「Defects」を含む例文一覧(10273)
＜前へ 1 2 .... 23 24 25 26 27 28 29 30 31 .... 205 206 次へ＞- Thus, generation of defects is prevented, and the high-quality organic film having an equalized film distribution can be formed.
よって、不良の発生を抑え、膜分布の均一化が図られた良質な有機膜を形成できる。 - 特許庁 - To provide a silicon focus ring which can prevent defects caused by impurities such as heavy metal or the like.
重金属等の不純物が招く不具合を防止することが出来るシリコンフォーカスリングを提供する。 - 特許庁 - To improve display defects due to a cell gap defect of a liquid crystal display.
本発明は、液晶表示装置のセルギャップ不良による表示不良を改善することを目的とする。 - 特許庁 - To prevent the generation of coating defects (streak-like ununiformity or the entrapping of air) even at a the increased coating speed.
塗布速度を高速化しても塗布欠陥（スジ状ムラやエアの巻き込み）が発生しないようにできる。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of reliably detecting various defects.
様々な欠陥を確実に検出し得る欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a flexible type EL element structure in which occurrence of defects such as a dark spot is suppressed.
ダークスポットなどの欠陥発生が抑制される可撓性の有機ＥＬ素子構造体を提供する。 - 特許庁 - No occurrence of contact defects improves reliability only because the feeder line 40 is extensibly set.
伝送線40を伸縮可能に取り付けただけで接点不良が生じ得ないから信頼性が向上する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a display device which has a simple process and is reduced in cost and defects.
工程が簡単であり、コスト及び不良が減少された表示装置の製造方法が提供される。 - 特許庁 - To reduce a package size and to prevent the generation of molding defects in a resin sealed type semiconductor device.
樹脂封止型の半導体装置において、パッケージサイズの小型化とモールド不良の発生防止を図る。 - 特許庁 - Therefore, the defects such as the lead part C being broken and thinned are reduced, and the electrode pattern can be improved.
リード部Ｃの断線や細りなどの欠陥が減少し、電極パターンを改善することができる。 - 特許庁 - To provide a device for inspecting defects, which can inspect a pattern of a top layer with a high S/N ratio.
最上層のパターンの検査を、高いＳ／Ｎ比で行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce mirror surface defects, the centrifugal force that the sticking plate generates is only made small.
したがって、鏡面欠陥を減少させるには貼付けプレートに発生する遠心力を小さくすればよい。 - 特許庁 - The recessed portion and/or protruding portion includes a shape that prevents crystal defects from occurring in semiconductor layers 11 and 13.
凹部及び／又は凸部は半導体層１１、１３に結晶欠陥を発生させない形状とする。 - 特許庁 - To provide a method for making carbon fiber sheet suppressing surface defects such as wrinkles and ups and downs, etc.
皺や起伏等の表面欠陥の発生を抑制できる炭素繊維シートの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To eliminate image defects more completely by coating a photoreceptor drum with zinc stearate uniformly as much as possible.
感光ドラムにステアリン酸亜鉛を極力均一に塗布して画像不良をより完全に解消すること。 - 特許庁 - To provide a method for determining processing image induced defects in manufacturing semiconductor products such as wafers.
ウェハなどの半導体製品の製造においてプロセス画像誘起欠陥を判定する方法を提供する。 - 特許庁 - By comparing a signal extracted from the CCD 26 to a threshold value, convex defects are detected.
ＴＤＩラインＣＣＤ２６から得られた信号強度をしきい値と比較して、凸欠陥を検知する。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of display defects such as the unevenness of luminance in a display screen by eliminating the variation of a cell gap.
セルギャップの変動を無くして表示画面内の輝度むら等の表示欠陥の発生を防止する。 - 特許庁 - In this way, semiconductor film defects are prevented and thus conversion efficiency can be improved.
これは，半導体薄膜の欠陥の発生を抑制しながら変換効率を向上することを可能にする。 - 特許庁 - A defect extraction part 5 extracts defects on the object to be inspected through the use of generated images.
欠陥抽出部5は、生成された画像を用いて被検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁 - A defect in an MOS interface, the number of crystal grain boundaries and defects in the crystal grain boundaries in the critical path are reduced.
クリティカルパス中のMOS界面欠陥・結晶粒界数・結晶粒界欠陥が低減されている。 - 特許庁 - To provide a method for improving resistance of an optical encoder against defects, seaming, etc. existing in an internal optical path.
光学式エンコーダの、内部の光路中に存する欠陥や汚れ等に対する耐性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a method of producing a high quality silicon single crystal free of void defects.
空洞欠陥のない高品質なシリコン単結晶を製造することが可能な製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for manufacturing silica glass by which a silica glass ingot without defects and an improved yield are obtained.
シリカガラスインゴット内に欠陥がなく、製造歩留が向上するシリカガラス製造装置を提供する。 - 特許庁 - As a result, the adjustment prevents the plates 2, 3 from being deformed by the heat of welding, eliminating welding defects.
そのため、溶接時の熱による板材２、３の変形を防止でき、溶接不良を無くすことができる。 - 特許庁 - To efficiently prepare a powdery sphingoglycolipid-containing composition free from defects such as stickiness or lump formation.
べとつきやダマ形成などの問題のない粉末状のスフィンゴ糖脂質含有組成物を効率よく得る。 - 特許庁 - The recess portion and/or protruding portion has a shape that precludes crystal defects from being produced in semiconductor layers (11 and 13).
凹部及／又は凸部は半導体層（１１、１３） に結晶欠陥を発生させない形状とする。 - 特許庁 - After the crystal is held at the annealing temperature for sufficient time to remove defects in the crystal, the crystal is gradually cooled.
アニーリング温度に結晶中の欠陥を除去するために十分な時間保持した後、徐冷する。 - 特許庁 - To provide a copper alloy for a bearing cage ensuring the existence number of internal defects and an evaluation method of it.
内部欠陥の存在を保証した軸受保持器用銅合金及びその評価方法を提供する。 - 特許庁 - To correctly estimate whether inclusions and bubbles which can be made into surface defects are present or not in a slab.
スラブに表面欠陥となり得る介在物・気泡が存在するか否かを適確に予測すること。 - 特許庁 - To provide a sapphire single crystal and a method for producing the single crystal, for efficiently suppressing production of bubble defects.
効率よく泡欠陥の発生を抑制したサファイア単結晶及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To accurately detect surface defects potentially existing on a web inspection surface of shaped steel.
形鋼のウェブ検査面の表面に存在する可能性のある表面欠陥を正確に検出すること。 - 特許庁 - To form a resist pattern having few defects, an excellent shape, and excellent line edge roughness.
欠陥が少なく、かつ優れた形状及びラインエッジラフネスを有するレジストパターンを得ることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a substrate inspection method that facilitates specifying a device which causes defects.
欠陥を生じさせる原因となる装置を容易に特定することができる基板検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a diode in which different kinds of crystal defects coexist without using heavy metal.
重金属を利用することなく、異なる種類の結晶欠陥が混在したダイオードを提供すること。 - 特許庁 - To avoid defects in connection without damaging junction property between two semiconductor devices that are to be laminated.
積層される２つの半導体装置間の接合性を損なうことなく、接続不良を回避する。 - 特許庁 - To provide a switch member that is excellent in transparency, is free of defects and hardly peels off from a resin film during use.
透明性に優れ、欠陥が少なく、使用中に樹脂フィルムから剥がれにくいスイッチ部材とする。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device wherein display defects such as burning of pixels can be suppressed.
画素の焼き付きなどの表示不良を抑制することができる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a curable composition for imprint which can effectively suppress defects in cure patterns.
硬化パターンの欠けを効果的に抑制することのできるインプリント用硬化性組成物を提供する。 - 特許庁 - To obtain a film with a plated coating film having uniform thickness and having reduced defects of abnormal projections and recesses.
厚みの均一性がよく異常突起や凹み欠陥の少ないめっき被膜付きフィルムを得ること。 - 特許庁 - To provide a web test module for printers in order to inspect a high-speed moving printed web for defects.
印刷機のためのウエブ検査モジュールにおいて高速で移動する印刷済みウエブの欠陥を検査する。 - 特許庁 - To correct defects by an ECC in a wider range in a semiconductor memory device.
半導体メモリ装置において、ＥＣＣで訂正可能な不良の幅を増大させることを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an NdFeB-based sintered magnet that has no defects inside and has high orientation properties.
内部に欠陥がなく、配向性の高いNdFeB系焼結磁石を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain images of high quality without quality defects caused by reciprocity failures, regardless of multi-beam scanning.
マルチビームを走査しても相反則不軌による画質欠陥が生じることなく、高画質の画像を得る。 - 特許庁 - To obtain accurate evaluation values by measuring regenerated signal quality evaluation value, only in regions which have no defects.
再生信号品質評価値の計測を欠陥の無い領域でのみ行い、正確な評価値を得る。 - 特許庁 - The existence ensuring of internal defects is 10.0 pieces or less per flaw detection volume of 1×10^6 mm^3.
内部欠陥の存在保証は、探傷体積１×１０^6 ｍｍ^3 当たり１０．０個以下とする。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an inkjet head having an orifice surface in which defects are reduced.
欠陥の低減されたオリフィス面を有するインクジェットヘッドの製造方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a silicon wafer having BMD (Bulk Micro-Defects) layers sufficient for gettering while keeping sufficient wafer strength.
シリコンウェーハにおいて、ウェーハ強度を十分に保ちつつ、ゲッタリングに十分なＢＭＤ層を有すること。 - 特許庁 - To detect defects with high sensitivity while obtaining a fine image with high speed, stability and contrast.
高速，安定かつ明暗コントラストの大きい良質の画像を取得し、欠陥を高感度に検出する。 - 特許庁 - To reduce deterioration in printing quality due to defects of printing elements of a printer while maintaining printing throughput.
プリンタの印刷素子の欠陥による印刷品質の劣化を印刷スループットを維持しつつ低減する。 - 特許庁
- 特許庁
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