「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 349 350 351 352 353 354 355 356 357 .... 366 367 次へ＞- To provide a phase transition type optical recording medium wherein repetitive recording at high linear speed of DVD 8X or more with a capacity equal to that of a DVD-ROM can be performed and a disk defect due to film floating and the like are hardly generated even after repetitive recording or long time preservation under severe environment by enhancing adhesiveness between a reflection layer and a sulfuration preventing layer.
ＤＶＤ−ＲＯＭと同容量でＤＶＤ８倍速以上の高線速度で繰返し記録が可能であり、反射層と硫化防止層との密着性を向上させることにより、繰返し記録後あるいは過酷な環境下で長期保存した後でも、膜浮き等によるディスク欠陥が生じ難い相変化型光記録媒体の提供。 - 特許庁 - To provide a rust-proofing film which has a flexible and durable barrier layer, is furthermore easy to be laminated, excellent in workability and economic efficiency and free from the generation of a delamination defect where the barrier layer can prevent a vapor phase corrosion inhibitor that functions as rust-proofing from discharging out of package and exterior water vapor and oxygen from permeating when a metal part etc. is packed.
金属部品などを包装した時に、発錆防止機能を発現させる気化性防錆剤の包装外への放出と外部からの水蒸気及び酸素の浸入を抑制できる柔軟で耐久性のあるバリア層を備え、かつ、積層が容易で加工性・経済性に優れ、デラミネーション不良の発生しない防錆フィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a single crystal by which a high quality single crystal can be stably and efficiently manufactured by expanding the margin of the pulling speed F enabling the single crystal to be pulled in a desired defective region, particularly an N-region where no Cu-deposition defect is detected in manufacturing of the single crystal by a Czochralski method.
チョクラルスキー法による単結晶の製造において、所望の欠陥領域、特にＣｕデポジション欠陥が検出されないＮ領域で単結晶の引上げを行うことのできる引上げ速度Ｆのマージンを拡大して、高品質の単結晶を安定して効率的に製造できる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a cutting insert for flange work capable of reducing cutting resistance, improving cutting blade strength in accordance with the cutting resistance, restraining chattering vibration in working and defect of a cutting blade even in heavy cutting work under a more serious cutting condition and displaying an excellent chip discharging property.
切削抵抗を減少させるとともに、かかる切削抵抗に応じて切れ刃強度を向上させ、より厳しい切削条件下の重切削加工においても、加工中におけるびびり振動および切れ刃の欠損を抑制するとともに、優れた切り屑排出性を発揮することのできるプランジ加工用切削インサートを提供する。 - 特許庁 - In the angle probe 0 and the inspection device, a shoe 2 having acoustic characteristics changed by temperature to the same degree of the inspection object 4 is used, whereby the incident angle θ1 of ultrasonic wave to the shoe is equalized to the refraction angle θ2 to the inspection object 4, so that defect detection can be performed by direct scan technique.
温度による音響特性変化が被検査物４と同程度のシュー２を用いることで、温度変化に関係なく超音波のシューへの入射角θ１と被検査物４への屈折角θ２が等しくなるようにし、直射法で欠陥検出ができるように斜角超音波探触子０および検査装置を構成する。 - 特許庁 - To prevent damage of a semiconductor chip being an electronic element incorporated in a multilayer printed circuit board; to reduce manufacturing cost; to prevent a crack of the board and the electronic element by stress relaxation of a connection member; to prevent a defect such as warpage or torsion; and to prevent reliability degradation by temperature change influencing the reliability of a semiconductor plastic package.
本発明は、多層印刷回路基板に内蔵される電子素子である半導体チップの損傷を防止でき、製造コストを低減でき、接続材の応力緩和により基板及び電子素子のクラックを防止でき、反り・捩れなどの不良を防止でき、半導体プラスチックパッケージの信頼性に影響を与える温度変化による信頼性低下も防止できる。 - 特許庁 - To provide a photoresist layer removing device wherein a series of stages until cleaning and drying stages after photoresist is removed can be efficiently performed with low defect without immersing a glass substrate in a removing liquid chemical to ultrasonically remove the photoresist one by one, in a device for manufacturing a nickel stamper utilizing patterns of a groove and a pit formed on the glass substrate by a resist mask method.
レジストマスク法によってガラス基板上に形成した溝やピットのパターンを利用してニッケルスタンパを製造する装置において、フォトレジスト除去〜洗浄・乾燥までの一連の工程を、いちいちガラス基板を除去薬液中に浸漬して超音波除去させる必要なく、低欠陥で且つ効率よく行うことができる。 - 特許庁 - To provide a polishing cloth which performs texture machining to the finish of super-high precision with extremely small surface roughness of a substrate, suppresses a defect caused by micro chips from polishing and abrasive grains biting into the substrate surface, has a high cleaning effect, and minimizes scratch defects caused by the local cohesion of abrasive grains.
基板表面粗さが極めて小さい超高精度の仕上げでテクスチャー加工を行うことができ、且つ微細な研磨屑及び砥粒の基板表面への食い込みに起因する欠陥を抑制し、クリーニング効果が高いとともに、局所的な砥粒の凝集などに起因するスクラッチ欠点を極小化することができる研磨布を提供する。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of a short-circuiting defect between lead terminal electrodes by spreading a conductive adhesive by a surface tension when connecting the exposed connection part of a lead terminal provided on the inner bottom of a case and the electrode of an electronic component element by the conductive adhesive since an interval between the electrodes of the electronic component becomes narrow with the miniaturization of the electronic component.
電子部品の小型化にともない、電子部品の電極の間隔が狭まり、ケースの内底面に設けたリード端子の露出接続部と電子部品素子の電極を導電性接着剤で接続する際、導電性接着剤が表面張力により広がり、リード端子電極間で短絡不良が発生するのを防止する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an organic EL element capable of forming an organic layer having the excellent linearity of the end of a pattern on a substrate without causing a transfer defect that a part of an ink layer to be transferred and removed is left on a blanket, in a manufacturing method of an organic EL element using letterpress reversing offset printing.
凸版反転オフセット印刷法を用いた有機ＥＬ素子の製造方法において、基板上のパターンの端部の直線性に優れ、また、転写除去されるべきインク層の部分がブランケット上に残留してしまうといった転写欠陥のない有機層を形成することが可能な有機ＥＬ素子の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an SOI substrate which efficiently removes an ion implantation defect layer present in an ion-implantation layer near a flaked face flaked by an ion-implantation flaking method, obtains film thickness uniformity between substrates and in the surface of the substrate, and is also applied to the SOI substrate which uses low melting point material for a handle wafer.
イオン注入剥離法によって剥離した剥離面近傍のイオン注入層に存在するイオン注入欠陥層を効率的に除去し、かつ基板間・基板面内の膜厚均一性を取ることができ、またハンドルウェーハに低融点材料を用いたＳＯＩ基板にも適用することのできるＳＯＩ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an effective method for depositing inert polymers and pharmaceutical or biological agents onto a substrate, where the collection process is efficient, the coating produced is conformal, substantially defect-free and uniform, the composition of the coating can be regulated and the morphology and/or secondary structure of the pharmaceutical or biological agents can be controlled.
不活性ポリマーと医薬又は生物学的製剤とを基材に付着させるための効率の良い方法であって、捕集プロセスは効率的であり、生じるコーティングは表面に沿い（ｃｏｎｆｏｒｍａｌ）、実質的に欠点がなく均一であり、コーティングの組成は規制することができ、医薬又は生物学的製剤のモルホロジー及び／又は２次構造は制御可能な方法の提供。 - 特許庁 - An indentation device 5a constituting the defect marker 5 includes a cylindrical part 8a, a roller 8 consisting of a plurality of projections 8b formed along an outer peripheral surface thereof, bearings 9 rotatably supporting the roller 8, a cylinder 10 supporting the bearings 9, and a speed controller 11 controlling a driving speed for the cylinder 10.
欠陥マーキング装置５を構成する圧痕装置５ａは、円筒部８ａと、その外周面に沿って形成された複数の突起部８ｂからなるローラ８と、前記ローラ８を回転自在に支持するベアリング９と、前記ベアリング９を支持するシリンダ１０と、前記シリンダ１０の駆動速度を制御するスピードコントローラ１１と、を備えている。 - 特許庁 - The memory system includes, in addition to an arithmetic device 50: a plurality of first blocks provided to store information including user information, and each allocated with each of first physical addresses not overlapping each other; and a plurality of second blocks each provided to store the first physical address of an initial defect block of the plurality of first blocks.
本発明に係るメモリシステムは、演算装置５０に加えて、ユーザ情報を含む情報を記憶するために設けられ、互いに重複しない第１物理アドレスが個々に割り当てられる複数の第１ブロックと、複数の第１ブロックのうちの初期欠陥ブロックの第１物理アドレスを個々に記憶するために設けられる複数の第２ブロックとを備える。 - 特許庁 - To provide a magnetic carrier and a two-component developer with which images of high picture quality having no image defect can be obtained by preventing the carrier from sticking even in a system using an intermediate transfer body and stable images can be output for a long period by preventing toner superior in low-temperature fixability and excellent in high-speed output from deteriorating.
中間転写体を使用したシステムにおいてもキャリア付着を防止し、画像欠陥のない高画質な画像を得ることができ、さらには低温定着性に優れ、又は高速出力に優れるトナーの劣化を防止し、長期にわたり安定した画像を出力できる磁性キャリア及び二成分系現像剤を提供する。 - 特許庁 - To solve a defect that the signal estimation capacity of a delay judgment feedback type series estimator is deteriorated under a multi-pass distortion condition in which the power of a delayed wave becomes larger than that of a direct wave though the estimator is an excellent system as a system for estimating a transmission signal from a received signal receiving multi-pass distortion by the small quantity of operation.
遅延判定帰還型系列推定器は少ない演算量でマルチパス歪みを受けた受信信号から送信信号を推定する方式として優れた方式であるが、直接波よりも遅延波の電力の方が大きくなるようなマルチパス歪みの条件では、信号推定能力が劣化するという欠点を持っている。 - 特許庁 - To provide the manufacturing method of polarizer protective film which has a satisfactory conveyance property and whose productivity is excellent, to provide a polarizer protective film having a high optical transparency, to provide a method for manufacturing a polarizing plate having little appearance defect with good productivity and the polarizing plate obtained by using the method for manufacturing the same, and to provide a high-quality image display device using the polarizing plate.
フィルム搬送性が良好で生産性に優れた偏光子保護フィルムの製造方法、光学的透明性の高い偏光子保護フィルム、外観欠点が少ない偏光板を生産性良く製造する方法とその製造方法から得られる偏光板、および、その偏光板を用いた高品位の画像表示装置を提供する。 - 特許庁 - When an engine is operating, a vehicle speed is zero, a transmission is set to a neutral position, and a clutch is engaged, a clutch disengagement defect detection means 425 instructs the clutch control means 421 to completely disengage the clutch, and the clutch control means 421 gives the target value of the maximum clutch stroke for disengaging the clutch to an actuator 35 for disengaging/engaging the clutch.
エンジン稼動時かつ車速がゼロ、ニュートラル状態で、クラッチが接状態にあるときに、クラッチ切れ不良検出手段４２５は、クラッチ制御手段４２１に対してクラッチを完全に切断するよう指示し、クラッチ制御手段４２１は、クラッチを切断するための最大のクラッチストローク目標値をクラッチ断接用アクチュエータ３５に与える。 - 特許庁 - A magnetic inspection equipment 4 is composed of a magnetizer 5 for impressing a magnetic field to a running steel plate 1, magnetic sensors 6a, 6b arranged in a position opposed to the magnetizer 5 to sandwich the steel plate 1, and a signal processor 7 for detecting a defect 8 in the inside or surface of the steel plate 1 based on detection signals from the sensors 6a, 6b.
磁気探傷装置４は、走行状態の鋼板１に磁界を印加する磁化器５と、鋼板１を挟んで磁化器５の対向位置に配設された磁気センサ６ａ、６ｂと、この磁気センサ６ａ、６ｂからの検出信号に基づいて鋼板１の内部または表面の欠陥８を検出する信号処理装置７とで構成されている。 - 特許庁 - A defect correction device includes: a stage for placing a substrate; and a local exhaust ventilation system that comprises a local ventilation region that serves as a processing part for processing the substrate, a gas supply part for jetting gas toward the stage so that the system rises from the stage, and an exhaust part for exhausting gas jetted toward the stage and gas supplied from the local ventilation region to the stage side.
基板を載置するステージと、基板を加工する加工部となる局所排気領域と、ステージに向けてガスを噴射することにより該ステージから浮上するためのガス供給部と、ステージに向けて噴射したガス及び局所排気領域から該ステージ側に供給されたガスを排気する排気部とを備えた局所排気装置を有する。 - 特許庁 - The mask plate 15 is black color, smaller than the second openings 22, a plurality of third openings 26 are provided in the same array as the first openings 16 and the second openings 22, and when defect of the lens 14 is inspected, the mask plate is covered on the cover 13 so that the third openings 26 correspond to the first openings 16 and the second openings 22 respectively.
マスクプレート１５は、暗色で、第２開口２２よりも小さく、第１開口１６及び第２開口２２と同じ配列で複数の第３開口２６が設けられており、レンズ１４の欠陥検査を行うときに、第１開口１６及び第２開口２２に第３開口２６が各々対応するように、蓋１３上に被せられる。 - 特許庁 - By controlling the internal volume Vz of the product which is the pipe expansion value of the product as the shaft pressing is advanced, the high internal pressure is naturally loaded to a material having high strength and large thickness, and the low internal pressure is loaded to a material having low strength and small thickness, and any defect caused by the variance of the material can be suppressed.
軸押しに伴い成形品の拡管量である成形品の内部体積Vzを制御することで、強度が高く、板厚の大きい材料に対しては自然に高い内圧が負荷され一方で強度が低く板厚が小さい材料に対しては低い内圧が負荷されることになり材料バラツキによる不良を抑えることができる。 - 特許庁 - The external connection terminals 213 and 214 in the different groups have bumps differing in height for compensation of solder material gap differences occurring when the groups of the external connection terminals 213 and 214 and the package carrier 220 are joined owing to the predicted warpage of the substrate and then the warpage of the substrate is predicted to suppress the occurrence of the solder joining defect.
予測される基板の反りに起因して、外部接続端子２１３、２１４群とパッケージキャリアー２２０との接合の間に起きる半田材隙間差異の補償用として、異なるグループの外部接続端子２１３、２１４は高さが異なるバンプを有することによって、基板の反りを予測し、半田接合欠陥の発生を抑える。 - 特許庁 - To achieve the improvement in yield of an image display device and the reduction in the manufacturing cost by providing a defect correction method of the image display device, which is capable of satisfactorily correcting not only defects of pixel electrodes (switching devices) but also bright spots due to the existence of foreign matters or the like in a liquid crystal part, without damaging the image display device.
画素電極（スイッチング素子）の欠陥のみならず、液晶部分に異物等が存在することによる輝点についても、画像表示素子を損傷させることなく、良好に補正することができる画像表示素子の欠陥補正方法を提供し、画像表示素子の歩留まりの向上及び製造コストの低廉化を図る。 - 特許庁 - The laminated sheet is composed by laminating on at least one surface of a polycarbonate resin layer (A), a methacrylic resin layer (B) and a methacrylic resin layer (C) that includes the rubbery polymer in this order, and as a result the linear defect that occurs along the squeezing flow direction can be made difficult to stand out and, therefore, the appearance of the laminated sheet can be made superior.
ポリカーボネート樹脂層（Ａ）の少なくとも一方の面に、メタクリル樹脂層（Ｂ）と、ゴム状重合体を含有するメタクリル樹脂層（Ｃ）とが、この順に積層されてなる積層板であり、これにより押出流れ方向に沿って発生する線状欠陥を目立ち難くすることができ、それゆえ積層板の外観を優れたものにすることができる。 - 特許庁 - A stripe evaluation value calculating part 290 calculates an evaluation value Qe related to the strength of the stripe defect of the space frequency band under consideration based on the stripe featured value Pe calculated by stripe feature value caluculation part 270 and the stripe correction quantity Be calculated by the stripe correction quantity calculating part 288 of the stripe correction quantity acquiring part 280.
すじ評価値算出部２９０は、すじ特徴量算出部２７０により算出されたすじ特徴量Ｐｅおよびすじ補正量取得部２８０のすじ補正量算出部２８８により算出されたすじ補正量Ｂｅに基づいて、注目している空間周波数帯域のすじ欠陥の強さに関する評価値Ｑｅを算出する。 - 特許庁 - To provide a modifying method and a thin film formation method of a diamond thin film in which strain, defect, color or the like which exists in an independence diamond thin film (foil or plate) which removes a gas phase diamond thin film or a substrate formed on the substrate is removed or decreased effectively, or which can carry out modification to an orientation polycrystal or single crystal object.
基板に形成した気相ダイヤモンド薄膜あるいは基板を除去した自立ダイヤモンド薄膜（箔又は板）に存在する歪み、欠陥、色などを効果的に除去又は減少させ、あるいは配向性多結晶又は単結晶体へと改質できるダイヤモンド薄膜の改質方法及び薄膜形成方法を提供する。 - 特許庁 - The liquid crystal display device of the transflective type which reduces the occurrence of the alignment defect of the liquid crystal in the rubbing down section and has the satisfactory display grade is provided by improving the plane shape of the projection on a counter substrate side and by setting the boundary portion with the transmission region of the projection in a direction nearer the rubbing direction of the alignment layer.
対極基板側の突起の平面形状を改善し、突起の透過領域との境界部分を配向膜のラビング方向に近い方向に設定することにより、ラビング擦り下げ部での液晶の配向不良発生を低減し、良好な表示品位を有する半透過型の液晶表示装置を提供することができる。 - 特許庁 - This eddy-current flaw detection system includes an eddy-current sensor 1 comprising coils, and the eddy-current flaw detector 8 for impressing an AC voltage on the coils of the eddy-current sensor 1 placed on an inspecting object 2 while detecting a change in impedance of the coils induced by an eddy current flowing through the interior of the inspecting object, thereby detecting a defect.
渦電流探傷システムは、コイルを有する渦電流センサ１と、検査対象２の上に設置される渦電流センサ１のコイルに交流電圧を印加するとともに、検査対象の内部に流れる渦電流で誘起されるコイルのインピーダンスの変化を検出し、欠陥を検出する渦電流探傷装置８とを有する。 - 特許庁 - The method for manufacturing the silicon carbide semiconductor device includes the steps of: (a) preparing a silicon carbide wafer 3 having a non-flatness defect 3a thereon; and (b) dropping a resist onto the silicon carbide wafer 3 from a dropping nozzle 1 while moving the dropping nozzle 1 from the upper side of the center of the silicon carbide wafer 3 to the upper side of the peripheral edge thereof.
本発明に係る炭化珪素半導体装置の製造方法は、（ａ）表面に非平坦欠陥３ａを有する炭化珪素ウエハ３を準備する工程と、（ｂ）炭化珪素ウエハ３の中心上方から周縁上方まで滴下ノズル１を移動させながら、滴下ノズル１から炭化珪素ウエハ３にレジストを滴下する工程とを備える。 - 特許庁 - By adding linear replacement control (LRC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL according to a skipping algorithm, the optical recording medium recording/reproducing device transmits correct information to a host.
リニア交替アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御（ＬＲＣ）ビットを２次欠陥リスト（ＳＤＬ）エントリに追加し、これによって光記録媒体記録／再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにする。 - 特許庁 - A surface wave 9 and the elastic wave 10 in the irradiation are detected with the lapse of time by a laser interferometer 8 for collimating the surface 2 of the diagnosed portion 4, the presence of an internal defect 5 or a buried body in the concrete structure 1 in the diagnosed portion 4 is diagnosed based on a waveform change from detection of the surface wave 9 to detection of the final elastic wave 10.
被診断部位４の表面２を視準するレーザ干渉計８により前記照射時の表面波９と弾性波10とを経時的に検出し、表面波９の検出から最終の弾性波10の検出までの波形変化から被診断部位４におけるコンクリート構造物１の内部欠陥５又は埋設物の有無を診断する。 - 特許庁 - To provide a drying device of garbage which prevents draining defect from being caused by slime or mold generated in a sub-drain channel or a strainer provided in a sub-drain port, and clogging of a strainer, in the case of providing the sub-drain channel bypassing a drying vessel and discharging sink drain when drying garbage.
生ごみの乾燥処理を行っているときにシンク排水を排出可能な乾燥容器をバイパスする副排水路を設けた場合おいて、副排水路や副排水口に備えられたストレーナにヌメリやカビ等が発生し、またストレーナが目詰まりして排水不良が生じるのを解決できる生ごみの乾燥処理装置を提供する。 - 特許庁 - This signal processing means 2 detects, as an echo signal, a flaw detection signal having a height of a predetermined threshold or higher, among flaw detection signals output from the ultrasonic probe 1, and, determines the existence of the defect when continuously detecting the echo signal in the axial direction of the pipe P at a specific position of the circumferential direction of the pipe P.
信号処理手段２は、超音波探触子１から出力される探傷信号の内、所定のしきい値以上の高さを有する探傷信号をエコー信号として検出し、該エコー信号を管Ｐの周方向の特定位置において管Ｐの軸方向に連続的に検出したときに、欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁 - By attaching an ultrasonic receiver which receives SH wave and an ultrasonic transmitter which sends SH wave through a coupling medium on an exposed surface of a concrete structure 11 of which the part is laid underground, and by analyzing the pattern of the SH wave the receiver receives, the position or size of a defect of the concrete structure 11 can be detected.
地盤にその一部が埋設されたコンクリート構造物１１の露出面にＳＨ波を受信する超音波受信子とＳＨ波を発信する超音波発信子とを接触媒質を介して密着させ、前記受信子で受信されるＳＨ波のパターンを解析してコンクリート構造物１１の欠陥の位置やサイズを検出する。 - 特許庁 - The ink for correcting the minute defect in colored pattern contains monomer having at least a colorant, a dispersing agent, and a reactive functional group and a solvent, wherein the solvent contains 40-100 wt.% of a solvent (A) having boiling point of 160-250°C and specific evaporation rate of 40 or less based on the total amount of solvent.
少なくとも、着色剤と、分散剤と、反応性官能基を有するモノマーと、溶剤を含有し、前記溶剤が、沸点が１６０℃〜２５０℃で、且つ比蒸発速度が４０以下の溶剤（Ａ）を溶剤全量に対して４０重量％〜１００重量％の範囲で含有することを特徴とする、微小着色パターン欠陥修正用インキ。 - 特許庁 - In the semiconductor multilayer film comprising an Si single crystal substrate, and an Si_1-XGe_X (0<X≤1) film formed thereon, the Si_1-XGe_X film is preferably formed by magnetron sputtering method such that the surface defect density on the Si_1-XGe_X film becomes 10^4/cm^2 or less.
Ｓｉ単結晶基板と、このＳｉ単結晶基板上に形成されたＳｉ_１−ＸＧｅ_Ｘ（０＜Ｘ≦１）膜とを具えた半導体積層膜において、前記Ｓｉ_１−ＸＧｅ_Ｘ膜は好ましくはマグネトロンスパッタリング法で形成し、前記Ｓｉ_１−ＸＧｅ_Ｘ膜の表面欠陥密度が１０^４／ｃｍ^２以下となるようにする。 - 特許庁 - To provide a nonmagnetic single component color toner which satisfies the optimum conditions relating to distribution of the toner particle size, which does not cause an image defect in an initial stage such as fog or cleaning failure, which suppresses increase in the particle size due to toner selection phenomenon in a life test for continuous printing, and which is free from a problem such as increase in the image density.
トナー粒径分布に関しての最適条件を満足し、かぶりやクリーニング不良などの初期的な画像不良を生じることがなく、連続印字のライフテストにおいても、トナー選択現象による粒径の増大化を抑制し、画像濃度の上昇などの不具合がない非磁性一成分カラートナーを提供することを目的とする。 - 特許庁 - The anneal wafer discrimination method is a method to discriminate wafers treated under not less than 1000 °C in reducing atmosphere in which a defect density in 5 μm of the wafer surface layer is not greater than 300/cm^2 and an average scattered light intensity is not greater than 300 (a.u) when measuring with laser wavelength of 680 nm.
本アニールウェーハの判別方法は、１０００℃以上の還元雰囲気で熱処理するアニールウェーハの判別方法であって、アニールする前のウェーハが、６８０ｎｍのレーザ波長による測定で、ウェーハ表層５μｍ中に観察される欠陥密度が３００個／ｃｍ^２以下であり、かつ、平均散乱光強度が３００（ａ．ｕ）以下である。 - 特許庁 - In the induction current detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor and at least one detection electrode are relatively moved, an induction current is generated at least on one detection electrode by a potential change on the surface of the electrophotographic photoreceptor, and by detecting the induction current, the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.
誘導電流検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面と少なくとも１つの検知電極とを相対的に移動させ、電子写真感光体の表面の電位変化により少なくとも１つの検知電極に誘導電流を発生させ、誘導電流を検出することによって電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁 - A dynamic type RAM, etc., provided with a lot of banks BNK0- BNKn containing redundant elements for defect relief is provided with a bank- enable register BR in which each of the banks detects more defective elements than the number of redundant elements to be installed and stores the unrelievable and unaccessible state and product-ships the dynamic RAM, etc., as mostly good memories.
欠陥救済用の冗長素子を含む多数のバンクＢＮＫ０〜ＢＮＫｎを備えるダイナミック型ＲＡＭ等に、各バンクが冗長素子の設置数より多い欠陥素子を検出し、救済不能でアクセス不能状態を記憶するバンクイネーブルレジスタＢＲを設け、該ダイナミック型ＲＡＭ等を、モーストリ・グッド・メモリとして製品出荷する。 - 特許庁 - An unused area management table part 11 of the recording and reproducing device 1 generates an unused area management table 12 including logical addresses of an unused continuous area by using an area management table 9 including local addresses of a used area of a removable hard disk 4 and a defect management block 10 including a list of logical addresses of replaced sectors.
記録再生装置１の未使用領域管理テーブル作成部１１は、着脱可能のハードディスク４における使用領域の論理アドレス情報を含む領域管理テーブル９と、交替されたセクタの論理アドレスのリストを含む欠陥管理ブロック１０とを用いて、未使用の連続領域の論理アドレスを含む未使用領域管理テーブル１２を作成する。 - 特許庁 - This device is equipped with a surface light source 10 for performing light irradiation flatly onto an inspection object painted surface, an avalanche multiplication type imaging camera 21 as the image sensor entered by the regularly reflected light from the inspection object painted surface, and an image processing device 20 for inspecting existence of a defect on the painted surface by image processing for detecting a level change of the image signal.
検査対象塗面を面状に光照射する面光源１０と、検査対象塗面での正反射光を入射させるイメージセンサとしてのアバランシェ増倍型撮像カメラ２１と、その画像信号のレベル変化を検出する画像処理により、塗面の欠陥の有無を検査する画像処理装置２０とを備える。 - 特許庁 - Sensors 22-1-22-3 sense a motion of each actuator, each robot controller 20 transmits the motion to the multi-point connector 10, where ranking is made, the result is sequentially transmitted to the server 11 without crosstalk, the server 11 monitors the motion, transmits data to correct a defect as required, and each robot controller 20 rebuilds up its own program.
各アクチュエータの動きは各々のセンサ２２−１〜２２−３により検出されロボット制御装置１０を介して多地点接続装置１０へ送られ、順位付けが行われ、混信しないように順次サーバ１１へ送られ、サーバ１１で監視され、必要に応じて不具合修正のデータを送出し、自己のプログラムを再構築する。 - 特許庁 - To provide a heat-reflective glass on which a film having excellent cost-performance and high durability is formed even with the well-known gas composition having a high transparence, high heat-insulation property, without any spot defect caused by the oxidative coagulation of Ag film nor microdefect caused by dielectric film even after leaving in a hot and humid atmosphere for a long time.
高可視光透過率および高断熱性を有するとともに高温高湿環境下に長期間放置してもＡg膜が酸化凝集して生じる斑点状の欠陥及び誘電体膜に起因する微少欠陥の発生を抑制し、しかも同じガス組成でも成膜可能なコストパフォーマンスに優れた高耐久性の熱線反射ガラスを得ること。 - 特許庁 - To provide hyperfine-grained base metal powder, and a method for mass production of such hyperfine-grained base metal powder, and an electronic component, wherein the obtained hyperfine-grained base metal powder is used for a conductive paste, so that a conductor film of a thin layer is formed on the surface of an insulator and the occurrence of a defect such as delamination is suppressed.
超微粒の卑金属粉末と、このような超微粒の卑金属粉末を大量に生産するための製法を提供すること、ならびに、こうして得られた超微粒の卑金属粉末を導体ペーストに用いて、絶縁体の表面に薄層の導体膜を有し、デラミネーション等の不良の発生を抑制できる電子部品を提供する。 - 特許庁 - This magnetic tape segmenting device has memory means which stores the position of the defective segment of a raw sheet of the magnetic tape, a take-up device 14 which delivers the magnetic tape from the raw sheet and winds the tape as a product and discharge means 17 which removes the tape contained with the defective segment from the products in accordance with the defect position information of the memory means.
磁気テープ原反の欠陥部分の位置を記憶した記憶手段と、磁気テープを前記原反から繰り出して製品として巻回する巻取り装置１４と、前記記憶手段の欠陥位置情報に基づいて前記製品のうち前記欠陥部分が含まれるものを取り除く排出手段１７とを備えた磁気テープ切出し装置１０。 - 特許庁 - In addition, since no warping is generated when the shutter is opened/closed for approximately 100,000 times, the locked state is free from loosening, which eliminates tendency of sealing defect through the acceleration of the ink evaporation or a problem of a printing face stained with the ink by stationery or the like entering from a lock-loosened place and coming into contact with the printing face.
また、シャッターの開閉を約十万回繰り返しても反りが発生することがないため前記ロック状態に緩みが生じることがなく、インキの蒸発が促進されて捺印不良を起こしやすくなるという問題や、ロック状態の緩んだ場所から文具類が侵入し印面に接触してインキにより汚損されるという問題も生じない。 - 特許庁 - To provide a polyester film which can obtain high brightness when used as a member of an optical product, especially a diffusion sheet of back light for LCD, a prism sheet, a composite sheet, and a substrate for a lens, has no optical defect caused by a crystallized substance, can give a bright, clear, high quality image, and is excellent in optical performance and advantageous in terms of cost.
光学製品の部材、特にＬＣＤ用のバックライトの拡散シート、プリズムシート、複合シート、レンズシート用の基材として使用した際に、高度な輝度を実現し、結晶化物による光学欠陥のない、明るく鮮明で高品質な画像を与えることができ、光学的性能に優れ、コスト的にも利点があるポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide an image processing and inspecting method and an image processing and inspecting device capable of extracting the whole shape of a defect quickly and precisely even if a defective image includes many gray-white- flecked noises caused by the surface characteristic of a rubber material and is intermittent, e.g. a defective image existing on the surface of the rubber material.
たとえば、ゴム材料の表面に存在する欠陥の画像のように、画像中にゴム材料の表面特性に起因したゴマ塩ノイズが多く含まれ、欠陥画像が途切れがちな画像であっても、欠陥の全体的な形状を迅速かつ精度良く抽出することができる画像処理検査方法および画像処理検査装置を提供する。 - 特許庁
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