「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 278 279 280 281 282 283 284 285 286 .... 366 367 次へ＞- Since a leading end of the rib 3 is not sharpened or rounded extremely, a defect is not generated when it is attached to a front plate and an attachment to the head of the rib is not generated when fluorescent paste is filled in the panel.
リブ３の先端が極端に尖ったり丸まったりしていないので、前面板との貼り合わせ時に欠けを生じたり、蛍光体ペーストの充填時にリブ頂部への付着を起こしたりすることがない。 - 特許庁 - To eliminate trouble such as a fixation defect by reducing overshooting during transition from 2nd temperature as inter-paper control temperature to 1st temperature as print control temperature when a plurality of recording media are successively fixed.
複数の記録媒体を連続的に定着する場合、紙間温調温度である第２の温度からプリント温調温度である第１の温度への移行時のオーバーシュートを軽減させ、定着不良等の不具合をなくす。 - 特許庁 - A defect inspecting device 12 is arranged on a steel plate, defects are detected, defects are cut and worked by a cutting tool, an ultrasonic cutting tool or a milling cutting tool, a rolling is performed by a rolling machine 13 and working traces are erased.
鋼板上に疵検査装置１２を配置して疵を検知し、切削工具、超音波切削工具あるいはフライス加工工具により疵を切削加工し、圧延機１３により圧延して加工痕を消去する。 - 特許庁 - To provide a low-cost lithographic printing plate material which is free from a conveyance flaw and a conveyance failure during a conveying operation and almost free from an image defect, a method for manufacturing the material, and a printing method using the material.
搬送時の搬送キズや搬送不良がなく、画像欠陥が少なく、低コストの平版印刷版材料とその製造方法を提供し、かつ、前記平版印刷版材料を用いる印刷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus where one or all the plurality of process cartridges can be surely held in an image forming position with a simple constitution, and also, at low cost, and which can obtain a satisfactory output free from malfunction and image defect.
簡単な構成かつ、低コストで１つあるいは複数の全てのプロセスカートリッジを画像形成位置に確実に保持し，動作不良，画像不良のない良好な出力を得られる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a head slider capable of solving the defect of a negative pressure slider at the time when rails are needed at the rear part of the head slider, and suppressing the fluctuation of the floating amount against the change of the linear velocity, which is the problem to be solved in a positive pressure slider.
ヘッドスライダ後方にレールが必要な場合の負圧型スライダの欠点を解決し、正圧型スライダの課題であった線速度の変化に対する浮上量変動を抑制するヘッドスライダを提供する。 - 特許庁 - To provide a soundproof panel excellent in fireproofness, insulation property and heat insulation property and, at the same time, improving problems such as strength and impact resulting from a defect of an inorganic board to make it light and excellent in handling efficiency as well as the facilitation of construction work.
防火性、保温性、断熱性が優れるとともに、無機質ボードの欠点である強度および衝撃の問題点を改善した、軽くて取扱性に優れ、施工が容易な防音パネルを提供する。 - 特許庁 - To develop a scaling method of similarity for avoiding a defect of a conventional technology where the standard deviation is smaller in reliability than an average value since the characteristic of a reference cannot be often used only a very little.
リファレンスの特徴は極めて僅かしか使えないことが屡々であるので、標準偏差は、平均値よりも信頼度が小さいという従来技術の欠点を回避した類似度のスケーリング方法を開発すること。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an optical recording disk, capable of forming a no-defect recording layer by effectively preventing the elution or flowing-out of a dye contained in a recording layer without increasing the manufacturing cost.
製造コストの増大を招くことなく、記録層に含まれている色素の溶出や流出を効果的に防止して、欠陥のない記録層を形成することができる光記録ディスクの製造方法を提供する。 - 特許庁 - When the N type transistor 22 has a defect, fuses 24 and 25 are blown out and wiring AL1 and GL1 and wiring AL2 and GL2 are connected to each other respectively by laser beam irradiation to replace the N type transistor 22 with the N type transistor 23.
Ｎ型トランジスタ２２が不良な場合は、レーザ光の照射により、ヒューズ２４，２５をブローするとともに配線ＡＬ１とＧＬ１，ＡＬ２とＧＬ２を接合して、Ｎ型トランジスタ２２をＮ型トランジスタ２３で置換する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an optical fiber preform free from manufacturing defect such as the slippage or stripping between a core part and a clad part in the optical fiber preform obtained by sintering of a porous materials for the optical fiber.
光ファイバ用多孔質材の焼結により得られた光ファイバ母材において、コア部とクラッド部との間でずれや剥離などの製造不良を生じることのない光ファイバ母材の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To inspect an element over the entire area without excluding its external frame part and separation part from the inspection area even if the circuit pattern of an IC is present in the background of a defect such as foreign matter.
異物などの欠陥の背景にＩＣの回路パターンがあっても、エレメントの外枠部や分離部を検査領域から除外せずに全域にわたって検査できる外観検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a conductive paste capable of effectively suppressing peeling-off defect in peeling a base membrane and of suppressing offset of a conductive pattern, and a manufacturing method of a ceramic electronic parts.
ベースフィルムを剥離する際の剥離不良、及び導電パターンの裏移りを効果的に抑制できる導電性ペースト、及びこのような導電性ペーストを用いたセラミック電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁 - A management server transmits detail information 57 of product name, product model number, production time, standard price, defective information, compensation information compensating the defect, sales value and image for the initially defective product to a terminal.
管理サーバは、初期欠点製品についての製品名、製品型番、製造時期、標準価格、欠点情報、この欠点を補う補填情報、販売価格及び画像の詳細情報５７を端末機に送信する。 - 特許庁 - To provide an evidence preservation system of a project for using recording regarding a construction state of a contractor as documentary evidence, which is suitably used when pursuing defect liability from a requester to the contractor.
依頼主から請負業者に対して瑕疵担保責任を追及する場合に用いて好適な、請負業者の施工状態に関する記録を証拠書類として利用できるプロジェクトの証拠保全システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a disposal system capable of determining appropriately whether or not infectious waste has been sterilized properly and performing disposal work continuously even if a defect or failure part occurs to a disposer.
感染性廃棄物が適正に減菌処理されたかどうを的確に判断することのでき、処理装置に不良あるいは故障箇所を生じても処理作業を継続して行うことのできる処理システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a laser beam machining state measuring apparatus suitable for detecting a defect of a machined part in-line in an actual manufacturing line and capable of realizing joint use for an observation optical system in a compact constitution.
実際の生産ラインにおいてインラインで加工部位の欠陥検出を行うのに適し、しかも観察光学系の併用をコンパクトな構成で実現できるレーザ加工状態計測装置を提供すること。 - 特許庁 - Since the light reflected from the substrate 0 is absorbed by the filter 11 in this case, the image image-formed in the image picking-up means 6 is brought into a dark field to make the defect distinct on the monitor 9.
この場合において、透光性基板から反射された光は、光吸収フィルタ１１によって吸収されるので、撮像手段に結像される像は暗視野となりモニタ上で該欠陥が明瞭となる。 - 特許庁 - The light-transmitting member is a light transmitting member made of molten quartz glass and is characterized in that the concentration of oxygen defect structures is 5×10^-3 mol/L or lower in its surface region.
光透過部材は、溶融石英ガラスよりなる光透過部材であって、当該光透過部材は、表面層領域において酸素欠陥構造の濃度が５×１０^−３ｍｏｌ／Ｌ以下であることを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an image forming device which enables acquisition of a satisfactory picture quality for a long time without the occurrence of a picture quality defect like ghost even in the case of the use of a contact electrification means in a DC system.
直流方式の接触帯電手段を用いた場合であってもゴーストなどの画質欠陥を生じることなく長期にわたって良好な画質を得ることを可能とする画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a device for estimating electromagnetic wave shielding performance, which is shortened in construction period and reduced in cost by detecting, during construction, a defect of an electromagnetic wave shield at a wall or the like of a building, and taking a measure at that time.
建物の壁等における電磁波シールドの不全を施工中に検出し、その時点で対策を施すことにより工期の短縮と共に経費の節減を図った電磁波シールド性能推定装置を得る。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device which can reduce an influence on a breakdown voltage property by a crystal defect resulting from a high concentration oxygen introduced into a semiconductor substrate in connection with the isolation diffusion of an elevated temperature long time.
高温長時間の分離拡散に伴って半導体基板に導入される高濃度酸素に起因する結晶欠陥による耐圧特性への影響を低減できる半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide a magnetic disk which is excellent in heat resistance to prevent fly-stiction failure or corrosion defect even in an extremely low flying height of 10 nm or lower, is provided with a lubrication layer which is excellent in close contact and a lubrication layer which is excellent in temperature characteristics, and stably operates under broad-range temperature conditions.
１０ｎｍ以下の極低浮上量においてもフライスティクション障害や腐食障害などが防止できる耐熱性が優れ、且つ密着性の高い潤滑層を備えた磁気ディスクを提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an epitaxial silicon wafer in which a slip accompanying heating during epitaxial growth is not caused and a decrease in surface roughness of an epitaxial film due to a void defect on a wafer surface can be eliminated.
エピタキシャル成長時の加熱に伴うスリップが発生せず、ウェーハ表面のボイド欠陥に起因したエピタキシャル膜の表面粗さの低下も解消可能なエピタキシャルシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a judging circuit capable of concurrently detecting that there is no defect on the judging circuit itself in the case where it is used for judging whether a signal is set to a prescribed state or not.
信号が所定の状態にあるか否かを判断回路を使用して判断する場合に、その判断と同時に、その判断を行う判断回路そのものに不良がないことが検出され得る判断回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a reflection type or a translucent type liquid crystal display provided with a protective film and its manufacturing method, wherein detection accuracy of a defect can be highly maintained while manufacturing costs are reduced.
保護フィルムを備える反射型または半透過型の液晶表示装置及びその製造方法において、製造コストの低減を図りつつ、欠陥の検出精度を高く保つことのできる装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - Each of the photonic crystals 10a, 10b has a two-dimensional periodical structure of a refractive index and is designed so as to have transmission characteristics transmitting only light with a specified wavelength region, for example by introducing a point defect.
各フォトニック結晶１０ａ，１０ｂは、２次元の屈折率周期構造を有し、例えば点欠陥を導入することによって所定の波長域の光のみを透過する透過特性を有するように設計してある。 - 特許庁 - In addition to a regular memory array consisting of such memory array ARY, a redundant memory array similarly furnished with the SAA and the adjacent ECC is provided in a chip to relieve a defect developed at the manufacture.
チップ内には、このようなメモリアレイＡＲＹからなる正規メモリアレイに加えて、これと同様にＳＡＡおよびそれに隣接するＥＣＣを備えた冗長メモリアレイを設け、製造時に発生する欠陥を救済する。 - 特許庁 - To enhance the quality of a belt as a product by avoiding the occurrence of a defect in the product due to porosity, caused by the insufficient degassing of an unvulcanized belt molding in vulcanizing treatment, and poor adhesion of a core wire with rubber.
加硫処理時における未加硫ベルト成形体の脱気不足に起因した上述のポーラス不良や、心線とゴムの接着不良による製品不良の発生を回避して、製品としてのベルトの品質向上を図る。 - 特許庁 - To provide a developing apparatus constituted so that the deviation of the carried developer quantity in the axial direction of a developer carrier is prevented, and the occurrence of an image defect such as surface staining is prevented on the side with less developer carried.
現像剤坦持体の軸方向における現像剤の坦持量の片寄りを防止し、現像剤量の少ない側で地汚れ等の画像不良が発生しないようにした現像装置を提供する。 - 特許庁 - In such event, the termination of a contract or compensation for damages may be claimed on the grounds of liability for defect or error etc. (or fraud, as the case may be), even though the "No Claim, No Return" clause had been indicated.
このような事実がある場合には、たとえ「ノークレーム・ノーリターン」表示がされていても、瑕疵担保責任又は錯誤（場合によっては詐欺）等に基づき契約解除、損害賠償等を請求できる可能性がある。 - 経済産業省 - (Example) There are cases where a program warranty period (such as within XX days of delivery) is set in the license agreement. If the user has discovered a bug which constitutes a product defect after the expiry of that period, can he question the responsibility of the Vendor?
（例）ライセンス契約においてプログラムの担保期間（例：引渡しから××日以内）が設定されていることがあるが、期間経過後に瑕疵に該当するバグを発見したとき、ベンダーの責任を問うことは可能か。 - 経済産業省 - To provide a dirt determination device, an image reader, and a dirt determination program for identifying a member to which dirt likely to cause defect occurs with respect to an image indicating a read original.
読み取った原稿を示す画像に対して、不良を発生させるおそれがある汚れが生じている部材を特定することができる汚れ判定装置、画像読取装置、及び汚れ判定プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a dry toner fixable at a low temperature, superior in anti-offset property and capable of stably obtaining images high in quality even in the case of being used under high or low humidity and, further, prevented from occurrence of image defect with the lapse of time.
低温定着が可能であり、耐オフセット性に優れ、高湿下及び低湿下で使用しても高い画像品質が安定して得られ、更に、経時においても画像欠陥を生じることのない乾式トナーの提供。 - 特許庁 - By filling the insulation layer 3 with the pressurized gas, the amount of gas per filling is large, and no air comes into the layer 3 even if there is a defect connecting the layer 3 to the exterior.
ガスが加圧されて保冷層３に充填されることにより、１回に充填されるガスの量が大きく、保冷層３と外部とを接続する欠陥があるときでも保冷層３内に大気が侵入しない。 - 特許庁 - The mounting of the lock key enables eliminating product defect owing to the vibration in case of carrying and also the heavy and low sound vibration is sufficiently obtained since the dampers 106 and 107 with excellent vibration efficiency are used.
このロックキーの装着により搬送時の振動による製品不良をなくすことができ、また、ダンパー１０６、１０７に振動効率のよいものを使用できるので、重低音振動を充分得ることができる。 - 特許庁 - Through the realization of miraculous cost reductions, such as by lowering its defect rate to0.03% by means of a thorough improvement of the production process, Hirano Fastech is manufacturing products that are nearly identical to Chinese products in terms of price.
同社は、徹底的な生産工程の改善により不良品率を0.03％に抑えるなど、驚異的なコスト低減を実現することで、中国製品と価格面でほぼ互角の製品を製造している。 - 経済産業省 - To provide an antistatic polypropylene resin composition capable of suppressing generation of a scattered gas at a high temperature such as molding and reducing troubles such as environmental pollution or molding defect without lowering an antistatic property or a slipping property.
帯電防止性やスリップ性を低下させることなく、成形時など高温での飛散ガスの発生を低く押さえ、環境汚染、成形不良等のトラブルを低減できる帯電防止性ポリプロピレン樹脂組成物の提供。 - 特許庁 - To improve the operation efficiency and safety of a fixing unit equipped with a roller cleaning web by preventing a defect in conveyance etc., resulting from the fact that the web is drawn out by reversing the rotation of a fixing roller in jam processing.
ローラー清掃ウェブを具備した定着器において、ジャム処理時に定着ローラーの逆回転によりウェブを引っ張り出すことで生ずる搬送不良等を防止し、作業効率、安全性を向上させる。 - 特許庁 - To provide an efficient nitride semiconductor light emitting device, a nitride semiconductor device and a method for manufacturing the same where a characteristic and yield are high by reducing the number of manufacturing processes, time for manufacturing, the bending of a substrate, crystal defect, etc.
製造工程数、製造時間、基板の反り、結晶欠陥、等を低減して、特性と歩留まりが高く高性能な窒化物半導体発光装置、窒化物半導体装置、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - It is desirable that a step for performing a reinitializing mode while the prescribed defect list existing in DMA of a test disk is removed in the recording/reproducing device by using the test disk having test reference information and generating test information from generated defect management information and a step for comparing reference information predicted by the reference information with test information and supplying a verification result on test information are included.
テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階を含むことが望ましい。 - 特許庁 - In the write once medium, defect alternative and data rewriting are realized without preparing a fixed alternative area, by using a selected area such as an additional writing point in the main data area as an alternative destination area, allowing judgment of recorded/unrecorded of an address of writing request object by means of continuously recorded range information, and integrally mixing the alternative management information for the defect alternative and data rewriting.
ライトワンスメディアにおいて、主データ領域内で追記ポイント等、選択した領域を交替先領域として用いること、また書込要求等の対象のアドレスについて連続記録範囲情報によって記録済／未記録を判断できるようにすること、さらに欠陥交替およびデータ書換のための交替管理情報を統合して混在させるようにすることで、固定の交替領域を設けなくとも、欠陥交替およびデータ書換を可能とする。 - 特許庁 - Plasma is produced over a semiconductor layer 3a by using raw material gas containing impurity elements and compensating gas containing an element as large as or larger than elements constituting the semiconductor device 3a to introduce impurity ions into the semiconductor layer 3a, and also introduce ions for defect formation composed of the element as large as or larger than the elements constituting the semiconductor layer into the semiconductor layer 3a for defect formation.
半導体層３ａの上方で、不純物元素を含む原料ガス、及び半導体層３ａを構成する元素と同等以上の大きさの元素を含む補償ガスを用いてプラズマを生成することにより、半導体層３ａに不純物イオンを導入すると同時に、半導体層３ａに該半導体層を構成する元素と同等以上の大きさの元素からなる欠陥形成用イオンを導入して欠陥を生じさせる。 - 特許庁 - To overcome the defect that in a thin-film semiconductor element the moisture contained in a gate insulation film so reacts on W of the material of a gate electrode film as to generate thereby the change of the characteristic of a transistor in the negative direction thereof and damage its reliability.
薄膜半導体素子において、ゲート絶縁膜中に含まれる水分がゲート電極膜の材料であるＷと反応することにより、トランジスタ特性の負方向への変動が生じ、素子の信頼性を損なう。 - 特許庁 - To prevent operation time necessary for correction of a defective pixel from increasing and to securely perform correction such as cutting or short circuiting of a wiring pattern, by avoiding emission of a laser beam to a defect source such as a foreign matter.
異物などの欠陥源にレーザ光を照射することを回避することによって、欠陥画素の修正に要する作業時間の増大を防止するとともに、配線パターンの切断または短絡などの修正を確実に実行する。 - 特許庁 - To easily recognize a chapter mark in a summary copy where a unit page is generated from a plurality of sets of original image information and to eliminate a defect attended with increase in transfer paper expectably produced at the chapter mark of the summary mode.
複数の原画像情報から単位ページを作る集約コピーにおいて章区切りの認識が容易に行なえ、集約モードの章区切り時に発生することが予想される転写紙の増大にまつわる不具合を解消する。 - 特許庁 - Thereby, as the seed crystal substrate is removed during growth of the growth material, the generation of a defect in the growth material, caused by the difference between the thermal expansion coefficients or the like of the growth material and the seed crystal substrate 6, is almost suppressed.
これにより、成長材料の成長時に種結晶基板が除去されるので、成長材料と種結晶基板６の熱膨張係数等の違いに起因して成長材料中に欠陥が生じることは殆どない。 - 特許庁 - To establish a production method for producing a needle-like crystal of R_1Ba_2Cu_3O_7 and to produce the high quality needle-like crystal having a very low defect density.
Ｒ_１Ｂａ_２Ｃｕ_３Ｏ_７の針状結晶及びその有効な製造方法を確立し、極めて欠陥の少ない高品位針状結晶を製造して、未だ実現していない超伝導エレクトロニクス素子実用化への道を拓くことである。 - 特許庁 - To positively utilize a moisture adsorbing material as latent heat storage (moisture storage) and as a heat storage medium instead of ice by using a large quantity of moisture adsorbing material although an adsorption type refrigerator is regarded as a defect of enlargement of size.
吸着式冷凍機は体格が大きくなる事が欠点と言われているが、逆に吸湿材を大量に使用する事で潜熱蓄熱（蓄湿）として積極的に利用し、氷に代わる蓄熱媒体として利用する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device which can delay or suppress the confirmation of the display defect by energization after a moisture resistance test by preventing the excessive current during voltage impression and solving the problem of the foaming phenomenon and the short.
電圧印加時の過渡電流を防止して発泡現象やショートの問題を解決し、耐湿試験後の通電による表示不良の確認を遅延させ、あるいは抑制することのできる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
