「Defects」を含む例文一覧(10273)

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  • To increase write/read speed of information by performing traverse counting successfully for not only dark defects or finger print but also for bright defects or a wide range of defects.
    暗欠陥やフィンガー・プリントのみならず明欠陥や広範囲の欠陥に対しても良好にトラバース・カウントを行って、情報の書き込みや読み出しの速度の向上を図る。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and method for evaluating defects in membrane, which facilitates quantifying of defects in a membrane and makes it possible to evaluate defects in a membrane, over a wide range.
    膜欠陥の定量化が容易であり、広い範囲における薄膜の欠陥を評価することができる膜欠陥評価装置および膜欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁
  • The top zone enables tolerance for macroscopic defects.
    トップゾーンは、巨視的欠陥に対する許容を可能にする。 - 特許庁
  • To propose a ceramic bushing reducing conventional defects.
    従来の欠点を軽減するセラミックブッシングを提案する。 - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing a photomask in which pattern defects arising from defects of a photomask blank are preferably reduced.
    フォトマスクブランクの欠陥に由来するパターン欠陥を好適に低減させたフォトマスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • However, some defects existed in this Kamonomiya section.
    しかし、この鴨宮モデル線区にはある欠点があった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • METHOD AND DEVICE FOR DETECTING LINE DEFECTS OF SCREEN
    画面の線欠陥の検出方法及び検出装置 - 特許庁
  • Consequently, occurrence of defects in the film can be suppressed.
    その結果、膜に欠陥が生じることが抑制される。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for detecting stain defects which can accurately detect stain defects; without misdetecting.
    シミ欠陥を誤検出しないで高精度に検出できるシミ欠陥検出方法及び装置の提供。 - 特許庁
  • In this manner, the defects can be filled and, defects on the substrate are made inconspicuous.
    このようにすることで、基板上のキズを充填することができ、基板上のキズを目立たなくすることができる。 - 特許庁
  • SYSTEM FOR DETECTING AND REPORTING DEFECTS IN CHIP
    チップ中の欠陥を検出し報告するためのシステム - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECTS IN TRANSPARENT MATERIAL
    透明材料中の欠陥の検出方法及び装置 - 特許庁
  • First, please check to see if the product has any defects.
    まずは製品に瑕疵がないことをお確かめ下さい。 - Weblio Email例文集
  • a therapist who treats speech defects and disorders
    言語能力の欠陥や障害を治療する療法士 - 日本語WordNet
  • The method for determining the clearing of yarn defects is provided by displaying the simulation between yarn defects removed by cut by clearing processing to the yarn and the state of remaining yarn defects on a displaying device 21 virtually.
    本糸に対するクリアリング処理により切断除去される糸欠点と残存される糸欠点の状況とを、表示装置２１に仮想的にシミュレーション表示する。 - 特許庁
  • Generating states of the defects are easily grasped and the causes of the defects are efficiently estimated by displaying the defects of the display area Pb.
    表示領域Ｐbの欠陥表示によって、欠陥の発生状況を容易に把握することが可能となり、欠陥の原因の推定を効率良く行うことができる - 特許庁
  • A defect itemizing means 14 itemizes the defects based on the areas of the defects and their entire lengths in respective threshold.
    欠陥項目分類手段１４は各しきい値での欠陥の面積、全長から欠陥の項目を分類する。 - 特許庁
  • In the second flaw detection step, the hydrogen defects are detected.
    第２回探傷ステップは、水素性欠陥を検出する。 - 特許庁
  • To increase a repair execution rate of, in particular, open defects occurring in a first wiring layer and short defects occurring in a second wiring layer among various defects occurring in a circuit pattern.
    回路パターンに生じる種々のパターン欠陥のうち、特に、第一の配線層に生じるオープン欠陥や第二の配線層に生じるショート欠陥のリペア実施率を上げる。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal inspection system which detects optical defects, including schlieren defects in a liquid crystal device.
    液晶素子のシュリーレン欠陥を含む光学的欠陥を検出可能な液晶検査装置を提供すること。 - 特許庁
  • Because it's been shown to cause cancer and birth defects
    ガンや出生異常を引き起こすとされるからです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Children with birth defects were labeled incurables
    生下時に欠陥のある子どもは治癒不能と見なされ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • forming again (especially with improvements or removal of defects)
    再びできること（特に欠陥の改善または除去で） - 日本語WordNet
  • an education for students who have physical and mental defects
    心身に欠陥のある児童や生徒に対する教育 - EDR日英対訳辞書
  • He has defects, but I like him all the same.
    彼には欠点があるがそれでも私は彼が好きだ. - 研究社 新英和中辞典
  • a test operation of a machine that is done in order to examine its defects
    欠陥箇所を発見するための機械の試運転 - EDR日英対訳辞書
  • A kind of the defects is judged by the obtained image of the secondary electrons, and a distribution of defects on the wafer surface is displayed.
    取得した二次電子画像から欠陥の種類の判定を行ない、ウエハ面内分布を表示する。 - 特許庁
  • The semiconductor substrate 20 includes a first region 90A in which a density of oxygen-vacancy defects is greater than a density of vacancy cluster defects, and a second region 80A in which the density of vacancy cluster defects is greater than the density of oxygen-vacancy defects.
    半導体基板２０は、酸素・空孔欠陥の濃度が複空孔欠陥の濃度よりも高い第１領域９０Ａと、複空孔欠陥の濃度が酸素・空孔欠陥の濃度よりも高い第２領域８０Ａを有する。 - 特許庁
  • To provide a method for correcting defects on a color filter, the method easily correcting all of protruding defects, white defects or black defects, which occur during a process for manufacturing a color filter, thereby extensively improving the percentage of high quality products.
    カラーフィルタの製造工程で生じる突起欠陥、白欠陥、黒欠陥を全て容易に修正し、良品率を大幅に向上させることができるカラーフィルタの欠陥修正方法を提供することを目的とする． - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing an aluminum pipe for a photosensitive drum substrate that is reduced in protrusion defects, including split protrusion defects.
    ササクレ状凸欠陥等の凸欠陥が少ない感光ドラム基体用アルミニウム管の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a magnetic recording medium having the decreased defects of an under-coating film surface and the decreased defects of a magnetic film.
    下塗膜表面の欠陥が少なく、かつ磁性膜表面欠陥の少ない磁気記録媒体を提供すること。 - 特許庁
  • To detect defects in an optical fiber which have occurred after drawing.
    延伸後に発生した光ファイバーの欠陥を検出する。 - 特許庁
  • To automatically inspect a welded section of a bottom penetrating tube in a reactor for defects and the base material of a vessel for defects of fine cracks.
    原子炉内下部貫通管溶接部の欠陥や容器母材の微細クラックの欠陥の検査を自動で行う。 - 特許庁
  • To accurately detect defects of an object extended at a dotted line or to various directions or defects of image quality.
    点線状又は様々な方向に延びる物体の欠陥又は画質欠陥を精度良く検出することを可能にする。 - 特許庁
  • To improve reliability by reducing generation of pixel defects.
    画素欠陥の発生を低減して信頼性を向上する。 - 特許庁
  • To reduce the number of crystal defects which occur at the trench bottom.
    トレンチ底部に発生する結晶欠陥を低減する。 - 特許庁
  • A charged particle beam is used for correcting black defects or white defects in the original plate used for nano imprint lithography.
    フォトリソグラフィで荷電粒子ビームをナノインプリントリソグラフィ用の原版の黒欠陥修正や白欠陥修正に利用する。 - 特許庁
  • To provide a substrate having high smoothness without having surface defects, and also to provide a photoreceptor reduced in image defects.
    表面欠陥のない平滑性の高い基板を提供し、画像欠陥の少ない良好な感光体を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a resin mold manufacturing method which reduces defects.
    欠陥を低減した樹脂モールド製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a lost pattern casting method by which a casting having an excellent quality without developing residual defects and burnt defects can be obtained.
    残渣欠陥及び焼着欠陥のない優れた品質の鋳物が得られる消失模型鋳造法を提供する。 - 特許庁
  • To reduce defects of molding such as voids, foreign substances and spider marks.
    ボイド、異物、スパイダーマーク等の成形欠陥を低減する。 - 特許庁
  • To inspect defects in a substrate within a line more rapidly.
    ライン内での基板の欠陥の検査をより迅速に行う。 - 特許庁
  • To conquer defects of a conventional device for display of moon phases.
    月位相表示用の従来デバイスの欠点を克服する。 - 特許庁
  • To provide a system and a method for inferring engine defects.
    エンジンの欠陥を推定するシステムと方法を説明する。 - 特許庁
  • Accordingly, the frequency at which the pixel defects due to the storage wiring defects arise is reduced and the image quality of the display panel is improved.
    従って、ストレージ配線不良による画素不良が発生する頻度が減少し、表示パネルの画質が向上する。 - 特許庁
  • POLYMER BLEND FOR PRODUCING FILM WITH REDUCED NUMBER OF DEFECTS
    欠陥数の少ないフィルムを製造するためのポリマーブレンド - 特許庁
  • To provide an auxiliary agent for forming a fine pattern having preferable filtering property and excellent in avoiding coating defects, development defects and stability over time.
    ろ過性が良好で、塗布欠陥、現像欠陥、経時安定性に優れた微細パターン形成補助剤を提供する。 - 特許庁
  • CARBON BEAM DEPOSITION CHAMBER FOR REDUCED DEFECTS
    欠陥を減らすために用いられる炭素ビーム蒸着チャンバー - 特許庁
  • Defects are inspected based on the normalized measurement data.
    欠陥検査は、ノーマライズされた測定データに基づいて行う。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display capable of suppressing deterioration of display contrast caused by dot defects, line defects, or the like.
    点欠陥・線状欠陥等による表示コントラストの劣化を抑えることができる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
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