「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 279 280 281 282 283 284 285 286 287 .... 366 367 次へ＞- As the defect is reliably transcribed into the buried oxide layer in the thermal oxide step AT12 by this inspecting method ST10, it is possible to evaluate even contained defects which cannot be detected and evaluated by a conventional inspecting method.
本検査方法ＳＴ１０によれば、熱酸化ステップＳＴ１２によって欠陥を埋め込み酸化層に確実に転写するので、従来の検査方法では検出・評価できない内包欠陥をも評価することができる。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal panel inspection apparatus capable of discriminating the video of dust sticking to the surfaces on both sides of a liquid crystal panel and the defect inside the liquid crystal panel in an inspection apparatus for inspecting the liquid crystal panel in a state having no polarizing plate by using an imaging apparatus.
偏光板が無い状態の液晶パネルを撮像装置を用いて検査する装置において，液晶パネルの両側の表面に付着したゴミの映像と，液晶パネルの内部の欠陥とを区別できるようにする。 - 特許庁 - To provide a coating method which enables a good and stable coating not imparting a flaw defect to a film when the film is coated with a coating solution with an applicator roll which is rotated in a direction opposite to the running direction of the film in a film forming process.
製膜工程において走行するフィルムの走行方向と逆方向に回転するアプリケーターロールで、フィルムに塗液を塗布する際、フィルムに傷欠点がない、良好で安定な塗布を行える塗布方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical disk having high reliability by preventing prepit signals from generating noise by forming the prepit around the inner peripheral side wall surfaces of land regions in order to avert the molding defect which arises on the inner peripheral side wall surfaces.
ランド領域の内周側壁面に生じる成形不良を回避すべく、外周側壁面を中心にプリピットを形成することで、プリピット信号のノイズ発生を防止して信頼性の高い光ディスクを提供する。 - 特許庁 - A correcting device 1 comprise a pattern correcting mechanism 2, image detecting mechanism 3, drive part 6, drive-part control part 7, defect discriminating circuit 11, pattern comparison circuit 12, matching identifying circuit 13, and correction pattern control circuit 14, etc.
修正装置１は、パターン修正機構２、画像検出機構３、駆動部６、駆動部制御部７、欠陥選別回路１１、パターン比較回路１２、一致指摘回路１３、および修正パターン制御回路１４等を備えている。 - 特許庁 - In setting the characteristics parameters, the leak current due to the internal leak in the TFT is increased by setting the voltage level and/or the timing of application, and any internal defect in the TFT is detected with the increased leak current.
特性パラメータの設定において電圧値および／又は印加時期を設定することによってＴＦＴの内部リークによるリーク電流を増加させ、増加させたリーク電流によってＴＦＴの内部欠陥を検出する。 - 特許庁 - The defect detecting device 40 attaches an AE sensor 41 for detecting the defects of the gear part 33 on the gear to be inspected 16 provided with the gear part 33, having a large number of engaging teeth and formed of a synthetic resin material.
損傷検出装置４０は、多数の噛合歯を有し且つ合成樹脂材により形成されたギヤ部３３を備えている被検歯車１６に、当該ギヤ部３３の損傷を検出するためのＡＥセンサ４１を取り付けてなる。 - 特許庁 - The focus of an imaging means 3 is passed through a preform 2 to be aligned with a dot pattern 4, and a defect 12A in the preform 2 is detected through distortion in the dot pattern 4 inside an image 10B of the preform 2 imaged by the imaging means 3.
撮像手段３の焦点をプリフォーム２を透過させてドットパターン４に合わせ、撮像手段３により撮像されるプリフォーム２の画像１０Ｂ内のドットパターン４の歪みによりプリフォーム２の欠陥１２Ａを検出する。 - 特許庁 - To provide an image forming device and a process cartridge that output a satisfactory image free of an image defect, such as retransfer ghost, with an inexpensive configuration in a color cleaner-less system having a plurality of image forming stations.
複数の画像形成ステーションを有するカラークリーナレスシステムにおいて、安価な構成で、再転写ゴースト等の画像弊害がなく良好な画像を出力することが可能な画像形成装置及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁 - The vicinity of crack type defect 10 caused on a welded material 9 of reactor structure irradiated by neutron is cut (a), a new welding material 12 is provided to the cut surface (a) and contact surfaces are welded with a laser welder 13.
中性子照射を受けた原子炉構造物の被溶接部材９に生じたき裂状の欠陥10近傍を切断ａし、切断ａ面に新たな被溶接部材12を設けて、レーザ溶接機13により接合面を溶接して接合する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a honeycomb formed body and drying equipment thereof which are capable of drying the honeycomb formed body having a cell wall thickness of 0.125 mm or below, without causing a defect such as a crack or a wrinkle in the outer peripheral skin part.
セル壁厚さが０．１２５ｍｍ以下のハニカム成形体を，外周スキン部に割れ，しわ等の欠陥を生じさせることなく乾燥することができるハニカム成形体の製造方法及び乾燥装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a detecting method for a crystalline defect with high measurement sensitivity in which even a microdefect such as a small BMD formed nearby a wafer surface after a low-temperature process as an advanced device process can be measured.
先端デバイスプロセスである低温プロセス後のウェーハ表面近傍に形成される小さなＢＭＤなど微小な欠陥であっても測定することができる測定感度の高い結晶欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide soldering equipment which can easily obtain an excellent soldering condition, avoiding the cause of the occurrence of the defect of a work to be soldered in which a metal substrate having a high heat dissipation property is superposed with a printed-wiring substrate on which an electronic component is mounted.
放熱性が高い金属基板と、電子部品が実装されたプリント配線基板とを重ね合わせた被はんだ付けワークの不良発生の原因を回避しながら良好なはんだ付け条件を容易に得ることができる。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method for an axially symmetric object, which permits handy and quick inspection of defects such as chips or burrs with a higher detection accuracy as caused at a corner part, in the inspection of products with the aim of guaranteeing the quality thereof.
品質保証を目的とした製品検査において、角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を、高検出精度、簡便、かつ迅速に検査することができる軸対称物体の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of fabricating a high-k gate insulating film and a silicon oxide film on the high-k gate insulating film whereby a defect and trapping are avoided that cause a short circuit between doped silicon gates on the high-k gate insulating film.
高ｋゲート絶縁膜上のドープされたシリコンゲート間に短絡をもたらす欠陥、トラッピングを回避する、前記高ｋゲート絶縁膜および前記高ｋゲート絶縁膜上のシリコンオキサイド膜の製造法を提供する。 - 特許庁 - To provide a printed-state inspection device that picks up an image formed of reflected light from a printed surface by projecting light upon the printed surface, detects a printing defect from the obtained image, and is improved in inspection efficiency.
印刷面に光を照射し、その反射光により形成される像を撮像し、得られた画像から印刷の欠陥を検出する印刷状態検査装置であって、検査効率の向上を図ったものを提供する。 - 特許庁 - In a manufacturing method of a lithography original, a continuous pattern of periodic patterns 4 which appear on a circuit pattern 3 is formed over the substantially whole area of a substrate, and defect inspection is performed to detect defects in the continuous pattern.
実施の形態のリソグラフィ原版の製造方法は、回路パターン３に表れる周期的パターン４を連続させた連続パターンを基板の略全面にわたって形成し、連続パターンの欠陥を検出する欠陥検査を行う。 - 特許庁 - To provide a terminal strip for a panel, which copes with the xDSL technology by utilizing preceding wires and panels, easily connects a telephone set to a phone connector and avoids a defect caused by mis-connection of the phone.
先行配線および盤を利用してｘＤＳＬ技術に対応でき、且つ電話用コネクタへの電話機の接続が容易で電話機の誤接続に起因した不具合を回避することができる盤用端子台を提供する。 - 特許庁 - FCl acts as an etching species and selectively etches only the nitrided film 20, and removes an organic matter 14 and a metal 16 sticking to a surface of the oxide film 12 and a defect 18 formed in a surface of the oxide film 12.
ＦＣｌがエッチング種として作用し、窒化膜２０のみを選択的にエッチングし、酸化膜１２の表面に付着した有機物質１２、金属１４及び酸化膜１２の表面に形成された欠陥１６を除去する。 - 特許庁 - To provide an image forming device equipped with a contact electrifying device where the wear of an image carrier is restrained to be little a faulty electrification due to soiling by toner is hardly caused and an image quality defect in a horizontal stripe state is prevented.
像担持体の磨耗が少なくトナー汚染による帯電不良の発生が少なく横筋状画質欠陥の発生が防止された接触帯電装置を備えた画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a laser beam welding method for producing a shape steel, such as T shape or H shape, obtaining sufficiently stable penetration by eliminating deformed defect, such as bending caused by the welding, while keeping the merit of the laser beam welding method.
レーザ溶接方法の利点を維持しつつ、溶接による曲がりなどの変形欠点を解消し、十分に安定した溶け込みが得られるＴ形もしくはＨ形のような形鋼を製造するレーザ溶接方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent formation of cracks or the like in a bent part of a resin-made intermediate plate, and formation of power generation defect due to disturbance or the like of gas distribution flow in power generation operation in a fuel cell having three-layered flat separator.
３層構造のフラットセパレータを備えた燃料電池において、樹脂製中間プレートの屈曲部における割れ等の発生を防止し、発電動作時のガス配流の乱れ等による発電不良の発生を防止する。 - 特許庁 - Consequently, the flow rate of the gas which is made to flow between the substrate 106 and the supporting stand 107 becomes large and substrate processing defect is not generated, thus realizing effect of good productivity since cleaning can be carried out effectively.
これにより、基板１０６とその支持台１０７間に流すガスのリーク流量が大きくなって、基板処理不良を発生することがなくなり、また効率的にクリーニングが実施できるので生産性に優れた効果を発揮する。 - 特許庁 - To provide a toothbrush, wherein the production time and a defect generation rate are drastically reduced by simplifying steps and in addition, needle-like bristles are implanted using non-polyester-based bristles which can not be conventionally applied as materials.
工程の単純化によって生産時間と不良発生率を大幅減らすことができるうえ、従来では適用不可能であった非ポリエステル系の刷毛を材料として使用して針状毛が植毛された歯ブラシを提供すること。 - 特許庁 - To provide a stretch label which obviates the occurrence of a mounting defect on a container in spite of a reduction in the thickness of a label and obviates the occurrence of wrinkling in the label even when the label is subjected to a heating sterilization treatment after mounting at the container.
ラベル厚さを薄くした場合においても、容器への装着不良を生じることがなく、かつ容器への装着後に加熱殺菌処理が施されてもラベルにしわが発生することのないストレッチラベルを提供する。 - 特許庁 - To appropriately perform an image processing using an OB (optical black region) signal in a poststage as a reference without breaking by performing signal correction of a flaw defect in an optical black region in an image pickup section carefully and finely.
本発明は、撮像部のオプチカルブラック領域のキズ欠陥を丁寧かつ綺麗に信号補正することにより、後段におけるＯＢ信号を基準にした画像処理を破綻なく、かつ適切に実施できるようにすることを目的とする。 - 特許庁 - As for feature quantities f1-f50 of a first group, a learning model A is formed, by generating a plurality of partial feature quantity spaces for associating the group of values of the feature quantities f1-f50 of the first group with defect types "C1" and "C2".
第１群の特徴量ｆ１〜ｆ５０について、第１群の特徴量ｆ１〜ｆ５０の値の組と疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルＡを形成する。 - 特許庁 - To suppress a membrane thickness defect area and non-uniformity of coating thickness at a start end of coating to be very small and enable to carry out high precision coating which is required at the time of manufacturing a liquid crystal color filter.
塗布開始端部での膜厚不良域および塗布厚のむらを極めて小さく抑制し、液晶用カラーフィルタの製造時に要求されるような高精度塗布を行うことを可能とする塗工用ダイヘッドを提供する。 - 特許庁 - To provide a drying method of a coating film, in which the defect of the coating film is prevented from occurring because a solvent is dew-condensed on the surface of a trough and the dew-condensed solvent is formed into droplets and deposited on the coating film.
塗布膜の乾燥方法において、溶剤が樋表面に結露し、この結露した溶剤が滴となり塗布膜に付着してしまうことで塗布膜の欠陥が生じるのを防ぐことができる塗布膜の乾燥方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for manufacturing a functional film, preventing the deterioration of flatness of a coating film which causes a defect such as crack/omission of an inorganic film when forming the inorganic film on the coating film with a vacuum film-forming apparatus.
真空成膜装置によりコーティング膜上に無機膜を成膜する際に、無機膜の割れ／抜け等の欠陥を引き起こすコーティング膜の平滑性悪化を防止する機能性フィルムの製造方法、及び製造装置を提供する。 - 特許庁 - Among 66 columns of memory cell units 40 in one line, 64 columns are used as data units, 1 column is used as a redundancy unit, and 1 column is used as a defect specifying unit for storing data to specify a defective unit in the line.
１行中の６６列のメモリセルユニット４０のうち、６４列がデータ用ユニット、１列が冗長用ユニット、１列が行内の欠陥ユニットを特定するデータを記憶するための欠陥特定用ユニットとして用いられる。 - 特許庁 - Thereby, the target patterns AM and the like become irrelevant to an electric field in the vacuum vessel; influence of charge on an electron orbit or discharge generation is prevented; and this high-reliability image display device without causing a display defect is provided.
これにより、ターゲットパターンＡＭ等は真空容器内部の電界とは無関係となり、帯電による電子軌道への影響、あるいは放電発生が防止され、表示欠陥の発生のない高信頼性の画像表示装置が得られる。 - 特許庁 - To provide a method and a device for maintaining data integrity in a flash-memory microcomputer so as to enable control even if such a data defect as disappearance occurs in a program stored in a flash memory in the microcomputer.
本発明は、マイクロコンピュータ内のフラッシュメモリに記憶させたプログラムに消滅等のデータ異常が発生した場合であっても、制御を可能にするためのフラッシュメモリマイクロコンピュータのデータ保全方法および保全装置に関するものである。 - 特許庁 - To provide a fixing device and an image forming device which prevent a defect of image fixing to a synthetic resin plate by making the length in the endlessly moving direction of a fixing member surface longer than that in the carrying direction of the synthetic resin plate.
定着部材表面の無端移動方向の長さを合成樹脂板の搬送方向の長さ以上にして、合成樹脂板への画像の定着不良を防止できる定着装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a display device in which a method of high-speed transmission of display data signal is improved, defect or constraint accompanying the conventional high-speed signal transmission is removed and low cost and high reliability is achieved.
本発明は表示装置において表示データ信号の高速伝送の方法を改善し、従来の信号伝送の高速化に伴う欠点や制約を除去し、低コストで信頼性の高い表示装置を実現することを目的とする。 - 特許庁 - When an inspection result of a previous step is included in the chip ID, level identification on a defective or acceptable chip can be carried out by only reading the chip ID and thus this can quickly cope with the defect-cause analysis, shipping by characteristics, or the like.
チップＩＤに前工程の検査結果を含ませる事で、不良品や良品のレベル識別がチップＩＤの読み取りをおこなうだけで可能となり、不具合の原因解析や特性別の出荷などに迅速に対応できる。 - 特許庁 - A critical area of one via is calculated on the basis of sizes of a plurality of vias, sizes of defects causing random defect failures of the plural vias and a distance from the one via to another adjacent via.
複数のビアのサイズ、複数のビアのランダム欠陥不良の原因となる欠陥のサイズ、及び複数のビアのうちの一のビアと該一のビアに隣接する他のビアとの間の距離に基づいて、一のビアのクリティカルエリアを算出する。 - 特許庁 - A defect extraction part 205 compares comparison object information acquired by imaging the reference subject after acquiring the reference information with the reference information stored in the storage part 207, and extracts a different portion between both information as defects.
欠陥抽出部２０５は、基準情報の取得後に基準被写体を撮像して得られた比較対象情報と、記憶部２０７に保存されている基準情報とを比較し、両者が異なる部分を欠陥として抽出する。 - 特許庁 - The accumulator battery 15 applies a voltage having a prescribed potential difference with respect to the potential of the steel tower member 200 to the copper plate 300B from voltage application points 300a to c via a rainfall detection part 40, a switch 18, and a device defect detection part 50.
蓄電池１５は、降雨検出部４０、スイッチ１８、装置不良検出部５０を介して、電圧印加点３００ａ〜ｃから銅板３００Ｂに、鉄塔部材２００の電位に対して所定電位差の電圧を印加する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus and an image forming method capable of forming an image without the need for changing a process speed and without causing any defect even when the image is continuously formed for a plurality of kinds of media.
複数種類のメディアに対して連続して画像を形成する際にもプロセス速度を変更することなく、また不具合が発生することなく画像を形成可能な画像形成装置及び画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a physical layer interface capable of detecting a transmission defect of the physical layer interface itself or informing of occurrence of a fault of a transmission apparatus body on the TCP/IP protocol basis without the need for installing excess hardware and software to the transmission apparatus body.
伝送機器本体に過剰なハードウェアおよびソフトウェアを実装することなく、物理層インタフェース自体の伝送不具合の検出、またはＴＣＰ／ＩＰプロトコルベースの伝送機器本体の障害発生の通知ができる。 - 特許庁 - To provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition excellent in roughness characteristics, focus latitude, bridge defect preventing performance and dependency of sensitivity on post exposure baking (PEB) temperature, and a pattern forming method using the composition.
ラフネス特性、フォーカス余裕度、ブリッジ欠陥性能、及び、感度の露光後加熱（ＰＥＢ）温度依存性に優れた感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、並びに、それを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an implement for softening lead glass which can drastically reduce the inclusion of bubbles into an adhesive layer (lead glass layer) and therefore yields high adhesion, hardly gives rise to an insulation defect and permits easy peeling of the joined material from the implement.
接着層（鉛ガラス層）に泡が混入するのを激減させることができるので、接着力が高く、絶縁不良を起こす恐れが極めて小さく、しかも治具からの剥離が容易な鉛ガラス軟化用治具を提供する。 - 特許庁 - The defect removing device 1 condenses laser beams 32 into the water column 31, applies condensed laser to the coloring agent 27 in the defective region 55 as a water column laser 33, allows the coloring agent 27 to flow out by dissolving the same and, thereby, removes the same.
欠陥除去装置１は、水柱３１中にレーザ光３２を集光して水柱レーザ３３として欠陥領域５５の着色剤２７に照射し、当該着色剤２７を溶解流出させて除去する。 - 特許庁 - Thereby, only a real defect excluding the part where patterns are joined (false defects) is left in the part where defects are detected by the comparing inspection, which lessens works for deciding defects by an operator and reduces the inspection time for the mask.
これにより、比較検査で得られた欠陥検出部には、描画繋ぎ部分（擬似欠陥）を除いた正真の欠陥だけが残されるので、作業者の欠陥判定の負担を軽くすることができ、マスクの検査時間を短縮できる。 - 特許庁 - To provide an optical disk having high reliability by preventing prepit from generating noise by forming the prepit signals around the inner peripheral side wall surfaces of land regions in order to avert the molding defect which arises on the inner peripheral side wall surface.
ランド領域の内周側壁面に生じる成形不良を抑制すべく、内周側壁面を中心にプリピットを形成することで、プリピット信号のノイズ発生を防止して信頼性の高い光ディスクを提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit, to particularly provide a method for manufacturing suitable to reduce a defect, and to flatten a wiring of a copper or an alloy containing the copper as a main body on an insulating film having a low pressure resistance.
半導体集積回路製造の製造プロセスに関し、特に耐圧性の低い絶縁膜上に銅または銅を主体とする合金の配線を欠陥が少なくかつ平坦にする好適な製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The inspection device uses a light source arranged so that the light source is close to a Brewster angle where polarization dependence of reflected light becomes largest, and a polarization camera for photographing the reflected light to determine whether the defect is the one on the front surface or on the rear surface.
反射光の偏光依存性の最も大きくなるブリュースター角に近くなるよう設置した光源と、その反射光を撮影する偏光カメラを用いて、表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを判別する。 - 特許庁 - In the region of the silicon carbide drift layer 20 where a basal plane defect exists, an integral p-type second well region 31 is formed in the top-surface portion of the silicon carbide drift layer 20 so as to overlap the first well regions 30.
炭化珪素ドリフト層２０の基底面欠陥が存在する領域においては、炭化珪素ドリフト層２０の上面部に、一体的なｐ型の第２ウェル領域３１が第１ウェル領域３０に重ねて形成される。 - 特許庁 - Information of the minimum delay margin Tmgn of a path passing through a trouble assumption portion, a machine cycle MC and a delay defect generation frequency DFG is supplied to find an index linked to quality of the circuit, and the quality of the circuit is determined based thereon.
故障仮定個所を通るパスの最小遅延マージンＴmgn、マシンサイクルＭＣおよびディレイ欠陥発生頻度ＤＦＧの情報を与えて回路の品質にリンクした指標を求め、該回路の品質判定を行うように構成する。 - 特許庁
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