The CPU 31 obtains any defective part from which defective pattern drawing occurs, and corrects the irradiation parameter corresponding to the defective part on the basis of the state change data and the data of the laser beam cumulative calorie. CPU31は、状態変化データとレーザ積算熱量のデータとに基づいて、絵柄の描画不良が発生する不良部位を導き、その不良部位に対応する照射パラメータを補正する。 - 特許庁
The defective pixels and edge directions of pixels being objects of correction of a two-dimensional picture signal comprising the defective pixels are detected, and the correction and the detection of the defective pixels along the edge directions are performed. 欠陥画素を含む二次元の画像信号において、欠陥画素の検出と補正の対象画素のエッジ方向を検出し、前記エッジ方向に沿った欠陥画素の検出と補正を行なう。 - 特許庁
When capturing processing is completed, defective pixel correcting processing for correcting an adjacent defective pixel using firmware is started and correction processing is performed based on adjacent defective pixel address information on the memory 30. また、撮影処理を終えたならば、ファームウェアで隣接欠陥画素補正を行う欠陥画素補正処理に進み、メモリ30上の隣接欠陥画素アドレス情報に基づいて補正処理を行う。 - 特許庁
A redundant control circuit invalidates the defective memory cell column corresponding to a defective address stored in the redundant memory circuit in a memory block including the defective memory cell column, and validates a redundant memory cell column. 冗長制御回路は、不良メモリセル列を含むメモリブロックにおいて、冗長記憶回路に記憶された不良アドレスに対応する不良メモリセル列を無効にし、冗長メモリセル列を有効にする。 - 特許庁
Then, when a pixel on the imaging element is detected to be a defective pixel, the number allocated to the detected defective pixel is added to defective pixel information as information indicating the position of the pixel. そして撮像素子上の画素が欠陥画素であることを検出すると、検出された欠陥画素に割り振られた番号を、当該画素の位置を示す情報として欠陥画素情報に追加する。 - 特許庁
This semiconductor manufacturing apparatus is provided, in the preceding stage of the lead electrode cutting mechanism 5, with a defective semiconductor device eliminating mechanism 4 to eliminate the defective semiconductor devices 2 including defective resin molding shape. そして、リード電極切断機構5の前段に、樹脂モールド形状が不良となった半導体装置2を除去する不良品半導体装置除去機構4を設けたことを特徴とする。 - 特許庁
Next, the positional information on the defective pixels is analyzed as needed on the basis of the comparison result, and the positional information on the defective pixels to be corrected from the positional information on the temporarily stored defective pixels are selected. 次に、比較結果に基づいて、必要に応じて欠陥画素の位置情報の解析をし、一時記憶された欠陥画素の位置情報から補正すべき欠陥画素の位置情報を選択する。 - 特許庁
The defective pixel compensation device comprises: a defective pixel information detection section 310 which detects whether continuous tone data will form defective pixels by defective image forming elements, and outputs the result of detection as defective pixel information; and a half-toning section 320 which halftones the continuous gradation data by an error diffusion method, reflecting the defective pixel information. 入力された連続階調データが不良の画像形成要素によって、不良画素を形成するか否かを検出し、検出された結果を不良画素情報として出力する不良画素情報検出部310と、不良画素情報を反映して、連続階調データを誤差拡散方式でハーフトーニングするハーフトーニング部320と、を備えることを特徴とする不良画素の補償装置が提供される。 - 特許庁
To accurately and surely detect a defective pixel in a solid-state imaging device. 固体撮像素子の欠陥画素を精度良く確実に検出する。 - 特許庁
PREPARATION METHOD OF SPECIMEN FOR OBSERVING DEFECTIVE PART OF SEMICONDUCTOR DEVICE SUBSTRATE 半導体デバイス基板の欠陥部観察用試料の作製方法 - 特許庁
DISCHARGE EXCITATION GAS LASER AND METHOD OF DISCRIMINATING DEFECTIVE PART OF THE SAME 放電励起式ガスレーザ装置およびその故障箇所判別方法 - 特許庁
Then, as for the defective picture element, the wiring is disconnected by laser. そして、欠陥画素については、レーザによって配線を切断する。 - 特許庁
MEMORY DEVICE, DEFECTIVE CELL RELIEF METHOD, AND INTERNAL VOLTAGE TRIMMING METHOD メモリ装置、欠陥セル救済方法及び内部電圧トリミング方法 - 特許庁
To improve accuracy of automatic adjustment by accurately measuring a defective signal. 欠陥信号を正確に測定し、自動調整の精度を高める。 - 特許庁
IMAGE PROCESSOR AND IMAGE PROCESSING METHOD FOR CORRECTING DEFECTIVE PIXEL 欠陥画素を補正する画像処理装置および画像処理方法 - 特許庁
DEFECTIVE PORTION IDENTIFICATION LABEL DETECTING DEVICE AND CONVEYING SPEED CONTROL SYSTEM 不良箇所識別ラベル検知装置および搬送速度制御システム - 特許庁
To reduce defective rice cooking with space saving structure and at low costs. 省スペースで且つ低コストな構成で、炊飯不良を低減させる。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND VIA PERCENT DEFECTIVE PREDICTION SYSTEM 半導体デバイスの製造方法およびビア不良率予測システム - 特許庁
ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE, AND RESTORATION METHOD OF ITS DEFECTIVE PIXEL 有機発光表示装置及びその欠陥画素の修復方法 - 特許庁
To detect with higher accuracy defective sections within a semiconductor device. 半導体装置内部の欠陥部をより高い精度で検出する。 - 特許庁
To easily detect a defective pixel without damaging a liquid crystal panel. 液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素を容易に検出する。 - 特許庁
DEFECTIVE INK DISCHARGE DETECTING METHOD, AND RECORDING DEVICE USING THE METHOD インク吐出不良検出方法とその方法を用いた記録装置 - 特許庁
VERTICAL CROSS SECTION SHAPE READER AND DEFECTIVE PRODUCT SELECTION SYSTEM 垂直断面形状読み取り装置および不良品選別システム - 特許庁