「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 248 249 250 251 252 253 254 255 256 .... 366 367 次へ＞- To reduce a banded defect on a cast slab by impressing amplitude modulated magnetic field having a signal wave having the same period as the vertical oscillation of a mold to cancel the surface wave motion generated by the mold oscillation.
鋳型の上下振動と同周期の信号波を有する振幅変調磁場を溶鋼に印加して鋳型振動に伴い生成する表面波動を打ち消して、鋳片の縞欠陥を軽減する。 - 特許庁 - To provide an image reader for acquiring suitable shading correction reference data free of an image defect having a density difference in a width direction of an image formed from image data after shading correction.
シェーディング補正後の画像データから形成される画像の幅方向に濃度差が表れる画像不良が発生しない、適正なシェーディング補正基準データを取得できる画像読取装置を提供する。 - 特許庁 - The semiconductor device which is simulated by the HDL simulation part 150 becomes an ideal semiconductor device which is operated completely in the same way as a semiconductor device, to be inspected, which does not contain a defect due to its production.
ＨＤＬシミュレート部１５０によってシミュレートされた半導体デバイスは、製造による欠陥を含まない被検査用半導体デバイスと全く同じように動作する理想的な半導体デバイスとなる。 - 特許庁 - In the case where two or more detected defects exist adjacent to each other within a predetermined or less interval in the rolling direction of the body to be inspected, two or more defects are detected as one continuous defect.
また、検出された二以上の欠陥が被検査体の圧延方向に所定間隔以下の範囲で隣接して存在する場合には、二以上の欠陥を一の連続した欠陥として検出する。 - 特許庁 - To provide a medical liquid container and a preparation-containing medicament container, not causing sealing defect of a sealing part of the peripheral edge of a medicament housing chamber and alteration of a small quantity of a medicament housed.
薬液収納室周縁のシール部分のシール不良や、収容する少量の薬剤を変質させたりすることのない、医療用薬液容器および薬剤入り医療用薬液容器を提供する。 - 特許庁 - The method is to judge existence or nonexistence of the defect and its location by measuring incident EUV light scattered or diffused by an abnormality in a mask blank layer, normalizing and comparing with thresholds.
マスク・ブランクの層における異常によって散乱又は拡散された入射ＥＵＶ光を測定、正規化、閾値との比較を行うことにより欠陥の存在の有無及びその場所を判定する。 - 特許庁 - To provide a circuit wiring board with a sliding element, suitable for shortening of manufacturing processes, reduction in manufacturing cost, prevention against a decrease in resistance characteristics and a defect in continuity, and prolongation of life.
製造工程の短縮化や製造コストの低減化、抵抗特性の低下や導通不良防止及び長寿命化を図るのに好適な摺動要素付回路配線基板を提供すること。 - 特許庁 - A gap between a base material of the target material and an inclusion being an internal defect is expanded by the thermal expansion of hydrogen intruding between the base material and the inclusion by the hydrogenation treatment of the sample chip.
サンプル片を水素化処理することにより、ターゲット材料の母材と内部欠陥である介在物との間に侵入した水素の熱膨張により、母材と介在物との間の隙間が広げられる。 - 特許庁 - When these epitaxial layers are applied to the clad layer of a light emitting element, crystal defect on the interface of the emission layer 4 and the clad layers 5, 11 can be reduced significantly resulting in the enhancement of emission efficiency.
これらのエピタキシャル層を発光素子のクラッド層に適用すれば、発光層４とクラッド層５、１１との界面の結晶欠陥を大幅に低減でき、発光効率を向上させることができる。 - 特許庁 - The image processing section 104 subtracts the average gray scale value for each pixel column from a gray scale value of each pixel in the image data, applies threshold processing to the difference obtained, and identifies the defect region.
画像処理部１０４は、上記画像データにおける各画素の濃淡値から、画素列毎の平均濃淡値を減算し、得られた差分値に対して閾値処理を行って欠陥領域を特定する。 - 特許庁 - To provide a radiation image processing unit that applies pixel defect correction of a linear prediction type to a radiation image including grid pattern information so as to suppress artifacts due to a defective pixel when an image pickup element includes the defective pixel.
撮像素子に欠陥画素が含まれるとき、グリッド縞情報を含む放射線画像に対して線形予測型の画素欠陥補正を施し、上記欠陥画素によるアーチファクトを抑える。 - 特許庁 - This allows all redundant memory lines to be available for laser repair, if needed, but also allows a redundant memory line to be selected for post repair after it has been determined that the redundant memory line is defect-free.
これはあらゆる冗長メモリラインをレーザーリペア用に使用できるようにするだけでなく、必要であれば、その冗長メモリラインが不良でないと決定された後、ポストリペア用にも使われるようにする。 - 特許庁 - To decrease a defect rate of products and to improve productivity by suppressing a trouble on gas permeability and generation of deformation and strain, and by make it possible to keep a good moldability for a long time continuous use.
通気性についての支障や、変形、歪みの発生を抑えて、良好な成形性を長期の連続使用においても可能とし、製品不良率の低減や生産性の向上に資するものとする。 - 特許庁 - To provide a carrier for electrostatic charge image development suppressing generation of image defect by having high fluidity; and to provide a method for manufacturing the same, a two-component developer, and an image forming method.
高い流動性を有することにより、画像欠陥の発生が抑制される静電荷像現像用キャリアおよびその製造方法、二成分現像剤並びに画像形成方法の提供。 - 特許庁 - Thereby, the manufacturing method of the field emission element is obtained in which the field emission element having a high luminance and overall uniform emission distribution and no defect at field emission portion is obtained.
したがって、高輝度と全体的に均一な発光分布を示すことはもとより、電界放出部分での欠陥のない電界放出素子が得られる電界放出素子の製造方法である。 - 特許庁 - To provide a cutter unit of a label printer for eliminating a cutting defect by preventing adhering and accumulating of adhesive for cutting edges of a movable blade and a fixed blade when cutting an adhesive label.
粘着ラベルの切断時における可動刃と固定刃刃先に対する粘着剤の付着蓄積を防止し、切断不良の解消を図ったラベルプリンタのカッターユニットの提供を課題とする。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of an alignment defect in consequence of exertion of a locally excessive pressure to substrates to be aligned in a manufacturing method and manufactured apparatus for liquid crystal display devices.
液晶表示装置の製造方法及び製造装置において、貼り合わされる基板に対して局所的に過大な圧力が加わることに起因する配向不良の発生を防止することができる。 - 特許庁 - By this method, even if pixel electrodes of red, green, blue are arranged in delta arrangement, display of red, green, blue can be performed, a simple picture test can be realized, and a test having high detecting capability for defect can be performed.
この方法により、赤，緑，青の画素電極とがデルタ配列に配置されていても、赤，緑，青の表示が可能となり簡易画像検査を実現でき、不良検出力の高い検査ができる。 - 特許庁 - To provide an apparatus for examining cigarette paper sheets, with which the defect in the coating state of a low fire spreading substance (sodium alginate) applied to a long cigarette paper sheet wound in a roll form is simply and surely detected.
ロール状に巻かれた長尺の巻紙に塗布された低延焼物質（アルギン酸ナトリウム）の塗布の欠陥を、簡易に、しかも確実に検出することができる巻紙検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a thermosensitive transfer image receiving sheet and an image forming method thereof for providing good images by which image defect specially image malfunction due to thermal fusion bonding with an ink sheet does not occur in high concentration.
高濃度で画像欠陥、特にインクシートとの熱融着に起因する画像故障が起こらない良好な画像を提供するための感熱転写受像シートおよびその画像形成方法提供する。 - 特許庁 - To provide a method for processing an ultrasonic response signal collected from a plurality of measurement points positioned along a weld zone of a test sample, and determining the existence of a defect in the weld zone.
試験サンプルの溶接部に沿う複数の測定箇所から収集された超音波応答信号を処理し、上記溶接部における欠陥の存在を決定する方法を提供すること。 - 特許庁 - This lithium film deposition method of Li film can control defect of the Li film 9F caused by rise of base material temperature, for example, forming of Li_3N in the Li film 9F.
このＬｉ膜の成膜方法によれば、基材温度の上昇に伴うＬｉ膜９Ｆの不具合、例えば、Ｌｉ膜９Ｆ中にＬｉ_３Ｎが生成される不具合を抑制することができる。 - 特許庁 - To provide a light source instrument A with high usability by eliminating a defect of a conventional technology which is inconvenient because a lamp body is merely rotatably coupled to a support.
ランプ本体を支持部に対して単に回転可能に連結するに過ぎないために、使い勝手が悪いという従来技術の欠点を解消し、使い勝手の良好な光源器具Ａの提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a polishing composition which can improve flatness of an object after it is polished and can reduce surface defect in the object caused by the polishing.
研磨後の研磨対象物の平坦性を改善することが可能であるのに加えて研磨により研磨対象物に生じる表面欠陥を低減することが可能な研磨用組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a mobile device, a battery pack, a notification method, and a notification program capable of enhancing safety by notifying a user of a defect having occurred in a secondary battery.
二次電池に不良が発生したことを利用者に通知することで安全性を向上させることが可能な携帯機器、電池パック、通知方法、通知プログラムを提供することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a lamination SOI wafer which reduces a crystal defect on a lamination interface which has occurs in the case of lamination heat treatment, and reduces a warp occurring in the wafer, and to provide a manufacturing method of the wafer.
貼合せ熱処理の際に生じていた貼合せ界面の結晶欠陥を低減するとともに、ウェーハに生じる反りを低減し得る、貼合せＳＯＩウェーハ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a soldering inspection device for a PGA (Pin Grid Array) mounting substrate capable of detecting and evaluating a defect precisely by measuring directly a solder creeping-up height on the side surface of a pin erected on a substrate.
基板上に立設されたピン側面における半田はい上がり高さを直接的に計測して、欠陥を精密に検出評価できるＰＧＡ実装基板の半田付け検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a black ink composition that is cured at <80°C and has high solvent resistance after that so as to repair a liquid crystal panel having a light leakage caused by a defect of inner black matrix from the outside of the cell.
内部のブラックマトリクスの欠陥により光モレを起こした液晶パネルをセル外部から補修できるよう、８０℃未満で硬化し、その後の溶剤耐性が高い黒色インキ組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a wiring board with built-in electronic component, wherein there is no risk of defect occurrence due to deformation of a bonding wire, and a region for incorporating a semiconductor chip is made narrow; and to provide a method of manufacturing the same.
ボンディングワイヤの変形による不良発生の心配がなく、かつ、半導体チップ内蔵のための領域が狭くて済む電子部品内蔵配線板およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile memory device in which the occurrence of a defect in data writing is suppressed and whose area can be decreased, or a semiconductor device including the nonvolatile memory device.
データの書き込み不良を抑えつつ、面積を小さく抑えることができる不揮発性の記憶装置、または当該不揮発性の記憶装置を用いた半導体装置の提供を目的の一とする。 - 特許庁 - To securely and briefly vent air of an ink cartridge used in a process for indicating a bad mark in a chip region which is determined as defect in an electrical characteristic inspection process after completion of a semiconductor wafer.
半導体ウエハ完成後の電気特性検査工程で不良と判定されたチップ領域にバッドマークを表示する工程で使用するインクカートリッジのエア抜きを短時間で確実に行う。 - 特許庁 - To moderate a defect induced by an immersion liquid in an immersion lithography projection apparatus where a liquid removal system surrounds a liquid supply system for providing liquid to a space between a projection system and a substrate.
液体除去システムが投影システムと基板の間の空間に液体を提供する液体供給システムを囲む、液浸リソグラフィ投影装置において、液浸液により誘起される欠点を緩和する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a glass substrate for a mask blank which suppresses the generation of a minute convex surface defect on the surface of the substrate even if the mirror polishing of the glass substrate is performed by using silica.
シリカを用いてガラス基板の鏡面研磨を行っても基板表面に微小な凸状の表面欠陥が発生するのを抑えたマスクブランクス用ガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a conductive paste capable of suppressing a structural defect of an electronic component, and to provide a producing method for the electronic component having an inner electrode layer formed of the conductive paste.
電子部品の構造欠陥を抑えることが可能な導電性ペーストおよびこの導電性ペーストから形成される内部電極層を有する電子部品の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a polarizing plate with which a liquid crystal display having a superior display quality free from display defect such as moire is obtained, and to provide a liquid crystal panel using the polarizing plate and a liquid crystal display device.
モアレ等の表示不良のない、表示品位に優れた液晶表示装置を得ることができる偏光板、ならびにこれを用いた液晶パネルおよび液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To improve dischargeability of swarf while improving resistance to defect of an end cutting edge, improve durability of a tool and also stability in machining, and improve machining accuracy on an end surface in end mill machining.
底刃の耐欠損性を高めながら切屑の排出性も向上させ、工具の耐久性と併せて、加工の安定性向上、エンドミル加工での端面の加工精度向上を図ることを課題としている。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus, image processing method and computer program capable of detecting even a defect near a contour line and performing product quality assessment with high accuracy.
輪郭線近傍の欠陥であっても高い精度で存在を検出することができ、高い精度で良品判定を行うことができる画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a video processing apparatus capable of preventing the occurrence of a display defect when detecting the input of video signals and then displaying video images corresponding to the video signals.
映像信号の入力を検知した後に映像信号に応じた映像を表示させる際に、表示不良が発生することを防止することができる映像処理装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for modifying a silicon carbide single crystal substrate, by which the specific dislocation defect such as basal plane dislocation or spiral dislocation is reduced, and to provide an apparatus for modifying a silicon carbide single crystal substrate.
基底面転位、螺旋転位などの特定の転位欠陥を低減させることができる炭化ケイ素単結晶基板の改質方法、及び炭化ケイ素単結晶基板の改質装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device that suppresses generation of a crystal defect in a semiconductor substrate and forms an element isolation structure sufficiently exhibiting element isolation performance.
半導体基板に結晶欠陥が発生することを抑制することができ、素子分離性能を十分に発揮する素子分離構造を形成できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for an epitaxial wafer that can form a silicon epitaxial layer substantially without defect, an epitaxial wafer manufactured by the method, and a manufacturing method for an imaging device.
欠陥のほとんどないシリコンエピタキシャル層を形成できるエピタキシャルウェーハの製造方法、当該方法により製造されたエピタキシャルウェーハ及び撮像用デバイスの製造方法を提供することを目的とする - 特許庁 - To eliminate influences of disturbance light noise intruding into a detection optical system from a peripheral environment of a transparent substrate with a large thickness upon inspecting a defect in the substrate, and improve detection accuracy of defects.
板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺環境から検出光学系に入り込む外乱光ノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁 - To provide a silicon carbide monocrystalline substrate for preventing the occurrence of a crystal defect on an epitaxially grown semiconductor layer caused by the substrate, and a method of manufacturing the substrate.
エピタキシャル成長後に、成長した半導体層に基板が有する原因による結晶欠陥が生じない炭化珪素単結晶基板およびそれを製造する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To prevent heat-originated defect in a semiconductor layer containing a compound semiconductor when fabricating a concentrated photovoltaic solar power generation module having compound solar cells using the compound semiconductor.
化合物半導体を用いる化合物太陽電池セルを備えた集光型光発電モジュールを構成する際に、化合物半導体を含む半導体層に熱による欠陥が生じることを防ぐ。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device, capable of restraining a defect from being generated caused by irradiating cumulatively a dielectric film of relatively low dielectric constant with a light including an ultraviolet ray.
誘電率の比較的低い誘電体膜に、累積的に紫外線を含む光が照射されることに起因する不良の発生が抑制される半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device with an adhesive sheet whose steps are not made complicated and which neither breaks the semiconductor device nor generates a defect in post-steps.
工程を煩雑化することなく、且つ、半導体デバイスに破損を生じさせることなく、後工程で不良を発生させることのない接着シート付き半導体デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory device for stacking memory cells without forming any memory cell in the part of a crystal defect in a monocrystal silicon layer obtained by epitaxial growth of silicon.
シリコンをエピタキシャル成長させて得られた単結晶シリコン層の結晶欠陥の部分にメモリセルを形成することなくメモリセルの積層を実現する不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - Then, a conductive route is formed beforehand on the electron acceleration layer 4, and an electron emission part consisting of a physical defect which corresponds to an outlet of the conductive route is formed on the deposition 106.
そして、電子加速層４には予め導電経路が形成され、堆積物１０６には導電経路の出口に相当する物理的な欠陥よりなる電子放出部が形成されている。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which has a flat pixel electrode for suppressing liquid crystal alignment defect and which includes a capacitive element capable of obtaining sufficient capacitance without decreasing opening ratio.
液晶の配向不良を抑制するために画素電極を平坦化し、開口率を下げずに十分な容量を得られる容量素子を有する半導体装置を実現することを課題とする。 - 特許庁 - To directly and early detect a defect such as a thickness reduction and a crack occurring in piping or a device for composing a plant while the plant is operated, and to monitor the soundness of the piping or the device.
プラントの運転中に、このプラントを構成する配管または機器に生じた減肉やき裂等の欠陥を直接的に且つ早期に検出して、配管または機器の健全性を監視できること。 - 特許庁
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