「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 304 305 306 307 308 309 310 311 312 .... 366 367 次へ＞- To obtain a compound semiconductor substrate that can form a high- resistant compound semiconductor buffer layer of reduced crystal defect on an Si substrate and can provide high-frequency devices, for example, ESFET, HEMT, or the like, of good properties formed thereon.
Ｓｉ基板上に結晶欠陥の少ない、高抵抗の化合物半導体バッファ層を形成し、その上に形成されるＭＥＳＦＥＴやＨＥＭＴ等の高周波デバイスにおいて良好な特性を持つ化合物半導体基板を提供する。 - 特許庁 - To provide an imaging device that attains effective defect correction where deterioration in the resolution cannot substantially be caused by utilizing information of effective pixels without waste, so as to minimize the deterioration in the S/N, without the need for provision of a complicated hardware circuit needing much load.
複雑な負担の大きいハード回路を要することなく、また有効画素の情報を無駄無く利用し、従ってＳＮの劣化を最小限にとどめつつ解像度の劣化を事実上生じない効果的な欠陥補正を可能にする。 - 特許庁 - To provide a thrust hollow shaft which does not cause such a defect that the thrust hollow shaft is broken by receiving a shock in a forward direction intermittently by a force generated in rolling an original pipe through a mandrel rod, a claw grasping a mandrel, and a horseshoe ring held by a thrust chuck.
素管を圧延する際に発生する力がマンドレルロッド、マンドレルを掴む爪およびスラストチャック止め馬蹄リングを介して、断続的に前方方向へ衝撃を受けて折損を起す欠点の無いスラスト中空軸を提供する。 - 特許庁 - To reduce or eliminate an image defect such as light absence and a black stain due to a deficiency in alignment control power as to an active matrix substrate used for a liquid crystal display device whose pixel electrode such of an IPS(in-plain switching) type, etc., has a wiring structure.
IPS（イン・プレイン・スイッチング）タイプ等の画素電極が配線構造を持つ液晶表示装置に用いるアクティブマトリクス基板において、配向規制力不足に起因する光ヌケおよび黒シミの画像不良を低減するかまたはなくす。 - 特許庁 - To provide a ceramic filter producing method capable of forming a uniform defect-free ceramic porous film on the surface of a porous base material while preventing the closure of the pores of the base material and capable of ensuring the adhesion strength of the surface of the base material and the porous film.
多孔質基材の細孔の閉塞を防止しつつ、基材表面に均一で欠陥がない多孔質膜を形成することができ、かつ、基材表面と多孔質膜との密着強度が担保できるセラミックフィルタの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a flaw inspection method for a steel plate in which an excess inspection caused by the zigzag running of a shape defect on the steel plate can be prevented, in which an undetected range can be reduced as far as possible, and in which a flaw can be detected with satisfactory accuracy.
鋼板の形状不良部の蛇行走行に起因する過検出を防止することができ、更には未検出範囲を極力少なくして精度よく疵の検出を行うことができる鋼板の疵検査方法を提供すること。 - 特許庁 - A CPU 32 sets 1st addresses being different from each other in accordance with each check object bit check the existence/absence of a defect in each bit of an address of a RAM 36 and writes 1st data being different from each other in each of the addresses.
ＣＰＵ３２は、ＲＡＭ３６のアドレスの各ビット毎に不良の有無を調べるために、各チェック対象ビットのそれぞれに対応して互いに異なる第１のアドレスを設定して、それぞれのアドレスに互いに異なる第１のデータを書き込む。 - 特許庁 - The glare shielding substrate 10 is obtained, and the surface treatment film 11 is formed by applying the surface treating agent on the surface 10a of the obtained glare shielding substrate 10 to produce a glare shielding surface-treated plate 1 without a surface defect.
本発明の製造方法により防眩性基板(10)を得、得られた防眩性基板(10)の表面(10a)に表面処理剤を塗布して表面処理膜(11)を形成することにより、表面欠陥のない防眩性表面処理板(1)を製造できる。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for inspecting a defect of a steel plate surface, capable of detecting a defective part (abnormal part), while suppressing over-detection/un-detection, when inspecting a steel plate as a subject having large variations in a surface property, including a color tone.
色調まで含め、表面性状変動が大きい鋼板を検査対象にして、過検出・未検出を抑えた、欠陥部（異常部）の検出を行うことができる、鋼板表面欠陥検査方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The value near the planned head is easily set up, the pressure maintenance becomes easy and the damage and corrosion of each apparatus and piping due to the excess in discharge rate, and the defect such as cooling failure or the like due to the deficiency in discharge rate can be prevented in advance.
容易に計画揚程に近い値が設定でき、圧力管理が容易となり、吐出量過多に起因する各機器・配管の損傷・腐食や、吐出量過少に起因する冷却不良等の不具合を事前に防ぐことが可能となる。 - 特許庁 - To provide a concave portion forming method, capable of restraining generation of defect portions by quickly spotting the processing quality, and to provide a production step of a concave-convex product, a production step of a light-emitting element, and a production step of an optical element.
本発明は、加工品質を迅速に見極めることで不良部位の発生を抑えることができる凹部形成方法、凹凸製品の製造方法、発光素子の製造方法および光学素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To prevent the defect that a recording medium coming out of a press- contact part is wound around a fixing roller in a fixing device which fixes a toner image on the recording medium by the action of heat and pressure by passing the recording medium through the press-contact part between the fixing roller and a pressure roller.
定着ローラと加圧ローラとの圧接部に記録媒体を通し、熱と圧力の作用で記録媒体上のトナー像を定着する定着装置において、圧接部を出た記録媒体が定着ローラに巻き付く不具合を阻止する。 - 特許庁 - To provide a method of joining by which a sound joined part having no defect or near the surface of metal is surely available when metallic members whose melting points are different from each other are joined with a friction stir welding, and a joining tool used for the method.
融点が互いに異なる金属部材同士を摩擦攪拌接合するに際し、内部や表面付近に欠陥のない健全な接合部を確実に得られる接合方法とこれに用いる接合ツールとこれに用いる接合ツールを提供する。 - 特許庁 - Furthermore, in the defect position specifying process 120, a first optical induced current (OBIC) process 122 corresponding to a first process, a second OBIC process 124 corresponding to a second process and an analytic process 126 corresponding to a third process are performed.
さらに，欠陥位置特定工程１２０では，第１の工程に相当する第１のＯＢＩＣ工程１２２と第２の工程に相当する第２のＯＢＩＣ工程１２４と第３の工程に相当する解析工程１２６とが行われる。 - 特許庁 - To provide vehicular interior material surely allowing attachment of functional parts, formable without forming defect in forming, causing no die handling error, and lowering the die cost by sharing the die.
確実に機能部品を装着することができると共に、金型の取り扱いを間違えることなく成形時の成形不良を起こさないで成形することができ、金型を共有にして金型コストを低減できる車両用内装材を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting the emission of laser beams capable of easily inspecting at a low cost the defective emission of laser beams in the product using a high speed emission waveform, in which the increase of a defect is expected due to the complication is furthered hereafter, even in the component inspection process.
今後さらに複雑になり不良が増大すると予想できる高速発光波形を用いる製品でのレーザ発光不良の検査を、低コストで、簡易に、部品検査工程でも行なえるレーザ発光検査方法を提供する。 - 特許庁 - A focus is adjusted on the basis of output signals from focus adjustment areas 61', 62', 63', 64', 65', 66' and 67 being parts of a photographing area of an image pickup element 400 and consisting of pixels without defect in the photographing area of the image pickup element 400.
撮像素子４００の撮像領域の一部であって且つ該撮像領域４００の欠陥のない画素からなるピント調節領域６１’，６２’，６３，６４’，６５，６６’，６７からの出力信号に基づいて前記ピントの調節をする。 - 特許庁 - To provide an inspection device and a test method for a rotary electric machine capable of evading the fear of being unable to perform an insulation test under a high voltage since a heavy current flows in a stator coil, when a defect test of the stator is performed in a manufacturing process.
製造工程におけるステータの不良検査時において、大電流がステータコイル流れるために高電圧での絶縁試験ができないおそれを回避できる回転電機の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - In order to optimize the image properties of several optical elements (7, 8) of which at least one is moved relative to at least one stationary optical element (8), the overall image defect resulting from the interaction of all optical elements (7, 8) is first of all measured (19).
少なくとも１つが、少なくとも１つの定置光学部材(8)に対して相対的に動かされる、複数の光学部材(7,8)の結像特性を最適化するために、まず、すべての光学部材(7,8)を協働させて全体的結像収差を測定する(19)。 - 特許庁 - To provide a pattern forming method excellent in resolution power such as a minimum dimension free from a bridge defect, roughness performance such as line edge roughness, and dependency on developing time, and to provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and a resist film to be used for the method.
ブリッジ前寸法等の解像力、ラインエッジラフネス等のラフネス性能、現像時間依存性に優れたパターン形成方法、それに用いられる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物及びレジスト膜を提供する。 - 特許庁 - An inspection device 1 gets a reference image obtained by picking up an image of a model having no defect prior to inspection, executes extension processing and reduction processing and stores obtained extended and reduced images in an image memory 3 built in the device 1.
検査装置１は、検査に先立ち、欠陥のないモデルを撮像して得られた基準画像を取り込み、膨張処理および収縮処理を行い、得られた膨張画像および収縮画像を装置内の画像メモリ３内に保存する。 - 特許庁 - The assembly line includes a number of readers and processing stations 104 to determine and confirm the identity of vehicles passing proximate to the readers and processing stations, and the build instructions, status, position, condition, defect and repair history, etc., of a vehicle.
この組立ラインは、いくつかのリーダと処理ステーション１０４を組込んで、リーダと処理ステーションのすぐ近くを通過する車両のＩＤ、および車両のビルド・インストラクション、ステータス、位置、条件、欠陥と修理の履歴などを決定し、確認する。 - 特許庁 - To lighten a cylinder head and reduce creation of casting defect by reducing a pad part formed at a section between a back surface of a flange and a side wall of the cylinder head by parting at a time of casting in the cylinder head for an engine.
エンジンのシリンダヘッドにおいて、フランジの背面とシリンダヘッド側壁とに挟まれる部位に鋳造時の型割りによって形成される余肉部を削減し、シリンダヘッドの軽量化を図るとともに、鋳造欠陥の発生を低減することにある。 - 特許庁 - To provide a diamond semiconductor device with a concentration of an electric field at a channel part and a gate insulating layer reduced, having a uniform insulating layer, preventing a dielectric breakdown, and reducing a defect in the vicinity of an interface between the channel part and the insulating layer, and to provide its manufacturing method.
チャネル部及びゲート絶縁層における電界集中が緩和され、絶縁層が均一で、絶縁破壊を防ぎ、チャネル部及び絶縁層の界面近傍の欠陥を低減したダイヤモンド半導体素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The assembly comprises a ventilation passage 80 extending through the capping member 52 into the priming recess 56 and ventilating the nozzle face of the covered ink jet print head thus lessening the defect of nozzle face of the ink jet print head generating a capping pressure at the time of nonpriming.
アセンブリはキャッピング部材５２を通ってプライミング凹部５６へと延び、ふたをされるインクジェットプリントヘッドのノズル面を通気して、非プライミング時にキャッピング圧を生じるインクジェットプリントヘッドのノズル面の欠陥を緩和する通気経路８０を含む。 - 特許庁 - The terminal device 2 receives the state/performance data stored in operation by the oxygen concentrator 1 from the oxygen concentrator 1, determines normality/defect of the oxygen concentrator 1 according to the state/performance data, and displays the determination result on the display part.
また，端末装置２は，酸素濃縮器１が稼動時に記憶した状態／性能データを酸素濃縮器１から受け取り，この状態／性能データに基づいて，酸素濃縮器１の正常／不具合を判断し，判断結果を表示部に表示する。 - 特許庁 - To provide a high-resolution multiple mass filter wherein an electric field for separating ionized particles is never disturbed even if there is a film defect such as a pin hole in an inside electrode, or the beam diameter of the ionized particles entering the mass filter is large.
内側電極にピンホール等の膜欠陥があっても、また、マスフィルタヘの入射イオン化粒子のビーム径が大きい場合でも、イオン化粒子を分離するための電界が乱されることがない分解能が高い多重極マスフィルタを提供する。 - 特許庁 - To provide a process which provides a strong mechanical function, eliminates a streak defect problem on copy/print-out, enables the formation of an imaging member belt with a prolonged service life, and releases internal stress/strain of a flexible multi-layer web stock.
堅牢な機械的機能を提供し、かつコピー・プリントアウトのストリーク欠陥問題がなく、サービス寿命の延長されるイメージング部材ベルトの作成を可能にする、柔軟な多層ウェブ・ストックの内部応力／ひずみを解放するプロセスを提供する。 - 特許庁 - To prevent development of cast defect, such as cavities, by keeping the temperature in a part faraway from a sprue for pouring molten metal into a cavity to the temperature having good levels of the molten metal flowing when the molten metal is filled and the cooling speed when the molten metal is solidified.
キャビティにおける溶湯を注入する湯口から遠い位置にある部分の温度を、溶湯充填時の湯流れ及び凝固時における冷却スピードが良好なレベルの温度に維持して、巣等の鋳造欠陥の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a liquid crystal display device by which the liquid crystal display device free from the generation of a display defect due to moisture absorption of a member consisting of an organic polymer or a member having an organic polymer layer on the surface thereof can be obtained.
有機高分子からなる部材、あるいは表面に有機高分子層を有する部材の吸湿による表示不良を発生することが無い液晶表示素子を得ることができる液晶表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The device has a static electricity preventive mechanism 182 which obstructs the occurrence of an image defect by the static electricity of a stimulus phosphor sheet S transported in an arrow A direction when the stimulus phosphor sheet S is irradiated with a laser beam L.
矢印Ａ方向に搬送される蓄積性蛍光体シートＳにレーザ光Ｌが照射される際、前記蓄積性蛍光体シートＳの静電気により画像欠陥が発生することを阻止する静電気防止機構１８２を備える。 - 特許庁 - To enable reduction of crystal defect of a conventional strain- relaxation buffer layer and a burden on a growing device in III-V compound semiconductor epitaxial wafer having an operative region where a substrate crystal and a grating constant are different equal to or greater than 0.15%.
基板結晶と格子定数が０．１５％以上異なる動作領域を持つIII−Ｖ族化合物半導体エピタキシャルウェハにおいて、従来の歪緩和バッファ層の結晶の欠点と、成長装置の負担を低減することを可能とする。 - 特許庁 - To provide an image forming device having a cleaning system of good cleanability which does not give rise to toner fusion on a photoreceptor and does not give rise to a cleaning defect and slip-through when a positive charge type toner to an a-Si(amorphous Si) photosensitive body are used.
ａ−Ｓｉ感光体に対し正帯電性のトナーを用いた場合、感光体上にトナー融着を生じることなく、かつ、クリーニング不良やすり抜けを生じないクリーニング性が良好なクリーニングシステムを有する画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - Thus, when oscillating the rail segment, only by the side edge comes into point contact with the sliding projection on the rack side, plate, the operating defect of the pendulum type rail segment caused by slide friction resistance is prevented and the attitude of the commodity can be smoothly controlled.
これにより、レールセグメントが揺動する際には、その側縁がラック側板の摺動突起と点接触するだけで、その摺動摩擦抵抗による振り子式レールセグメントの動作不良を防止して円滑な商品の姿勢制御が行える。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a III-V compound semiconductor crystal which is free from composition separation and subjected to carbon doping with good crystallinity small in hole-type defect density, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device using the manufacturing method.
組成分離がなく、かつ空孔型欠陥密度が小さい良好な結晶性で炭素ドーピングを行ったIII−Ｖ族化合物半導体結晶の製造方法及び該製造方法を用いた半導体デバイスの製造方法の提供。 - 特許庁 - If this difference value per line or a sum of difference values exceeds a threshold, it can be determined that symmetry of the shape of the two semicircular areas 2a and 2b is distorted, indicating the through-hole 2 having a defect such as adhesion of protrusions.
このライン毎の差分値、または差分値の総和が閾値を超えていれば、２つの半円領域２ａ，２ｂの形状の対称性が崩れており、このことから貫通孔２に突起物付着などの不良が発生していると判断できる。 - 特許庁 - To provide a device for correcting a defect of a reticle pattern and a correction method by which correction accuracy of a defective pattern of a reticle is improved, the efficiency is improved to reduce a correction time, and productivity is increased as well as the cost can be reduced.
レチクルの欠陥パターンの修正精度を向上し、効率を向上させて修正時間の短縮を図り、生産性を向上させるとともにコスト低減を図れるレチクルパターンの欠陥修正装置および修正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a photomask that can be manufactured at a low manufacturing cost, in which a phase defect due to a residue can be detected and a three-dimensional shape effect can be suppressed, and to provide a method for manufacturing a photomask, a method for designing a pattern of a photomask and a method for manufacturing an electronic device.
安価な製造コストで製造でき、残渣による位相欠陥を検出でき、かつ３次元形状効果を抑制できるフォトマスク、フォトマスクの製造方法、フォトマスクのパターン設計方法および電子デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect correction method for correcting only defects generating in each step in the manufacturing process of a color filter for an LCD, and to provide a method for manufacturing a color filter for an LCD and a color filter for an LCD using the above correction method.
ＬＣＤ用カラーフィルタの製造工程の各工程で発生する欠陥のみを修正する欠陥の修正方法及びそれを用いたＬＣＤ用カラーフィルタの製造方法並びにＬＣＤ用カラーフィルタを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a coating method for an electrophotographic photoreceptor which decreases quality defect due to the generation of liquid dregs and forms good coating film equal to or better than that by a dipping method by an improvement in productivity and to provide a coating apparatus for the same.
液カスの発生に起因した品質不良を減少し、生産性の向上によってディッピング法と同等以上の良好な塗膜を形成する電子写真感光体の塗工方法および塗工装置を提供することにある。 - 特許庁 - To produce a tower-shaped product having stable dimension and quality by prolonging the service life of a forging metallic mold and reducing the occurrence of defect in the production of a tower-shaped forged product composed of an outer-race blank and an inner-race blank for a taper bearing.
テーパーベアリングのアウターレース素材およびインナーレース素材からなるタワー形状鍛造品の製造において、鍛造金型の寿命の向上を図り、欠陥の発生を少なくし、寸法および品質の安定したタワー形状品とする。 - 特許庁 - The presence of the ultrasonic wave (defect signal) is evaluated by fixing the ultrasonic flaw detection sensor installing fixture, by installing the ultrasonic sensor in the same position as that in the acquisition of the shape signal, and by acquiring the ultrasonic flaw detection to be compared.
センサの移動の自由度を回転移動と平行移動に限定し、移動量を定量評価可能なよう目盛をつけた超音波探傷センサ設置ジグを、無欠陥で検査対象と同じサイズの基準試験片に固定して形状エコーを取得する。 - 特許庁 - To provide pigment-combined particles having good adhesion to the skin, capable of covering defect of recessed parts of the skin by entering the recessed parts of the skin, e.g. pores and sulcus cutis and further, capable of improving color of the skin to a bright flesh color and to provide a method for producing the particles and to provide a cosmetic.
肌への付着性が良好で、毛穴、皮溝等の肌の凹部に入り込んで、肌の凹部の欠点をカバーすることができ、更に肌の色味を明るい肌色にすることができる複合化粒子、その製造法及び化粧料の提供。 - 特許庁 - As for the halo component in the corrected part 3 of the white defect 3, the site 6 where the halo component is present is detected and etched with electron beams 4 while introducing water vapor into near the beam irradiation position from a gas gun 5 to remove the halo component 6.
白欠陥修正個所３のハロー成分に関しては、ハロー成分が存在する個所６を認識し、ガス銃５からビーム照射位置近傍に水蒸気を導入して電子ビーム４でエッチングを行い、ハロー成分６の除去を行う。 - 特許庁 - The non-adhesion area 5 includes areas other than the external shape of the flexible printed boards 10, so when cream solder is printed on the flexible printed boards 10 using a metal mask, the metal mask is not stuck on the non-adhesion area 5 to cause no printing defect.
非粘着領域５がフレキシブルプリント基板１０の外形以外の領域を包含するので、フレキシブルプリント基板１０にメタルマスクを用いてクリームハンダが印刷される際、非粘着領域５にメタルマスクが粘着して印刷不良を招くことがない。 - 特許庁 - To provide a means of carrying out the inspection of a fine defect at a high throughput and high reliability, and a manufacturing method of a device in which the yield of device manufacturing is improved by carrying out mask inspection by such a device.
本発明は、細かい欠陥を高スループット、高信頼性で検査を行う手段を提供し、そのような装置でマスク検査を行う事によりデバイス製造の歩留りを向上させるデバイス製造方法を提供する事を目的とする。 - 特許庁 - To provide a light scattering film for a solar battery which is free from a defect arising in a semiconductor layer formed thereupon and has high heat resistance and a high optical confinement effect, and to provide an optical member for a solar battery and a solar battery having high conversion efficiency.
半導体層に欠陥を生じさせず、高い耐熱性を有し、光閉じ込め効果の高い太陽電池用光散乱膜、太陽電池用光学部材、および変換効率の高い太陽電池を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method which can manufacture a poly crystalline silicon TFT array substrate high in reliability without generating defective displays, such as point defect by preventing the deviation of patterning resulting from thermal expansion or shrinkage of a glass substrate.
ガラス基板の熱膨張あるいは収縮に起因したパターニングのずれを防止し、点欠陥等の表示不良を生じることのない信頼性の高い多結晶シリコンＴＦＴアレイ基板を製造可能な製造方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an electroless plating method for preventing a defect in bending of a flexible wiring board, unevenness of plating in the wiring board, and failures such as the decomposition of a plating solution, and to provide a wiring board which has excellent reliability in the connection of via holes.
フレキシブル配線基板の折れ曲がり不良、配線基板のめっきムラ、めっき液分解等の不具合を発生させない無電解めっき方法を提供し、これによりビアホール接続信頼性に優れた配線基板を製造することを目的とする。 - 特許庁 - When side misregistration occurs, image deficiency is not caused by moving an image in a main scanning direction by an amount equivalent to a value obtained by subtracting a defect amount from a correction amount calculated by a correction amount calculation part.
サイドレジずれが発生している場合、画像の位置を主走査方向に向かって、補正量算出部によって算出された補正量から欠損量を差し引いた値に相当する分だけ、画像を移動させると、画像欠損は発生しない。 - 特許庁
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