「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目)

「Defects」を含む例文一覧(10273)

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To prevent the generation of defects in an image after heating and pressurizing.
加熱および加圧した後の画像に欠陥が発生するのを防ぐ。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR THE AUTOMATED MARKING OF DEFECTS ON WEBS OF MATERIAL
材料のウェブ上の欠陥の自動マーキング用装置および方法 - 特許庁
METHOD AND FACILITY FOR MANUFACTURING STEEL STRIP WITH FEW SURFACE DEFECTS
表面欠陥の少ない鋼帯の製造方法及び製造設備 - 特許庁
To detect various defects using a simple apparatus constitution.
簡単な装置構成で種々の欠陥を検出することができる。 - 特許庁
To provide a polishing pad reducing defects and increasing polishing speed.
欠陥を減少させ、研磨速度を高める研磨パッドを提供する。 - 特許庁
To form a pattern having less scum and fewer water mark defects.
スカム及びウォーターマーク欠陥が少ないパターンの形成を可能とする。 - 特許庁
Besides, the present invention provide furthermore an inspection device for internal defects of substrate based on the inspection method for internal defects of a substrate.
このほか、本発明はさらに、上述の基板の内部欠陥検査方法に基づいた、基板の内部欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To early identify abnormalities in facilities causing occurrence of defects.
欠陥発生の原因となった設備の異常を早期に特定する。 - 特許庁
On the other hand, defects varying in the number of defects between these areas can be assumed to be caused by the electron beam lithography system.
一方、これらの領域間で欠陥数に差がある欠陥については、電子ビーム描画装置に起因するものと推測できる。 - 特許庁
To suppress detection of false defects, and to enlarge an inspection region.
疑似欠陥の検出を抑制し、且つ検査領域を拡大する。 - 特許庁
For defects which are hard to detect, the brightness is summed up longitudinally and transversely, to determine some defects existing at regions where the resulting value is below a prescribed value.
なお、検出しにくい欠陥は、輝度を縦横に積算し、その値が所定値以下である領域に欠陥があると判定する。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECTS, AND IMAGING APPARATUS
欠陥検出装置および欠陥検出方法、ならびに撮像装置 - 特許庁
To obtain a process for producing float glass which decreases tin oxide defects.
酸化錫欠点を低減させるフロートガラスの製造方法を得る。 - 特許庁
Defects or impurities having non-uniformity are put in a laser medium.
レーザ媒質中に不均一性である欠陥や不純物を入れる。 - 特許庁
An extracting part 34 extracts the prescribed number of defects from the defects existing in the range designated by a range designating part 33.
そして、抽出部３４は範囲指定部３３で指定した範囲の中に存在する欠陥から所定数の欠陥を抽出する。 - 特許庁
To inspect target defects without fail in a review SEM.
レビューＳＥＭにおいて、目標とする欠陥を間違いなく検査する。 - 特許庁
The method can thoroughly exclude professional defects and negligence, and planning defects and corruption to stabilize business continuity.
この方式により、職務上の瑕疵、漏れ、計画期間中の不備、不正を徹底的に排除でき、事業継続の安定が可能となる。 - 特許庁
To provide a clamp to overcome defects of conventional technique.
従来技術に関する欠点を克服するクランプを提供する。 - 特許庁
To provide a ceramic porous body having no defects such as warpage or cracks.
反りや割れ等の欠陥がないセラミックス多孔体を提供する。 - 特許庁
In a case in which the resin coat 30 includes defects 32, a metal coat 40 carries out coating on those defects 32.
本発明においては、樹脂コート３０に欠陥３２が含まれる場合においても、金属コート４０がその欠陥３２をコーティングする。 - 特許庁
To detect defects on an optical disk more accurately.
光ディスク上のディフェクトをより正確に検出できるようにする。 - 特許庁
To provide a bipolar semiconductor device with reduced surface defects.
表面欠陥を低減できるバイポーラ半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing laminated electronic components which are hardly affected by sheet defects, even if the defects exist and has high accuracy and high capacity.
シート欠陥があってもその影響を受けにくく、高精度で高容量の積層電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a synthetic resin-made syringe cylinder with few defects.
欠陥の少ない合成樹脂製注射器シリンダを提供すること。 - 特許庁
To prevent defects in welding of composite electrodes composing an electron gun.
電子銃を構成する複合電極の溶接不良を回避する。 - 特許庁
To suppress defects in blade cleaning even when toner is spherical toner.
球形トナーであっても、ブレードクリーニングの不良発生を抑制する。 - 特許庁
To provide a positive photosensitive composition that causes few development defects.
現像欠陥の少ないポジ型感光性組成物を提供する。 - 特許庁
To detect various defects with a simple device structure.
簡単な装置構成で種々の欠陥を検出することができる。 - 特許庁
(a) Defects have not been duly corrected within the term set for that purpose.
(a) 欠陥が所定の期間内に正しく補正されてない場合 - 特許庁
To provide a laser repair device repairing defects at high speed.
レーザリペア装置が高速に欠陥を修理することを可能とする。 - 特許庁
(i) To check defects in material, and remove defective ones;
一　材料の欠点の有無を点検し、不良品を取り除くこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a apparatus for inspecting defects for simply and easily inspecting color differences and defects in a printed material and the like, at a high speed.
本発明は、高速および簡易に印刷物などの色差および欠点を検査できる欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁
To obtain excellent display quality free from unevenness without increasing dot defects.
点欠陥を増加させずにムラのない良好な表示品位を得る。 - 特許庁
To provide an actuator free from defects found in a conventional actuator.
従来のアクチュエータの欠点を有さないアクチュエータを提供する。 - 特許庁
According to the method, a single crystal silicon rod having no defects can be formed.
これにより、欠点のない単結晶シリコンロッドを形成しうる。 - 特許庁
To provide a detection apparatus for detecting the defects of a liquid crystal array.
液晶アレイの欠陥を検出する探知設備を提供する。 - 特許庁
To prevent defects, such as, cracking and chipping of a semiconductor chip.
半導体チップの割れや欠けなどの欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
To diminish defects in a pattern of a photosensitive material due to dust etc.
塵埃等による感光性材料のパターン欠陥を低減する。 - 特許庁
To prevent defects of a belt without increasing the number of parts.
部品点数を増加させることなく、ベルトの不具合を防止する。 - 特許庁
We will not accept returns for any reasons except for obvious initial defects.
明らかな初期不良の場合を除き返品には応じかねます。 - Weblio Email例文集
a worker who makes glasses for remedying defects of vision
視力の欠陥を治療するための眼鏡を製造する労働者 - 日本語WordNet
In addition, the carbon nanohorns 19 with structural defects are preferably provided with the structural defects by burning carbon nanohorns.
また，上記構造欠陥を有するカーボンナノホーン１９は，カーボンナノホーンを焼成することにより構造欠陥を設けてなることが好ましい。 - 特許庁
To provide a technique capable of evaluating kinds of defects (actual defects) present in a semiconductor wafer in a short time and by a simple method.
半導体ウェーハに存在する欠陥の種類（実体）を短時間、かつ簡便な方法で評価することのできる手法を提供する。 - 特許庁
Alternatively, defects such as short circuits, continuity defects, short circuits caused by foreign matters, etc., are detected by forming test patterns having different circuit patterns.
また、または異なる回路パターンを持ったテストパターンを形成してショート、導通不良、異物によるショートなどの欠陥を検出する。 - 特許庁
NITRIDE SEMICONDUCTOR THIN FILM WITH FEW DEFECTS AND METHOD FOR GROWING SAME
欠陥の少ない窒化物半導体薄膜及びその成長方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECTS BASED ON CONTENTS OF VIDEO STREAM
ビデオ・ストリ—ムの内容に基づく欠陥の検出装置及び方法 - 特許庁
It is possible to clearly distinguish signals due to defects in color development from signals due to the dust to improve accuracy in detecting the defects in color development.
発色欠陥による信号と、塵埃による信号とを明確に分けることができ、発色欠陥の検出精度が向上する。 - 特許庁
To prevent defects such as leakage and short circuits due to ion migration.
イオンマイグレーションによるリークやショートという不具合の発生を防ぐ。 - 特許庁
To produce a silicon wafer and a silicon single crystal free from grown-in defects.
Grown-in欠陥のないシリコンウエーハ及びシリコン単結晶を製造する。 - 特許庁
To prevent occurrence of center defects of an austenitic stainless steel.
オーステナイト系ステンレス鋼材の中心欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

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例文データの著作権について

※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。