「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 253 254 255 256 257 258 259 260 261 .... 366 367 次へ＞- To provide a device for inspecting defects that is improved in failure capture rate, and that detects flaws, with respect to mixed wafers (such as, system LSI) at high sensitivity, and moreover, that detects a wide range of defect seeds.
混載ウェハ（システムＬＳＩなど）などに対して欠陥を高感度に検出し、しかも欠陥種を幅広く検出して、欠陥捕捉率を向上させた欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a glass paste of high performance restraining a rising-up width and height of the edge part of a coating film, in application onto a substrate, and hardly causing a film defect such as disconnection.
基板への塗布において、塗膜のエッジ部の盛り上がり幅および高さを抑え、かつ断線などの膜欠陥を生じにくいディスプレイを実現できる高性能なガラスペーストを提供することができる。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus having a document reader and a recording device, in which garbled data due to noise of a data system wiring between the document reader and recording device and a wiring defect due to contact are prevented.
原稿読み取り装置と記録装置を有する画像形成装置において、原稿読み取り装置と記録装置間のデータ系配線のノイズによるデータ化けや、接触による配線不良を防止する。 - 特許庁 - To solve the problem that a boron phosphide layer of a single crystal having little crystal defect density cannot be stably formed due to a large lattice mismatching degree of an Si single crystal substrate and the boron phosphide layer.
Ｓｉ単結晶基板とリン化硼素層との大きな格子不整合度に因り、結晶欠陥密度の少ない単結晶のリン化硼素層を安定して形成できない問題点を解決する。 - 特許庁 - The data retrieval part 25, on the basis of inputted retrieval condition, extracts the product defect information, the history information and information meeting the search condition, and generates a table representing the retrieval result.
データ検索部２５は、入力された検索条件に基づいて、製品不具合情報及び履歴情報その検索条件を満たす情報の抽出を行い、検索結果を示す表を生成する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of seamless steel tube for a boiler and its piping, which does not cause a rolling defect on a product, even when a Mannesmann type skew rolling process is adopted.
本発明は、マンネスマン方式の傾斜圧延法を採用しても、製品に圧延疵が出現しないボイラー及びその配管用継目無鋼管の製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a lithium-excess Ni-doped spinel manganese oxide having no oxygen defect, excellent in high temperature cycle properties, and having a low surface area that is used as a positive electrode material for a high energy density lithium secondary battery.
高エネルギー密度型のリチウム二次電池用正極物質として使用する酸素欠損のない高温サイクル特性の優れた低比表面積のリチウム過剰Niドープスピネルマンガン酸化物を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for producing polyarylene sulfide at a low temperature in a short time, by solving such a defect that conversion of cyclic polyarylene sulfide into polyarylene sulfide requires a high temperature and a long time.
環式ポリアリーレンスルフィドのポリアリーレンスルフィドへの転化に際し高温、長時間を要するという欠点を解決し、ポリアリーレンスルフィドを低温、短時間で得ることのできる製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a digital broadcast receiver which suitably detects a state that there is a defect in an antenna device, prompts a user to confirm the installation state of an antenna and relieves an anxiety of the user.
アンテナ設置に不備がある状態を好適に検出し、ユーザにアンテナの設置状態の確認を促すとともに、ユーザの不安を軽減させるデジタル放送受信装置を提供することである。 - 特許庁 - Consequently, the deformation of the lower surface edge of the Si layer 2 due to the oxidation hardly occurs, so that generation of leakage current caused by the defect generated by the deformation of the lower surface edge of the Si layer 2 can be suppressed.
そのため、Ｓｉ層２の下面エッジ部の酸化による変形が起こりにくくなり、Ｓｉ層２の下面エッジ部が変形して欠陥が生じることによるリーク電流の発生を抑制できる。 - 特許庁 - To prevent a surface defect of a product made of a billet to contrive the enhancement in a yield by eliminating a scale lump remaining in a deep groove part in carrying out scarfing of the billet.
鋼片をスカーフィングする際の深掘れ部に残留するスケール塊を除去することにより、その鋼片からなる製品の表面欠陥を防止して歩留まり向上を図ることを課題とする。 - 特許庁 - Thereby, the temperature gradient in the crystal is appropriately controlled from immediately after the start of pulling, and a single crystal 9 having a desired defect region can be produced efficiently in a high yield.
これにより、引き上げの開始直後から結晶内温度勾配を適正に制御して、所望の欠陥領域を有する単結晶９を、効率よく、高い歩留りで製造することができる。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor substrate that forms an epitaxial layer of a high quality having a low defect density on a silicon layer or a silicon substrate by using a small number of steps at a low cost.
シリコン層又はシリコン基板上に、欠陥密度が低く高品質なエピタキシャル層を、少ない工程で低コストに形成することが可能な半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - In the method and the device, defect and error in operations of VSLI simulation and a circuit are discriminated by forming the test and by using the test, and the performance is evaluated by using genetic algorithm.
テストを生成し、該テストを使用して、ＶＬＳＩシミュレーション及び回路の動作上の欠陥及び誤りを識別し、及び遺伝的アルゴリズムを使用して性能を評価する、方法及び装置。 - 特許庁 - The surface of the SiC substrate 4 manufactured by this method has a defect density of ≥1.1×10^2 defects/cm^2 and ≤1.0×10^9 defects/cm^2.
また、上記製造方法により得られたＳｉＣ基板４であって、その表面の欠陥密度が１．１×１０^2個／ｃｍ^2以上１．０×１０^9個／ｃｍ^2以下であるＳｉＣ基板４である。 - 特許庁 - To provide an MIS field effect transistor using metallic oxide the defect of which is not caused easily and which resists hydrogen and water as a gate insulating film, and to provide a method for manufacturing the transistor.
欠陥が誘起され難くかつ水素や水分の耐性が強い金属酸化物をゲート絶縁膜として用いたＭＩＳ型電界効果トランジスタ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an epitaxial wafer in which any epitaxial defect does not occur in an epitaxial layer, and strong gettering capability is obtained in the neighborhood of the lower part of an epitaxial layer, and to provide a manufacturing method thereof.
エピタキシャルウェーハにおいて、エピタキシャル層にエピ欠陥が形成されることがなく、かつエピタキシャル層下部近傍に強力なゲッタリング能力を備えたエピタキシャルウェーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a video audio signal reproducing apparatus wherein an AV decoder and a transport stream decoder can reproduce a video frame of a TS packet for particular reproduction without causing a defect to a ring buffer.
特殊再生用ＴＳパケットの映像フレームをリングバッファの破錠なくＡＶデコーダおよびトランスポートストリームデコーダにて再生することができる映像音声信号再生装置を提供する。 - 特許庁 - Decoding and playback of moving picture data can smoothly and consecutively be executed without incurring a defect such as extremely slowed-down object motions by omitting decoding of the non-referenced images.
非参照画面のデコードを省略することにより、オブジェクトの動きが極端に遅くなるなどの不具合を招くことなく、動画像データのデコードおよび再生をスムーズに継続して実行することができる。 - 特許庁 - To detect the presence or absence of a structural defect of one or more stacked permeable membranes of a body under test such as a fuel cell with a helium leak detector in a short time with high sensitivity.
燃料電池のような透過膜を1段以上積層した被試験体の透過膜の構造欠陥の有無を、ヘリウムリークディテクタを用いて短時間で感度よく検出することができるように構成する。 - 特許庁 - To eliminate distortion of the shape of a columnar electrode even if a defect in exposure of a plating resist film for columnar electrode formation etc., is caused in a method of manufacturing a semiconductor device called CSP.
ＣＳＰと呼ばれる半導体装置の製造方法において、柱状電極形成用メッキレジスト膜等に露光不良が生じても、柱状電極の形状が歪にならないようにする。 - 特許庁 - To reduce a processing cost by holding a result (PASS/FAIL) for each check item inside and shortening a processing time when defect check is performed and classification processing of defective category is performed in a test of an integrated circuit.
集積回路のテストに際して、不良チェックを行って不良カテゴリの分類処理を行う場合、チェック項目毎に結果（PASS／FAIL）を内部に保持させ、処理時間を短縮し、処理コストを低減する。 - 特許庁 - For instance, width between sidewalls on the linear defect center side of the structure on lattice points between both the sides holding the linear defects between them is gradually narrowed in accordance with the increase of distances from the end of the structure.
例えば、前記線欠陥を挟む両側の格子点上の構造体の線欠陥中央側の側壁間の幅を、当該構造体の前記端からの距離が大きいほど狭くする。 - 特許庁 - Using wax-containing toner, a prescribed image pattern is formed at the margin of the leading end as the non-image forming region of photomedia, thus occurrence of a separation defect in a fixing device is prevented.
フォトメディアの非画像形成領域である先端余白に、ワックス成分を含有したトナーを用いて所定の画像パターンを形成することで、定着装置での分離不良の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a paper guide device, preventing deposition and growth of toner adhering on the guide rib surface for guiding paper, thereby restraining the occurrence of an image defect such as a linear scratch.
用紙を案内する案内リブ表面で、トナーの堆積、成長を未然に防止し、線状の擦痕といった画像不良の発生を抑制することが可能な用紙案内装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a leakage inspection device for plastic bottles, which prevents misdetections where a nondefective is detected as being a defective product, which is caused by imperfect sealing that is a defect which spool-type electromagnetic valves have.
スプール型電磁弁の持つ欠点であるシール性が不完全であることが原因で起こる良品を不良品と判定する誤検出を防止することができるペットボトルのリーク検査装置を提供する。 - 特許庁 - The voltage based on the ultrasonic wave is measured at a plurality of locations on the piping 11, and the location is sought where the voltage shows the maximum value based on the voltage to specify that the location is where the defect is.
該超音波に基づく電圧を配管１１の複数箇所にて測定し、その電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定する。 - 特許庁 - Thus, this improves the insulation and lowers the probability of occurrence of short circuit at the crossing parts of the rescue wiring and the signal lines to improve the probability of correction of the defect in the display area.
これにより絶縁性を向上しレスキュー配線と信号線の交差部での短絡の発生確率を低下させ、表示領域の欠陥の修正が可能となる確率を向上できる。 - 特許庁 - To provide a resist removing device wherein a series of stages until cleaning and drying stages after photoresist is removed are efficiently performed with low defect by using the same device in a resist mask method.
レジストマスク法において、フォトレジスト除去後の洗浄及び乾燥工程までの一連の工程を、同一装置によって低欠陥で且つ効率よく行うレジスト除去装置を提供することである。 - 特許庁 - Sub-pixels are driven by the pixel driving TFTs 33 which suppress variation in defect density among the active layers 33c and are relatively low in threshold voltage, so the display unevenness and power consumption are suppressed.
活性層33cの欠陥密度のばらつきを抑制しかつ閾値電圧が相対的に低い画素駆動用ＴＦＴ33によって副画素を駆動するので、表示むらおよび消費電力を抑制できる。 - 特許庁 - To obtain a battery having good discharge performance and charge/discharge cycle characteristics by using a binder exhibiting good binding force and less susceptible to cause coating defect of an electrode in the field mainly of secondary battery.
主に二次電池の分野で、結着力が良好、かつ電極に塗工欠陥を作りにくいバインダーを用いることで、放電性能、充放電サイクル特性などの良好な電池を得ること。 - 特許庁 - To provide a method for producing metallic particles for an anisotropic conductive film having high hardness, small in the defect of contact and having a uniform shape instead of the conventional conductive particles in which resin particles are applied by Au plating.
従来の樹脂粒子にAuメッキを施した導電粒子に代わる、高硬度で、接触不良が少ない均一な形状を有する異方性導電膜用金属粒の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a substrate in which patterns can be formed on both surfaces of a substrate without generating a defect in a surface of the substrate or a pattern such as a conductive film formed there.
基板の表面又はそこに形成された導電膜等のパターンに不良を発生せることなくその基板の両面にパターン形成を行うことができる基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a bit map data generating apparatus and a method for an IC tester, capable of generating bit map data at high speed without reading out data itself recorded in a defect analysis memory.
不良解析メモリに記録されたデータ自体を外部に読み出すことなく、高速にビットマップデータを作成することのできるＩＣ試験装置のビットマップデータ作成装置および方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus for suppressing an image defect in a stripe state accompanied by unevenness of toner electrified amount without making structure on an intermediate transfer belt side complicated and without causing scattering of a toner image.
中間転写ベルト側の構造を複雑化したり、トナー像の飛び散りを発生したりすることなく、トナー帯電量ムラを伴うスジ状の不良画像を抑制できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - Thereby, in the each pixel 20R1, 20G1, 20B1 for R, G, B; pixel pattern density of corresponding pixel circuit become equal one another, and a pattern defect rate is reduced as a whole pixel circuit.
これにより、Ｒ，Ｇ，Ｂ用の各画素２０Ｒ１，２０Ｇ１，２０Ｂ１において、対応する画素回路の画素パターン密度が互いに均等となり、画素回路全体としてのパターン欠陥率が低減する。 - 特許庁 - METHOD FOR CONNECTING WIRING ELECTRODES, MANUFACTURING METHOD AND DEFECT CORRECTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE SUBSTRATE, AND METHOD FOR MANUFACTURING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, AND PROCESSING DEVICE USED THEREFOR
配線電極の接続方法、液晶表示装置用基板の製造方法と液晶表示装置用基板の欠陥修正方法、および液晶表示装置の製造方法、並びにそれに用いる加工装置 - 特許庁 - The break down defect can be reduced by providing dummy wirings supplying no signal at both ends of the plurality of TCP drivers connecting the liquid crystal display panel to the bus circuit board.
液晶表示パネルとバス回路基板との間を接続する複数個のＴＣＰドライバーの両端に、信号を供給しないダミー配線を設けることにより、断線する不良を低減することができる。 - 特許庁 - Furthermore, after the second conductive silicon carbide epitaxial film 3 is grown, a surface layer 6 high at least in the seed defect density is removed in the second conductive silicon carbide epitaxial film 3.
また、第２導電型の炭化珪素エピタキシャル膜３を成長させた後、この第２導電型の炭化珪素エピタキシャル膜３における少なくとも種欠陥密度が高い表層６を除去する。 - 特許庁 - A hole pattern or the like free from a development defect, the pattern having a crosslinked hardened layer 5 on the surface of the resist pattern and having a size less than the resolution limit of the exposure wavelength is formed by developing the coating layer 4.
被覆層４を現像することにより、レジストパターン表面に架橋、硬化層５を有し、露光波長の解像限界以下のサイズを有する、現像欠陥のないホールパターンなどが形成される。 - 特許庁 - This reticle repair method has a pattern transfer section comprising an electron beam scattering body and is a method of correction processing of the pattern defect of the reticle 13 used in exposure by electron beams.
本発明に係るレチクルリペア方法は、電子線散乱体から構成されたパターン転写部を有し、電子線で露光する時に用いるレチクル１３のパターン欠陥を修正加工する方法である。 - 特許庁 - When a defect state in the RF signals is detected to produce an on state of the detection signal DFCT, a hold circuit 230 holds the preceding data from the jitter detection circuit 210.
一方、ＲＦ信号のディフェクト状態が検出され、検出信号ＤＦＣＴがオンした場合には、ホールド回路２３０は、ジッタ検出回路２１０からの直前のデータをホールドした状態となる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor package and a semiconductor device for suppressing the defect of a package resin forming the body of the semiconductor package and preventing the generation of a cause being a malfunction in the semiconductor device.
半導体パッケージの躯体をなすパッケージ樹脂の欠損を抑制し、半導体装置において不具合となる要因の発生を未然に防止する半導体パッケージおよび半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a high crystallinity organic semiconductor thin film excellent in planarity and having no defect, and also to provide an organic semiconductor element employing that thin film and exhibiting excellent electronic characteristics.
本発明は、平坦性に優れ、欠陥のない高結晶性の有機半導体薄膜を提供すること、および、該薄膜を用いた電子特性の優れた有機半導体素子を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Since the substrate 2 is arranged on the upper part of the TFT array inspection apparatus 1, electric contact defect between a signal electrode terminal 2c of the substrate 2 and the terminal (prober pin 3a) of the inspection apparatus side can be reduced.
基板２をＴＦＴアレイ検査装置１の上部に配置することによって、基板２の信号電極端子２ｃと検査装置側の端子（プローバピン３ａ）との電気的な接触不良を低減する。 - 特許庁 - To provide an antenna coil with which warpage of a resin-made coil case is suppressed in mounting it on a substrate by reflow processing, and as a result, solder defect rate on a terminal of a coil side is reduced.
リフロー処理によって基板上に実装する際に、樹脂製のコイルケースの反りを抑制することができ、ひいてはコイル側端子部の半田付け不良発生率を低減できるアンテナコイルを提供する。 - 特許庁 - To provide an electrooptical apparatus hardly generating an operation defect and having high reliability by suitably constructing an interlayer insulating layer intervening for laminating a nonlinear element and a pixel electrode.
非線形素子と画素電極とを積層させるために介在させる層間絶縁層を好適な構成とすることで、動作不具合が生じ難く、信頼性の高い電気光学装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce occurrence of an image defect in a toner image transferred onto a recording medium from an intermediate transfer belt at a secondary transfer position by splashing toner on a rear side in a conveyance direction of the recording medium.
二次転写位置で中間転写ベルトから記録媒体上に転写されたトナー像に、記録媒体の搬送方向の後方側へトナーが飛散する画像欠陥が生じるのを低減する。 - 特許庁 - To prevents a TFT from being destroyed by peeling electrification generated when peeling a protective film from an optical film and to prevents a failure such as defect due to incorporation of foreign matter caused by electrostatic adsorption from occurring.
光学フィルムから保護フィルムを剥離する際に発生する剥離帯電によってＴＦＴが破壊されたり、静電吸着による異物混入による不良等の不具合が生じないようにする。 - 特許庁 - Consequently, even when stress is added to the element region 5 from the PolySi layer 8 in the trench, the crystalization is restored in the element region 5 so as to suppress the crystal defect.
これにより、トレンチ内のＰｏｌｙＳｉ層８から素子領域５に応力が加わっていても、素子領域５の結晶性の回復を図ることができ、結晶欠陥の発生を抑制できる。 - 特許庁
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