「Defects」を含む例文一覧(10273)
＜前へ 1 2 .... 20 21 22 23 24 25 26 27 28 .... 205 206 次へ＞- To provide a polarizing plate eliminating defects in display quality of a liquid crystal display.
液晶表示装置の表示品位上の欠点を解消できる偏光板を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal panel that prevents defects from being generated on substrates, and to provide a method of manufacturing the liquid crystal panel.
基板に発生する欠陥を低減した液晶パネルとその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To manufacture a uniform and reliable two-dimensional image detector having few defects with a satisfactory yield.
均一で欠陥が少なく信頼性の高い二次元画像検出器を歩留まり良く製作する。 - 特許庁 - Existence of defects of printing on the outer surfaces of the articles to be printed is judged by the imaging data obtd.
得られた撮像データにより被検査物の外面の印刷欠陥の有無を判別する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for detecting the defects of a fine structure, especially which includes through-holes.
とくに貫通孔を含む微小構造の欠陥の検出を行う方法および装置。 - 特許庁 - Then, defects are detected in the regions held in region memories 10A-10C.
そして領域メモリ１０Ａ〜１０Ｃに保持される検査領域内で欠陥の検出を行う。 - 特許庁 - (ii) To check defects in material and function of an instrument and a tool, and remove defective ones.
二 材料の欠点の有無並びに器具及び工具の機能を点検し、不良品を取り除くこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed.
つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。 - 特許庁 - To provide a key-top member, and its manufacturing method, which will not give rise to appearance defects.
外観上の不具合が生じることがないキートップ部材とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for evaluating the laser welding quality capable of correctly grasping the welding situation related to various welding defects.
種々の溶接欠陥につながる溶接状況を的確に把握できるようにする。 - 特許庁 - Consequently, a wiring surface is flattened and contact defects of the wiring are reduced.
これにより、配線表面を平坦化し、且つ配線のコンタクト不良を改善することができる。 - 特許庁 - The line pattern structure has reduced defects and may be formed through simple steps.
前記ラインパターン構造物は不良が減少し、簡単な工程を通じて形成されてもよい。 - 特許庁 - To provide an optical inspection device used for detecting the surface defects of a substrate.
基板の表面欠陥を検出するために用いられる光学的検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for reducing defects of silicon fragments with sharp edges.
縁の鋭いケイ素砕片が有している欠点を減少させる方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - This method can thus provide the SOI substrate in which attachment defects can be sufficiently reduced.
これにより、貼り合わせ不良を十分に低減できるＳＯＩ基板を提供することができる。 - 特許庁 - To reduce the occurrence of short circuit defects without having to greatly increase the manufacturing cost.
製造コストをあまり増加させることなく、ショート欠陥の発生を抑制できるようにする。 - 特許庁 - The presence or absence of defects is determined based on reproduction error at the time of data reproduction of an optical disk 10.
光ディスク１０のデータ再生時の再生エラーに基づいて欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - To provide a method for producing a glass for a cathode ray tube enabling to reduce defects due to bubble and ash.
泡およびアッシュ欠点を低減できる陰極線管用ガラスの製造方法の提供。 - 特許庁 - To prevent coating defects such as pin holes or the like generated at the time of heat drying of a bearing part.
軸受け部材の加熱乾燥時に発生するピンホール等の塗膜欠陥を防止するもの。 - 特許庁 - Further, whether the product performance is good or not is measured from defects of a finished wafer, whereby a fail map is formed.
また、完成したウエハの欠陥から製品特性の良否を測定し、フェイルマップを作製する。 - 特許庁 - To provide a turnover type liquid medicine preparation apparatus capable of accurately detecting leakage or dispensing defects.
リークや吐出不良を的確に検出でき得る転倒式の水薬調剤装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a production method which eliminates defects in an intermittent production method and can produce an article in the form of an FRP column having a core efficiently.
芯入りのＦＲＰ（繊維強化プラスチック）柱状品を効率よく製造する。 - 特許庁 - To obtain a manufacturing method of an organic EL display element in which display defects with time passage are hard to occur.
経時的な表示欠陥が生じ難い有機ＥＬ表示素子の製造方法を得る。 - 特許庁 - To provide a method of smoothing an optical surface of an EUVL optical member which has concave defects.
凹欠陥を有するＥＵＶＬ用光学部材の光学面を平滑化する方法を提供する。 - 特許庁 - The resulting hard mask attains a good exposed state without causing defects even after repeated hard contact exposure.
ハードコンタクト露光を繰り返しても欠陥を生じることなく良好な露光状態にできる。 - 特許庁 - To provide a positive resist composition which reduces developing defects and can form a square profile.
現像欠陥が低減され、矩形なプロファイルを可能とするポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a GaN semiconductor in which defects can be suppressed to the degree capable of being used for an electronic device.
電子デバイスに使用できる程度に欠陥を抑制し得るＧａＮ半導体の提供。 - 特許庁 - To reduce disconnection defects of the contact hole of an active matrix substrate, having a resin layer formed thereon.
樹脂層が形成されたアクティブマトリクス基板のコンタクトホールの接続不良を低減すること。 - 特許庁 - To decrease the man-hours of inspection by reducing the amount of the pseudo defects to be detected in plate pattern inspection.
プレートパターン検査において、擬似欠陥の検出量を減らして、検査の工数を減らす。 - 特許庁 - To provide a chiller for casting having good durability and less prone to cause casting defects.
鋳造欠陥が発生しにくく、且つ耐用性にも優れた鋳造用冷し金を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which is sufficiently suppresive on the occurrence of insulation defects in operation.
動作時における絶縁不良の発生が十分に抑制された半導体素子を提供する。 - 特許庁 - To provide an active matrix substrate in which contact defects between wiring and a semiconductor layer are prevented.
配線と半導体層との接触不良を抑制したアクティブマトリクス基板を提供する。 - 特許庁 - To accurately inspect defects of articles by preventing the blurs of X-ray images.
Ｘ線画像のぶれを防止し、物品の不良を精度良く検査することが目的とされる。 - 特許庁 - To provide a gas pressure welding method in which the oxide that causes the generation of defects of cracks, wounds or the like is decreased enough.
割れ、きず等の欠陥が発生する原因となる酸化物を十分に低下させる。 - 特許庁 - To provide a method and device for inspecting defects of a color filter with a bright image.
明るい像を得ることができるカラーフィルタの欠陥検査方法および装置を提供すること。 - 特許庁 - Thus, an application unevenness is dispensed with, with the reduced number of defects and stabilization of quality.
塗布ムラが生じることがなく、不良が削減され、品質の安定化を図ることができる。 - 特許庁 - To provide a value-added tax charging system, capable of compensating defects of a taxation method for cross-border transactions.
クロスボーダー取引の課税方法の欠点を補う付加価値税課金システムを提供する。 - 特許庁 - To evade the increase of a communication data amount and to suppress influence of the reception defects of data.
通信データ量の増加を回避するとともに、データの受信不良による影響を抑制する。 - 特許庁 - To provide a method for detecting defects in rotary piercing with high accuracy.
穿孔圧延の不良の検知の精度が高い不良検知方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - Thus, defects of the pattern can be detected with accuracy in accordance with the type of printing.
こうすれば印刷の種類に合わせた精度でパターンの欠陥を検出することができる。 - 特許庁 - To provide a new TOF/TOF measuring method free from defects in a conventional TOF/TOF measuring method.
従来のTOF/TOF測定方法の欠点を克服した新しいTOF/TOF測定方法を提供する。 - 特許庁 - To simultaneously detect defects in a range from the front face to the rear face of an FSS sandwich panel.
ＦＳＳサンドイッチパネルにおける表面から裏面までの間の欠陥を一度に検知すること。 - 特許庁 - To reduce joining defects when press-forming a plurality of metal foils into a sheet of foil.
複数の金属箔を１枚の箔に加圧成形するときの接合欠陥を低減すること。 - 特許庁 - To provide a positive type photoresist composition having high sensitivity and few developing defects.
高い感度であるとともに、現像欠陥の発生が少ないポジ型フォトレジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - To reduce crystal defects existing in a silicon layer under the BOX layer of an SIMOX wafer.
ＳＩＭＯＸウェーハのＢＯＸ層下のシリコン層に存在する結晶欠陥を低減すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device with a structure capable of suppressing film defects of a hydrogen barrier film.
水素バリア膜の膜欠損が抑制できる構造を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a submerged arc welding machine scarcely causing weld defects even in high current-density welding.
高電流密度溶接でも溶接欠陥が発生しにくい、サブマージアーク溶接機を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a silicon carbide semiconductor epitaxial substrate with less amount of point defects.
点欠陥の少ない炭化珪素半導体エピタキシャル基板を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defective article selecting device for rationally selecting two types of opening defects.
二種類の開口不良の選別を合理的に実行可能な不良品選別器を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a photomask that can suppress the opening defects of shared contact hole.
シェアードコンタクトホールの開口不良を抑制できる半導体装置およびフォトマスクを提供する。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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