「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • To provide a method through which a compound single crystal with a lower plane defect density can be obtained, which is a method to manufacture compound semiconductor single crystals such as silicon carbide, gallium nitride, etc. by using the epitaxial growth method.
    炭化珪素や窒化ガリウムなどの化合物半導体単結晶を、エピタキシャル成長法を利用して製造する方法であって、面欠陥密度がより低い化合物単結晶を得ることができる方法を提供すること。 - 特許庁
  • To share an original substrate, capable of obtaining plural counter substrates with attached micro lenses by division, among counter substrates with various sizes, to minimize wasteful regions even when a defect exists in a part of the micro lenses and to reduce a manufacturing cost.
    複数のマイクロレンズ付対向基板を分割して得るための原基板をサイズの異なる対向基板で共用でき、また、マイクロレンズの一部に欠陥がある場合でも無駄となる領域を最小限に押え、製造コストを削減する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test system not making an unnecessary evaluation of a device by immediately identifying a defect cause in a semiconductor test system having an overcurrent protective device in a control signal output circuit of a test head.
    テストヘッドの制御信号出力回路に過電流保護装置を備えた半導体試験システムにおいて、不良原因が即座に特定され、無駄なデバイス判定を行うことのない半導体試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Thus, lowering of the display contrast and display defect due to the lack of the charged particles 31 capable of drive are suppressed by performing proper refresh operation, and since migration of the charged particles is prompted, responsiveness of the images is improved.
    したがって、適宜リフレッシュ動作を行うことにより、駆動可能な帯電粒子３１の不足による表示コントラストの低下や表示欠陥が抑制され、且つ帯電粒子の泳動が速やかになるので、画像の応答性が向上する。 - 特許庁
  • Accordingly, after completion of the brazing, the generation of the brazing defect that the gap is left between the bending curved face of the bending part 41a and the tip side corner part of the separator 31 can be prevented from occurring.
    したがって、ろう付けが完了した後に、折り曲げ部４１ａの曲げ曲面とセパレータ３１の先端側角部との間に隙間が残存してしまうといったろう付け不良が発生することを未然に防止することができる。 - 特許庁
  • To realize a liquid crystal display device and inspection method therefor, capable of strictly and quantitatively detecting and discriminating defect and defective states of a liquid crystal panel, a signal driver, etc., without necessitating an external inspection device.
    外部に検査装置を必要とすることなく、液晶表示パネルや信号ドライバ等の欠陥や不良状態を厳密かつ定量的に検出、判定することができる液晶表示装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To obtain defect-free, smooth and excellent circumferential weld bead by the pulse arc welding or DC arc welding using non-consumable electrode on a groove joint of thick tubular members in which bead joint for each multilayer sequence welding and each welding pass is required.
    多層盛溶接及び溶接パス毎のビード継ぎが必要な厚板管材の開先継手に対して、非消耗性電極のパルスアーク溶接又は直流アーク溶接により欠陥のない平滑で良好な円周溶接ビードを得る。 - 特許庁
  • Since this flavonoid reacts with ultraviolet rays to emit fluorescence, it is accurately judged whether the fresh defect is present on the skins of the agricultral products 14 by irradiating the agricultural products 14 with light of the ultraviolet region from the light source 20.
    このフラボノイドは紫外線に反応して蛍光発光するため、光源２０から紫外線領域の光を農産物１４に照射することにより、農産物１４の表皮に生傷があるか否かを正確に判定することができる。 - 特許庁
  • An ROP pattern data converting part 11 converts the plotting attribute of the plotting object, so that the defect is not caused even when the plotting processing is performed as it is in response to the ROP patterns detected by the ROP pattern detecting part 10.
    ＲＯＰパターン用データ変換部１１では、ＲＯＰパターン検知部１０にて検知されたＲＯＰパターンに応じて、そのまま描画処理を行っても不具合が生じないように描画オブジェクトの描画属性を変換する。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a semiconductor device and a semiconductor device capable of repairing any crystal defect caused in the inner wall layer of a trench formed in a substrate and reducing an interface level of the inner wall layer.
    基板に形成されたトレンチの内壁層に生じる結晶欠陥を修復するとともに、内壁層の界面準位を低減することが可能な半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • By having the polyimide orientation film on the TFT array board irradiated with the rays of wavelength of 180 nm or shorter, the defect orientation film on the TFT array board can be completely removed, without giving adverse effects to the characteristics of the TFT.
    本願発明の方法によれば、１８０ｎｍ以下の紫外線を照射することで、ＴＦＴ特性に悪い影響を与えることなく、ＴＦＴアレイ基板上の欠陥配向膜を完全に除去することができる。 - 特許庁
  • To provide a defect part marking method and a device capable of replacing a marker pen and replenishing ink quickly and continuously, when marking a surface or inside flaw position on the surface of an inspection material such as a thin steel plate.
    薄鋼板等の被検査材表面に、表面または内部の疵位置をマーキングするにあたり、迅速かつ連続にマーカーペンの交換またはインクの補充ができる欠陥部マーキング方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • By repeating the adjustment of the length TP and photographing until the brightness of an image obtained by this photographing becomes a predetermined referential state, necessary settings are made for generating an image having brightness suitable for the defect detection.
    この撮影により得た画像の明るさがあらかじめ定めた基準の状態になるまで、ＴＰの長さ調整と撮影とを繰り返すことにより、欠陥の検出に適した明るさの画像を生成するのに必要な設定がなされる。 - 特許庁
  • To provide a power generating device that prevents driving torque on a driving machine side from being excessive, or, in the event of the occurrence of a defect due to excessiveness of the driving torque, minimizes the influence, and facilitates later maintenance.
    駆動機側の駆動トルクが過大となることを防止し、あるいは、万が一、駆動トルクが過大となりそれによる不具合が発生してもその影響を極力小さくせしめ、後のメンテナンスの容易な発電装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a sodium-chloride type transition metal carbide single crystal substrate that increases lattice matching property with a (0001) or (000-1) plane of a nitride semiconductor crystal such as GaN and that allows epitaxial growth of a nitride semiconductor crystal with little defect.
    GaNなどの窒化物半導体結晶の(0001)又は(000-1)面との間の格子整合性を高めて、低欠陥の窒化物半導体結晶をエピタキシャル育成可能な岩塩型遷移金属炭化物単結晶基板を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical communication module that suppresses initial stage defect due to contamination of an optical element, that has a high photosensitivity when using a silicon based photo diode or a gallium arsenide based photo diode, and that enables near infrared light to be used for communication.
    光素子の汚染による初期不良を抑え、さらにシリコン系のフォトダイオードやガリウム砒素系のフォトダイオードを用いた場合に受光感度が高い、近赤外の光を通信用に使用可能とする光通信モジュールを提供する。 - 特許庁
  • To prevent an image defect in a stripe state occurring because developer (toner) T adhering to an electrifying member 2 is discharged at a position corresponding to the paper edge of a medium to be recorded in a cleaner-less system image forming apparatus.
    クリーナレスシステムの画像形成装置において、帯電部材２に付着した現像剤（トナー）Ｔが被記録媒体の紙コバに対応する位置で吐き出されて発生するスジ状の画像不良を防止することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide the configuration of a semiconductor device for suppressing any influence due to defect factor impurity such as carbon, nitride or oxygen in a semiconductor device including point defects for adjusting a reverse recovery time and a method for manufacturing this semiconductor device.
    逆回復時間を調整するための点欠陥を含む半導体デバイスにおいて、炭素，窒素または酸素などの欠陥要因不純物による影響を抑えるための半導体デバイスの構成とその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • A defect detecting method for fuel cell material detects defects in cells or half-cells for fuel cells by means of a CCD camera, a laser reflection detector, and/or a contact displacement detector.
    本発明は、ＣＣＤカメラ、レーザー式反射検出機および／または接触式変位検出機により、燃料電池用のセルおよび／またはハーフセルの欠陥を検出することを特徴とする燃料電池材料の欠陥検出方法である。 - 特許庁
  • To provide a synthetic quartz glass substrate having high flatness to perform fine drawing as well as having a substrate surface with less defect and minimal surface roughness, as a synthetic quartz glass substrate for a photomask used in a photolithography process or the like.
    光リソグラフィー法等で使われるフォトマスク用合成石英ガラス基板として、平坦度が良く微細な描画を行うことができ、かつ基板表面が低欠陥で面粗さの小さい合成石英ガラス基板を提供する。 - 特許庁
  • Terminal devices 24, 34 connected to the network N transmit the diagnosis result of the self- diagnosis program function of the testing devices 20, 30 to the maintenance information providing server 12 corresponding to user operation, and acquires information on the defect generation spot.
    ネットワークＮに接続された端末装置２４，３４は、ユーザの操作に応じて試験装置２０，３０の自己診断プログラム機能の診断結果をメンテナンス情報提供サーバ１２へ送信して不良発生箇所に関する情報を得る。 - 特許庁
  • To provide a piezoelectric vibrator capable of preventing occurrence of a defect due to scattering and adhering of shavings of an adjustment film to an excitation electrode, in a piezoelectric vibrator with a tuning fork type element for a piezoelectric vibrator arranged in a housing.
    音叉型の圧電振動子用素子を筐体内に設けた圧電振動子において、励振電極に調整膜の削り滓が飛散して付着することによる不良の発生を抑えることができる圧電振動子を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a process for manufacturing a highly reliable semiconductor device in which a semiconductor element and a semiconductor element mounting board having a hollow section between wiring boards are coated tightly with an epoxy based film without causing a defect such as a void.
    半導体素子と配線基板間に中空部を有する半導体素子実装基板をエポキシ系フィルムにより、ボイドなどの欠陥を生じさせることなく密着被覆し、信頼性の高い半導体装置を製造する。 - 特許庁
  • To provide an antireflection film for an optical element, which suppresses generation of bubbles generated in an interface of a glass and causing poor appearance and prevents an application defect, and to provide paint (antireflection paint) for manufacturing the antireflection film.
    ガラスとの界面に発生し外観不良の原因となる気泡の発生を抑制し、かつ塗布不良を生じない光学素子用の反射防止膜及びこの反射防止膜を作製するための塗料（反射防止塗料）を提供する。 - 特許庁
  • A diode PND2 is formed on a principal surface f1 of a P-type P substrate 1p, and a crystal defect in the P substrate 1p is detected by inspecting an electric characteristic in applying a reverse voltage to the diode PND2.
    Ｐ型のＰ基板１ｐの主面ｆ１上にダイオードＰＮＤ２を形成し、そのダイオードＰＮＤ２に逆方向電圧を印加したときの電気特性を検査することで、Ｐ基板１ｐ内の結晶欠陥を検出する。 - 特許庁
  • To provide a method of assembling a semiconductor device that prevents an electric connection defect due to inaccurate positioning, a position shift etc., between electrode members and reduces the production cost.
    電極部材間の不正確な位置合わせや位置ずれ等に起因する電気的接続不良の発生を防止することができるとともに生産コストを低減することができる半導体装置の組み立て方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a visual inspection device for a semiconductor device that protects adjacent non-defectives against damage by virtue of short-time and precise marking when marking a corresponding obverse surface after inspecting a defect in a reverse surface of a semiconductor substrate.
    半導体基板裏面の欠陥を検査した後、対応する表面にマーキングする際に、短時間かつ精度良くマーキングを行うようにし、隣接する良品に傷を付けることのない半導体素子の外観検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optimized manufacturing method of a silicon wafer which can obtain the silicon wafer in which oxygen doping concentration having low defect density is at least 4 × 10^17/cm^3 in especially near front surface region.
    特に表面近傍の領域において低欠陥密度を有する酸素ドーピング濃度が少なくとも４×１０^１７／ｃｍ^３ であるシリコンウエハを得ることができる、シリコンウエハの最適化された製造方法を提供する。 - 特許庁
  • Reconfiguring the TS signals improves the C/N deterioration to eliminate a defect of applying power amplification to deteriorated signals and retransmitting the amplified deterioration signals even on the occurrence of the deterioration in the signals on a propagation path or from the relaying apparatus.
    ＴＳ信号を再構成することにより、Ｃ／Ｎ劣化を改善し、これにより伝搬路上又は中継装置で信号の劣化が発生しても、これを電力増幅して再送出してしまうような不具合を解消する。 - 特許庁
  • When experiencing a defect in brake, one of the three-way valves 20 and 22 is switched into the second state and the brake system in downstream is exposed to atmosphere, so that a brake actuator 16 or 18 does not operate.
    そして、ブレーキ失陥を体験するときには、三方向バルブ２０及び２２の一方を第２の状態に切り替え、その下流に位置するブレーキ系統を大気開放してブレーキアクチュエータ１６又は１８が作動しないようにする。 - 特許庁
  • The electron beam emitted from an electron gun 11 is throttled narrow and scans a sample formed with a film and detects the defect existing inside the film of the sample by detecting the reflected electrons or the secondary electrons emitted from the scanning point.
    電子銃１１から放出された電子線を細く絞り、膜形成された試料上を走査し、走査点から放出された反射電子又は二次電子を検出して試料の膜内部に存在する欠陥を検出する。 - 特許庁
  • To provide a simple evaluation method for a defect of a fluoride crystal affecting an optical characteristic, a fluorite of high durability and transmittance required for a vacuum-ultraviolet lithography device or the like, and to provide a manufacturing method therefor.
    光学特性に影響を与えるフッ化物結晶の欠陥の簡便な評価法を提供し、特に真空紫外光リソグラフィ装置などに要求される高耐久・高透過率蛍石、及びその製造法を提供する。 - 特許庁
  • To provide electronic parts with bump electrodes and its manufacturing method in which an open defect is adequately reduced in the manufacturing method, while there is provided a surface protecting insulation films having a substantial thickness and bump portions with sufficient heights.
    充分な膜厚の表面保護用絶縁膜および充分な高さのバンプ部を具備しつつ、製造過程においてオープン不良の発生が適切に低減されるバンプ電極付き電子部品、および、その製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • (i) In the case where a consumer contract provides that the business operator is responsible to deliver substitute goods without defects or repair the subject when there exists a latent defect in the material subject of the consumer contract
    一　当該消費者契約において、当該消費者契約の目的物に隠れた瑕疵があるときに、当該事業者が瑕疵のない物をもってこれに代える責任又は当該瑕疵を修補する責任を負うこととされている場合 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide an intelligent ultrasonic flaw detection system by utilizing a neural network that automatically inspects defect of an object to be inspected with the analysis of an ultrasonic pulse echo waveform from the object.
    本発明の課題は、検査対象物からの超音波のパルスエコー波形の分析により、自動的に検査対象物の欠陥等を検査することが可能なニューラルネットワークを利用した知能化超音波探傷システムを提供することにある。 - 特許庁
  • The defect of the military organization of the Taira clan was that their direct troops consisted only of vassals from Ise and Iga and specific bushi from various provinces that were loyal for successive generations, and the majority of the troops were taken from official government calls to enlist.
    平氏の軍制の欠陥は、直属部隊が伊勢・伊賀の重代相伝の家人・「私郎従」と呼ばれる諸国の特定武士だけで、兵の大部分を公権力の発動によって動員する形態を採っていたことにある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • When defect of warp is detected immediately after start operation of the loom, operation of the loom is continued and stop motion of the loom is started after a plurality of picks necessary for separation of the stopping bar from start operation of the loom pass through and the loom is kept in stopping state.
    織機の起動直後、経糸不良が検出された時に、織機の運転を継続し、織機起動時から停止段の離間に必要な複数ピックの経過後に織機の停止動作を開始し、織機を停止状態させる。 - 特許庁
  • The part having been unable to be acquired can efficiently be acquired because decode processing is applied to only the part unable to be acquired by applying again scan processing to the part unable to be decoded due to a temporary operation defect or the like of a scanner.
    スキャナ装置の一時的な動作不良などによって復号化できなかった部分について再度スキャン処理を行うことによって取得できない部分だけを復号化処理するので効率良く取得することができる。 - 特許庁
  • Further, a bead 9 is arranged on the center inside part 2c of one side of the part 2c to be scrap, in drawing, the inside part of the slit is not bent downward, thus, the defect in charging at a succeeding process is not generated.
    また、スクラップとなる部分２ａの一辺の中央部内側部分２ｃ上にビード９を設置して行うと、絞り成形時にスリットの内側部分が下方に折れ曲がらず、後工程での投入不良が発生しない。 - 特許庁
  • To provide a game machine causing no electric connection defect in opening/closing work of a door by surely connecting various types of control boards mutually, and capable of favorably retaining a control state by suppressing the generation of electromagnetic noise.
    各種制御基板同士を確実に接続してドアの開閉作業などに際して電気的接続不良を生じることがなく、電磁ノイズの発生を抑制して制御状態を良好に維持できる遊技機を提供する。 - 特許庁
  • For example, as shown in a microphotograph of Fig. 1, a cleavage surface of a DAST (4-dimethylamino-N-methyl-4-stilbazolium tosylate) crystal has a cleavage surface in a direction parallel to an axis (a) and parallel to a (001) plane and the linear defect exists here.
    例えば、図１の顕微鏡写真に示すように、ＤＡＳＴ結晶の劈開面は、ａ軸と平行方向および（００１）面と平行方向に劈開面を有しており、ここに前記直線状欠陥が存在する。 - 特許庁
  • To attain a defect inspection method for improving inspection sensitivity to a short circuit of the bottom between wirings and detecting even a pattern short circuit which is a miniaturized pattern at the bottom between a plurality of wirings arranged in parallel, by improving inspection sensitivity to a short circuit at the bottom between the wirings.
    配線間の底部のショートに対する検査感度を向上させ、微細化されたパターンであり、平行に並んだ複数の配線間の底部におけるパターンショートであっても検出可能な欠陥検査方法を実現する。 - 特許庁
  • In addition, because for a synthetic resin layer 51 covering a rail 45, the steel ground of the holder 22 is exposed excluding a thread separating portion, the defect that a needle thread is caught in a passage of reeling thread at the time of thread passing and thread is broken can also be prevented.
    さらに、軌条４５を被覆する合成樹脂層５１は、糸分け部を除いて、内かま２２の鋼地が露出しているので、糸越し時に糸道に上糸が引っかかってしまって、糸が切れるといった不具合も防止できる。 - 特許庁
  • Three-dimensional image data are obtained through operation from pieces of two-dimensional image data obtained by picking up an image more than one and the mean value of height, the volume, the plain-view shape, etc., of the cream solder 280 are found to detect a defect in printing.
    複数回の撮像による複数の２次元像データから演算により３次元像データを取得し、クリーム半田３８０の高さの平均値，体積，平面視の印刷形状等を求め、印刷不良を検出する。 - 特許庁
  • To provide an illuminating device and an examining device for glass bottles that permit the optimal positioning of ring illumination for detecting any defect in the top face of a glass bottle mouth and examination of both the top face and the side face at the same examining station.
    ガラス壜の口天面の欠けを検出するためのリング照明を最適な位置に設置でき、口天面と口側面とを同一の検査ステーションで検査できるガラス壜の照明装置及び検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for the inspection of a substrate and a cover glass, in which a defect such as a crack or the like on the substrate and a crack on the cover glass covering the substrate can be inspected without dispersion and without visually inspecting the substrate and the cover glass.
    基板のクラック等の欠陥、及び基板を覆うカバ−ガラスのクラックを、該基板及びカバ−ガラスを目視検査することなく、ばらつきなく検出できる、基板とカバ−ガラスの検査方法及び装置を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing a wafer carrier whose structure is improved so that not only the carrier has an excellent abrasion resistance and a remarkably extended use life but also it avoids occurrence of a defect at edges of a wafer when the wafer is subjected to both-side polishing operation.
    耐摩耗性に優れて使用寿命が画期的に延びるだけでなく、ウェーハの両面研磨時にウェーハのエッジに欠陥が発生しないようにその構造が改善されたウェーハキャリアの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • In the above case, even when a defect (a wear or a deformation) is detected in any of the plurality of contact probes 26, it is enough to replace a unit including the defective contact probe 26 so that the maintainability can be improved as compared to the existing ones.
    この場合、複数のコンタクト・プローブ２６のいずれかに不良（摩耗、変形）が発見されても、該不良のコンタクト・プローブ２６が含まれるユニットのみを交換すれば良いため、従来よりもメンテナンス性を向上させることができる。 - 特許庁
  • The two-dimensional photonic crystal 3 is so disposed that a space is formed between the photonic crystal 3 and an upper face of the core 11, and that the defect waveguide part 96 and the core 11 are parallel one over the other, and are bonded to upper faces of the pedestals 2 at a normal temperature.
    ２次元フォトニック結晶３は、コア１１の上面との間に空間が形成され、かつ欠陥導波路部９６とコア１１が上下に平行に重なるように配置され、台座２の上面に常温接合されている。 - 特許庁
  • The drawing force generating in molding is absorbed by the ductile adhesive 6 and alleviated to prevent distortion, cracks from being caused on the printed layer 3 or defect such as deterioration or the like of image density of the drawn part from being caused.
    成形時に発生する延伸力は、上記延性接着剤６によって吸収緩和され、印刷層３に歪みやひびわれ、あるいは延伸部分の画像濃度の低下等の欠陥が生ずることが防止される。 - 特許庁
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