「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 281 282 283 284 285 286 287 288 289 .... 366 367 次へ＞- To provide a method of manufacturing an inkjet recording medium free from a defect such as a crack on a surface of an ink reception layer, and having a satisfactory coating layer strength, and the inkjet recording medium manufactured by the method.
本発明は、インク受理層の表面に亀裂等の欠陥がなく、且つ良好な塗層強度を有するインクジェット記録媒体の製造方法および、本製造方法で製造するインクジェット記録媒体を提供することである。 - 特許庁 - To provide a room temperature curable type heat-conductive silicone rubber composition improving conventional defect, capable of suppressing generation of a hydrogen gas from a heat-conductive filler, excellent in preservability and giving a cured article of low hardness after curing.
従来の欠点を改良し、熱伝導性充填剤から発生する水素ガスを抑えることができ、保存性に優れており、硬化後は低硬度の硬化物を与える室温硬化型熱伝導性シリコーンゴム組成物を提供する。 - 特許庁 - Here, the symbols are plotted on the wafer maps in a place associated with the data points so as to provide graphic drawing of at least one defect type existing on the wafer corresponding to each wafer map.
ここで、プロットされるシンボルは、各ウェーハマップに対応するウェーハ上に存在する少なくとも１つの欠陥タイプのグラフィック描写を与えることができるように、データ点が関連付けられる場所のウェーハマップ上にプロットされる。 - 特許庁 - The cumulative profile data of each line is compared with the threshold level determined from the cumulative profile data of the line and thereby the pixel defect of the line unit relating to the line in the (x) direction and/or the (y) direction of the TFT substrate is detected.
各ラインの累積プロファイルデータを、そのラインの累積プロファイルデータから求めたしきい値と比較することによって、ＴＦＴ基板のｘ方向及び／又はｙ方向のラインについてライン単位で画素欠陥を検出する。 - 特許庁 - To suppress the lowering of a working rate of a press machine by avoiding the stoppage of the press machine in diagnosing and to prevent generation of defect parts in a large quantity by quickly finding the abnormality generated in press forming.
プレス成形中に発生した異常を速やかに発見できるようにして、不良品の大量発生を防止するとともに、診断時にプレス機械を停止させないようにしてプレス機械の稼働率の低下を抑制する。 - 特許庁 - Addresses or the like of finally obtained defective pixels are stored in a non-volatile memory 300, and defect correction processing is executed based on information of defective pixels stored in the non-volatile memory when an image is actually outputted.
そして、最終的に得た欠陥画素のアドレス等を不揮発性メモリ３００に記憶させ、実際の画像出力時に、この不揮発性メモリ３００に記憶した欠陥画素の情報に基づいて欠陥補正処理を実行する。 - 特許庁 - To suppress both substrate floating effect and short channel effect during FD operation of an MOSFET fabricated in an SOI substrate; and also to suppress increase in parasitic resistance, defect due to ion implantation, and lowering of threshold voltage.
ＳＯＩ基板に作り込まれたＭＯＳＦＥＴをＦＤ動作させる際に、基板浮遊効果と短チャネル効果との両方を抑制し、更に、寄生抵抗の増大、イオン注入による欠陥、及び閾値電圧の低下についても抑制する。 - 特許庁 - To suppress the increase in power consumption and image degradation caused by writing defect when an image display device is driven by a system in which the cell that is once written in a subfield group is continuously discharge sustained in a succeeding subfield.
画像表示装置を、サブフィールド群内で一度書き込まれたセルでは後続のサブフィールドでも連続して放電維持を行う方式で駆動する際に、消費電力を抑えながら、書き込み不良による画像劣化を抑える。 - 特許庁 - Then, noise removal processing by means of moving average is given to the generated detection signal by using an LPF to perform signal emphasis on a defect signal by giving integration difference processing and cross-correlation processing to the processed signal.
次いで、生成された検出信号に対し、移動平均によるＬＰＦを用いてノイズ除去処理を施し、その処理信号に積算差分処理及び相互相関処理を施して欠陥信号の信号強調を行う。 - 特許庁 - When existence of a defect is inspected by applying driving voltage to each pixel 26 of the array substrate, voltage higher than usually driving voltage is applied to the first electrode of the second thin film transistor 53 which is a constituent of the SRAM driving circuit 50.
アレイ基板の各画素２６に駆動電圧を印加して欠陥の有無を検査する際、ＳＲＡＭ駆動回路５０を構成する第２薄膜トランジスタ５３の第１電極に、通常駆動用の電圧よりも高い電圧を印加する。 - 特許庁 - Furthermore, by operating the element drive transistor in its saturation region, a dark point defect due to characteristics fluctuation of the element drive transistor is detected based on the cathode current and the emission luminance when the EL element is made an emission level.
また素子駆動トランジスタをその飽和領域で動作させてＥＬ素子を発光レベルとしたときのカソード電流や発光輝度に基づくことで素子駆動トランジスタの特性ばらつきに起因した暗点欠陥を検出する。 - 特許庁 - The chip selection circuit activates defect detecting and repairing circuits, such as a repair circuit or a test time shortening circuit, when at least one signal out of output signals of the plurality of data input buffer circuits is in a first logic state.
チップ選択回路は複数のデータ入力バッファ回路の出力信号のうち少なくとも一つが第１論理状態の時、リペア回路またはテストタイム短縮回路のような不良検証及び改善回路を活性化させる。 - 特許庁 - To provide a gravure platemaking apparatus for producing a gravure plate for high-quality gravure printing, by which cells formed in a gravure plate to be used for gravure printing can express smooth gradation and the plate has high register accuracy and no defect by dust or the like.
グラビア印刷に用いるグラビア版のセルの形成が滑らかな階調が表現でき、且つ、高い見当精度とゴミなどによる欠陥の無い高品質のグラビア印刷用のグラビア版を作製するグラビア製版装置を提供する。 - 特許庁 - To enable an inspection to check whether defect such as a flaw exists or not on a synthetic resin film main body under a display to be easily performed in a synthetic resin film for packaging on which the display is printed.
表示が印刷されてなる包装用合成樹脂製フィルムにおいて、表示下の合成樹脂製フィルム本体に傷などの欠陥が存在するか否かを容易に検査しうる包装用合成樹脂製フィルムを提供する。 - 特許庁 - Thus, error correction performance can be improved by monitoring the gain variations of the VGA 310 to correctly find a position where a defect has occurred, and executing error correction by RSC using this.
本発明によれば、ＶＧＡ３１０の利得変動量をモニタリングして欠陥が発生した位置を正確に探し、それを利用してＲＳＣによるエラー訂正を実行することによって、エラー訂正性能を向上させることができる。 - 特許庁 - To desirably provide a mold for molding a molding rubber and a method for manufacturing a molding rubber molded article made by using the mold effective to prevent a fault due to a defect or the like particularly in the case of manufacturing the molding rubber molded article of a large capacity.
特に大容量のモールドゴム成型品を製造する際の欠損等による不良の防止にきわめて有効であるモールドゴム成型用金型と、これを用いてなるモールドゴム成型品の製造方法の提供が望まれている。 - 特許庁 - In the manufacturing method of the diamond electronic device, a site which becomes a nucleus of a crystal defect present on the side of one surface 10 of a diamond substrate can be terminated by boron on forming P^+diamond semiconductor layer 11.
このダイヤモンド電子素子の製造方法では、Ｐ^＋ダイヤモンド半導体層１１の形成の際、ダイヤモンド基板１０の一面１０側に存在する結晶欠陥の核となるサイトをホウ素によって終端させることができる。 - 特許庁 - Also, the thermal influence on the display panel 1 including glass as a principal component having the characteristic of a small thermal conductivity is little because of the short time in heating time and therefore, the joining can be performed without the breakage and defect of the display panel 1.
また、加熱時間が短時間であるため熱伝導率が小さいという特性を持つガラスを主成分とするディスプレイパネル１への熱影響も少ないため、ディスプレイパネル１が破損、不良となることなく接合できる。 - 特許庁 - By employing the method of forming the shoulder under the condition of applying a transverse magnetic field at predetermined intensity, the occurrence of dislocation in the step of forming the shoulder can be suppressed and a silicon single crystal having no defect can be grown with high production efficiency.
この肩形成方法は、所定強さの横磁場を印加した条件下で適用すれば、肩形成工程での有転位化を抑制し、欠陥のないシリコン単結晶を高い生産効率で育成することができる。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus made inexpensive, having simple constitution, realizing the agreement of the relative parallelism and inclination of a plurality of image carriers, guaranteeing parallelism with the laser scanning line of an exposure device and preventing an image defect such as color slurring from occurring.
低コストかつ、簡単な構成で、複数の像担持体の相対的な平行と傾きを合わせ、かつ、露光装置のレーザー走査線との平行も保証でき、色ずれ等の画像不良が発生しない画像形成装置の提供。 - 特許庁 - The high-quality polycrystalline semiconductor film can control a grain boundary, a grain size, and a crystal orientation and can reduce the roughness of a film generated in the process of crystallization, and a crystal defect.
本願発明によれば、絶縁体基板上に、粒界、粒径、結晶方位を制御でき、結晶化の仮定で生じる膜のラフネスと結晶欠陥を低減した高品質の多結晶半導体膜を有する半導体装置を得ることが出来る。 - 特許庁 - To provide a defect inspection apparatus for speeding up inspection with high resolution for a technique in inspecting defects, foreign materials, residues, and steps, etc., using electron beam for a pattern on a wafer in a manufacturing process for a semiconductor device.
半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a developing device in which such a defect that density irregularities occur on an output image is reduced because toner is sufficiently stirred and mixed into developer in a developer circulation path and to provide a process cartridge and an image forming apparatus.
現像剤の循環経路にてトナーが現像剤中に充分に撹拌・混合されて、出力画像上に濃度ムラが発生する不具合が軽減される、現像装置、プロセスカートリッジ、及び、画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for heating a steel slab, which can prevent surface defects on the steel slab, to solve such problems as crack generation on the steel slab and defect generation on the product surface.
本発明は、鋼片の表面割れを起こし、製品表面に欠陥を生じるという問題を解決するためになされたもので、鋼片の表面の欠陥を防止できる鋼片の加熱方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an oil feeder of a valve gear capable of supplying an appropriate quantity of lubricating oil for a rolling bearing and cam nose on a cam shaft while eliminating concern for lubricating defect due to plugging of a foreign substance.
異物の詰まりに起因する潤滑不良の懸念を排除しつつ、カム軸上の転がり軸受及びカムノーズに対して適切な量の潤滑油を供給することが可能な動弁機構の給油装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for enabling visual, intuitive recognition of the behavior of bulk micro defect (BMD) by displaying the behavior of BMD by computer simulation as the image represented by the infra-red tomographic method.
コンピュータシミュレーションによって得られる酸素析出物（ＢＭＤ）の挙動を、赤外線トモグラフ法で得られる画像イメージで表示することによって、ＢＭＤの挙動を直感的、視覚的に理解することを可能にする方法を提供する。 - 特許庁 - Hereby, the ratio of reflected light from the auxiliary member 2 for observation in the light in the specific wavelength band received by the imaging part 1 is reduced, and an intensity change of the reflected light caused by the defect of the optically transparent film A becomes clear.
このため、撮像部１で受光される特定波長域の光における、観察用補助部材２からの反射光の割合が低減し、光透過性フィルムＡの欠陥に起因する反射光の強度変化が明りょうになる。 - 特許庁 - To provide a nanoimprint stamper having novel structure capable of following simultaneously both a warpage and a surface protrusion (foreign matter) different in shape wavelengths of a substrate to be transferred, and allowing uniform transfer of reduced defect.
被転写基板の形状の波長が大きく異なる反り及び表面突起（異物）の双方に同時に追従し、欠陥が少なく均一な転写を行うことができる新規な構造を有するナノインプリント用スタンパを提供する。 - 特許庁 - The difference detection circuit 11 compares two image signals and if the difference is larger than a specified value, a defect judging section 12 judges the chip defective based on the difference signal and the optimal threshold of a threshold register 14.
差分検出回路１１では、２つの画像信号を比較し、その差が一定以上であるときには、その差分信号としきい値レジスタ１４の最適しきい値とに基づいて、欠陥判定部１２によって欠陥を判定する。 - 特許庁 - This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.
レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁 - The result of data processing is inputted/processed in a controller 7 and is tracked synchronizing with the pulse from a pulse generator 9 connected to a measuring roll 8, marking is done to a part where a defect exists by a marking device 12.
データ処理の結果は制御装置７に入力されて処理され、メジャリングロール８に結合されたパルス発信器９からのパルスに同期してトラッキングされ、マーキング装置１２により、欠陥が存在する部分にマーキングが施される。 - 特許庁 - To provide a method for recovering a defect of a thin film photoelectric conversion module and a method for manufacturing the thin film photoelectric conversion module capable of manufacturing the conversion module sufficiently improved in its module output.
モジュール出力が十分に向上された薄膜光電変換モジュールを製造することを可能とする薄膜光電変換モジュールの欠陥修復方法及び薄膜光電変換モジュールの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of producing a porous support/zeolite membrane composite which can satisfy both of practically sufficient processing amount and separation performance in separation and concentration by means of an inorganic material separation membrane and has a dense zeolite membrane without a defect.
無機材料分離膜による分離、濃縮において、実用上十分な処理量と分離性能を両立する、欠陥のない緻密なゼオライト膜を有する多孔質支持体−ゼオライト膜複合体の製造方法などを提供する。 - 特許庁 - To provide a method of inspecting surface defects and an apparatus for inspecting surface defects for detecting defects stably, even when an image of an object to be inspected includes constant, periodic variations in density, and there is a defect therein.
被検査物を撮像した画像が、ある一定の周期的な濃淡を有し、その中に欠陥があるような場合でも、欠陥を安定して検出できる表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sensitivity table data creation device which creates sensitivity data required for creating a sensitivity table giving proper defect detection ratio of a product mask, a mask inspection system and a sensitivity table data creation method.
製品マスクの欠陥検出率を適正に把握することが可能な感度表を作成するために必要な感度表データを作成する感度表データ作成装置、マスク検査システム及び感度表データ作成方法を提供する。 - 特許庁 - Due to the formation of the oxidation product 34, the leakage current 30 becomes difficult to flow along the crystal defect 32, and the leakage current 30 flowing between a compound semiconductor substrate 6 and a metal film 2 can be reduced.
酸化物３４が形成されることによって、リーク電流３０が結晶欠陥３２に沿って流れにくくなり、化合物半導体基板６と金属膜２の間に流れるリーク電流３０を低下させることができる。 - 特許庁 - To provide a III-V compound semiconductor crystal whose hole type defect density is low and which is free from composition separation, and a semiconductor device and a semiconductor laser having good electric conductivity, a light emission property and a rapid modulation property.
空孔型欠陥密度が小さく、かつ組成分離のないIII−Ｖ族化合物半導体結晶、並びに良好な電気伝導性、発光特性及び高速変調特性を有する半導体デバイス及び半導体レーザの提供。 - 特許庁 - According to such a liquid crystal device 1, connection resistance in upper and lower conduction terminals electrically connecting the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 to each other can be eliminated and reduction of a conduction defect is made possible.
このような液晶装置１によれば、ＴＦＴアレイ基板１０及び対向基板２０間を電気的に接続する上下導通端子における接続抵抗をなくすことができ、及び導通不良の低減が可能となる。 - 特許庁 - A transmission circuit 61 transmits a test signal for a defect detection of a mobile telephone 21, and a reception circuit 64 receives the transmitted test signal through a reception antenna 83, a coaxial connector 82, and a coaxial connector 47.
送信回路６１は、携帯電話機２１の不具合検出用の試験用信号を送信し、受信回路６４は、送信された試験用信号を、受信アンテナ８３、同軸コネクタ８２及び同軸コネクタ４７を介して受信する。 - 特許庁 - To easily and visually detect a defect on the order of ppm and the beginning of discontinuity generated in the inner electrode of an FPC, that electrically connects an external circuit to display cells.
外部回路と表示セルとを電気的に接続するＦＰＣにおいて、その内部電極に生じたｐｐｍオーダーの不良の検出及び断線が発生し始めていることの検出を目視で容易に行うことができるようにする。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which reliably prevents an image defect caused by local abnormal discharge, prevents decrease in smoothness of a transfer paper sheet and forms a high-quality image without a void and transfer irregularity.
局所的な異常放電に起因する画像欠陥を確実に防止すると共に、転写紙の平滑度の低下を防止して、白ヌケや転写ムラ等のない高品位な画像が形成できる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an integrated semiconductor laser device which can suppress an defect that a relative positional relation of light emitting points included in respective laser elements in the integrated semiconductor laser device may be deviated in each chip.
集積型の半導体レーザ装置において、各々のレーザ素子が有する発光点の相対的な位置関係が、チップ毎にばらつくのを抑制することが可能な集積型半導体レーザ装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical scanning device and an image forming apparatus for effectively blocking reflected light produced at a scanning lens by incidence of a light beam emitted to a surface to be scanned and preventing occurrence of image defect caused by the reflected light.
被走査面に配光されるビーム光の入射により走査レンズで発生する反射光を効果的に遮光し、反射光による画像不良の発生を防止可能な光学走査装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a heat treatment method and a heat treatment apparatus that can activate an implanted impurity while suppressing diffusion of the impurity, and can recover a crystal defect introduced during the impurity implantation.
注入された不純物の拡散を抑制しつつ活性化を行うことができ、しかも不純物注入時に導入された結晶欠陥の回復をも行うことができる熱処理方法および熱処理装置を提供する。 - 特許庁 - To suppress an image defect during transfer caused by AC voltage transmitted from a fixing nip to a transfer nip, while self bias is held by at least either of a pair of rotating bodies forming the fixing nip.
定着ニップ部の一対の回転体の少なくとも一方にセルフバイアスを保持させつつ、定着ニップ部から転写ニップ部に伝達される交流電圧に起因する転写時の画像不良を抑制することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a pattern evaluation method and a pattern evaluation device, capable of matching an objective pattern to a reference pattern with high accuracy in the pattern measurement using an SEM image, even when the pattern of the measurement object includes a relatively large defect.
ＳＥＭ画像を利用したパターン計測において、計測対象のパターンに比較的大きな欠陥が含まれている場合でも、基準パターンとのマッチングを高精度に実施することができるパターン評価方法及びパターン評価装置。 - 特許庁 - To provide an index paper piece such as insertion paper capable of confirming whether insertion paper exists even if the insertion paper inserted between flat Japanese writing paper having a defect such as breakage is sandwiched and buried in the flat Japanese writing paper so that it cannot be visually recognized from the outside.
破損等の欠陥部を有する平判紙に挿入付された差し紙が平判紙に挟まれて埋もれてしまって外側から視認できなくなった場合でも、存否を確認でき差し紙等の指標用紙片を提供する。 - 特許庁 - To provide a light curable composition having light curability, usable for lithography, exhibiting good sensitivity and scarcely developing problems such as a pattern form defect after development and corrosion, and to provide a cured product.
本発明の目的は、光硬化性を有しリソグラフィー可能であり、かつ良好な感度を有し、現像工程後のパターン形状不良や、腐食などの問題を生じにくい光硬化性組成物および硬化物を提供することである。 - 特許庁 - To provide an image forming method by which a coating film having good curability in a deep portion without a pattern defect and having high contrast and high image stability can be formed while preventing a developing solution from directly contacting a substrate.
深部硬化性が良好でパターンの欠損がなく、高いコントラスト性と高い画像安定性を有する塗膜を、現像液が基材に直接触れることなく形成することが可能な画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection system capable of highly accurately determining correlation between the distribution pattern of defects in a semiconductor wafer found in a defect inspection, and the distribution pattern in a defective semiconductor chip found in an electric test, in a short time.
欠陥検査で発見された半導体ウエハの欠陥の分布パターンと、電気的試験で発見された不良半導体チップの分布パターンとの間の相関関係を、極めて高い確度をもって、より高精度に短時間に行う。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
