To improve pixel defects due to defects of a storage capacitance and defects of pixel TFT(thin film transistor) to be a satisfactory spot (to make a display device perform normal operation) substantially completely. 各画素に蓄積容量とスイッチング素子を有する表示装置において、蓄積容量やスイッチング素子に欠陥があった場合の画素欠陥 - 特許庁
To correct pixel defects by inspecting new pixel defects at a proper time in addition to pixel defects having been stored in advance at shipment of an electronic camera. 出荷時に予め記憶された画素欠陥に加えてより適切な時期に新たな画素欠陥を点検して、これらの画素欠陥を補正する。 - 特許庁
To solve the following problem: defects may occur during the manufacturing of EUV blanks or substrates or EUV masks, the defects causing defects during the exposure of a resist material. EUVブランク、基板又はEUVマスクの製造中に欠陥が生じることがあり、これらの欠陥が、レジスト材料の露光中に欠陥をもたらす。 - 特許庁
METHOD FOR PREVENTING FORMATION OF DEFECTS IN CMP METHOD CMP法における欠陥生成の防止方法 - 特許庁
A pattern imprinted on a substrate to be processed is inspected for defects to generate image data containing the defects. 被処理基板上に転写されたパターンの欠陥検査を行い、欠陥の画像データを生成する。 - 特許庁
To reduce defect count errors by preventing defects from being overlooked, and the images of close defects from being overlapped. 欠陥の見逃しや、近接した欠陥の画像の重なりを防止して、欠陥計数誤差が低減する。 - 特許庁
Thereby, the defects are hardly caused when the pixels are made large in size, and the defects can easily be repaired even when being caused. 画素が大型化したときに欠陥が発生しにくく、たとえ発生しても容易にリペアができる。 - 特許庁
To simultaneously detect the presence or the absence of internal defects and surface defects in a short time and with ease. 短時間で、且つ簡単に内部欠陥及び表面欠陥の有無を同時に検出できるようにする。 - 特許庁
To suppress the generation of surface defects such as scale defects and a rough surface in the hot rolling of high Cr steel. 高Cr鋼の熱間圧延において、スケール疵、肌荒れ等の表面欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁
To prevent defects occurring chronically by detecting and eliminating the defects without stopping print processing. 印刷処理を停止させることなく、不良の検出除去を行い慢性的に発生する不良を防ぐ。 - 特許庁
To surely scan closed defects of a specimen, and to determine the existence of advancing properties of the defects. 被検査体の閉じた欠陥を確実に探傷すると共に、欠陥の進展性の有無を判定する。 - 特許庁
To prevent sewing defects by judging delivering defects or lack of belt loops by using simple structure. 簡易な構成で、ベルトループの繰出し不良や使い果たしを判断することで、縫い付け不良を防止する。 - 特許庁
To provide an imaging device having high performance that compensates all pixel defects, including blinking defects. 点滅性欠陥を含めたすべての画素欠陥が補償された高性能な撮像装置を提供すること。 - 特許庁
To reduce coating defects in a dip coating. ディップコーティングにおいて、コーティング欠陥を低減する。 - 特許庁
To accurately detect the defects of concrete of a tunnel. トンネルのコンクリートの欠陥を正確に検出する。 - 特許庁
To provide a detection method of pixel uneveness defects, capable of accurately detecting the pixel uneveness defects existing in images. 画像に存在する画素ムラ欠陥を精度よく検出する画素ムラ欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
To surely detect both of black defects and white defects included in transparent granular tested objects. 透明な粒状被検査物に含まれる黒色と白色の欠陥を両方とも確実に検出する。 - 特許庁
The inside defects never fail to express themselves outwardly.
内面の欠点はきっと外面に現れるものだ。 - Tanaka Corpus
The inside defects never fail to express themselves outwardly. 内面の欠点はきっと外面に現れるものだ。 - Tatoeba例文
He inspected the car for defects.
彼は欠陥がないかどうか車を念入りに調べた. - 研究社 新英和中辞典
He tested the product for defects.
彼はその製品に欠陥がないかどうかを調べた. - 研究社 新英和中辞典
PLANARIZED COPPER CLEANING FOR REDUCING DEFECTS 欠陥低減のための平坦化された銅のクリーニング - 特許庁
To improve the detection sensitivity for small defects. 小さな欠陥に対する検出感度を向上する。 - 特許庁
SLURRY APPLYING DEVICE AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECTS OF SLURRY APPLICATION スラリー塗布装置、及びスラリー塗布欠陥検査装置 - 特許庁
Further, region combination is performed on once detected defects by a defect detecting part 202, and if the defects are close-packed, they are detected as defects even if the defects are minute, and defect data 105 is produced. さらに、欠陥検出部202が、一旦、検出した欠陥について領域結合処理を行い、微小欠陥であっても、密集している場合には欠陥として検出し、欠陥データ105を生成する。 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR PATTERN DEFECTS パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATING DEFECTS IN MEMBRANE 膜欠陥評価装置および膜欠陥評価方法 - 特許庁
All the potential defects can be known beforehand もし仮に 全ての異常が 事前に分かったとしても - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
physical defects in the media on which this software is distributed
ソフトウェアが配布される媒体の物理的な欠陥 - 研究社 英和コンピューター用語辞典
this device permits detection of defects in the lungs
この装置で肺の障害の検出が可能である - 日本語WordNet
to discount the defects (of an object when evaluating it)
物事を評価するときマイナス要因を割引する - EDR日英対訳辞書
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING DEFECTS IN CORNER OF MEMBER 部材角部の欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁
To prevent production of liquid crystal defects, such as disclination. ディスクリネーション等の液晶欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING DIE-CAST PRODUCTS WITH LESS CASTING DEFECTS 鋳造欠陥が少ないダイカスト製品の製造方法 - 特許庁
Further, the rubbing waste is not easily generated inside the aperture and the display defects such as the point defects are suppressed. 更に、開口部内にラビング屑が発生しにくくなり、点欠陥などの表示不良を抑制することができる。 - 特許庁
To enhance a capture rate of defects and classification performance. 欠陥の捕捉率、及び分類性能を向上させる。 - 特許庁
To provide a composition for an upper layer film reducing watermark defects, blob defects and the like. ウォーターマーク欠陥やBlob欠陥等を抑制することができる上層膜用組成物を提供すること。 - 特許庁
To prevent coating defects (streak or the entrapment of air) or spreading defects even in high speed coating. 塗布速度を高速化しても塗布欠陥(スジやエアの巻き込み)や塗り付け不良が発生しないようにできる。 - 特許庁
The semiconductor wafer is inspected to locate the defects. 半導体ウェファは検査されて欠陥を探し出される。 - 特許庁
To reduce interfacial defects easily. 簡便に界面の欠陥を低減することを可能とする。 - 特許庁
A CPU 54 stores positions of defects in a memory 56. CPU54は、メモリ56に欠陥の位置を記憶する。 - 特許庁
To prevent the occurrence of defects by improving factors causing the defects prior to production. 不良発生の原因となる要因を改善してから生産することによって、不良の発生を未然に防止する。 - 特許庁
To suppress stripe defects depending on a position of a transistor group. トランジスター群の位置に依存したスジを抑制すること。 - 特許庁
To provide a photosensitive resin composition capable of diminishing film defects and capable also of reducing the number of film defects. 塗膜欠陥が小さくでき、塗膜欠陥数も低減可能な感光性樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁
To inspect faults and defects in a substrate with high sensitivity. 基板の不良や欠陥をより高感度で検査する。 - 特許庁
To accurately detect defects on a surface of a hologram. ホログラムの表面の欠陥を精度良く検出すること。 - 特許庁
To inspect various defects existing on the display surface of a display such as point defects and plane defects with simple and inexpensive configuration in a short inspection time. 簡単かつ安価な構成で、しかも短い検査時間で、ディスプレイの表示面すべてに存在する本来の点欠陥や面欠陥等の各種の欠陥を検査する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a mask blank substrate for decreasing minute projection defects resulting in phase defects or decreasing minute recess defects which induce decrease in transmitted light quantity. 位相欠陥となる微小な凸欠陥や、透過光量の低下を引き起こす微小な凹欠陥を低減できるマスクブランク用基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁