力線及び回路基板欠陥検査装置等を実現する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device permitting a simple and improved inspection for defect detection before completing a liquid crystal display device, and also permitting improvement of productivity after completing inspection.
液晶表示装置完成前に簡易的かつ不良検出力を向上させた検査が可能で、また検査完了後の生産性を向上させることが可能な液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - Further, when the V1 abruptly drops due to the contact defect of the connector 11, the lowest value of the voltage V1 is not a stable value and the insulated state of the semiconductor device T1 is not held.
更に、コネクタ１１の接触不良に起因して電圧Ｖ１が急激に低下した場合には、電圧Ｖ１の最低値が安定した値とならず、半導体素子Ｔ１の遮断状態は保持されない。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a glass substrate for information recording medium which maintains high surface smoothness while suppressing the occurrence of a surface defect and can be rapidly polished, and a method of manufacturing an information recording medium.
表面欠陥の発生をおさえつつ高い表面平滑性を保ち、かつ、迅速な研磨ができる情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及び情報記録媒体の製造方法を得る。 - 特許庁 - To provide a filament sewing thread which improves a defect caused by the formation of loops and looseness, leaves the gloss of filaments, can form uniform seams, and is good in high speed sewing property.
ループやゆるみの形成に起因する欠点を改良し、フイラメントの光沢を残しつつ、均一な縫目を形成することが可能で、かつ高速縫製性の良好なフイラメントミシン糸を提供する。 - 特許庁 - To provide a handle type tool capable of conveniently take out a tool head and speedily changing itself, simultaneously having favorable elastic fitting capacity and having no defect of dropping by impact or oscillation.
ツールヘッドの取出しが便利で迅速に交換でき、それと同時に良好な弾性嵌め止め能力があり、衝撃または震動によって脱落する欠点のない把手型工具を提供する。 - 特許庁 - To provide a laminated coating film for repair capable of repairing a coating defect of a scratch resistant coating comprising a polyrotaxane without leaving a noticeable scar; and also to provide a method for preparing the same.
ポリロタキサンを含有するような耐擦傷性を有する塗膜の塗膜欠陥に対し、補修跡が目立たない補修を実現し得る補修積層塗膜及びその作製方法を提供する。 - 特許庁 - To satisfy both aspects of the quality (machining accuracy and no defect such as chipping) and the cost (machining speed and cost of the device) in removal work machining a material, especially a brittle material, into a desired shape.
材料、特に脆性材料を所望の形状に加工する除去加工において、品質面（加工精度、チッピング等の欠陥のないこと）とコスト面（加工速度、装置コスト）との両方を満足させる。 - 特許庁 - To provide an X-ray CT apparatus provided with an X-ray detector having an asymmetric shape, which can acquire an appropriate scanogram free from a defect portion.
非対称形状を有するＸ線検出器を備えたＸ線ＣＴ装置であっても、欠損部分がない適正なスキャノグラムを取得することができるＸ線ＣＴ装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a marking method to a thin steel sheet capable of surely recognizing a defect position existing on the thin steel sheet after slitting when the thin steel sheet is slit and used by an user.
需要家において薄鋼板をスリットして使用する場合においても、スリット後の薄鋼板に存在する欠陥の位置を確実に認識可能な薄鋼板へのマーキング方法を提供する。 - 特許庁 - This defect inspection device 21 is used in a prestage for attaching a sealing film 4 to close a pocket part, after a tablet is stored in the pocket part formed in a conveyed container film 3.
不良検査装置２１は、搬送される容器フィルム３に形成されたポケット部に錠剤が収容された後、ポケット部を塞ぐ密封用フィルム４が取着される前段階において用いられる。 - 特許庁 - To provide an image forming device preventing the occurrence of rolling-in of toner removing means (so-called blade rolling-in) consisting of an elastic body and cleaning defect, and making adaptable to a cleaning roller of a small diameter, too.
弾性体よりなるトナー除去手段の巻き込み（いわゆるブレードの巻き込み）の発生やクリーニング不良を防止するとともに、小径のクリーニングローラにも対応できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - The magnetic disk unit carries out surface defect checking (S5) after raising the temperature of the unit by a temperature raising operation (S2) which controls a voice coil motor to repeatedly move a head on the magnetic disk.
磁気ディスク装置は、ヘッドが磁気ディスク上で繰返し移動するようにボイスコイルモータを制御する温度上昇動作（Ｓ２）によって装置温度を上昇させた後に、表面欠陥検査（Ｓ５）を行う。 - 特許庁 - To improve a yield, to enhance productivity and to lower manufacturing cost by realizing more efficient plates combination with even defect information taken into consideration when cutting a steel plate and a steel tape to obtain a plate component.
鋼板又は鋼帯を切断して板部品を得る場合に、欠陥情報まで考慮されたより効率的な板の取合せを実現して、歩留向上、生産性向上、及び製造コスト低下を図る。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a molded body having complicated design, a hollow body in particular without a defect in the prior art easily at a low cost in a large scale.
公知の方法の欠点を有さず、複雑なデザインの成形体、特に中空成形体を製造することを可能とし、工業的に大規模に簡単に実施できそして低コストで実施できる方法の提供。 - 特許庁 - Then, after forming an extension region 22 in the region Tr1, region Tr2 and region Tr3 respectively, the substrate 10 is heat-treated so as to extinguish a defect generated in the extension region 22.
その後、領域Ｔｒ１、領域Ｔｒ２及び領域Ｔｒ３に、それぞれエクステンション領域２２を形成した後、基板１０を熱処理して、エクステンション領域２２に発生した欠陥を消滅させる。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an insulator for a spark plug rarely causing a defect due to temperature dispersion in baking and having a high yield, good productivity and little energy waste.
焼成時の温度ばらつきに基づく不良発生が生じにくく高歩留まりであり、かつ生産性が良好でエネルギーの無駄も少ないスパークプラグ用絶縁体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical semiconductor device that prevents a defect in optical characteristics by suppressing sticking matter on a transparent member fixed directly on a semiconductor chip while making the transparent member compact.
半導体チップ上に直接固着する透明部材の小型化を図りながら、当該透明部材への付着物を抑え、光学特性の不良を防止できる光学半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a chip seal, by which even if low-fluidity resin material is used, a short shot defect is hard to occur, making a material yield and a product yield higher.
流動性が低い樹脂材料を使用した場合であってもショートショットを生じ難く、且つ、材料歩留り及び製品歩留まりの良いチップシールの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a small-sized optical control element having a group speed delay effect and a dispersion control effect, which is capable of giving a controllable light propagation mode while keeping a group speed delay effect of a coupled defect waveguide.
結合欠陥導波路の群速度遅延効果を保ちつつ、制御可能な光伝搬モードを与えられる、小型の群速度遅延効果と分散制御効果を有する光制御素子を提供する。 - 特許庁 - Based on a potential contrast difference of the secondary electron images obtained by the irradiation with the charged particle beams selected depending on PN property of the sample, a failure point of leakage generated due to a defect inside the semiconductor device is detected.
試料のPN特性に応じて選択した荷電粒子ビーム照射によって得られた二次電子像の電位コントラスト差から、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク不良箇所を検出する。 - 特許庁 - A data processing part 10 regards a part where a defect in data writing is occurring among for storage parts A, B, C, and D as a faulty device and performs control so that no sales data is written to the device.
データ処理部１０は、４つの記憶部Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのうちデータ書き込み不良が生じているものを故障装置と見なし、その装置には売上データを書き込む制御を行わない。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for an ultrasonic inspection wherein the defect of a metal band comprising a characteristic whose damping capacities of ultrasonic waves are different according to a distance in its running direction can be detected stably over the whole length of the running direction.
走行方向における距離に応じて超音波の減衰能が異なる特性を有する金属帯を、走行方向全長にわたり安定して欠陥検出することを可能にする。 - 特許庁 - To arrange members to be arranged in a photographing optical path in a proper sequence, when inspecting a defect of a laminated film having a polarizer, using an inspecting polarizing filter and an inspecting phase difference filter.
検査用偏光フィルタや検査用位相差フィルタを用いて偏光子を有する積層フィルムの欠陥検査を行うに際し、撮影光路中に配置すべき部材を適切な順序で配置する。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of a defect in terms of structure and prevent unreasonable bending and the damage of a fastening bolt even when the fastening bolt is fastened with a table inclined.
テーブルが傾斜した状態で締結ボルトが締結されることになっても、構造上の欠陥ができることがなく、また、締結ボルトが無理に曲げられたり損傷したりしない、テーブル支持機構を提供する。 - 特許庁 - A two-dimensional image of received signal is recorded and the end 200a is detected from the crossing section E of defect signal in the synthetic two-dimensional image formed by synthesizing the two-dimensional image recording the oscillators 8, 9.
受信信号の二次元画像を記録し、各振動子８，９の記録された二次元画像が合成された合成二次元画像における欠陥信号の交差部Ｅにより端部２００ａを検出する。 - 特許庁 - To provide an abnormality detection device, server, system and method capable of suppressing data volume to tally and easily identifying which unit has a defect, a fixed station or a receiver unit.
集計するデータの量を抑制しつつ、固定局と受信装置の何れに不具合があるのかを容易に特定可能な異常検知装置、サーバ、システムおよび方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory and a redundancy method of this memory in which repair efficiency can be increased by enabling repair separating respectively banks, blocks, and column address groups depending on a form of defect.
本発明は、不良の形態によってバンク、ブロック、及びコラムアドレスグループ別にリペアできるようにすることによってリペア効率を増加できる半導体メモリ装置並びに装置のリダンダンシー方法を提供する。 - 特許庁 - In growing a silicon single crystal 15, in order to control the V/G value with high accuracy so as to yield a desired defect-free region, it is important to conduct the pulling at a constant pulling rate.
シリコン単結晶１５の育成にあたって、所望の無欠陥領域が得られるようにＶ／Ｇを高精度に制御するためには、一定の引上速度で引上げを行うことが重要である。 - 特許庁 - To prevent a weld defect caused by poor shielding resulting from increase of a gas flow and at the same time increase of a welding speed, in the case of increasing the gas flow in response to the welding speed.
溶接速度に応じてガス流量を増加させる場合に、溶接速度の増加と同時にガス流量を増加させていたことに起因するシールド不足による溶接欠陥を防止する。 - 特許庁 - On the other hand, when a processing to all combinations is finished before acquiring the determination result wherein the concentration difference is within the tolerance, it is determined that the attention pixel 20 is a pixel showing the a defect.
他方、濃度差が許容範囲に入るという判定結果を得る前に全ての組み合わせに対する処理が終了した場合には、注目画素２０を欠陥を表す画素であると判定する。 - 特許庁
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