「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 250 251 252 253 254 255 256 257 258 .... 366 367 次へ＞- To provide a method for forming the gate of a semiconductor element capable of obtaining the gate electrode having no defect by reducing the generation of an alien substance at the upper part of the surface of a doped silicon film.
ドープトポリシリコン膜の表面上部に異常異物が発生することを抑制し、欠点のないゲート電極を実現することが可能な半導体素子のゲート形成方法を提供すること。 - 特許庁 - Also, for example, when a reproduced RF signal is inputted to the AGC circuit, particularly the transient response of the AGC generated before and after the defect detection (before and after the period of D) can be suppressed.
また、例えばＡＧＣ回路に、再生されたＲＦ信号が入力される場合、特に、ディフェクト検出の前後（Ｄの期間の前後）で発生するＡＧＣの過渡応答を抑制することができる。 - 特許庁 - To manufacture high quality metallic product by casting an ingot little in acquired bubble, a non-metallic inclusion and segregation of the ingot surface, a surface defect resulting from mold flux, having little inner inclusion.
捕捉される気泡、非金属介在物及び鋳片表面偏析、モールドフラックス起因の表面欠陥や内部介在物の少ない鋳片を鋳造して、高品質の金属製品の製造を可能とする。 - 特許庁 - To obtain a processed product of a hot dip plated steel sheet, which has a sound hot dip plated layer free from a processing defect, such as a crack or peeling, by enhancing the ductility of the hot dip plated layer to a value nearly equal to the ductility of a ground steel.
溶融めっき層の延性を増加させて下地鋼に近づけ、クラック，剥離等の加工欠陥のない健全な溶融めっき層を有する溶融めっき鋼板の加工製品を得る。 - 特許庁 - To prevent occurrence of a printing wrinkle resulting in a white stripe-like image defect caused by floating of a master after being subjected to plate making and deviation of the master in the printing wherein an active energy beam-curable ink and coated paper are used in combination.
活性エネルギー線硬化型インキとコート紙との組合せでの印刷における、製版済みのマスタの浮きによる白スジ状の画像不良となる印刷シワやマスタの寄り発生を解決する。 - 特許庁 - In response to “Condition 3,” changing the context of D2 from a facsimile to a disc drive would not change the analysis, as the defect is in the teaching not the field of use.
「条件３」については、引用文献２の教示内容の欠陥は、技術分野ではないため、引用文献２の内容をファクシミリからディスクドライブに変えたとしても、分析結果が変わるものではない。 - 特許庁 - An Si substrate where an SiGeC crystal is deposited is subjected to heat annealing, thus relieving the SiGeC crystal, at the same time, depositing an SiC microcrystal for reducing defect density, and hence manufacturing the thin, relaxation buffer layer with less defects.
SiGeC結晶を堆積したSi基板を熱アニールすることで、SiGeC結晶を緩和させると同時に、SiC微結晶を析出させて欠陥密度を低減し、薄くても欠陥の少ない緩和バッファ層を製造する。 - 特許庁 - To provide a titanium material for sputtering in which a cast ingot is used as a starting raw material, and this titanium material has clean macro-structure and fine micro-structure and the defect on a surface layer is little and good upsetting forgeability is provided.
溶解インゴットを出発原料として、清浄なマクロ組織、微細なミクロ組織を備え、表層欠陥が少なく、良好な据え込み鍛造性を具備するスパッタリング用チタン材を提供。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device capable of applying a sufficient voltage and current stress to each contact for reliability evaluation and detecting a defect of electric isolation in a contact chain.
信頼性評価のために各コンタクトに十分な電圧、電流ストレスを印加することが可能であり、コンタクトチェーン内の電気的分離不良を検出することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing technique of a semiconductor integrated circuit apparatus utilizing a defect modification technique of a reflection-type mask which uses an extreme ultra violet light (EUV) with a wavelength near 13.5 nm as an exposure light source.
波長が１３．５ｎｍ付近の極端紫外(Extreme Ultra Violet：ＥＵＶ)光を露光光源とする反射型マスクの欠陥修正技術を利用した半導体集積回路装置の製造技術を提供する。 - 特許庁 - The manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor includes at least the inspection process 101, and the inspection process includes at least a defect detection process 102 of detecting a defective part of an electrophotographic photoreceptor.
電子写真感光体の製造方法は検査工程１０１を少なくとも含み、検査工程は電子写真感光体の欠陥部を検出する欠陥検出工程１０２を少なくとも含む。 - 特許庁 - To provide a land pattern inspection method and inspection device capable of detecting a minute defect of a land which can not be detected by a method for measuring diameters of a through hole with a radial length measuring instrument.
スルーホールの直径を放射状の測長子で計測する方法では検出できないような、ランドの微細な欠陥を検出できるランドパターン検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁 - A semiconductor inspecting apparatus contacts two probes with wirings 3 or pads 4 disposed at both sides of a wiring system having the defect position 8, grounds one of the probes 2, and connects the other probe to an amplifier 1.
欠陥箇所８を有する配線系の両側にある配線３またはパッド４に２本のプローブ２を接触させ、プローブ２のうちの１本は接地させ、他の一本は増幅器７と接続する。 - 特許庁 - To provide an intermediate transfer belt that can stably form a favorable toner image having no image defect without causing any separating discharge between the intermediate transfer belt and a recording medium during secondary transfer.
２次転写時に中間転写ベルトと記録部材との間で剥離放電を発生させずに、画像欠陥のない良好なトナー画像を安定して形成する中間転写ベルトを提供する。 - 特許庁 - The first sector scanning image information 205 in the thickness direction including image information of a defect existing in the inspection object is generated, based on a reflecting echo generated by the first sector scanning.
被検査体内に存在する欠陥の画像情報を含む、その厚み方向における第１セクタ走査画像情報２０５を、第１セクタ走査で生じる反射エコーに基づいて作成する。 - 特許庁 - To carry out highly accurate valve timing control while reducing a defect due to noise in a valve timing controller for an internal combustion engine having a plurality of variable phase mechanisms controlled by a single control circuit.
一つの制御回路により複数の可変位相機構を制御する内燃機関のバルブタイミング制御装置において、ノイズによる不具合を抑制しつつ、高精度なバルブタイミング制御を実行する。 - 特許庁 - To prevent the elution of any impurities, such as metal ion from voids or the development of rust, even in the case the fine voids, such as cast defect, exist on the surface of a casting part.
鋳造部品の表面に鋳造欠陥等の微細な空孔があっても、この空孔から金属イオン等の何らかの不純物が溶出したり、または発錆したりすることがないようにする。 - 特許庁 - If there is no defect in the sealant, the light from the semiconductor element 1 is never incident into the lens 5, and if there are any defects in the sealant, scattered light generated by the defects is incident into the lens 5.
封止体に欠陥がない場合には半導体素子１からの光はレンズ５に入射せず、封止体に欠陥がある場合にはその欠陥によって生じる散乱光がレンズ５に入射する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device in which an epitaxial growth layer of which the depth is controlled and the generation of crystal defect is suppressed is prepared, thereby the improvement of property is attained.
レイアウトに依存することなく深さが制御されかつ結晶欠陥の発生が抑えられたエピタキシャル成長層が設けられ、これにより特性の向上が図られた半導体装置を提供する。 - 特許庁 - Thus, fine defects in the recessed part on the substrate 9, which is difficult to be detected by an ordinary defect inspection device for performing inspection, by irradiating the substrate with light can be detected with high accuracy.
これにより、基板に光を照射して検査を行う通常の欠陥検査装置では検出が困難な基板９上の微小な凹部内の欠陥を高精度に検出することができる。 - 特許庁 - To provide a developing device capable of preventing imaging defect (ghost) and sticking of toner onto a developing roller, a color image forming apparatus mounted with the developing device, and a two-component developer.
画像欠陥（ゴースト）の発生や現像ローラへのトナー付着等を防止することができる現像装置、これを搭載したカラー画像形成装置、並びに２成分現像剤を提供することである。 - 特許庁 - To provide a new technology capable of further efficiently using ground heat of underground water, by eliminating a defect by a conventional vertical well and a horizontal well requiring a wide site.
従来型縦型井戸によるものや広い敷地を必要とする水平井戸によるものの欠点を解消し、一段と効率的に地下水の地熱を利用可能とする新たな技術を提供する。 - 特許庁 - To provide an organic photoreceptor which has an extremely high moire resistance and, moreover, can obtain high quality image without the occurrence of image defect such as black spot.
本願発明の目的は、極めて高い耐モアレ特性を有する有機感光体を黒ポチ等の画像欠陥の発生なく実現する高画質の画像を得ることのできる有機感光体を得ることである。 - 特許庁 - To provide a water-tree observation method in which a treelike electrical defect inside a cross-linking polyethylene insulating layer on a cross-linking polyethylene insulated power cable can be detected automatically and with high accuracy.
架橋ポリエチレン絶縁電力ケーブルの架橋ポリエチレン絶縁層内のトリー状電気的欠陥部分を自動的に、且つ高精度で検出することができる水トリー観察方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method to manufacture a flexible abrasive product capable of remarkably reduce waste material and performing die cutting with high reliability to minimize a defect, the polished product and a manufacturing device.
屑材料を大幅に低減でき、欠点を最小にする信頼性の高い打抜きが達成される柔軟な研磨製品を製造する方法、そのような研磨製品、並びに製造装置の提供。 - 特許庁 - For determining whether the uncertain defective line is a defect, the average luminance of the uncertain defective line is compared with that of a line, comprising a plurality of normal, adjacent pixels.
その不確かな欠陥ラインを欠陥かどうか判定するために、不確かな欠陥ラインの平均輝度と、隣接する複数の正常画素からなるラインの平均輝度とを比較して欠陥かどうかを判定する。 - 特許庁 - To provide an SOS (silicon on sapphire) substrate low in the defect density of a surface even in an extremely thin silicon film by solving a problem that defective density increases due to incompatibility in a lattice constant between silicon and sapphire.
シリコンとサファイアとの格子定数の不適合に起因して欠陥密度が増大する問題を克服し、極めて薄いシリコン膜においても表面の欠陥密度が低いＳＯＳ基板を提供する。 - 特許庁 - To efficiently separate a signal from a pattern from a signal from a defect, in a technique for inspecting a micro circuit pattern using an image formed by irradiation with a white light, a laser beam or an electron beam.
白色光・レーザ光・あるいは電子線を照射して形成された画像を用いて微細な回路パターンを検査する技術において、パターンからの信号と欠陥からの信号を効率的に分離する。 - 特許庁 - Each probe sensor head is constituted such that a probe part of supplying an electric current to an electrode and a sensor part of determining open/short defect by detecting the electric current supplied to the line are integrally formed.
プローブセンサーヘッドは、電極に電流を供給するプローブ部と、配線に供給された電流を検出してオープン／ショート欠陥を判別するセンサー部とが一体となって構成されている。 - 特許庁 - To output azimuth of a moving body which will not be influenced by offset or drift of an angular velocity sensor, even when GPS azimuth operation cannot be executed, caused by signal reception defect or the like from a GPS satellite.
ＧＰＳ衛星からの信号受信不良等に起因して、ＧＰＳ方位演算ができなくなった場合でも、角速度センサーのオフセットやドリフトの影響を受けない、移動体の方位を出力する。 - 特許庁 - To provide a wafer container which hardly generates breakage and storage defect even if external force is applied, and realizes easy handling and management even if a semiconductor wafer or the like is stored one by one.
外力が加わっても、破損や収納不良が発生しにくく、半導体ウエハ等を一枚づつ収納しても、取扱や管理を容易に行うことが出来るウエハ収納容器を提供する。 - 特許庁 - To manufacture a highly reliable plasma display panel at a low cost and with a high yield, by suppressing a dielectric breakdown failure caused by a defect such as air bubbles, contamination and the like in a dielectric layer.
誘電体層中の気泡やコンタミネーション等の欠陥に起因する絶縁破壊不良を抑止し、信頼性の高いプラズマディスプレイパネルを低コストで歩留まり良く製造することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a coating device capable of inhibiting generation of coating defect on a film by inhibiting entanglement of a foam into a coating liquid having adjusted coating thickness, and a coating method using it.
塗布厚が調整された塗布液への気泡の巻込みを抑制することにより、フィルムに対する塗布欠陥の発生を抑制することができる塗布装置及びそれを用いる塗布方法を提供する。 - 特許庁 - Under a rapid heating method which uses a lamp as a heat source, the insulating substrate 1 is rapidly heated for a hydrogen to be diffused in the semiconductor thin-film 2, repairing a crystal defect.
この後水素化工程を行い、熱源にランプを用いた急速加熱法により絶縁基板１を急速に加熱して水素を半導体薄膜２に拡散させ結晶欠陥を修復する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing process of paper using recycled pulp which reduces a loss of paper quality, operation trouble and machine defect caused by adhesive foreign materials and pitch of waste paper origin included in the recycled pulp.
再生パルプを用いた紙の製造工程において、再生パルプに含まれる古紙由来の粘着性異物やピッチが原因となる紙の品質低下や操業トラブル、マシン欠陥を低減すること。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor electrostatic capacity sensor by which the non-defect rate hardly lowers due to uneven distance or projections in spacing even if the distance between a fixed electrode and a movable electrode is made small.
固定電極と可動電極との間隔を狭くしても、間隔寸法むらや間隔内突起で良品率が低下しない半導体式静電容量型センサの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a long-life image display device without causing a display defect by preventing a dielectric breakdown failure between a lower electrode and an upper electrode (upper electrode power feed line) constituting a thin-film type electron source.
薄膜型電子源を構成する下部電極と上部電極（上部電極給電線）間の絶縁破壊不良を防止して表示欠陥のない長寿命の画像表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a solid state imaging device capable of reducing imaging defect (white spots) and suppressing rises in depletion voltage and shutter voltage, and to provide a method for manufacturing the same.
撮像欠陥（白点）を低減させるとともに、空乏化電圧の上昇及びシャッター電圧の上昇を抑制することができる固体撮像装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a photosensitive transfer sheet laminate less liable to interlayer peeling within a photosensitive layer and causing no peeling defect in laminating on a copper-clad substrate or the like, and a method for manufacturing the laminate.
感光層の内部で層間剥離が生じ難く、銅張り基板などへのラミネート時に剥離欠陥が生じることのない感光性転写シート積層体およびその製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide a substrate treatment apparatus which suppresses development defect, suppresses degradation of yields, reduces labor in treatment by a post stage device, and heats an exposed substrate.
現像欠陥を抑えて、歩留りの低下を抑えることができ、さらに後段の装置における処理の手間を軽減させることができる、露光された後の基板を加熱する基板処理装置を提供すること。 - 特許庁 - To eliminate a distortion which is the greatest defect of a processing liquid tank made of a synthetic resin with a simple structure, and to prevent a thickness increase as the tank is made large-sized while adopting the processing liquid tank made of the synthetic resin as a basic configuration.
合成樹脂製の処理液槽を基本構成として、当該合成樹脂製の最大の不具合である歪みを簡単な構造で解消し、大型化に応じて肉厚の増大を防止する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for mounting an electronic component and a carriage for replacing a parts feeder, wherein connectors can be easily connected without generating a connection defect and damage when the parts feeder is replaced.
パーツフィーダの交換時に接続不良や破損を招くことなくコネクタの接続を容易に行うことができる電子部品実装装置及びパーツフィーダ交換用台車を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a plating liquid and a plating method which can suppress the erosion of an element assembly and the generation of an insulation defect, and can efficiently apply nickel plating only to the part to be plated.
素体の浸食や、絶縁不良の発生を抑制することができ、めっきされる部分にのみ効率よくニッケルめっきを施すことができるめっき液およびめっき方法を提供する。 - 特許庁 - As a result, a defect such as distortion of the cabinet 40 caused by being burdened with the weight of the PDP 10 can be prevented, and also transmission of the load burdened on the cabinet 40 can be suppressed as much as possible.
その結果ＰＤＰ１０の重量を受けることによるキャビネット４０の歪み等の不良を防止し、かつ、キャビネット４０が受けた負荷のＰＤＰ１０への伝播を極力抑えることができる。 - 特許庁 - To eliminate a gradation defect due to unbalance of the duty ratio of a basic clock signal even when both edges of the basic clock signals are used when PWM gradation control over a liquid crystal screen is performed.
液晶画面におけるＰＷＭ階調制御を行う際に、基本クロック信号の両エッジを用いた場合でも、基本クロック信号のデューティ比不均衡による階調不良を無くすようにする。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method satiopactory in productivity for a liquid crystal display device having high display quality level which will not generate the defect caused by the dispersion in the amount of liquid crystal supplied and film thickness.
液晶の供給量および膜厚のバラツキが原因で起こる不良を生じない表示品位の高い液晶表示素子の生産性の良い製造方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a method which can suppress the generation frequency of a spike defect even when high-density NH3 is supplied for liquid-phase epitaxial growth of an N-doped GaP layer with high N density.
Ｎ濃度の高いＮドープＧａＰ層を液相エピタキシャル成長するために高濃度のＮＨ_３を供給してもスパイク欠陥の発生頻度を抑制することができる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus capable of preventing the lowering of the speed of readout from an HDD due to a rereading operation even in case of a defect in access to the HDD due to vibration or deterioration with time.
振動や経時変化によりＨＤＤへのアクセス不良が発生しても、再読み込み動作によるＨＤＤからの読み出し速度の低下を抑えることができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - After calculating the chain resistance R by two terminal resistance measuring process, the current wave form is observed by chain pattern while scanning a laser beams for calculating the defect numbers x by the positive-negative frequency of the current wave form.
２端子抵抗測定法でチェーン抵抗Ｒを求めた後、レーザービームを走査しながらチェーンパターンでの電流波形を観測し、電流波形が正負に変化した回数から欠陥数ｘを求める。 - 特許庁 - To obtain a current source circuit stably supplying a reference current to the other circuit even if a fault such as a lattice defect occurs on a bipolar element while forming the bipolar element.
バイポーラ素子の形成過程で、バイポーラ素子に格子欠陥等の不具合が生じても、安定的に基準電流を他の回路に供給することができる電流源回路を得ることを目的とする。 - 特許庁
