「For testing」を含む例文一覧(6759)

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  • To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.
    健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • This tire testing device 10 is equipped with the endless belt 16 having a belt surface 16S abutting on a tire T, and a primary side coil 18 of a linear motor for generating an eddy current and generating a running force on the endless belt 16.
    タイヤ試験装置１０は、タイヤＴに当接するベルト路面１６Ｓを有する無端ベルト１６と、無端ベルト１６に渦電流を発生させて走行力を生じさせるリニアモータの一次側コイル１８と、を備えている。 - 特許庁
  • The on-chip circuit forces and senses voltage in each DRAM storage capacitor, displays each storage capacitor charge leakage rate and enables a pulse testing method for calculating an electric charge transfer rate between a bit line of the DRAM cell and the storage capacitor.
    オン・チップ回路は、個々のＤＲＡＭ記憶キャパシタに電圧をフォースおよびセンスして、個々の記憶キャパシタ電荷漏洩率を表し、ＤＲＡＭセルのビットラインと記憶キャパシタとの間の電荷転送率を求めるパルス・テスト方法を可能にする。 - 特許庁
  • To provide a method and device for measuring shear stress distribution of a flow field, capable of accurately obtaining the shear stress distribution based on velocity variation of the flow field due to an agitation blade without using an empirical formula obtained by testing.
    試験により求める実験式を用いることなく、攪拌翼による流れ場の速度変動に基づくせん断応力分布を正確に求めることができる流れ場のせん断応力分布計測方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To readily automate an automatic gas sample injection device, by simplifying the operation of drawing and inserting/moving of a syringe with a comparatively small device, regarding the automatic gas sample injection device for introducing the gas sample into the testing device, in combination with the syringe with an extension needle and the sample chamber integrated gas injection port.
    本発明は、延長針付注射器と試料室一体型ガス注入口とを組み合わせて用いて、気体試料を試験装置へ導入するための自動気体試料注入装置に関するものである。 - 特許庁
  • In the electronic component tester testing electronic components under a prescribed temperature environment, a carrier 18 for mounting a lead frame 11, in which the plurality of electronic components 12 with built-in light emitting elements 14 are prepared is held by a socket 9.
    電子部品の試験を所定の温度環境下で行う電子部品試験装置において、発光素子１４を内蔵した電子部品１２が複数作り込まれたリードフレーム１１が装着されたキャリア１８をソケット９に保持させる。 - 特許庁
  • To provide an abrasion testing machine for evaluating the abrasion of both or either of a piston ring and a piston ring groove, capable of evaluating the piston ring and the piston ring groove, in a state which is very close to the state used in actual machines.
    実機で使用される状態に極めて近似した状態でピストンリング、ピストンリング溝の評価を行うことができるピストンリングとピストンリング溝との双方又はいずれか一方の摩耗を評価する摩耗試験装置の提供。 - 特許庁
  • The testing device includes an electron collector plate adapted as an array of individually address-assignable electrodes 281, 282, 283, 284 brought into a positive or negative potential for executing the injection or extraction of the electron.
    テスト装置には、電子の注入または抽出を実行するために正または負電位に導くことができる個別アドレス指定可能電極（２８１、２８２、２８３、２８４）のアレイとして適合された電子コレクタプレートが含まれる。 - 特許庁
  • To enable visually grasping a communication state and a signal waveform of a message in testing simultaneously on the time axis in a connection test for a mobile communication terminal by a simulated base station or the like.
    本発明の目的は、移動体通信端末の擬似基地局による接続試験等において、試験時のメッセージの交信状態及び信号波形を同一時間軸上で同時に、視覚的に把握できるようにすることである。 - 特許庁
  • To obtain an electronic instrument transformer which has a plurality of sensors, and performs efficient gain readjustment, without performing power interruption to an energized part, and preparing a testing power source and a transformer for a standard.
    複数のセンサを有する電子式計器用変成器において、課電部の電源遮断や試験用電源、標準用変成器を準備することなく、効率良く利得再調整を実施できる電子式計器用変成器を得る。 - 特許庁
  • The porous carbon material for an electric double layer capacitor polarizing electrode uses uncalcinated coke originated from carbon or petroleum whose thermal expansion factor that is measured by an artificial graphite electrode testing method is 2 or higher.
    電気二重層キャパシタ分極性電極用多孔質炭素材料は、人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数が２以上である、石炭や石油に由来する未か焼コークスを原料として用いる。 - 特許庁
  • To more easily execute waveform confirmation of a surrounding circuit provided in DUT board than before by applying a testing apparatus to one inspecting a characteristic of an integrated circuit, for example.
    本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の特性を検査する試験装置に適用して、ＤＵＴボードに設けられた周辺回路の波形確認を従来に比して一段と簡易に実行することができるようにする。 - 特許庁
  • To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.
    被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁
  • For data that need to be verified, therefore, the exposure time adopted shall be considered appropriate on condition that OECD Test Guidelines 210, US EPA 850.1500 (Fish Life Cycle) or equivalent are followed in the testing.
    したがって、信頼性の確認が必要とされたデータについては、OECDテストガイドライン210、魚類ライフサイクル試験またはこれらに相当する試験法を用いたことが明記されていれば、暴露期間は適切に設定されていると判断するものとする。 - 経済産業省
  • At the stage of testing, research and technological development, collaborations with central and local government- affiliated industry support organizations are common, which can be explained by the fact that industry support organizations serve as the initial contact, enabling companies to locate partners that are most suitable for product development.
    次に試験研究・技術開発といった段階では、国や自治体の産業支援機関との連携が多い。このことは、まず、産業支援機関が窓口となり、商品開発に最適な相手を見つけている可能性がある。 - 経済産業省
  • (2) Researchers shall test for the following by confirmation of medical history, examination and testing, and determine donor eligibility giving consideration to factors such as whether or not they have received blood transfusions or transplantations.
    (2) 研究者等は、次に掲げるものについては、既往歴の確認、診察、検査等に基づく診断を行うとともに、輸血又は移植医療を受けた経験の有無等から提供者としての適格性を判断しなければならない。 - 厚生労働省
  • The load testing apparatus for linear actuator is configured by providing the speed increasing mechanism (3) which comprises a plurality of gears (22 to 26) in between the inertial load (13) and a connecting plate (3) to which a moving member (8) is connected, thereby achieving the miniaturization of the apparatus.
    本発明によるリニアアクチュエータ用負荷試験装置は、慣性負荷（１３）と可動子（８）を接続する接続板（３）との間に複数の歯車（２２〜２６）からなる増速機構（３０）を設け、装置の小型化を得る構成である。 - 特許庁
  • To provide a light emitting substrate and its manufacturing method, a liquid droplet material landing accuracy testing substrate for a light emitting substrate and its manufacturing method, a measuring method of the liquid droplet material landing accuracy, an electro-optical device, and an electron equipment.
    発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁
  • To provide a support system for testing software written in high-level languages that makes a software test effectively performable even if a program is partially modified or the test procedures are changed.
    高級言語により記述されたソフトウェアの試験を支援するソフトウェア試験支援装置に係り、プログラムが部分的に修正されたり、試験処理が変更された場合でも、ソフトウェアの試験が効率的に行なるようにすることを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a technology for largely shortening design time, and easily executing economical design by visually easily seizing a balance degree of stress and proof stress of the whole column bases of a proof stress testing object.
    耐力検定対象の柱脚全体の応力と耐力とのバランスの度合いを視覚的に容易に把握できるようにして、設計時間の大幅短縮、経済設計の実施の容易化を図ることが可能な技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a sensitivity tester, capable of testing the sensitivity of a fire sensor with an easy input operation for recording a test result of each fire sensor and with a reduced fire sensor test time.
    火災感知器の感度を試験する場合、火災感知器毎の試験結果を記録するための入力作業が容易であり、また、火災感知器を試験する時間が短い感度試験器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁
  • (2) With regard to an application for testing as set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act (including the case where it is applied mutatis mutandis pursuant to Article 23, paragraph (2) or Article 25-3, paragraph (2) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act; the same shall apply in the following paragraph) which was filed prior to the enforcement of Article 10 and for which a disposition of success or failure in passing said testing had not been made at the time of enforcement of the relevant provisions, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such application.
    ２　第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項（旧電気用品取締法第二十三条第二項又は第二十五条の三第二項において準用する場合を含む。次項において同じ。）の試験の申請であって、第十条の規定の施行の際、合格又は不合格の判定がされていないものについての合格又は不合格の判定については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a system and a method for business mediation which comply with both demands of the manufacturing maker of semiconductor integrated circuit testing devices which wants to expand the business at 2 low cost while preventing technical information from flowing out to other companies of the same business and demands of an organization which wants to expand new business by improving the technical level while accumulating technologies regarding the semiconductor integrated circuit testing devices.
    競業他社への技術情報の流出を防いだ上で、低コストで事業展開の拡大を図りたい半導体集積回路試験装置の製造メーカの要求と、半導体集積回路試験装置に関する技術を蓄積しつつ技術レベルを向上させ新たな事業の展開を図りたい組織の要求とを両立することができるビジネス仲介システム及び方法を提供する。 - 特許庁
  • The device for testing the semiconductor which simultaneously measures a plurality of testing object devices includes: a system control unit which performs measurement, using a plurality of already inspected devices of which the results of measurement are known beforehand, while shifting the inspected devices in a plurality to be objects of measurement; and an execution result verifying means which verifies whether the results of measurement of the same already inspected devices are identical and outputs the results of verification.
    複数の被試験対象デバイスを同時に測定する半導体試験装置において、測定結果が予め分かっている複数の検査済みデバイスを用いて、測定対象となる複数の検査済みデバイスをずらして測定を行うシステム制御部と、同一の検査済みデバイスの測定結果が同じであるか否かを検証し検証結果を出力する実行結果検証手段とを備える。 - 特許庁
  • Article 69-30 (1) A prefectural governor, when it is determined that it is necessary for ensuring proper conduct of Examination Affairs, may request a Designated Testing Agency to submit the necessary reports concerning the status of Examination Affairs, direct its personnel to ask questions of the relevant person, enter the Business Office of a Designated Testing Agency in order to inspect said facility, record books and documents, and other items.
    第六十九条の三十　都道府県知事は、試験事務の適正な実施を確保するため必要があると認めるときは、指定試験実施機関に対し、試験事務の状況に関し必要な報告を求め、又は当該職員に関係者に対して質問させ、若しくは指定試験実施機関の事務所に立ち入り、その設備若しくは帳簿書類その他の物件を検査させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 64-2 With regard to the application of the provisions of Article 58, an Accredited Certification Body's testing laboratory (limited to laboratories which are entered in the Directory of Certification Body pursuant to the provisions of Item 5 of Paragraph 2 of Article 27) shall be deemed to have been Accredited pursuant to the provisions of Paragraph 1 of Article 57 for the Division of the Testing Method as entered in the Directory of Certification Body pursuant to provisions of said item,.
    第六十四条の二　登録認証機関は、第五十八条の規定の適用については、国内にあるその試験所（第二十七条第二項第五号の規定により認証機関登録簿に記載された試験所に限る。）について、同号の規定により認証機関登録簿に記載された試験方法の区分に係る第五十七条第一項の登録を受けたものとみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a semiconductor integrated circuit device which can accurately correct skew at a DUT end, enabling complete skew for calibrating an input signal/output signal to all pins to be skew calibrated of a DUT and further confirm the timing accuracy of the input signal from a semiconductor testing unit, in a state in which the integrated circuit device is actually tested by the testing unit.
    ＤＵＴ端でのスキューを正確に補正可能とし、ＤＵＴのスキュー・キャリブレーション実施対象となる全ピンに対して入力信号／出力信号ともに完全なスキュー・キャリブレーションを可能とし、更に実際に半導体試験装置でテストをしている状態で半導体試験装置からの入力信号のタイミング精度の確認も可能とする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
  • If, on such testing the difference between the average count or length and the described count or length is in excess of the variation permitted in the notification issued by the Central Government under section 121 of the Act, the importer or any other person having any claim to or in relation to, goods in question or otherwise interested may apply for a further testing.
    当該試験に基づいて，平均番手又は長さと表示された番手又は長さとの間の差異が第121条に基づいて中央政府が公布した告示における許容偏差を超過したときは，輸入業者又はその他当該商品に対して若しくはそれに関係して何らかの権利主張を有し若しくは他の利害関係を有する者は，更なる試験を申請することができる。 - 特許庁
  • A RF chip is provided with a testing circuit to which signals output from a lower-noise amplifier that amplifies and outputs modulation signals output from a semiconductor device are supplied and to which signals input to an amplifier that outputs the modulation signals processed by orthogonal demodulation after amplified by the low-noise amplifier to the transmission channel of a substrate for the semiconductor testing device are supplied.
    半導体試験装置より出力された変調信号を増幅して出力する低雑音増幅器より出力される信号が供給されるとともに、低雑音増幅器により増幅された後に直交復調処理された変調信号を半導体試験装置用基板の伝送路に対して出力する増幅器に入力される信号が供給される試験回路をＲＦチップに備える。 - 特許庁
  • The X community has found many other noveluses for Xvfb, including testing clients against unusual depths and screenconfigurations, doing batch processing with Xvfb as a background rendering engine, load testing, as an aid to porting the X server to a new platform,and providing an unobtrusive way to run applications that don't really need an X server but insist on having one anyway.
    しかし、X のコミュニティにおいて Xvfb の新しい使用法が数多く考えられた。 これは、普通は使われない深さやスクリーンの設定におけるクライアントのテストや、Xvfb をバックグラウンドのレンダリングエンジンとして使うバッチ処理、X サーバを新しいプラットフォームへ移植するための補助、実際には X サーバを使用しないが、それにもかかわらず X サーバが必要とするアプリケーションを実行するための邪魔にならない方法の提供などである。 - XFree86
  • Also, a medium 62 for test being the same as the slave 2 is supplied and adhered closely for the master carrier 3 held at the prescribed position, magnetic transfer is performed for the medium 62 for test, and a supply position of the slave 2 is verified by testing a transfer position of a transfer pattern in a magnetically transferred medium 62' by the transfer position test means 66.
    また、所定位置に保持されたマスター担体３に対してスレーブ媒体２と同一の検査用媒体６２を供給密着させて、該検査用媒体６２に磁気転写を行い、磁気転写がなされた検査用媒体６２’における転写パターンの転写位置を転写位置検査手段６６により検査することによりスレーブ媒体２の供給位置を検証する。 - 特許庁
  • A session tracking application includes monitoring means for monitoring activity on the associated interactive session, testing means for determining whether monitored activity includes an unload event, termination means for terminating the associated interactive session upon a determination of a selected unload event and notification means for notifying the associated web server to close out the interactive session.
    セッション・トラッキング・アプリケーションは、関連する対話セッション上でのアクティビティをモニタするモニタ手段と、前記モニタされたアクティビティがアンロード・イベントを有するかどうかを判定するテスト手段と、選択されたアンロード・イベントの判定に応じて前記関連する対話セッションを終了する終了手段と、前記対話セッションを終了するよう関連するウェブ・サーバに通知する通知手段とを有している。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory having a transfer system for transferring data synchronized with both edges of the leading and trailing of an outside clock signal, and yet easily being tested and evaluated by a conventional memory testing device with respect to SDRM for writing/reading data synchronously with the outside clock signal and a method for controlling the SDRAM and to provide a control method for the semiconductor memory.
    本発明は、外部クロック信号に同期してデータの書き込み／読み出しを行うＳＤＲＡＭ及びその制御方法に関し、外部クロック信号の立ち上がりと立ち下がりの両エッジに同期してデータを転送する転送方式を有しながら、従来のメモリ試験装置で容易に試験、評価ができる半導体記憶装置及びその制御方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The apparatus for testing a data storage apparatus is provided with a storage part for storing original data, a data generation part for generating transfer data of a size larger than that of the original data by repeatedly using the original data in response to one command to the data storage apparatus, and a transfer part for transferring the generated transfer data to the data storage apparatus.
    オリジナル・データを格納する格納部と、データ記憶装置への一つのコマンドに対応して、前記オリジナル・データを繰り返し使用することによって、前記オリジナル・データのデータ・サイズよりも大きいデータ・サイズの転送データを生成するデータ生成部と、前記生成された転送データをデータ記憶装置に向けて転送する転送部と、を備えるデータ記憶装置の試験装置。 - 特許庁
  • This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.
    テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁
  • This method for detecting the gene comprises a gene-amplifying step of carrying out a PCR by using an extract of a sample extracted from the testing sample according to a polynucleotide extraction method, and a primer for detecting the gene and for amplifying the target base sequence, and a gene-detecting step for detecting the PCR product obtained at the step by the DNA microarray.
    遺伝子検出方法は、ポリヌクレオチド抽出法に従って検査試料より抽出された試料抽出物及び目的とする塩基配列を増幅するための遺伝子検出用プライマーを用いてＰＣＲ反応を行う遺伝子増幅工程と、その工程で得られたＰＣＲ反応物をＤＮＡマイクロアレイにより検出する遺伝子検出工程とからなる。 - 特許庁
  • The test kit shown in Figure 1, which is a test kit used for the lateral flow type membrane assay method, is equipped with a test container 1 for containing samples; a testing implement 4 for membrane assays which is used by inserting from an end side 4a into the test container 1; and an analyte processing vessel 14 containing analyte processing liquid 15 for preparing measuring sample by blending with analyte.
    図１に示される試験キットは、ラテラルフロー式メンブレンアッセイ法に用いられる試験キットであって、試料を収容するための試験容器１と、一端側４ａから試験容器１に挿入されて用いられるメンブレンアッセイ用試験具４と、検体と混合することによって測定試料を調製するための検体処理液１５を収容した検体処理容器１４とを備える。 - 特許庁
  • This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.
    本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁
  • The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.
    被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。 - 特許庁
  • The reactors are classified into five types: reactors for purpose of power generation, reactors to be installed in ships, reactors for purpose of testing and research, reactors for purpose of power generation and at a stage of research and development, and reactors at a stage of research and development other than those for purpose of power generation.Competent ministers who issue the license have been determined depending on each reactor type.
    原子炉は、発電の用に供する原子炉、船舶に設置する原子炉、試験研究の用に供する原子炉、発電の用に供する原子炉であって研究開発段階にある原子炉、発電の用に供する原子炉以外の研究開発段階にある原子炉の5つに区分されており、それぞれに許可を与えることができる主務大臣が定められている。 - 経済産業省
  • The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.
    本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁
  • This method for validating a virus deactivating process is characterized by comprising the steps of treating virally contaminated blood components by the virus deactivating process, adding virus host cells to the thus treated blood components, filtering the resultant blood components for removing the virus host cells, and testing the virus host cells for viral contamination.
    ウイルス汚染した血液成分をウイルス不活性化工程によって処理する段階と、該血液成分にウイルスホスト細胞を加える段階と、ウイルスホスト細胞を取り除くために該血液成分をフィルターで濾過する段階と、そしてウイルス汚染について該ウイルスホスト細胞を試験する段階とからなることを特徴とするウイルス不活性工程をバリデートするための方法。 - 特許庁
  • This molten aluminum container for a pinhole test used in a pinhole testing machine for determining easily hydrogen gas in the molten aluminum is provided with a container main body 21 made of stainless steel, and a step difference 22 provided in a sidewall of the container main body 21, and for storing the molten aluminum of a fixed amount in the container main body 21.
    アルミニウム溶湯中の水素ガスを簡易に判定するピンホール試験機に使用されるピンホール試験用アルミ溶湯容器であって、ステンレス製の容器本体２１と、この容器本体２１の側壁に設けられ，容器本体２１に一定量のアルミニウム溶湯を収容するための段差２２とを具備することを特徴とするピンホール試験用アルミ溶湯容器。 - 特許庁
  • The image display device comprises a program ROM 414 for storing an image control program CP for displaying images based on image data and a test program TP for testing whether the image display device is normally operated or not independently; and a control part capable of executing the image control program CP and the test program TP.
    画像表示装置は、画像データに基づく画像を表示するための画像制御プログラムＣＰと、画像表示装置が正常に動作するか否かを検査するための検査プログラムＴＰとを互いに独立した状態で格納したプログラムＲＯＭ４１４と、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰを実行可能な制御部とを備える。 - 特許庁
  • To allow for elimination of a possibility of causing a design error resulting from multiple registration of information or lack of quantitative information, and also allow for elimination of a possibility of causing a bad effect on design by allowing for testing in consideration of connection information and layer information required in actual electrical design.
    情報の多重登録や定量的情報の欠如に起因する設計ミスを生じさせる恐れを排除することができるようにするとともに、実際の電気設計において必要な接続情報や層情報を考慮した検証を行うことを可能にして設計に弊害を生じさせる恐れを排除することができるようにする。 - 特許庁
  • To obtain a hydrogel utilizable for various kinds of cosmetics, medicines, etc., and comprising a derivative of hydrophobic group-containing polysaccharides, to obtain a composition for the hydrogel used for producing the hydrogel, to obtain a cosmetic and a skin plaster using the hydrogel, to obtain an enzyme stabilizer and a stabilized composition, and to provide a medical tool and a clinical testing equipment having a dried film of the hydrogel.
    各種化粧料、医薬品等に利用可能な、疎水性基含有多糖類誘導体を含有するハイドロゲル、該ハイドロゲルを製造するためのハイドロゲル用組成物、該ハイドロゲルを用いた化粧料及び皮膚貼付材、酵素安定化剤及び安定化組成物、並びに該ハイドロゲルの乾燥被膜を備える医療用具及び臨床検査機器を提供する。 - 特許庁
  • This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.
    本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁
  • The biochip inspection device 2 includes: an image acquiring means 21 for acquiring the image of the biochip based on an imaging signal from an optical testing device 1; an image conversion means 22 for performing the logarithmic scale conversion of the image acquired by the image acquiring means 21; and a display means 23 for displaying the image generated by the image conversion means 22 in a monitor 5.
    バイオチップ検査装置２は、光学検査装置１からの撮像信号に基づいてバイオチップの画像を取得する画像取得手段２１と、画像取得手段２１により取得された画像を対数スケール変換する画像変換手段２２と、画像変換手段２２により生成された画像をモニタ５に表示する表示手段２３と、を備える。 - 特許庁
  • It is also provided with a non-contact system static charge volume detecting part 29 for detecting static charge volumes of an object for deposition by inducing static charges and a control part 27 controlling an ion generating volume per unit time of the ion generating part 14 so as the charge volumes of the object for deposition to be constant, based on testing results of the static charge volume detecting part 29.
    静電圧を誘起して付着対象物の帯電量を検知する非接触式の帯電量検知部２９と、帯電量検知部２９の検知結果に基づいて付着対象物の帯電量が一定となるようにイオン発生部１４の単位時間当たりのイオン発生量を制御する制御部２７を設ける。 - 特許庁
  • For the ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device having a heating resistor on its surface or inside, a protruded part for fitting a semiconductor wafer is formed at its outer rim part, and many convex bodies, contacting with the semiconductor wafer, are formed inside the protruded part.
    その表面または内部に抵抗発熱体が形成された半導体製造・検査装置用セラミック基板であって、その外縁部には、半導体ウエハを嵌合させるための突部が形成され、上記突部の内側には、上記半導体ウエハと接触する多数の凸状体が形成されていることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁
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