When the number of reproduction retry times reaches a prescribed reference value in a continuous reproduction mode, a controller 5 detects a sector which a head part 3 accesses to be a candidate defect sector and writes data in the DMA of a magneto-optical disk 100. 連続再生モードにおいて、再生リトライの回数が予め設定された基準値に達した場合に、コントローラ5が、ヘッド部3がアクセスしているセクタを欠陥候補セクタとして検出し、光磁気ディスク100のDMAに書き込む処理を行う。 - 特許庁
To provide a method for detecting defects of a welding gun for a capacitor discharge type stud welding, enabling visual capturing, being capable of carrying out data inspection and being capable of exactly detecting defects in action of the welding gun, and also to provide a defect detection device. 視覚的に捉えることができ、データ的点検が可能で、しかも正確に溶接ガンの作動良否の判定を行うことができるコンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a thermo-conductive sheet that has flexibility, can follow a special shape of an uneven surface, a bending surface or the like and can secure high thermal conductivity without any defect attributable to addition of a thermoconductive filling material. 柔軟性があり、凹凸や曲面等の特殊な形状にも追従可能であり、しかも熱伝導性充填材の添加に原因した欠陥を伴うことなく高い熱伝導率を保証することができる熱伝導性シートを提供すること。 - 特許庁
An inspection device is used for inspecting a defect in the gate wires 2 on the TFT substrate 1 comprising a plurality of gate wires 2 which are inspecting objects, and a plurality of COM wires 3 capable of forming inter-wire capacitance between themselves and the gate wires 2, respectively. 検査対象となる複数のゲート配線2と、ゲート配線2との間でそれぞれ配線間容量を構成可能な複数のCOM配線3と、を有するTFT基板1におけるゲート配線2の不良を検査する検査装置である。 - 特許庁
To provide a continuous casting method for steel and mold powder used therefor which enable one to obtain a sound quality casting piece without any defect on its surface and without causing any operating trouble such as a breakout even when a round casting piece with a small cross section size is produced. 小断面サイズの丸鋳片においても、ブレークアウト等の操業トラブルが発生せず、表面欠陥のない健全な品質の鋳片を得ることができる鋼の連続鋳造方法およびそれに用いるモールドパウダーを提供すること。 - 特許庁
To provide a printed matter inspecting system and others which enable a retrieval of a defective spot on the basis of an inspection result by increasing no working burden even when a form of printed matter changes between the time of inspection and the time of repair of a defect. 検査時と欠陥除去時との間で印刷物の形態が変化した場合であっても、作業負担を増大させることなく検査結果に基づいて欠陥箇所の探索を行うことを可能とする印刷物検査システム等を提供する。 - 特許庁
However, the application shall be reinstated if, within two months from the expiration of the prescribed period, the applicant so requests and makes a reply to the office action or takes steps to remedy the defect and within the same period pays the prescribed reinstatement fee.
ただし,所定期間の満了後2月以内に出願人がそれを請求して庁指令に応答するか又は欠陥を是正する措置を講じ,かつ,同期限内に所定の回復手数料を納付する場合は,出願は回復される。 - 特許庁
To make surely preventible a void of image, which occurs due to the adhesion of a discharge product on the surface of the image carrier of a photosensitive body and the like without inducing a trouble such as a charging defect in a cleanerless image forming device. クリーナーレス方式の画像形成装置において、帯電不良等の問題を誘発することなく、感光体等の像担持体の表面に放電生成物等が付着して発生する画像の白抜けを確実に防止することができるようにする。 - 特許庁
To provide an oxygen-free copper rough drawing wire for windings in which surface quality after cold working such as drawing is satisfactory, and the generation of a blister defect or the like can be suppressed, and to provide a method for producing an oxygen-free copper rough drawing wire for windings. 引き抜き加工等の冷間加工後の表面品質が良好であって、フクレ欠陥等の発生を抑制することが可能な巻線用無酸素銅荒引線及びこの巻線用無酸素銅荒引線の製造方法を提供する。 - 特許庁
Convolutions 88 and 100 of the economical data and the statistical model of the defect rate of the product are calculated to find an effective cost 148 of the product and an effective sales price 140 of an exchange product for the defective product. 本技術では、経済学的データと製品の欠陥率の統計モデルのコンボルーション(88、100)を計算して、製品の効果的なコスト(148)と欠陥製品に対する交換製品の効果的な販売価格(140)を見出すことができる。 - 特許庁
To provide a high-accuracy verification method by using a batch compare system, with which non-coincidence of compare in a RAM (cache/TLB) occurs only in he case of real non-coincidence occurrence (when the defect of logic to be verified is detected), for all verification programs. RAM(キャッシュ・TLB)のコンペア不一致の発生を真の不一致時(被検証論理の不良検出時)のみとした一括コンベア方式を、全ての検証プログラムにおいて使用することにより、高精度の検証方法を提供する。 - 特許庁
To eliminate strip breakage by meandering of a rolled stock and defect in shape and to prevent the deterioration of product quality and drop of productivity by reducing the difference of the coefficient of friction between upper and lower work rolls by grinding in the longitudinal direction in on-line roll griding. オンラインロール研削において、上下作業ロール長手方向の研削による摩擦係数の差を少なくすることで、圧延材の蛇行による絞り込み、形状不良をなくし、製品品質の低下及び生産性の低下を防止する。 - 特許庁
To provide a high-quality plasma display device without causing deficiency such as a lighting defect by eliminating a trouble caused by the removal of an unnecessary part in using a long panel composing material sheet with a panel composing material layer formed on a base film. ベースフィルム上にパネル構成材料層を形成した長尺のパネル構成材料シートを用いる場合に、不要部分の除去により発生する不具合を解消し、点灯不良などの欠陥がない高品質のプラズマディスプレイ装置を提供する。 - 特許庁
According to the influence of the defect on a photomask 10 on the operation of the device, inspection areas (e.g. areas A and B) on the photomask are divided into two or more areas and inspection sensitivity is set for each divided inspection area. フォトマスク10上の欠陥がデバイスの動作に与える影響に応じて、フォトマスク上の検査領域(例えば、領域A及び領域B)を2つ以上の領域に分割し、この分割した各々の検査領域に対して検査感度設定を行う。 - 特許庁
In the process improvement support apparatus, an object to be improved is specified (S43 and S34) using defect images and pareto diagrams, etc., a measure list generating engine generates a measure plan against the defects and a measure list is prepared (S46 and S37). 工程改善支援装置においては、不良画像、パレート図等を用いて改善が必要な改善対象を特定させ(S43、S34)、不良に対する対策計画を対策リスト生成エンジンに生成させて対策リストを作成する(S46、S37)。 - 特許庁
To provide a cutting tool long in tool life span even under a cutting condition easy to cause welding and boundary damage by improving abrasion resistance by restraining the oxidization of a film on a rake face while restraining an abrupt defect on a flank. 逃げ面における突発欠損を抑制しつつ、すくい面での被膜の酸化を抑制して耐摩耗性を向上させて溶着や境界損傷が発生しやすい切削条件においても工具寿命が長い切削工具を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing no defect silicon single crystal under a steady condition wherein at least defects such as OSF, FPD and LEP are not observed in the whole surface of a wafer which is obtained by slicing the grown silicon single crystal. 育成されたシリコン単結晶をスライスしてウエーハとした時に、ウエーハの全面内に少なくともOSF、FPDおよびLEP欠陥が観察されないような無欠陥シリコン単結晶をより安定した製造条件下に製造する。 - 特許庁
To prevent a defect that water flowing out of a water reservoir 21 formed between an internal pipe 3 and an outer pipe 4 of a throttle body 2 of a dual-pipe structure enters a bearing 9, in an electronic throttle device mounted with a down draft. ダウンドラフト搭載の電子スロットル装置であっても、2重管構造のスロットルボディ2の内管3と外管4との間に形成される水溜め部21より溢流した水がベアリング9に浸入する不具合の発生を防止することを課題とする。 - 特許庁
To provide a member for business equipment used as a paper feeding member that suppresses reduction of friction coefficient due to adhesion of paper powder, allows stable paper feeding, and does not cause defect of a toner image, in a device including various paper feeding mechanism. 各種給紙機構を有する装置において、紙粉の付着などによる摩擦係数の低下を抑制し、安定した紙送りが可能で、かつトナー画像の欠けを招くことのない給紙部材として用いられる事務機器用部材を提供すること。 - 特許庁
To provide a laminate not causing the occurrence of a crack in a titanium dioxide added resin layer due to volumetric expansion, the leakage of content, the occurrence of foreign taste and the like because titanium dioxide having an oxygen defect is used as an oxygen absorbent material. 酸素吸収性材料として酸素欠陥を有する二酸化チタンを用いているので、体積膨張による添加樹脂層の亀裂の発生、内容物の漏出、異味の発生などが生じる事が無い積層体を提供する。 - 特許庁
As a result, the defect in the conventional method wherein many sheets of silicon wafer W are transferred en block to the next process by using a cassette case is eliminated. 結果、カセットケースで多数枚のシリコンウェーハWをまとめて次工程へ移送する従来法の欠点、すなわち面取り工程の終了後にシリコンウェーハWを乾燥したり、カセットケースが満杯になるまで処理済みウェーハWを一時保管する必要がない。 - 特許庁
An ROP pattern detecting part 10 monitors a plotting object which is inputted to a plotting data input part 2, and detects ROP patterns in the single plotting object where the defect occurs by the ROP processing, or the plurality of continuous plotting objects. ROPパターン検知部10にて、描画データ入力部2に入力された描画オブジェクトを監視し、ROP処理により不具合が生じる単独の描画オブジェクト、または複数の連続する描画オブジェクトのROPパターンを検知する。 - 特許庁
To provide a polyester film which can evenly realize high brightness and give high quality images in a defect-less state, when used as a member for LCD, PDP, organic EL, projection display or the like, and has good optical performances and good mechanical characteristics. LCD、PDP、有機EL、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、高品質な画像を与えることができる、光学的性能および機械的特性の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor laser in which characteristic defect and characteristic irregularity are not generated and which can realize good characteristic stably, by a method wherein hydrogen is inactivated unevenly in the direction of a resonator due to the strain on the assembled mount and a current is injected unevenly. 組立マウント歪みによる共振器方向の不均一な水素不活性化とそれによる不均一注入で特性不良、特性ばらつきを生じることがなく、安定的に良好な特性を実現できる半導体レーザを提供する。 - 特許庁
To provide a monitoring object device for reducing the transmission load of monitoring information and the defect of the monitoring information in each equipment, and for surely and instantaneously transmitting only significant monitoring information and the peripheral information of the significant monitoring information. 個々の機器における監視情報の送信負荷及び監視情報の欠落を低減し、重要な監視情報及び重要な監視情報の周辺情報のみを確実かつ即座に送信する監視対象装置等を提供する。 - 特許庁
Polarization (alpha) (an angle (alpha) from s polarization) of light to be emitted on a sample which is an object for performing defect detection is calculated by substituting a condition of a circuit pattern of the sample, an azimuth angle and an incident angle of irradiation light in a predetermined formula. 欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光(アルファ)(s偏光からの角度(アルファ))を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁
To provide a dater recorder and a data recording method which can stably reproduce data recorded in a user data area by suppressing DC components and low-frequency components even in areas other than the user data are and a defect area. ユーザデータ領域以外の領域や、ディフェクト領域においても直流成分及び低周波成分を抑制することで、ユーザデータ領域に記録されたデータを安定に再生することができるデータ記録装置およびデータ記録方法を提供する。 - 特許庁
By keeping the inclination angle within a range of 0.05 to 0.2°, the step 202 density on the sapphire substrate can be optimally controlled and the nitride-based compound semiconductor element being extremely flat and having a reduced defect density and improved electrical and optical characteristics can be obtained. 傾斜角を0.05°から0.2°に保つことによりサファイア基板上のステップ202密度を最適に制御し、極めて平坦かつ欠陥密度を低減し、電気的光学的特性を向上した窒化物系化合物半導体素子が得られる。 - 特許庁
When the target pixel is a defective pixel, a median (binary) calculation section 145 calualtes a median from two medians obtained from the pixel values of the eight surrounding pixels, and the defect correction section 144 corrects the pixel value of the target pixel by using the median. 注目画素が欠陥画素のとき、中間値(2値)算出部145において周囲8画素の画素値から求められた2個の中間値から中央値を算出し、欠陥補正部144は、注目画素の画素値をこの中央値を用いて補正する。 - 特許庁
To provide a debugging system which can mitigate work required for investigation of a bug cause regarding a wrong branch by specifying a defect module automatically, creating a bug slip automatically, and transmitting it automatically to a responsible personel of the module. モジュールの不正分岐に関し、不具合モジュールを自動的に特定化し、バグ票を自動作成し、該当するモジュールの担当者に対して自動送信することで、バグ原因の調査にかかる作業を軽減できるデバッグシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a toner superior in transfer efficiency, even in a high-speed full-color image forming method, and capable of image output with no image defect and good reproducibility in transfer, and a developer, a toner-containing container, a process cartridge and an image forming method using the toner. 高速のフルカラー画像形成方法においても転写効率が優れ転写時に画像欠陥がなく再現性のよい画像出力が可能なトナーとそれを用いた現像剤、トナー入り容器、プロセスカートリッジ及び画像形成方法を提供する。 - 特許庁
By maintaining the inclination angle within a range from 0.05 to 0.2 degrees, a step density on the sapphire substrate is optimally controlled to keep a very flat front face and reduce the defect density, thereby obtaining a nitride-based compound semiconductor film with improved electrical and optical characteristics. 傾斜角を0.05°から0.2°に保つことによりサファイア基板上のステップ密度を最適に制御し、極めて平坦かつ欠陥密度を低減し、電気的光学的特性を向上した窒化物系化合物半導体膜が得られる。 - 特許庁
In a self discharge defect detection device 10 for a secondary battery 1, charging means 2 charges the secondary battery 1 as a test object, and determination means 5 calculates an input capacity of charged current required to reach charge finish current. 二次電池1の自己放電不良検出装置10において、充電手段2は、検査対象である二次電池1を充電し、判定手段5は、電流が充電終了電流に到達するまでに要した投入容量を計算する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a transfer mask (stencil mask) that reduces a defect of a warpage caused in a transfer mask fabricated by using an SOI wafer due to a compressive stress of an etching stopper layer and has excellent transfer accuracy. SOIウェハを用いて作製される転写マスク(ステンシルマスク)に発生するエッチングストッパ層の圧縮応力に起因した反りという転写マスクの欠陥を低減し、優れた転写精度を有する転写マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electronic apparatus equipped with an active matrix display device, in which the occurrence of an invisible defect caused by an electrostatic discharge damage of a dummy pixel region formed on the periphery of an effective display region is avoided, and as a result, production yield is improved. 有効表示領域周辺に形成されたダミー画素領域の静電破壊により、視覚されない不良となることを回避し、生産効率を向上したアクティブマトリクス表示装置を具備してなる電子機器を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide an NAND type flash memory semiconductor device that suppresses an increase in the inverted leakage of a HV type transistor while suppressing the generation of a crystalline defect in an LV type transistor of a peripheral circuit, and also to provide a method of controlling the semiconductor device. 周辺回路部のLV系トランジスタでの結晶欠陥の発生を抑制しつつ、HV系トランジスタでの反転リークなどの増加を抑制できるようにするNAND型フラッシュメモリの半導体装置と製造方法を提供する。 - 特許庁
To prevent problems such as abnormal shutdown of the device or generation of defect products etc., and to realize a power save operation even when manufacturing products with various lengths. 長短が混在する線長を呈する製品を製造する場合であっても、装置の異常停止又は製品不良等の不具合の発生を未然に抑制しながら、省電力運転を実現し得る自動切断圧着装置を提供することをを課題とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of improving characteristics in a transistor with a strain silicon layer as a channel region by forming the high-quality strain silicon layer, where a crystalline defect is reduced on a silicon germanium layer, and to provide a method for manufacturing the semiconductor device. シリコンゲルマニウム層の上に結晶欠陥を低減した高品質の歪みシリコン層を形成することにより、歪みシリコン層をチャネル領域とするトランジスタの特性を改善できる半導体装置及び半導体装置製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a low-cost optical film by using a cellulose ester film which is in an excellent wound shape and nearly free of a defect even when thin and to provide a polarizing plate which has the optical film and a display device which has the polarizing plate and superior visibility. 薄手でも巻き姿が良好で欠陥のほとんどないセルロースエステルフィルムを用いて、低コストの光学フィルムを提供し、その光学フィルムを有する偏光板、及びその偏光板を有する視認性に優れた表示装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for image forming in which an excellent image can be obtained by a stable cleaning device without losing wear resistance of a photoreceptor with extremely reduced photoreceptor deterioration, such as filming, and without generating a cleaning defect with a small grain size and spherical toner. 感光体の耐摩耗性を損なわず、フィルミングなどの感光体劣化がきわめて少なく、しかも小粒径、球形トナーに対してクリーニング不良を発生させない安定したクリーニング装置により優れた画像を得ることのできる画像形成方法。 - 特許庁
To provide a process of manufacturing foamed polyolefinic resin moldings having a good quality such as a less decrease in the strength or lower defect ratios of the moldings as compared with those of virgin polyolefinic resins even when waste polyolefinic resins are utilized for the raw materials. 本発明は、廃ポリオレフィン系樹脂成形体を利用しても、バージンのポリオレフィン系樹脂と比して強度低下が少なく、成形体の不良率が低い等品質の良好な、発泡ポリオレフィン系樹脂成形体の製造方法を提供すること。 - 特許庁
A differential interference type optical system 10 extracts an image having no dependency on the film thickness of the object 4, so the image signal obtained by the CCD camera 5 is processed by the image processor 20 to easily detect the defect. 微分干渉型光学系10は対象物4の膜厚に対して依存性を有しない像を抽出するので、CCDカメラ5で撮像した画像信号を画像処理装置20で処理することによって容易に欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a wall part or a covering hood capable of immediately separating the wall part or the covering hood by immediately detecting defect relating to manufacturing of the wall part of a gondola of a cableway system or the covering hood for a chair. ロープウェイシステムのゴンドラの壁部品又は椅子用フードカバーの製造関連の欠点を直ちに検出することにより、これら壁部品又はフードカバーをすぐに分離することができる、壁部品又はフードカバーを製造する方法を提供する。 - 特許庁
When any one of luminance conversion mode, red conversion mode and green conversion mode is set, whether the color characteristic of the subject image obtained by photographing causes a cognitive defect for the person defective in color perception or not is determined (steps S204, S209 and S213). 輝度変換モード、赤変換モード、緑変換モードのいずれかが設定された場合、撮影により得られる被写体像の色特性が色覚障害者に認識障害となっているか判断される(ステップS204、S209、S213)。 - 特許庁
To provide an organic EL element which uses an improved charge-transporting material capable of removing a defect which occurs by the use of usual CBP when the phosphorescence emission type organic EL element is composed, and to provide a display panel using the same. 燐光発光型の有機EL素子を構成する際に、従来のCBPを用いた際に生じる欠点を解消する改良された電荷輸送性材料を用いた有機EL素子、およびこれを用いた表示用パネルを提供すること。 - 特許庁
To provide a copper paste and a wiring substrate using the same capable of forming a plating film without producing any glass protrusion on the surface of a conductive layer and any defect in a fine wiring pattern in the wiring substrate using copper in the conductive layer. 導体層に銅を用いた配線基板において、導体層の表面にガラスの浮き出しがなく、微細な配線パターンに欠陥の無いメッキ皮膜が形成できる銅ペーストとそれを用いた配線基板を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a silicon wafer that is made free from a Grown-in defect, has high gettering effect, prevents BMD from being deposited in a device active region, and is improved in thermal strength of the device active region. Grown−in欠陥の無欠陥化や、高いゲッタリング効果を備え、かつ、デバイス活性領域におけるBMDの析出を防止することができ、更に、デバイス活性領域の熱的強度を向上させることができるシリコンウェーハが提供される。 - 特許庁
To provide a polyester film that has no unevenness and no defect, provides a high-quality image realizing a high brightness and has excellent processing characteristics and optical performance when used as members for LCD, PDP, organic EL, projection display etc. LCD、PDP、有機EL、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現した高品質な画像を与えることができ、かつ、加工特性に優れた光学的性能の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁
In this defect detection device 1, two-dimensional image data of a swath which is a belt-like domain corresponding to one divided pattern among a plurality of divided patterns acquired by dividing a unit pattern on one die on a substrate 9 are acquired. 欠陥検出装置1では、基板9の1つのダイ上において、単位パターンを分割して得られる複数の分割パターンのうち、1つの分割パターンに対応する帯状の領域であるスワスの2次元の画像データが取得される。 - 特許庁
To provide a stitch balancing thread tension device of a sewing machine capable of stably applying a fine tension to a needle via a thread take-up lever and capable of sewing a thin fabric and a soft fabric into a favorable quality without causing seam defect. 天秤を経て針に供給される上糸に、微小な張力を安定して付与することができ、薄い生地、柔らかい生地を、縫目欠陥を生じることなく良好な品質にて縫製することができるミシンの糸調子装置を提供する。 - 特許庁