「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 329 330 331 332 333 334 335 336 337 .... 366 367 次へ＞- To provide a substrate for a magnetic recording medium which is excellent in the surface accuracy while having only a small surface defect, minute waviness, etc., excellent in the mechanical strength and further excellent in the reliability for the surface stability, etc., and also to provide the magnetic recording medium using the above substrate and its manufacturing method.
表面の欠陥や微小うねり等が少なく表面精度に優れ、また機械強度に優れ、さらに形状安定性等の信頼性に優れた磁気記録媒体用基板、その基板を用いた磁気記録媒体およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To dissolve a defect that, for example, a part for evoking attention other than a face arises and appearance of a contrast emphasized wall, etc. is dirtily emphasized depending on the case since attributes of divided areas are not considered when gradation compensation is performed by dividing an image into areas.
画像を領域に分割して階調補正を行う際に、分割した領域の属性を参酌しないため、例えば顔以外に注目を喚起する部分が生じてしまう上、コントラスト強調された壁などは場合によっては見た目が汚く強調されてしまう欠点を有する。 - 特許庁 - A light defect 42 is determined as a location where the brightness of the image pattern exceeds the brightness of the upper pattern image by comparing the brightness at each location in each gray area of the image pattern picked up by the image pickup apparatus with the brightness at each location in each gray area of the upper pattern image.
そして、画像読取装置で読取った画像パターンの各濃淡域における各位置の輝度と上限パターン画像の各濃淡域における各位置の輝度とを比較して、画像パターンの輝度が上限パターン画像の輝度を超えた位置を明欠陥４２と判定する。 - 特許庁 - Thereby, in light transmitting through the first liquid crystal element 30A, a defective position caused by the first power feeding wires 51 and 52 and a defective position caused by the first liquid crystal injection opening 32a caused by variation of environment temperature or the like are almost overlapped, less defect light can be obtained.
これにより、第１液晶素子３０Ａを透過する光において、第１給電配線５１及び５２に起因する不良位置と、環境温度変化などにより発生する第１液晶注入口３２ａに起因する不良位置とが、ほぼ重なり、不良の少ない光を得ることができる。 - 特許庁 - A relief processing part 21 is shared by the redundant memories 11 and 12, and has a plurality of defect relief sections 211-21x which have relief information storage sections L11-L1X constituted storable of relief information S3 respectively, and performs relief processing of the redundant memories 11 and 12.
救済処理部２１は、冗長メモリ１１，１２に共有されており、かつ、救済情報Ｓ３を格納可能に構成された救済情報格納部Ｌ１１〜Ｌ１Ｘをそれぞれ有する複数の不良救済部２１１〜２１ｘを有し、冗長メモリ１１，１２の救済処理を行う。 - 特許庁 - A defect of a lens 7 to be inspected as a measurement object is simultaneously measured by using an apparatus 1 causing a light beam transmitted through a reference lens 6 as a comparison object to interfere with a light beam transmitted through the lens 7 to be inspected and measuring the amount of aberration of the lens 7 to be inspected from a generated interference fringe 50.
比較対象としての基準レンズ６を透過した光束と、測定対象としての被検レンズ７を透過した光束とを干渉させ、発生する干渉縞５０から被検レンズ７の収差量を測定する装置１を用いて、同時に被検レンズ７の欠陥を測定する。 - 特許庁 - To provide the insulating film forming method of a semiconductor device which can improve the reliability of process and the electrical characteristics of element, by minimizing defect generation in the front surface of the insulating film, and by suppressing failures or the like, where a pattern formed on its upper portion becomes thin, or is cut.
絶縁膜の表面における欠陥発生を最小化し、その上部に形成されるパターンが薄くなり或いは切れる不良などを抑制し、工程の信頼性及び素子の電気的特性を向上させることが可能な、半導体素子の絶縁膜形成方法を提供する。 - 特許庁 - Since the metallic layer 4a contains very high contents of metallic particles, a defect such as cleavage is not caused to the metallic layer 4a at baking processing even when the thickness is thinned, and a stacked ceramic capacitor with desirable quality and desirable electric characteristics can be manufactured.
前記の金属層４ａは金属粒子含有量が極めて高いため、厚さが薄くなっても焼成処理時に金属層４ａに分裂等の欠陥を生することがなく、これにより所期の品質及び電気特性を有する積層セラミックコンデンサを製造できる。 - 特許庁 - In the recording action of information, the reflected light of the laser beam cast to execute recording of this information from the recording medium 5 is detected with a photodetector 7 in the recording action of information and the abnormality of the recording is detected together with this information recording action by a defect detecting circuit 12 in recording.
情報の記録動作時において、この情報記録を行うために照射されるレーザ光の記録媒体５からの反射光を光検出器７で検出し、記録時欠陥検出回路１２により、この情報記録動作とともに記録の異常を検出する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device mounted with a liquid crystal driving circuit for optimizing display performance by automatically repairing orientation disorder generated in a liquid crystal layer sandwiched between two glass substrates to cause a display defect, as a simple matrix type liquid crystal display device.
単純マトリクス型の液晶表示装置において、２枚のガラス基板に挟まれる液晶層に生じ表示不良の原因となる配向乱れを自動的に修復し、表示性能を最適化するための液晶駆動回路を搭載した液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To suppress the occurrence of a bonding peel-off defect caused by the reason that components such as C and F in etching gas such as CF_4 and CHF_3 to be used in an etching process for forming the aperture of a passivation film consisting of a silicon nitride film is left on the Al surface of a bonding pad.
本発明は、シリコン窒化膜から成るパッシベーション膜に開口部を形成するためのエッチング工程において用いられる、例えばＣＦ_４やＣＨＦ_３等のエッチングガス内のＣやＦの成分などがボンディングパッドのＡｌ表面に残ることに起因するボンディング剥がれ不良を抑止する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can reduce an influence of a temperature difference generated from the difference of thermal absorbing efficiencies of an SOI region or an SON region and a silicon region on a substrate even when abrupt heating or cooling is conducted on the substrate, and which can prevent a crystal defect from occurring on the substrate.
基板に対して急速な加熱、冷却を行っても、基板上のＳＯＩ領域あるいはＳＯＮ領域とシリコン領域との熱吸収効率の違いから生じる温度差の影響を低減でき、基板に結晶欠陥が発生するのを防止できる半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a top layer film forming composition for forming a top layer film that hardly causes intermixing with a photoresist film, keeps a stable film state hardly eluting in an immersion liquid, can suppress generation of a development peeling defect, and allows formation of a resist pattern with high resolution.
フォトレジスト膜とのインターミキシングが生じ難く、液浸液に溶出し難く安定な被膜を維持可能であり、現像剥離欠陥の発生を抑制することが可能であり、高解像度のレジストパターンを形成可能な上層膜を形成するための上層膜形成組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of repairing a coating film, by which the time necessary for repair-coating a conventional coating film of an automobile is shortened, an excellent appearance smooth and free from cratering or pin hole is attained and which is suitably used particularly for minor repair when the defect of the coating film is relatively small.
従来の自動車塗膜の補修塗装にかかる時間を短縮化するとともに、平滑でワキやピンホール等の少ない良好な外観が得られ、特に、塗膜の欠陥が比較的小さい場合の軽補修に好適に用いられる塗膜の補修方法を提供する。 - 特許庁 - To allow easy eddy current examination of high senstivity as to the presence of a defect generated on a surface of a testing body having a circular cross section, in a hot condition, and reduce the possibility of damage of a flaw detection coil in the eddy current examination to a small extent.
円形断面を有する試験体の表面に発生した欠陥の有無を、熱間において、高感度かつ簡便に渦流探傷することができ、しかも、渦流探傷の際に探傷コイルが破損するおそれの少ない熱間渦流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁 - A defect correcting device applying the correction material to the defective point of a panel substrate to correct the defective point is provided with an application head for applying the correction material to the defective point and a shielding mechanism inserting a shielding member between the application head and the panel substrate so that the shielding member can be retreated.
パネル基板の欠陥箇所に修正材料を塗布して修正する修正装置において、修正材料を欠陥箇所へ塗布するための塗布ヘッドと、塗布ヘッドとパネル基板との間に遮蔽部材を退避可能に挿入する遮蔽機構を備えることを特徴とする。 - 特許庁 - Regarding the method of forming an electrodeposition coating film in which the defect in gas pinholes is reduced, the object to be coated is dipped into a cationic electrodeposition coating material comprising resin fine particles with a mean particle diameter of 0.5 to 20 μm by the amount of 1 to 30 wt.% to the solid content of the coating material, and is subjected to electrodeposition coating.
平均粒径０．５〜２０μｍを有する樹脂微粒子を塗料固形分に対し１〜３０重量％の量で含有するカチオン電着塗料中に被塗物を浸漬した後、電着塗装することを特徴とする、ガスピン欠陥の少ない電着塗膜の形成方法。 - 特許庁 - A laminate 15a is composed of a silicon carbide substrate 151 and a GaN layer 152 located thereon and set on a stage 12, and, when the GaN layer 152 located on the silicon carbide substrate 151 is irradiated with exciting light, light is emitted from a defective part in the GaN layer caused by a structural defect in the silicon carbide substrate.
ステージ１２上にセットされた、積層体１５ａを構成するシリコンカーバイド基板１５１上のＧａＮ層１５２に対して励起光を照射すると、当該ＧａＮ層のうちシリコンカーバイド基板の構造欠陥に起因する欠陥部分から発光が生じる。 - 特許庁 - To reduce a possibility of recording failure and to attain an efficient recording operation of a defect management by preliminarily inspecting a stain before the recording even when a scratch or stain exists on a recording area on an optical disk medium and by referring to the inspection result when the recording area is assigned.
光ディスク媒体上の記録領域に傷や汚れがある場合でも、予め記録前に汚れ検査を行っておき、記録領域割当て時に検査結果を参照することによって、記録失敗の可能性を低下させ、効率の良い欠陥管理記録を可能にする。 - 特許庁 - This method comprises a step 31 for preparing two wafers and a step 41 for making one wafer stick to the other wafer, especially for making joint; and further in this method, a step 33 wherein the edge roll-off value is decided to reduce the amount of crystal defect generated at or near the boundary of the wafer is executed.
２つのウエハを用意するステップ３１と、一方のウエハを他方のウエハに対して付着させ、特に接合させるステップ４１とを備え、ウエハの境界もしくはその近傍で生じる結晶欠陥の量を減らすために、エッジロールオフ値を決定するステップ３３が実行される方法に関する。 - 特許庁 - This inspection method measures a reflection coefficient, a space distribution of the reflection coefficient or a frequency characteristic of the reflection coefficient when bringing an electromagnetic field probe or an optical fiber close to the semiconductor that is an inspected target, and compares it with one of the good product to decide whether the semiconductor is the good product or the defect product.
被検査対象である半導体の近傍に電磁界プローブもしくは光ファイバを近づけたときの反射係数または反射係数の空間分布または反射係数の周波数特性を測定し、良品と比較することで良品／不良品の判別を行う。 - 特許庁 - To provide an uniform quality green compact reduced in a defect generation rate of the compact by forming a green compact, which is formed from a high specific gravity material of cemented carbide powder and is carried away from a compacting device, to a polygonal shape for avoiding deformation/ breaking and automatically feeding to a sintering dish.
超硬合金粉末の高比重材料を成形して成形装置から搬出した成形体を、変形、破損を回避する多角形状に成形して焼成用皿に自動的に送給することにより、成形体の不良発生率を削減して、品質が均一の成形体を提供する。 - 特許庁 - In the case where the derived differential value D belongs to a preset range, the inspection target pixel is determined as a non-defective pixel, and in the case where the derived differential value D does not belong to the preset range, the inspection target pixel is determined to be a defective pixel that belongs to a defect grade according to the differential value D.
導出した差分値Ｄが、予め設定された範囲に属する場合、当該検査対象の画素は欠陥画素でないと判定し、そうでない場合、当該検査対象の画素は、差分値Ｄに応じた欠陥グレードに属する欠陥画素であると判定する。 - 特許庁 - To provide a powder transfer device having a simple structure and capable of being miniaturized, facilitating maintenance work, maintaining excellent quality of powder easily, and preventing occurrence of failure resulting in stop of operation of this device due to defect in the structure during operation, and transferring powder stably.
構造が簡単で装置の小型化が可能で保守作業が容易で、粉体の品質の維持が容易で、かつ運転時においては構造上の不具合による停止にいたる支障の起こり難く、粉体移送が安定して行われる粉体移送装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a thin film solar cell, in which an effective area of a transparent electrode layer is increased to increase the output of the thin film solar cell, and an insulation property at a second through-hole is secured to reduce a defect rate in manufacturing the thin film solar cell.
本発明は、透明電極層の有効面積を広げて薄膜太陽電池の出力を増加させるとともに、第２の貫通孔における絶縁性を確保して薄膜太陽電池を製造する際の不良率を低下させる薄膜太陽電池の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a chip suction body for a die bonding device, which has a structure which allows chip dies to be bonded to a substrate or the like without causing damage such as crystal defect to the chip dies in bonding the chip dies cut from a wafer to the substrate or the like.
ダイボンディング装置に採用される吸着体において、ウエハから切り出されたチップダイを基板等にボンディングする際、チップダイに結晶欠陥等の損傷を与えることなくチップダイを基板等にボンディングすることができる構成を備えるチップ吸着体を提供する。 - 特許庁 - Furthermore, the defect detection circuit 3 monitors the output 10 of the abnormality detection circuit 2 for an abnormality of a circuit component or the like and when the circuit 3 detects a prescribed number of times of outputs 10 within a prescribed time, the circuit 3 discriminates it to be abnormal and disconnects the coding circuit 1 from a transmission line 9.
また、回路素子等の異常に対しては、異常検出回路２の出力１０を故障検出回路３で監視し、一定時間内に一定回数の出力１０が検出されたら異常とし、符号化回路１を伝送路９から切り離すようにする。 - 特許庁 - To provide a light diffusion sheet which does not cause non-diffuse reflection and transmission due to defect and has diffusion performance adjustable in a simple and easy way, to provide a manufacturing method of the light diffusion sheet for manufacturing the light diffusion sheet by using the same manufacturing apparatus, and to provide a screen employing the light diffusion sheet.
欠陥による無拡散反射や透過がなく、簡便に拡散性能を調整することが可能な光拡散シート、及び該光拡散シートを同一の製造装置を用いて製造可能な光拡散シートの製造方法、並びにその光拡散シートを用いたスクリーンを提供する。 - 特許庁 - To provide a resin composition for timber impregnation improved in curability, at the same time capable of insuring a satisfactory durability as a resin impregnated timber, capable of forming a cured resin film few in appearance defect such as a scratch, warp, crack or the like at the outside surface and the inside of the timber.
硬化性に優れると共に、樹脂含浸木材として十分な耐久性を確保でき、かすれ等の外観不良、木材のソリ、割れ等の少ない硬化樹脂塗膜を、木材の表面および内部に形成することのできる木材含浸用樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a blue light-emitting polymer that has high color purity, low drive voltage, high efficiency, particularly improving the chromatic coordinate in the blue color area, controls the increase of required brightness and can overcome the defect of short life, and provide an organic electroluminescent element using the same.
色純度が高くて、駆動電圧が低く、効率が高く、特に青色領域での色座標特性を改善して、要求される輝度が増加することを制御し、寿命が短くなる減少を改善できる青色発光高分子及びこれを採用した有機電界発光素子を提供する。 - 特許庁 - A molding stock 2 composed of aluminum or an aluminum alloy is arranged in each region R in which the defect in a run is suspected in the internal space 10 of a mold 1, and then, the molding stock 2 is melted and is solidified together with the molten metal 3 of aluminum or an aluminum alloy poured into the internal space 10.
鋳型１の内部空間１０のうち湯回り不良が懸念される領域Ｒにアルミニウム又はアルミニウム合金からなる成形素材２を配置したうえで、成形素材２を溶融し、内部空間１０に注入したアルミニウム又はアルミニウム合金の溶湯３とともに凝固させる。 - 特許庁 - To provide a device for removing weld spatter/slug residues capable of reducing the frequency of occurrence of improper detections and enhancing the defect detection accuracy by removing residues of the slag and the spatter remaining on a weld joint when carrying out the ultrasonic flaw detection of the weld joint of a welded steel tube.
溶接鋼管の溶接継ぎ目部の超音波探傷を行なうにあたって、溶接継ぎ目部に残留するスラグやスパッターの残渣を除去することによって、誤検出の発生頻度を減少させ、欠陥の検出精度を向上できる溶接スパッター・スラグ残り除去装置を提供する。 - 特許庁 - A liquid crystal cell wherein a zigzag defect occurs in the ferroelectric liquid crystal is heated up to a temperature almost reaching the temperature which causes phase transition of the ferroelectric liquid crystal from a smectic C phase to a smectic A phase, and this heating temperature is kept for a certain time and then is gradually reduced to a normal temperature.
強誘電性液晶にジグザグ欠陥が発生した液晶セルを、強誘電性液晶がスメクティックＣ相からスメクティックＡ相へ相転移する直前の温度まで加熱し、その加熱温度を一定時間保持した後、加熱温度を常温まで徐々に低下させる。 - 特許庁 - Defect discrimination circuits 11R, 11G, 11B for each color discriminate whether or not processing target pixels R11, G11, B11 are defective on the basis of pixel values of the processing target pixels R11, G11, B11 for each color and pixel values of the surrounding pixels and generate discrimination signals SR, SG, SB.
各色の欠陥判定回路１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂは、各色の処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１の画素値及び周辺画素の画素値に基づいて処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１に欠陥があるか否かを判定し、判定信号ＳＲ，ＳＧ，ＳＢを生成する。 - 特許庁 - Thus, since impurities adhered to the surface Si, C of the surface of the substrate can be simultaneously removed for several atom layers by exposing the surface of an SiC substrate with a high temperature and low oxygen partial pressure, a defect is made very small at the oxide film formation time, and the clean surface can be exposed.
ＳｉＣ基板表面を高温かつ低酸素分圧下に晒すことにより、表面に付着した不純物と基板表面のＳｉ、Ｃを数原子層分除去することが同時にできるので、酸化膜形成時には欠陥が少なく極めて清浄な表面を露出させることができる。 - 特許庁 - To provide a system for analyzing quality defect in a manufacturing process, that can compare a defective portion in a selling store with a checked result portion in a factory by a development to calculate a correlation ratio, and quickly specify the cause of the failure in a manufacturing process based on judgment from the correlation ratio.
販売店からの不具合部位と工場での検査結果部位を展開図によって対比を行い、相関率を算出し、この相関率による判定に基づいて製造工程上での原因の特定を迅速に行うことができる製造工程品質不具合解析システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming device capable of preventing the occurrence of image defect by efficiently discharging toner attracted to an electrifying brush of the deterioration of the bristles of a contact electrifying means such as the electrifying brush, the increase of contact resistance caused by grouping and the increase of the electrostatic attractive force of the toner in low humidity environment.
帯電ブラシなど接触帯電手段の穂先劣化やグルーピングによる接触抵抗の増大、低湿度環境でのトナーの静電吸着力の上昇等によりブラシに吸着するトナーを効率よく吐き出し、画像欠陥の生じない画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - The method contains a process for applying an adhesive layer 16 to a metal substrate 14 and a process for laminating a decorating metallic plate 12 on the metallic substrate 14 so as to substantially completely avoid a surface defect and a core reflection phenomenon along an outside face 13 of a decorating metal plate 12.
接着剤層１６を金属基板１４に塗布する工程と、装飾金属板１２の外側面１３に沿った表面欠陥とコアうつり現象を実質的に完全に回避するように前記装飾金属板１２を前記金属基板１４にラミネートする工程とを有している。 - 特許庁 - To provide a method by which a glass optical element can be manufactured in a high yield even when appearance defect (haze) occurs on the surface of a glass molded body due to the damage of a mold releasing film at the surface of a mold or the damage of a mold releasing functional film at the surface of a glass preform.
成形型表面における離型膜の損傷又はガラス素材表面における離型機能膜に起因してガラス成形体表面に外観不良（クモリ）が発生した場合であっても、高い歩留でガラス光学素子を製造することができる方法を提供する。 - 特許庁 - In inspecting a liquid crystal display element, the separation of a pixel in which writing voltage fluctuates by the shift of the characteristic of the TFT from a defect showing the abnormality of the external appearance is performed by adding a frame B 23 such as to cancel the shift of the characteristic of the TFT to a frame A 21 for detecting writing voltage.
液晶表示素子の検査において外観異常を伴なう欠陥とＴＦＴ特性シフトによって書込み電圧がばらついた画素の分離は、書込み電圧を検出するフレームＡ２１にＴＦＴの特性シフトをキャンセルするようなフレームＢ２３を追加することにより行う。 - 特許庁 - To automatically generate an inspection mask image for extracting pixels to be inspected at a dark region from the imaging image of an object to be examined for examining the defect such as an off-setting in a black print section having a low concentration level on the object to be examined such as a drink container using digital image processing.
飲料容器などの被検査物上の濃度レベルの低い黒色印刷部の印刷ハゲ等の欠陥検査をデジタル画像処理で行うため、被検査物の撮像画像から暗部領域の検査対象画素を抽出する検査マスク画像を自動生成する。 - 特許庁 - If no management information file is read in this judgment, or if a defect is judged to be present in the management information, the management information file is repaired by analyzing not only the video information recorded in the storage means but also the program information file.
これらの判定において、管理情報ファイルが読み出せなかった場合、または、管理情報に欠陥があると判断した場合には、記憶手段に記録されている映像情報だけでなく、前記番組情報ファイルを解析することにより、管理情報ファイルの修復を行う。 - 特許庁 - The mask inspection device 1 in one embodiment is equipped with a two-dimensional optical sensor 208 for imaging a defect on a mask 220, and a mode-lock fundamental wave laser 101 for irradiating the mask 220 with light having the larger number of repetition than a line rate of the two-dimensional optical sensor 208.
本発明の一態様に係るマスク検査装置１は、マスク２２０上の欠陥を撮像する二次元光センサー２０８と、二次元光センサー２０８のラインレートより高い繰返し数の光を、マスク２２０に照射するモードロック型の基本波レーザ１０１とを備える。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus in which a developing means is commonly used as a means for recovering and cleaning the toner remaining after transfer and which is excellent in miniaturization and does not give rise to an image defect and image memory due to fusion of a latent image holding medium and contamination of an electrostatic charging member.
現像手段が、転写残トナーを回収クリーニングする手段を兼ねている小型化にすぐれている画像形成装置において、潜像保持体の融着・帯電部材の汚染による画像不良・画像メモリの発生しない画像形成層値を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device having high operational reliability by forming a metal reflection layer composed of a Cr layer and an Al layer, having a shape of which the pattern dimension of the Al layer is smaller than that of the Cr layer, and preventing a display defect, and a method for manufacturing the same.
Ｃｒ層、Ａｌ層からなる金属反射層で、Ａｌ層のパターン寸法をＣｒ層のパターン寸法よりが小さい形状の金属反射層を形成して、表示不良を防止し、高い動作信頼性を有する液晶表示装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The read or write time of a prescribed quantity of data is measured and is compared with a limit time, and a pertinent area is decided to be defective when the access time exceeds the limit time, and the area is registered in a defect list so that the area cannot be used.
規定量のデータの読み出しあるいは書き込み時間を計測し、制限時間と比較することにより、アクセス時間が制限時間を超えた場合に該当領域を不良と判定し、ディフェクトリストに登録することにより、該当領域を未使用にすることを可能にする。 - 特許庁 - To realize a method for inspecting a semiconductor device, which can inspect for the presence of generation of etching stop phenomenon or a mis-etching during hole formation with a simple visual inspection, can find defects in manufacture at a early stage, and can prevent flow out of the defect to a next step.
ホール形成時におけるエッチングストップ現象又は抜け不良の発生の有無を簡単な外観検査により検査することができ、製造不良を早期に発見することができると共に、次工程への流出を防止することができる半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method and the device capable of distinguishing black stains, non-black stains and tears, without determing pattern as a defect, when performing an inspection of defects, such as stains, tears and defective shape in a sheet-like article that varies widely in color reproducibility (dispersion, color unevenness and/or color fading).
色の再現性に幅（ばらつき、色ムラおよび／または色あせ）のあるシート状物品における汚れ、破れ、形状不良等の欠陥検査において、模様を欠陥と判定せず、かつ、黒汚れ、非黒よごれおよび破れの判別が可能な検査方法および装置の提供。 - 特許庁 - To provide a surge current discharge method, a discharge testing device, and a discharge monitoring method for inspecting defect in which reinforcement embedded in a foundation part of a building or concrete of each floor is broken and dissolved due to lightning before ready-mixed concrete placing.
建物の基礎部分や各フロアのコンクリート内に埋設されている鉄筋が落雷により破壊あるいは溶解してしまうような瑕疵を生コンクリート打設前に検査することができるサージ電流放電工法及び放電試験器並びに放電監視方法を提供する。 - 特許庁 - The data analysis part 24, on the basis of the input of extraction condition by the permitted access, extracts information meeting the extraction condition from the image information, the product defect information and the history information to generate a graph showing the extraction result with the image of the component 7 being a graph element.
データ解析部２４は、許可されたアクセスによる抽出条件の入力に基づいて、画像情報、製品不具合情報及び履歴情報から抽出条件を満たす情報を抽出し、部品７の画像をグラフ要素として抽出の結果を示すグラフを生成する。 - 特許庁
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