「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目)

「Defects」を含む例文一覧(10273)

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The largest peak combined accumulation value tends to generate the defects.
最も大きなピーク結合累積値が最も該欠陥を引き起こしやすい。 - 特許庁
To eliminate conventional defects in a message transmission method.
メッセージを送出する方法において従来の欠点を解消すること。 - 特許庁
Portions that have been judged as defects in the inspection are stored in a storage medium.
その検査で不良となった箇所を記憶媒体に記憶させる。 - 特許庁
To prevent image defects when a medium enters a fixing device.
媒体が定着装置に進入する際の画像の乱れを抑えること。 - 特許庁
To provide an evaporative pattern casting process where the parts at which defects are easy to be generated are sucked, so as to produce a casting free from defects.
不良の発生しやすい箇所を吸引して欠陥のない鋳物を製造することができる消失模型鋳造法を提供する。 - 特許庁
To prevent defects generated on a back side of a surface improvement area.
表面改質領域の背面に発生する欠陥を防止する。 - 特許庁
TWO-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL WITH GEOMETRICALLY ARRAYED LATTICE DEFECTS
幾何学的に配列した格子欠陥を有する２次元フォトニック結晶 - 特許庁
To provide an apparatus for repairing defects of wood which can efficiently perform repairing operation for such defects as knots and resin pockets of the wood.
木材の節及びヤニ溜まり等の欠点の補修作業を効率良く行うをことが可能な木材の欠点補修装置を提供する。 - 特許庁
To detect defects of a liquid crystal display panel inexpensively and efficiently.
液晶表示パネルの欠陥を低コストでかつ効率的に検出する。 - 特許庁
To provide a radiation-sensitive resin composition which ensures few development defects.
現像欠陥が少ない感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁
When the RMS value exceeds a threshold value, the presence of defects is determined.
そして、ＲＭＳ値がある閾値を超えたとき欠陥ありと判断する。 - 特許庁
To reduce the influence of defects on a mask substrate for EUV lithography.
ＥＵＶリソグラフィー用マスク基板における欠陥の影響を低減する。 - 特許庁
To prevent occurrence of image defects such as black spots by making the surface of an image carrier such as a photoreceptor drum free of defects due to dielectric breakdown.
感光体ドラム等の像担持体表面に絶縁破壊による欠陥が生じないようにして黒点等の画像不良を防止する。 - 特許庁
METHOD FOR REPAIRING DEFECTS OF PATTERN AND MANUFACTURING METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL
パターン欠陥の補修方法およびプラズマディスプレイパネルの製造方法 - 特許庁
To provide a photosensitive resin composition hardly causing appearance defects.
外観欠陥を生じにくい感光性樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁
a specious or deceptive clearing that attempts to gloss over failings and defects
失敗や欠点を補おうとする見せかけまたは取り繕う処分 - 日本語WordNet
To accurately and stably inspect edge defects of a plate material during transfer.
搬送される板材のエッジの欠陥を精密に安定して検査する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for the inspection of defects, wherein internal defects inside a specimen such as a concrete structure or the like is detected, and information regarding defects can be detected quantitatively.
コンクリート構造物などの被検査体における内部欠陥を検出するとともに、欠陥部位に関わる情報を定量的に検出することのできる欠陥検査方法およびその装置を提供する。 - 特許庁
To provide transparent glass ceramics having no defects of conventional techniques.
従来技術の欠点を有さない透明なガラスセラミックスを提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method and apparatus of defects in a magnetic head for precisely detecting defects at a specific part of a head by extracting defects at the specific part of the head from captured images.
ヘッドの特定の部分の欠陥を撮像画像から抽出してその部分の欠陥を精度よく検出することができる磁気ヘッドの欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁
To greatly reduce coating defects, particularly, the coating defects generated before and after the joint section of a bulk roll and to sharply improve productivity.
塗布欠陥、特に、バルクロールの接合部前後に発生する塗布欠陥を大幅に低減させるとともに、生産性を大幅に向上させる。 - 特許庁
To improve yield by suppressing white defects from being exposed even when the white defects are caused in optical black pixels though the black sun can be prevented.
黒太陽を防止できるにも拘わらず、オプチカルブラック画素に白欠陥が生じてもその顕在化を抑制し、歩留りを向上させる。 - 特許庁
The III-family nitride- system compound semiconductor layer 3 is provided with a stripe-shaped region 30 with many defects, and a region 31 with less defects.
III族窒化物系化合物半導体層３は、ストライプ状に欠陥の多い領域３０と、欠陥の少ない領域３１を有している。 - 特許庁
METHOD OF REDUCING DEFECTS IN MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROCESSING SOLUTION
半導体デバイス製造の際の欠陥低減方法及び処理溶液 - 特許庁
Defects are induced by projecting an electron beam into a semiconductor substrate 1.
半導体基体１に電子線を投射して欠陥を生じさせる。 - 特許庁
They will make a happy combination, the good points of each making up for the defects of the other.
両者を組み合わせれば長短相補ってうまく行くだろう. - 研究社新和英中辞典
if there are any defects you should send it back to the manufacturer
もし欠陥があれば、製造業者にそれを送り返すべきである - 日本語WordNet
Here's the list of the defects that the FeedParser can find while parsing messages.
以下は FeedParser がメッセージの解析中に検出する障害 (defect) の一覧です。 - Python
To prevent solder peeling defects in a semiconductor device when mounted.
実装時における半導体装置の半田剥がれ不良を抑制する。 - 特許庁
To reduce point defects caused by the driving capacity of a memory part.
メモリ部の駆動能力に起因して発生する点欠陥を低減する。 - 特許庁
To obtain a liquid crystal display wherein display defects are not caused.
表示不良を生じさせることのない液晶表示装置を得る。 - 特許庁
To provide a method and device for solving defects of conventional technology.
先行技術の欠陥を克服する方法および装置を提供する。 - 特許庁
To obtain a substrate processing device capable of preventing manufacturing defects such as process defects and display defects caused by local deformation of a substrate resulting from holding of the substrate on a stage and unevenness of a temperature distribution.
ステージへの基板保持によって引き起こされる基板の局所変形や温度分布のムラのため発生する工程不良や表示不良などの製造不良を防ぐことができる基板処理装置を得る。 - 特許庁
(I) For which bugs (which is considered to be defects) is the Vendor responsible?
（１）責任を問えるバグ（瑕疵に該当するバグ）とはどのようなものか - 経済産業省
To provide a system for detecting and reporting defects in a chip.
チップ中の欠陥を検出し報告するためのシステムを提供すること。 - 特許庁
Light of computed polarization (α) is irradiated to the sample to inspect defects.
算出した偏光（アルファ）の光を試料に照射して欠陥を検査する。 - 特許庁
To provide a method for inspecting defects capable of inspecting defects with high accuracy, by acquiring a secondary electron image with the noise components suppressed, and to provide a device for the method.
ノイズ成分を抑制した２次電子画像を得て、高精度の欠陥検査を可能とする欠陥検査方法ないし欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a positive resist composition causing little problem relating to developing defects.
現像欠陥の問題が少ないポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
In addition, the heights of the projecting linear defects are ≤10 nm.
なお、凸形状の線状形状欠陥の高さは１０ｎｍ以下である。 - 特許庁
To provide a glass dehydration method by which occurrence of structural defects is suppressed.
構造欠陥の発生を抑制したガラス脱水方法を提供すること。 - 特許庁
To reduce display defects caused by orientation defects or the like of liquid crystal to display a bright picture of high grade with respect to an electrooptical device like a liquid crystal device.
液晶装置等の電気光学装置で、液晶の配向不良等に起因した表示不良を低減して、明るく高品位の画像表示を行なう。 - 特許庁
To distinguish the presence of the fresh defects in the skins of agricultural products with high probability.
農産物の表皮に付いた生傷の有無を高い確率で判別する。 - 特許庁
To reliably inspect defects generated in a repetition pattern in a short time.
繰り返しパターンに生じた欠陥を、短時間で、信頼性よく検査する。 - 特許庁
To implement a defect inspection by accurately discriminating bubble-caused projection defects and foreign-matter-caused projection defects from surface roughness on a substrate to be inspected.
検査対象基板の気泡起因の突起欠陥と、異物起因の突起欠陥と、表面のうねり(ラフネス)を、正確に判別して、欠陥検査を行う。 - 特許庁
To provide a means which can manufacture an extra thick H shape steel by minimizing its defects or by suppressing the defects to the minimum limit.
極厚Ｈ形鋼の欠陥を極力なくす、あるいは欠陥を矯正可能な最小限度に留めて製造することのできる手段を提供する。 - 特許庁
To overcome defects in a conventional over-molding without using a gas assist molding.
ガス・アシスト成形を用いずに、従来のオーバーモールドの欠点を克服する。 - 特許庁
To provide a carrier for electrostatic charge image development, the carrier capable of suppressing generation of image defects such as image deletion and stripe defects for a long period of time.
画像流れ、筋状欠陥等の画像欠陥の発生を長期にわたり抑制することができる静電荷像現像用キャリアを提供する。 - 特許庁
To prevent the occurrence of image defects or electrostatic charge defects, by properly recovering transfer residual toner sticking on an electrostat ic charging roller.
帯電ローラ上に付着する転写残トナーを良好に回収できるようにして、画像不良や帯電不良の発生を防止することができるようにする。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TIME CORRELATING DEFECTS FOUND ON HARD DISKS
ハードディスク上で発見された欠陥を時間と関連付ける方法と装置 - 特許庁
To provide a defect inspection apparatus and a method of inspecting defects for precisely inspecting defects even if an inspection region is not divided in a width direction.
幅方向に検査領域を分割しなくても精度良く検査することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

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