「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 113 114 115 116 117 118 119 120 121 .... 135 136 次へ＞- A dicing substrate 30 for test which is used for testing a semiconductor wafer includes: a main body portion 31; thin portions 321 and 322 extending from the main body portion 31 and being relatively thinner than the main body portion; and a bump 33 provided in the thin portions 321 and 322.
半導体ウェハの試験に用いられる試験用個片基板３０は、本体部３１と、本体部３１から延在すると共に、本体部よりも相対的に薄い薄肉部３２１，３２２と、薄肉部３２１，３２２に設けられたバンプ３３と、を備えている。 - 特許庁 - The testing device includes a hydrophobic face 18 for keeping the contact face between the droplet 36 of the sample solution and the surface of the plate 12 in the specific sector 16, and a shaking device 34 for changing the shape of the droplet 36 of the sample solution which is dripped into the specific sector 16.
検査装置には、サンプル液の液滴３６とプレート１２の表面との接触面を特定領域１６内に保つ疎水面１８と、特定領域１６内に滴下されたサンプル液の液滴３６を変形させるための加振装置３４を備える。 - 特許庁 - The apparatus for measuring exhaust gas particles is provided with a gas extracting device 36 capable of testing an internal combustion engine 16 in a transient state and certifying it, and includes a partial-flow dilution tunnel 38, mass flow rate sub controllers 80 and 60, and an air flow control device 110 for transient dilution.
過渡的状態下で内燃機関１６を試験し、証明できるガス抽出装置３６が提供され、部分流ダイリューショントンネル３８、主および従質量流量コントローラ８０、６０、および過渡的希釈用空気流制御装置１１０を含む。 - 特許庁 - In the filter holder 6, the inner diameter of a gas flow passage is gradually increased from the upstream side to the downstream and is throttled to a small diameter near the downstream for generating turbulence in the high-temperature gas flow, and at least a filter 81 for testing is set to the region where the turbulence cannot be extinguished.
フィルタホルダ６では、上流から下流にかけてガス流通路の内径を順次大きくし下流近傍で小径に絞って高温ガス流に乱流を起こし、その乱流の消滅しない領域に少なくとも前記試験用フィルタ８１をセットする。 - 特許庁 - A material test is performed using a material testing machine 1 equipped with a load/displacement measuring means for applying load to a test piece 2 to measure the load and displacement of the test piece 2 and a continuity detection means for detecting the presence of continuity and the test piece 2 having a thin film pattern formed thereto.
試験片２に荷重を加えてその荷重、変位を測定する荷重／変位測定手段と導通の有無を検知する導通検知手段を備えた材料試験装置１と薄膜パターンが形成された試験片２を用いて材料試験を行う。 - 特許庁 - In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.
トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁 - To provide a forming method and forming device of an elastic-body break surface for rapidly and surely forming a desired broken-out surface suitable for analysis on an elastic body serving as a testing object, without requiring worker skills, and to provide an analysis method of the elastic body.
作業者の熟練を必要とせずに、試験対象となる弾性体に対して分析に適した所望の破断面を迅速かつ確実に形成することができる、弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a circuit for testing cores for which requires fewer development man-hours the rise of cost is suppressed, and which easily copes with version-up of the core by the updating an instruction set held by an instruction memory inside a core without adding the correction to the inside of a core.
開発工数が少なくて済み、コストを抑えることができるとともに、コア内部に修正を加える必要がなく、コア内部の命令メモリが保持する命令セットを更新してコアのバージョンアップを行う際の対処が容易であるコアテスト回路を提供する。 - 特許庁 - Thereby, since all the processes to be performed up to the bump formation can be implemented in a fab line, the problems of contamination etc. will not occur; and tests for electrical characteristics can be preformed, using inexpensive probe cards by using the bumps for testing as test objects.
これにより、バンプ形成までの全ての過程がファブライン（ｆａｂ ｌｉｎｅ）で成されるため、汚染などの問題が発生せず、テスト用バンプをテスト対象にすることによって、低廉なテスト用プローブカードを用いて電気的な特性テストを遂行することができる。 - 特許庁 - A device for testing the thermal fatigue crack development includes a heating furnace capable of covering and heating the whole test body relative to a circular test body, a cooling pipe bonded to the test body, and a coolant sending mechanism for circulating a coolant into the cooling pipe.
環状の試験体に対して、その試験体の全体を覆って加熱可能な加熱炉と、 前記試験体と結合される冷却用パイプと、 その冷却用パイプのパイプ内に冷媒を流す冷媒送流機構とを備える熱疲労き裂進展試験装置である。 - 特許庁 - The marking device is mounted on an apparatus for testing the painted surface of the vehicle, which has a CCD camera 6 for scanning / photographing the outside painted surface of the vehicle and an image processing device 8 automatically detecting a microdefects generated in the painted surface from photographed signals.
マーキング装置は、車両外面の車両塗面を撮像走査するＣＣＤカメラ６と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知する画像処理装置８とを備えた車両塗面検査装置に付属する。 - 特許庁 - The drainage testing device is provided with: a power supply part (2) for driving a drain pump based on the power voltage; and an information part (3) for informing the operation of a float switch (11) by being connected to the float switch (11) detecting the level of the drain in the drain pan of the indoor unit.
前記電源電圧に基づいて前記ドレンポンプを駆動させる電源供給部（２）と、前記室内機のドレンパン内のドレン水位を検知するフロートスイッチ（１１）と接続されることにより当該フロートスイッチ（１１）の作動を知らせる報知部（３）とを備えている。 - 特許庁 - The apparatus for testing the model structure, for example, measures a variation in pressure occurring when the model mobile object 1 passes through the model structure 2 and also measures a stream of air occurring at the aperture 2e when the model mobile object 1 passes through the model structure 2.
試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁 - The testing system includes a functional block 31 for monitoring the fluctuations in the power supply voltage, in the internal region of the semiconductor device, and a control timing adjusting function for adjusting the control timing of a load current-correcting means 15, based on the fluctuation monitored by the block.
半導体装置内部領域の電源電圧変動をモニタするための機能ブロック３１と、機能ブロックによりモニタした電源電圧変動に基づいて負荷電流補正手段１５を制御するタイミングを調整する制御タイミング調整機能とを有する。 - 特許庁 - An abrasion testing device is equipped with a heater for heating the lens, an abutting part abutting on one surface of the heated lens, and a displacement mechanism for displacing at least either of the lens and the abutting part to the other side so that the abutting part rubs one surface.
擦傷試験装置が、レンズを加熱するヒータと、加熱された前記レンズの一面に当接する当接部と、前記当接部が前記一面を擦るように、前記レンズおよび前記当接部の少なくとも一方を他方に対して変位させる変位機構と、を備えている。 - 特許庁 - To make exactly measurable the thermal resistance between pellet cases of a test piece during impressing a thermal stress to the test piece consisting of a semiconductor for electric power in the case of testing durability of the semiconductor for electric power against thermal stress.
電力用半導体の熱ストレスに対する耐久性を調べる熱ストレス試験装置において、電力用半導体から成るテストピースＴＰへの熱ストレス印加時におけるテストピースＴＰのペレット・ケース間の熱抵抗を正確に測定できるようにする。 - 特許庁 - In the semiconductor storage device 101, in addition to a BIST circuit 103 for testing a memory, a RA circuit 104 is incorporated to obtain a saving solution for replacing a defective cell by a redundant circuit based on a test result (fail data) obtained by the BIST circuit 103.
半導体記憶装置１０１内に、メモリをテストするＢＩＳＴ回路１０３の他に、ＢＩＳＴ回路１０３が求めたテスト結果（フェイルデータ）に基づいて不良セルを冗長回路に置き換える救済解を求めるＲＡ回路１０４を内蔵する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for analyzing failures and a program for analyzing failures to systematically fix a quantity of the degree of suspicion using a doubtful failure list detected by a light-emitting analysis and OBIRCH analysis and a suspected failure list narrowed down by testing.
発光解析やOBIRCH解析で検出した被擬故障リストや、テスティングによって絞り込んだ被擬故障リストを用いて、その疑わしさの度合いを体系的に定量化する不良解析方法及びそのシステム並びにその不良解析プログラムを提供することにある。 - 特許庁 - To provide an adaptor for pressure-resistant expansion test of a compact high- pressure gas container and a pressure-resistant expansion test method for automating a testing device by achieving continuous inspection without any restrictions to the outer diameter and height of the high-pressure gas container.
高圧ガス容器の外径と高さに制約条件が付加されずに連続検査を可能とし、試験装置の自動化をはかることができる小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The test machine is provided with a moving member guiding means 8 for keeping the attitude of the moving member 7, wherein the moving member guide means 8 is inhibiting an attitude change while allowing the positional change of the moving member 7 which is provided with the engaging part 6 for connecting with the operation lever 5 of the testing object 2 and a cam plate mounting part 4.
試験対象物２の操作レバー５に接続する係合部６とカム板取付部４とを備えた移動部材７の位置変化を許容して姿勢変化を禁止する移動部材ガイド手段８を設け、移動部材７の姿勢を保持する。 - 特許庁 - To provide a biaxial tensile testing device capable of tensile test in four directions along two axes intersecting with each other at right angles by a monoaxial tensile testing machine, performing its tensile motions synchronously in the four direction, and eliminating the need for complicated alignment along the four directions of the two axes as in a mechanism using four oil hydraulic cylinders.
単軸の引張試験機によって直交する二軸に沿った四方向への引っ張り試験が可能となり、かつその引っ張り動作を四方向について互いに同期させて行うことができるとともに、従来のような、４台の油圧シリンダを用いた機構のように二軸の四方向に沿う面倒な軸合わせが不要となる二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁 - This composite panel 10 is provided with four testing pad parts 10a, having the plurality of testing pads 101, a rigid substrate part 10b having a die pad 11 mounted with a semiconductor chip 12, a flexible substrate part 10c for connecting the rigid substrate part 10b to the rigid substrate part 10b, and four triangular bonding pads 10d provided in an inner end of a wiring pattern 103.
複合基板１０は、複数のテストパッド１０１を有する４つのテストパッド部１０ａ、半導体チップ１２が搭載されるダイパッド１１を有するリジット基板部１０ｂ、リジット基板部１０ｂとリジット基板部１０ｂを接続するフレキシブル基板部１０ｃ、及び配線パターン１０３の内側端に設けられた４つの三角形状のボンディングパッド１０ｄを備えている。 - 特許庁 - In this vibration control device for controlling vibration of this vibration testing machine by outputting a vibration control signal, a vibration analog signal of the vibration testing machine is converted digitally, and then a signal having the same frequency as the vibration control signal is extracted from the digital vibration signal by using a digital filter, and the second vibration control signal is generated based on the extracted digital vibration signal.
振動制御信号を出力して振動試験機の振動を制御する振動制御装置において、振動試験機の振動アナログ信号をデジタル変換した後、当該デジタル振動信号から前記振動制御信号と同一の周波数の信号をデジタルフィルタを用いて抽出し、抽出したデジタル振動信号にもとづいて第２の振動制御信号を生成する。 - 特許庁 - To provide a simple and efficient method for measuring the size of coke cake particles and the number of cracks on coke cakes in a coal dry distillation testing furnace, by measuring directly the surface profile without decomposition of coke cakes derived from the coal dry distillation testing furnace to thereby determine the number of cracks on the coal cakes and additionally to determine the coke particle diameter from the number of cracks.
石炭乾留試験炉でのコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の測定を、石炭乾留試験炉で乾留して得られたコークスケーキを解体せずに直接その表面形状を測定することによりコークスケーキの亀裂数を求め、さらにこの亀裂数からコークス粒径を求めるコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の簡易且つ効率的な測定方法を提供する。 - 特許庁 - The IgG and the transferrin in the urine and the IgG and the transferrin in the blood are quantitatively determine using testing paper pieces of the immunochromatography, and are measured by one-measuring operations respectively, using the testing paper pieces same respectively, and the ratio of the ratios thereof is calculated to determine the start of the adrenal cortical hormone therapy for the neophrotic syndrome, based on the numeral value obtained therein.
尿中のＩｇＧとトランスフェリンの定量および血液中のＩｇＧとトランスフェリンの定量をイムノクロマト法の試験紙片を用いて行ない、それぞれ同じ仕様の試験紙片を使い、それぞれ１回の測定操作で測定出来、その測定結果の比の比を算出しその数値によって、ネフローゼ症候群に副腎皮質ホルモン治療をするかどうかを決められるようにする。 - 特許庁 - To remarkably shorten a time required for an Iddq test compared with the conventional art, only by adding a simple circuit to a semiconductor testing device, to reduce a using time of the expensive semiconductor testing device to conduct a delivery test economically, and to reduce a cost, in the delivery test of a semiconductor integrated circuit wherein OFF leaks are frequently observed.
ＯＦＦリークの多い半導体集積回路の出荷試験において、半導体試験装置に簡易な回路を付加するのみで、Ｉｄｄｑ試験に要する時間を従来より大幅に短縮でき、高価な半導体試験装置の使用時間を低減できて、試験を経済的に実施することができ、コストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an elastic wave sensing device which can detect Arm Electronics (AE) generated from a testing object of outdoor ground by installing optical fibers in the testing object or, for the tesing object preserving liquid, directly immersing it in the liquid, while reducing any affect from extraneous noise to enhance accuracy in detection of AE and also safely achieving integrity test of a combustibles storage container.
光ファイバを屋外地上の被検査対象物に設置したり、液体を貯蔵する被検査対象物には液体中に直接浸漬して、被検査対象物から発生するＡＥを検出すると共に、外来ノイズの影響を低減してＡＥの検出精度高め、且つ可燃物貯蔵容器の健全性検査を安全に行うことが可能な弾性波検出装置を提供する。 - 特許庁 - As a result, even if a conventional testing device 12 for digital and analog circuit is used instead of an expensive testing device which can output a high frequency signal, the high frequency signal characteristics in a wafer stage is tested, to reduce the generation of defective products in the examination after a package assembly, and to suppress and lower the inspection cost occupied in the manufacturing cost.
その結果、高周波信号を出力可能な高価な試験装置を用いずに従来のデジタルおよびアナログ回路用の試験装置１２を用いたとしても、ウエハ段階での高周波信号特性の試験を行うことが可能となり、パッケージ組み立て後の試験における不合格品の発生を減らすことが可能となり、製造コストに占める検査のコストを低く抑えることができる。 - 特許庁 - To provide a device and a method for test analysis that can automatically find out an optical testing condition to identify a cause of failure, even if a plurality of causes of failure coexist and are provided with new quantitative means and method that are hard to be affected by correlation between testing conditions and failure density and skill of an analyst.
複数の不良原因が混在している場合でも、不良原因を識別するのに最適な検査条件を自動的に求めることができ、更に検査条件と不良密度との相関に加え、解析者の熟練度に影響を受けにくい新しい定量的な不良原因の識別手段及び方法を備えた検査解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - This testing method comprises calculating the shape characteristic of the solder paste from the image data of the fillet forming spot by use of the above testing device, and measuring the time required until the shape characteristic is laid in a prescribed stable state from the time of starting the melting of the solder paste or the time of reaching substantially the same temperature as the liquid phase line temperature for the solder paste.
試験方法は、上記試験装置を用い、フィレット形成個所の画像データよりはんだペーストの形状特性を算出し、はんだペーストが溶融し始めた時点、または前記はんだペーストについての液相線温度と実質的に同一の温度に到達した時点から、前記形状特性が所定の安定状態に至るまでに要する時間を測定する。 - 特許庁 - This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.
運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、１台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁 - Based in Tokyo’s Chiyoda City, with a workforce of 97 and capital of ¥100 million, Oriental Giken Inc. is an enterprise which originally manufactured and sold testing and measuring equipment for research and experimentation in the fields of science, medicine and biotechnology. However, because it faced a price war only with its previous line of business, it redirected its core business to a previously unknown area; the consultation and planning of equipment with the appropriate specifications for laboratories and other testing facilities.
東京都千代田区のオリエンタル技研工業株式会社（従業員97名、資本金1億円）は、従来は、科学・医薬分野、バイオテクノロジー分野等における研究・実験用の設備・機器の製造・販売を行っていたが、それだけでは価格の勝負になることから、研究室や実験室に最適な仕様を有する設備に関するコンサルティングやプラニングという、これまでにない事業領域へとコア事業を転換させた企業である。 - 経済産業省 - An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.
本発明に係るＥＳＤ試験装置１は、耐性試験用の静電気放電を発生させるＥＳＤ発生手段１１と、静電気放電の波形特性を測定するＥＳＤ波形測定手段２１，２２と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ２３と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段１６とを備える。 - 特許庁 - (2) Claims to a remuneration for the use of an invention as well as claims for the reimbursement of reasonable costs related to the preparation of drawings, models or prototypes, remuneration for initiative participation in the preparation, testing or introduction of the invention and claims for remuneration for pointing out the possibility of using an invention which originated before this Act has come into force, shall be settled pursuant to the prior regulations.
(2) 発明実施の対価についての請求，発明に関する図面，ひな形又は原型の作成に係る合理的な費用の補償請求，発明の創作，テスト又は導入への主導的参加に対する報酬，及び発明実施の可能性の指摘に対する報酬の請求で本法の施行前に生じているものは，従前の規則に従って決定される。 - 特許庁 - The testing apparatus has a storage tank for storing a liquid, a liquid sending pump for sending the liquid from the storage tank, a production part for producing chlorine in the liquid, a defoaming part for removing air bubbles, an observation cell can seal the marine organisms, and a removing part for removing chlorine from the liquid passing through the observation cell.
試験装置は、液体を貯留する貯留タンクと、貯留タンクから液体を送液する送液ポンプと、液体に塩素を発生させる発生部と、気泡を除去する脱泡部と、海生生物を封入できる観察セルと、観察セルを通過した液体から塩素を除去する除去部とを備え、貯留タンクは、除去部において塩素が除去された液体を貯留する。 - 特許庁 - To provide a following method for creating a requirement description of an embedded system, namely a method for enabling any user to uniquely recognize what is a concrete requirement being processed according to the requirement description and for creating a requirement description suited for automatically creating a unique test for testing the embedded system from the described requirement.
本発明の課題は、組み込みシステムの要求記述を作成する次のような方法、すなわち、要求記述によってどのユーザでも、処理されている具体的な要求が何であるかを一義的に認識することができ、かつ、記述された要求から、組み込みシステムをテストするための一義的なテストを自動生成するのに適した要求記述を作成する方法を提供することである。 - 特許庁 - The invention relates to: a method for sterilizing the envelope made of film for holding articles, foods, cosmetics, medical implants, medical plasters, medical auxiliaries, microbiological tools or a pharmaceutical active substance formulation; a method for testing the leaktightness of the envelope made of film sterilized by electron radiation or gamma radiation; and the envelope made of film for use in the methods.
物品、食品、化粧品、医療移植片、医療用石膏、医療用補助器具、微生物学的道具又は医薬活性物質製剤を保持するためのフィルム容器を滅菌する方法、電子放射線或いはガンマ放射線によって滅菌されたフィルム容器の耐漏えい性を試験する方法、及びこれらの方法に用いられるフィルム容器を用いる。 - 特許庁 - This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.
テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁 - The operation management server is provided with: a first processing means for performing processing to prepare the site of the portable terminal; a second processing means for executing a test by connecting to a predetermined authority concerned for testing the prepared site; and a third processing means for notifying the application server so as to publicly opening the site matched with a test by the second processing means on the network.
運用管理サーバは、携帯端末のサイトを作成する処理を行なう第１処理手段と、作成されたサイトをテストするための所定の関係先に接続してテストを実施する第２処理手段と、第２処理手段によるテストに適合したサイトをネットワーク上へ公開するために、アプリケーションサーバに通知する第３処理手段と、を有する。 - 特許庁 - This tackiness testing device 10A for prepreg to be used is equipped with a pedestal 12 where a sheet-shaped prepreg is placed, an indenter 17 for pressure-contact applied vertically to the placed prepreg, and a load measuring means for measuring the load required for starting relative movement when the prepreg and the pedestal 12 are relatively moved mutually in the contact state.
シート状のプリプレグが載置される台座１２と、載置された前記プリプレグに対して垂直に圧接する圧子１７と、前記プリプレグと台座１２とが接触したまま互いに相対移動する際に、該相対移動の開始に要する荷重を測定する荷重測定手段とを具備するプリプレグの粘着性試験装置１０Ａを使用する。 - 特許庁 - The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.
半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁 - The testing system 1 is provided with: an acceleration adding part 12 for adding regularly changing acceleration to a device to be tested 2; a voltage measuring part 13 for measuring a voltage value outputted from the device to be tested 2; and an arithmetic processing part 14 for performing arithmetic processing for computing a characteristic value corresponding to the measured voltage.
本発明の試験装置１は、被試験デバイス２に対して規則的に変化する加速度を付与する加速度付与部１２と、被試験デバイス２から出力される電圧値を測定する電圧測定部１３と、測定した電圧値に対応する特性値を算出するための演算処理を行う演算処理部１４とを備えている。 - 特許庁 - The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.
本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁 - The use of these animals as a tool for assessing GLYT1 function and as a model for studying the enhancing effects on synaptic NMDA receptor function and for studying the susceptibility to compounds inducing psychosis behavior is provided, and methods for evaluating the in vivo effects of GLYT1 function and for testing GLYT1 inhibitors as for effects other than GLYT1-specific effects are also provided.
本発明はまた、GLYT1機能を評価するための手段としての、およびシナプスNMDA受容体機能を増強する効果を研究するためのモデルとしての、および精神病的行動を誘発する化合物に対する感受性を研究するためのモデルとしてのこれらの動物の使用に関し、かつGLYT1機能のインビボ効果を評価するため、および、GLYT1特異的効果以外の効果に関してGLYT1阻害剤を試験するための方法にも関する。 - 特許庁 - The tensile testing machine 1 comprises a measuring mechanism 6 for measuring the state of the test strip 2 held by the holding jig 322; a holding unit 32 for housing the test strip 2, along with the holding jig 322; and a moving mechanism 12 for moving the holding unit 32 in a plane perpendicular to the direction, inside which the irradiation with the electromagnetic wave M is carried out.
引張試験装置１は、把持治具３２２に保持された試験片２の状態を測定する測定機構６と、把持治具３２２とともに試験片２を収容する保持ユニット３２と、保持ユニット３２を電磁波Ｍの照射方向に垂直な面内で移動する移動機構１２とを備えている。 - 特許庁 - In a semiconductor device in which the bonding pads, which are electrodes for bonding an external connecting wire or the bump on a semiconductor chip, are formed by making the bonding pads in the staggered arrangement, the test pads which are applied for contacting the probe at the time of wafer testing are provided in a surplus space for the bonding pads formed by making the bonding pads in the staggered arrangement.
半導体チップ上の外部接続用ワイヤまたはバンプをボンディングする電極であるボンディング用パッドを千鳥状に配列した半導体装置において、ウエハテスト時にプローブを接触させるためのテスト用パッドを、千鳥状に配列されたボンディング用パッドの余剰のスペースに設けたものである。 - 特許庁 - The ozone sterilization testing equipment includes a hollow sterilization container 2, an ozone generator 3 for supplying ozone gas into the sterilization container, an ozone gas monitor 22 for measuring the concentration of ozone in the sterilization container and a CT value control means 21 for integrating the product of the concentration of ozone measured by the ozone gas monitor and predetermined time at each predetermined time.
オゾン滅菌試験装置は、中空の滅菌容器２と、滅菌容器内にオゾンガスを供給するオゾン発生器３と、滅菌容器内のオゾン濃度を計測するオゾンガスモニター２２と、所定時間ごとにその間のオゾンガスモニターが計測したオゾン濃度と所定時間との積を積算するＣＴ値管理手段２１と、を有する。 - 特許庁 - The test system for testing the radio base station apparatus is equipped with: the pseudo MSes simulating cellular phones; a pseudo RNC simulating a base station controller; a means for controlling the pseudo MSes, the pseudo RNC and the radio base station apparatus and acquiring a prescribed measurement result; and a means for analyzing the measurement result.
無線基地局装置を試験する試験システムにおいて、携帯電話機を模擬した擬似ＭＳと、基地局制御装置を模擬した擬似ＲＮＣと、前記擬似ＭＳ、前記擬似ＲＮＣ、及び前記無線基地局装置を制御し、所定の測定結果を取得する手段と、前記測定結果を解析する手段とを備えた。 - 特許庁 - To provide an elution testing method for measuring an elution amount of a component eluted from a steel making slag with a reduced elution time, and for obtaining a measurement result of the elusion amount sufficient to primary decision for a use of a slag product with respect to correlation with an elution test result by an official method and to reproducibility of the measurement result.
製鋼スラグから溶出する成分の溶出量を測定する溶出試験方法において、溶出時間を短縮し、かつ、公定法による溶出試験結果との相関及び測定結果の再現性がスラグ製品の用途の一次決定に利用するのに十分な程度である溶出量の測定結果を得る。 - 特許庁 - The sealability testing device 2 is constituted of a first flange support base 3 for supporting a first flange member F1 on the right-end side of a bonded hard vinyl chloride pipe 1, a second flange support base 4 for supporting a second flange member F2 on the left-end side, and a pipe support base 5 for supporting the bonded hard vinyl chloride pipe 1.
密封性試験装置２は、接合硬質塩化ビニル配管１の右端側の第１のフランジ部材Ｆ１を支持する第１のフランジ支持台３と、左端側の第２のフランジ部材Ｆ２を支持する第２のフランジ支持台４と、接合硬質塩化ビニル配管１を支持する配管支持台５とから構成されている。 - 特許庁
