「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 285 286 287 288 289 290 291 292 293 .... 366 367 次へ＞- To provide a defect analysis method of a silicon single crystal, by which distribution of crystal defects in a silicon single crystal can be easily analyzed even in pulling a silicon single crystal by MCZ (Magnetic Czochralski) method in which a magnetic field is applied in a horizontal direction.
水平方向に磁場を印加するＭＣＺ法によるシリコン単結晶の引上げにおいても、シリコン単結晶の結晶欠陥の分布を容易に解析することが可能なシリコン単結晶の欠陥解析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a colored resin composition which suppresses a reduction in voltage retention of a liquid crystal and display defect due to a material which comes into indirect and direct contact with a liquid crystal layer while satisfying the demand for high transmission and high density.
高透過、高濃度の要求を満たしつつ、液晶層と間接的、直接的に接触する材料に起因する液晶の電圧保持率低下ならびに表示不良を抑制した着色樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - To reduce a charge trouble and to sample only an object without mixing a peripheral base material as the analyzing pretreatment of a minute insulating material sample or the like with a size of about 1 μm becoming the defect cause of a device or the like.
デバイス等の不良原因となる１μmほどの微小絶縁物試料等の分析前処理として、帯電の支障を少なくし、周辺の基材を混合することなく目的物のみをサンプリングすることを目的とする。 - 特許庁 - To solve the problem that when an SOI substrate is used and a trench element isolation structure is applied, an oxide film at a trench corner part becomes thin during oxidation of a trench sidewall to generate a crystal defect reaching a semiconductor layer in an element region owing to stress concentration.
SOI基板を用いてトレンチ素子分離構造を適用した場合、トレンチ側壁の酸化時にトレンチコーナー部の酸化膜が薄膜化し、応力集中により素子領域の半導体層に達する結晶欠陥が発生する。 - 特許庁 - To provide a coating method for reducing ununiformity of coating by separation of a coating liquid and defect by mixing of a foreign matter and forming a coating film of high quality on a substrate even with a simple constitution being excellent in practical use, and a coating apparatus.
実用性に優れた簡易な構成でありながら、塗工液の分離による塗布ムラや異物混入による欠陥を低減し、高品質の塗膜を基材上に形成する塗工方法と塗工装置を提供する。 - 特許庁 - To provide flocculating-caking resistant fly ash in which occurrence of a carrying-out defect accident due to flocculating and caking of fly ash particles can be suppressed by suppressing flocculating-caking of the fly ash by a simple method in which production cost is suppressed without mixing additives to the fly ash from the outside.
フライアッシュに外部からの添加物を混合することなく、製造コストを抑えた簡便な方法により、フライアッシュの凝集固結を抑制することで、居着きを抑制できる耐凝集固結フライアッシュを提供する。 - 特許庁 - To provide an antenna that uses aluminum and is inexpensive and practical by eliminating a pattern precision defect of an aluminum pattern layer, formed by chemical etching, which is caused when the material of a metal pattern layer is changed from copper to inexpensive aluminum.
金属パターン層の材質を銅から安価なアルミニウムに代えると生じる、ケミカルエッチングで形成したアルミニウムパターン層のパターン精度不良を解消して、アルミニウムを用いた安価でしかも実用可能なアンテナを提供する。 - 特許庁 - To provide a substance and a method of forming a hetero structure, which form a hetero structure of a nano scale, with a metal oxide, especially crystalline metal oxide compound, and suppress formation of defect and damage of a crystalline structure and extract characteristics of the metal oxide.
金属酸化物、特に、結晶性金属酸化物を用いるナノスケールのヘテロ構造を、欠陥の形成や結晶構造の損傷を抑制し、該金属酸化物の特性を引き出す物質とその製造法を得ること目的とする。 - 特許庁 - To provide a polyurethane urea resin adhesive that has a moderate adhesion power which the conventional polyurethane adhesives could never attain, by improving the defect, the poor removableness, of an acrylic resin adhesive.
本発明はアクリル樹脂系粘着剤の再剥離性の不足という欠点を改善し、従来のポリウレタン樹脂系粘着剤では達成できなかった中粘着力を有するポリウレタンウレア樹脂粘着剤を提供するものである。 - 特許庁 - For example, when linear defective patterns 1, 2 and cursor patterns 3, 4 are superimposed, a linear defect is easily distinguished from the cursor or the background picture because the linear defective pattern is superimposed through parts where the cursor pattern is cut off.
例えば、線欠陥パターン１、２とカーソルパターン３，４を重ね合わせたときに、カーソルパターンが切れている部分を通して、線欠陥パターンを重ね合わせることができるために、線欠陥とカーソルまたは背景画面との区別がつきやすい。 - 特許庁 - To provide a bonding SOI wafer manufacturing method with less defect density in an epitaxial layer in the case where epitaxial growth is performed on a surface of an SOI layer of a bonded wafer manufactured by using an ion implantation peeling method.
イオン注入剥離法を用いて作製した貼り合わせウエーハのＳＯＩ層の表面上にエピタキシャル成長を行った場合に該エピタキシャル層の欠陥密度が少ない貼り合わせＳＯＩウエーハの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To prevent a defect of an organic electroluminescent display device from being caused by contaminations in a laser transfer process by performing dry cleaning to eliminate the contaminations present on a transfer layer on a donor substrate.
乾式洗浄を行い、ドナー基板の転写層上に存在する汚染物を除去することによって、レーザ転写工程中において汚染物による有機電界発光表示装置の欠陥を防止することを目的とする。 - 特許庁 - In a second inspection, the polarized light is rotated by 90° by the same structure, and only the rotated light is passed resultingly through the polarizers as a result of a stress on the inside of the bolt to be image-focused on the camera as a defect.
第２の検査においては、偏光された光が、同じ構造によって９０°回転され、その結果、ボトル内の応力の結果として回転された光のみが、偏光器を通過し、欠陥としてカメラ上に結像する。 - 特許庁 - In printed wiring board wiring inspecting equipment performing wiring inspection of a printed wiring board, nets in the two-dimensional or three-dimensional proximity relation are extracted, and inspection is performed by previously restricting a portion on which shortcircuit defect is apt to be generated.
プリント配線板の布線検査を実施するプリント配線板布線検査装置において、２次元或いは３次元的に近接関係にあるネットを抽出し、短絡不良の発生し易い箇所を予め絞り込み検査する。 - 特許庁 - To facilitate information copying and enhance a defect resulting from a difference of a recording capacity when information is recorded to a recording medium with a large storage capacity and e.g. copied to a recording medium with a small recording capacity.
記憶容量の大きな記録メディアに情報を記録し記録容量の小さな記録メディアに対して例えば情報のコピーを行なう場合、情報のコピーが容易であり記録容量の違いからくる不具合を改善する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for correcting a mask defect which realize the reduction of liquid chemicals for use in washing and the facilitation of discrimination between foreign matters and black defects to thereby realize efficient correction of mask defects with a high reliability.
洗浄に使用する薬液を減少させることができ、かつ、異物および黒欠陥の判定を容易にして、効率的かつ信頼性のあるマスク欠陥修正装置およびマスク欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for producing a solution of resin composition, having high productivity and sufficiently inhibiting contamination of impurities, a possible factor of defect in a production process, to reduce the content of the impurities as much as possible, and an apparatus for production.
生産性が高く、製造過程においてディフェクト要因となり得る異物の混入を十分に抑制することができ、異物含有量を極力低減させて樹脂組成物溶液の製造方法、及び製造装置を提供する。 - 特許庁 - A checking apparatus calculates the degree of a blur of image data of a device pattern of the semiconductor wafer with a CPU 31 in an image processor 3, and corrects the degree of the blur so as to properly detect the defect.
画像処理部３内のＣＰＵ３１により、画像撮像部２で撮像された半導体ウェハのデバイスパターンである画像データのぼけの度合いを計算し、このぼけの度合いを欠陥が適切に検出できるように補正する。 - 特許庁 - To provide a cast slab providing fine solidified-structure without developing internal defect, such as internal crack, center segregation, center porosity, by stably forming solidified nuclei in molten steel containing much carbon, reducing an alloy cost and micronizing the solidified structure.
炭素を多く含む溶鋼中に凝固核を安定して形成し、合金コストを低減し、凝固組織を微細にして内部割れや中心偏析、センターポロシティ等の内部欠陥の無い微細な凝固組織を備えた鋳片を提供する。 - 特許庁 - To provide an active matrix substrate in which the occurrence of destruction caused by short circuit among spare wirings or a first protecting circuit connected between scanning lines adjacent to the spare wiring or signal lines is prevented and the generation of display defect is suppressed.
予備配線同士、あるいは予備配線と隣接する走査線または信号線との間に接続された第１保護回路の短絡破壊を防止し、表示不良の発生を抑えることのできるアクティブマトリクス基板を提供する。 - 特許庁 - To achieve carrier for two-component developer, stably maintaining charging quantity of toner, having a coating layer of carrier favorably coated, and outputting a high image quality image without image defect such as adhesion of carrier over a long period of time.
トナーの帯電量を安定に維持でき、また、キャリアの被覆層が良好にコートされており、長期にわたってキャリア付着等の画像欠陥の少ない高画質画像を出力できる、二成分現像剤用のキャリアを実現する。 - 特許庁 - To provide a method for fabricating a semiconductor device in which the occurrence of crystal defect due to synergistic action of concentration of stress in the vicinity of the STI end of a semiconductor substrate and the occurrence of microdefects caused by ion implantation is suppressed.
半導体基板のＳＴＩ端部近辺での応力集中とイオン注入起因の微少な欠陥の発生との相乗作用による結晶欠陥の発生を抑制する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a wire feeder for a welding torch, a wire feeder that can reduce weld defect by smoothing wire passage for a welding torch and preventing spatter from depositing on a nozzle inner face or a tip outer face at the tip end of the torch.
溶接トーチのワイヤの通過を滑らかにし、またトーチ先端のノズル内面やチップ外面にスパッタが付着するのを防止して溶接不良を減少させることができる溶接トーチのワイヤ供給装置を提供すること。 - 特許庁 - In a high-magnification inspecting step S4, the high-magnification inspecting image of the visual field region is acquired by positioning the position of the stored crystal defect in the visual field region so as to change an objective distance through the use of a high-power objective lens 14b.
高倍率検査ステップＳ４では、高倍率の対物レンズ１４ｂを用いて、記憶された結晶欠陥の位置を視野領域の中に位置させて対物距離を変えて、視野領域の高倍率検査画像を取得する。 - 特許庁 - To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.
メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a MOS type semiconductor device improved in breakdown resistance and having high reliability by suppressing a gain increase of a parasitic transistor caused by photo pattern defect liable to occur due to micronization of a process design rule.
プロセスデザインルールの微細化に伴って発生しやすくなるフォトパターン欠陥に起因する寄生トランジスタのゲイン増大を抑制して破壊耐量を向上させて信頼性の高いＭＯＳ型半導体装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for producing a sputtering target where, in a sputtering film deposition stage using an Nb sputtering target, the frequency in the generation of abnormal discharge causing the trouble in a device, the defect in a product or the like can be reduced.
Ｎｂスパッタリングターゲットを用いたスパッタ成膜工程において、装置トラブルや製品不良等の原因となる異常放電の発生回数を減少させることを可能にしたスパッタリングターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a birch work in which a noble cherry bark can be used without leaving without impairing a value as a commodity due to a defect part generated when a bark is shaved from a denticel part of the cherry bark.
桜皮の皮目部分が皮を削った際に生じる欠落部分によって、商品としての価値を損なうこと無く、また、貴重な桜皮を余す事無く使用できる樺細工の製造方法を提供するものである。 - 特許庁 - To provide an electrophotographic device by which image defect caused by toner melting does not occur even under a severe environment, toner can easily separate from a photoreceptor, so that good cleaning performance can be obtained, and a high quality image can be obtained in an electrophotographic process.
電子写真プロセスにおいて、苛酷な環境下においてもトナー融着による画像欠陥が生じず、また、感光体からトナーが離れやすく良好なクリーニング性が得られ高品質な画像が得られる電子写真装置の提供。 - 特許庁 - In the system, a production plan is prepared at first (S101), and in the case of producing an original film based on the production plan, the thickness and defect data of respective places of the film are simultaneously and automatically collected (S103).
システムにおいて、まず生産計画が作成され（Ｓ１０１）、生産計画に基づいたフィルムの原反の生産が行なわれるときに、同時に自動的にフィルムの各場所における厚みおよび欠点データを収集する（Ｓ１０３）。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a branched tube by which an inner face protrusion as a defect of a low melting point metal filling method excellent in workability is easily removed and the branched tube having an uniform branching property and high quantity is manufactured at a low cost.
加工性に優れた低融点金属充填加工法の欠点である内面突起を容易に除去し、分岐特性の均一な高品質の分岐管を安価に製造することのできる分岐管の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electroplating liquid which suppresses the occurrence of defect of a copper plated layer caused by the dissolution of a seed layer serving as an electrode in the formation of a copper wiring layer by electroplating method, and an electroplating method using the plating liquid.
銅配線層を電解メッキ法で形成する際に電極となるシード層の溶解に起因する銅メッキ層の欠陥の発生を抑制する電解メッキ液及び該メッキ液を用いた電解メッキ方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a polishing pad which exhibits a stable polishing characteristic by securing good dimensional stability, and improves polishing speed and suppresses occurrence of defect caused by a polishing agent after polishing by increasing a water absorption rate.
寸法安定性を良好に確保することにより安定的な研磨特性を発現しつつ、吸水率を高めることにより、研磨速度を向上し、研磨後の被研磨材でのディフェクト発生を低減した研磨パッドを提供すること。 - 特許庁 - In this tape polishing device, the width of the tip of the polishing head 5 is equal to or half of the width of the polishing tape 2, and the tip of the polishing head 5 presses the part equal to or less than one side half of the width of the polishing tape 2 to a projecting defect of a substrate.
このテープ研磨装置では、研磨ヘッド５の先端の幅は研磨テープ２の幅の半分以下であり、研磨ヘッド５の先端は研磨テープ２の幅の片側半分以下の部分を基板の突起欠陥に押し付ける。 - 特許庁 - To provide a positive resist composition which is suitably used for a light source for exposure of ≤160, particularly an F_2 excimer laser beam (157 nm), and more specifically to provide a positive resist composition which exhibits sufficient transmissibility when used for the light source of 157 nm and is improved in line edge roughness, development defect and scum.
１６０ｎｍ以下、具体的にはＦ_２エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源使用時に十分な透過性を示し、且つラインエッジラフネス、現像欠陥、スカム発生が改善されたポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - To take up a sophisticated web that cannot be taken up with a contact roller being press-contacted against a take-up shaft in a multi-shaft turret winder while providing a fine gap between the web and the take-up shaft, so that defect is not caused at winding and quality is not deteriorated.
多軸ターレット巻取機においてコンタクトローラを巻取軸に圧接して巻けない高機能性ウエブに対し、巻取軸との間に微少な隙間を設けながら巻替時に不良を生じることなく、かつ高品質に巻取る。 - 特許庁 - To provide a printing cleaning sheet which keeps a balance of adhesive power and an absorbing amount of a solvent to a request for higher removal performance by solving a defect of a cleaning sheet caused by traditional material characteristics of an adhesive.
従来の粘着剤の材料特性に起因するクリーニングシートの欠点を解消し、より高い除去性能の要求に対して粘着力と溶剤吸収量のバランスを取った印刷用クリーンニングシートを提供する。 - 特許庁 - To provide an idling start/stop device for a vehicle free from malfunction owing to wiring defect and capable of being safely and easily mounted while preventing decrease of brake stepping force caused by engine stop in operation of the device.
車両のアイドリング始動・停止装置において、装置作動時のエンジン停止によるブレーキの踏力低下を防ぎ、かつ配線不良などによる誤動作のない、安全で簡単に取り付けが可能な装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a positive photosensitive composition suitable when an exposure light source at ≤160 nm, in particular, F_2 excimer laser light (at 157 nm) is used, and specifically, to provide a positive photosensitive composition having little development defect.
１６０ｎｍ以下、特にＦ_２エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源の使用に好適なポジ型レジスト組成物を提供することであり、具体的には現像欠陥の少ないポジ型感光性組成物を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a single crystal silicon in an ingot or wafer form, which contains an axially symmetric region in which vacancies are the predominant intrinsic point defect and which is substantially free of agglomerated vacancy intrinsic point defects, and to provide a method of producing the same.
空孔が優勢な真性点欠陥の、凝集空孔真性点欠陥を実質的に有さない軸対称領域を含んで成りインゴットまたはウエハ形態の単結晶シリコン、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Therefore, the developer 16A accompanied by the photosensitive web 12 never contacts with the fixing solution 20A, and a defect such as bleeding or burr at the silver line edge part of the conductive material by local runaway of developing can be suppressed.
このため、感光ウエブ１２に同伴した現像液１６Ａが定着液２０Ａに接触することがなく、現像の局部暴走による導電性材料の銀線エッジ部のにじみ、ギザギザ等の欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device, wherein a joint leak caused by the crystal defect of a semiconductor substrate is suppressed, even when a contact of a one-side-elongated square shape is formed for lower resistance of the contact.
コンタクトの低抵抗化のため、一方向に長い矩形状のコンタクトが形成される場合にも、半導体基板の結晶欠陥に起因した接合リークを抑制することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming device which is prevented from decreasing in its operation rate owing to printing operation disabled by not only an open or short circuit of a temperature detecting circuit itself, but also deterioration of solder in the circuit, a connector defect, etc.
温度検知回路そのもののオープン，ショートのみならず、回路中の半田の劣化、コネクタ不良などの原因でプリント動作をまったく不許可にしてしまうことによる稼働率の低下を防いだ画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To manage a buried pipe sufficiently by surely and directly grasping the occurrence of a defect such as corrosion or a damage of the buried pipe and its generation position, and to perform measurement simply without requiring a load.
埋設管の腐食や損傷等の欠陥の発生、およびその発生位置を確実に直接的に把握して、その埋設管の管理を十分に行うことができ、また測定も労力を要さず簡単に行うことができるようにする。 - 特許庁 - Thus, since the first and the second substrates are adhered with each other before they are conveyed, deviation in a position and the like are not generated and the liquid crystal display panel having satisfactory quality without any image defect and image unevenness can be manufactured.
よって、接着剤により第１基板と第２基板とは搬送前に接着されることから、位置ずれ等が発生せず、画像不良及び画像ムラのない品質良好な液晶表示パネルを製造することができる。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a test mask, having several kinds of transmittances and patterns that have different dimensions at various kind of transmittance, and to provide a method for controlling the detection sensitivity of a defect inspection apparatus that uses the test mask.
数種類の透過率を有し、かつ各々の種類の透過率において寸法の異なるパターンを有するテストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整することを目的とする。 - 特許庁 - To provide the length measurement device of a long-length material capable of accurately measuring the carrying amount of the long-length material, detecting the measurement error of a length measurement disk and preventing the perforating position defect of the long-length material or the like.
長尺材の搬送量を正確に測定するとともに、測長ディスクの測定誤差を検出し得るようにし、長尺材の穿孔位置不良などを未然に防止することができる長尺材の測長装置を提供する。 - 特許庁 - Thereby, visibility of the substrate 1 for the magnetic recording medium is enhanced, sensing of the substrate for the magnetic recording medium by a ray such as a laser light is made easy and detection of a defect and the like is made easy in a surface appearance inspection step.
これにより、磁気記録媒体用基板１の視認性が向上し、レーザ光などの光線による磁気記録媒体用基板の検知が容易になり、さらに、表面外観検査工程において欠陥などの検出が容易になる。 - 特許庁 - Further, a plurality of the polarized-component signals different from each other that are detected by the polarized-light detector are compared in a plurality of chips or in an image in a predetermined region, and then a statistical outlier is inspected as a defect in the sample.
更に、上記偏光検出部で検出される互いに異なる複数の偏光成分信号を複数チップ間あるいは所定領域の画像内で比較して、統計的な外れ値を試料上の欠陥として検査する。 - 特許庁 - To provide a magnetic card reader and a magnetic card defect detection method capable of detecting that a magnetic card is defective when a folded or cracked magnetic card or a magnetic card to which a deposit adheres is used by a user.
折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが不良であることを検出できる磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法を提供する。 - 特許庁
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