「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 110 111 112 113 114 115 116 117 118 .... 135 136 次へ＞- To prevent damage due to losses and falls of specimens when a lid is opened by enabling the visual recognition of the spots where the specimens are located in a cassette in a process for preparing the specimens for testing pathological tissues and previously drawing workman's attention.
病理組織検査標本をつくる工程において検体がカセット内のどこにあるかを視認できるようにし、作業者にあらかじめ注意を促すことができるようにして、開蓋時の検体の紛失や落下による損傷を防止する。 - 特許庁 - To provide a device for performing a highly accurate test by suppressing abnormality generation in a torque sensor, in a testing device for performing a test of a prime mover by realizing a state where the prime mover is loaded simulatively on a vehicle by connecting a dynamometer to the prime mover to apply a load torque.
原動機に動力計を連結して負荷トルクを印加し、擬似的に原動機を車両に搭載した状態を実現して原動機の試験を行う試験装置において、トルクセンサの異常発生を抑制して高精度の試験を行う。 - 特許庁 - By this, it is possible to determine the susceptibility of even the functional films, evaluated as of the same hardness (for example, 3H) on the basis of 'pencil scratch values' of the 'testing methods for paints' in JIS (Japanese Industrial Standard) K5400, to flaws on the basis of the sizes of measured projections and recessions.
これにより、ＪＩＳ Ｋ５４００「塗料一般試験方法」の「鉛筆引っ掻き値」に基づき同一の硬度(例えば３Ｈ)と評価された機能性フィルムでも、計測された起伏の大きさの大小によって、傷の付きやすさを判別できる。 - 特許庁 - Each of the semiconductor chips 10 has: an internal circuit 11; a plurality of electrode pads connected to a terminal for inputting and outputting an external device; and testing wirings for connecting this internal circuit 11 to the electrode pads of the other semiconductor chips.
そして、各半導体チップ１０は、内部回路１１と、外部との入出力を行う端子に接続される複数の電極パットと、この内部回路１１と他の半導体チップの電極パットとを接続するテスト用配線とを有することとした。 - 特許庁 - To provide a semiconductor IC contact structure suitable for testing a high frequency characteristic because its signal path is shorter than that of a conventional one, manufacturable at a low cost, and sufficiently applicable for a fine-pitch arrangement solder ball.
従来よりも信号経路が短くて高周波特性の検査に適し、しかも安価に製作することができ、さらに、半田ボールの配列ピッチが微細なものでも十分に対応することができる半導体ＩＣのコンタクト構造を提供する。 - 特許庁 - To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.
イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁 - To provide a new method for testing an agent for treating or preventing various bone metabolism diseases including osteoclasia in osteoporosis and chronic rheumatic arthritis and bone metastasis and osteoclasia of a cancer cell, and to provide a DNA used in the method.
骨粗鬆症、慢性関節リウマチにおける骨破壊、ガン細胞の骨転移と骨破壊等を含むさまざまな骨代謝疾患の治療又は予防剤を試験するための新規な方法及び該方法において用いられるＤＮＡの提供。 - 特許庁 - Several pads 18 for inspection which are electrodes for testing the semiconductor wafer 11 are formed in regions among the semiconductor devices 15 on the semiconductor wafer 11 except the regions under the wires.
半導体ウェハ１１の上における各半導体デバイス１５同士の間の領域であり且つ前記ワイヤの下側となる領域を除く領域には、半導体ウェハ１１のテスト用の電極である複数の検査用パッド１８が形成されている。 - 特許庁 - The receptor may be useful in isolating molecules for the treatment of disorders such as prostate cancer, benign prostatic hyperplasia, osteoporosis or cardiovascular disorders and in the testing of substances for estrogenic and other hormonal effects.
該レセプターは、前立腺癌、良性前立腺過形成、骨粗鬆症、または心臓血管疾患のような疾患の治療のための分子を単離するのに、及びエストロゲンおよび他のホルモン的影響に関して物質をテストするのに有用であり得る。 - 特許庁 - To provide an AFM probe for use in an atomic force microscope (AFM), which is suitable for testing both topographical and mechanical properties of a microstructure having a size on the order of micrometers or nanometers.
本発明は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope；AFM）に用いられるＡＦＭプローブに関し、より詳しくは、マイクロ単位またはナノ単位のサイズを有する微小構造物の形状及び機械的物性試験に共用可能なＡＦＭプローブを提供すること。 - 特許庁 - To provide a device for testing drain-up function of an air conditioner, which can test the drain-up function of the air conditioner before power source construction applied to the air conditioner, and thus can efficiently conduct the relevant test before busy season for interior construction.
空調機に対する電源工事前に当該空調機のドレンアップ機能の試験を行うことができ、よって内装工事の煩雑期前に、効率的に当該試験を行うことが可能となる空調機のドレンアップ機能の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electro-optical device and its test method, and electro-optical equipment, for easily testing an auxiliary wiring line at a low cost, and displaying a clear image for a long period of time without causing faults such as lighting unevenness.
補助配線の検査を簡便かつ低コストにて行うことができ、点灯ムラ等の不具合が生じる虞が無く、鮮明な画像を長時間表示することができる電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器を提供する。 - 特許庁 - A BB memory 7 backed up by a battery 6 on the motherboard 10 is provided to write unique data in the BB memory 7 in a product testing process, and then the contents of an EEPROM 5 for BIOS storage are updated to a product BIOS for shipment.
マザーボード１０上に電池６でバックアップされるＢＢメモリ７を設け、製品の試験工程でこのＢＢメモリ７に固有のデータを書き込み、その後、ＢＩＯＳ格納用のＥＥＰＲＯＭ５の内容を、製品ＢＩＯＳに更新して出荷する。 - 特許庁 - (3) Where an application for approval for product types pursuant to the provisions of Article 18 or of Article 23, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act or an application for authorization for product types pursuant to the provisions of Article 25-3, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act was filed by a person who had passed the testing set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act prior to the enforcement of Article 10, or where such an application was filed by a person who had filed an application for testing for which the provisions then in force are to remain applicable pursuant to the provisions of the preceding paragraph and who had passed said testing, where either of said persons has filed such an application for approval or authorization for such product types by attaching a test certificate therefor within 10 days from the day of having passed said testing, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such an application.
３ 第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項の試験について合格とされた者が第十条の規定の施行の日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請又は前項の規定によりなお従前の例によることとされた試験の申請をした者であって当該試験に合格とされたものがその合格とされた日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請についての処分については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - The duct 10 is connected to a gas supplying pipe 17 and a steam supplying pipe 18, the efficiency of the filter can be tested using various kinds of gas, and the humidity of the gas for testing can be adjusted.
ダクト１０にはガス供給配管１７とスチーム供給配管１８が接続しており、多様な気体をもってフィルターの性能試験を行うことができ、また試験用気体の湿度を調整することができる。 - 特許庁 - To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.
従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁 - As a result, for example, data stored in a ROM area are surely read from the ferroelectric memory having the ROM area in which the data are written beforehand in the testing step or the like of the manufacturing process.
この結果、例えば、製造工程の試験工程等で予めデータが書き込まれるＲＯＭ領域を有する強誘電体メモリにおいて、ＲＯＭ領域に記憶されているデータを確実に読み出すことができる。 - 特許庁 - To provide a general purpose friction and wear testing machine for an artificial joint which can easily test the rubbing and worn states of each artificial joint when the joint is actually used with high accuracy by reproducing the motion made by the joint when the joint is actually used.
現実使用時の各人工関節の動作を再現し、その時に生じる摩擦、摩耗状態の試験を容易かつ高精度に行うことのできる汎用型の人工関節摩擦摩耗試験機を提供する。 - 特許庁 - For that reason, whether the DMA information generated after the initialization which a recording and reproducing device verifies is decoded and processed well can be easily confirmed by using the testing disk having the well-known physical deficiency.
したがって、周知の物理的な欠陥を有するテストディスクを使用して、記録及び再生装置が検証する初期化後に生成されたDMA情報をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認できる。 - 特許庁 - In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.
試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁 - To prevent excessive radiation exposure of a subject by controlling cumulative exposure dose in particular in a system controlling the exposure dose received by the subject for every individual by a radiation testing device.
放射線検査装置によって被検者が被曝した放射線量を、個人ごとに管理するシステムであって、特に、累積被曝線量を管理することによって、被検者に対する過剰な放射線被曝を防止する。 - 特許庁 - In the dummy terminal forming step, dummy terminals for testing which are wider than the terminal 17 is formed with a gap narrower than the gap part 65 mutually kept therebetween by cutting the dummy terminal forming region 64 in the extending direction of the gap portion 65.
ダミー端子形成工程では、ギャップ部６５が延びる方向にダミー端子形成領域６４を切断して互いにギャップ部６５よりも狭い間隙で端子１７よりも幅が広いテスト用ダミー端子を形成する。 - 特許庁 - A sensor 16, a sensor driving means 19, and a controlling means 35 for controlling the sensor driving means 19 are included in a housing unit 31 so that integration and downsizing of the urine testing device can be achieved.
センサ１６とセンサ駆動手段１９と、このセンサ駆動手段１９を制御する制御手段３５を収納ユニット３１に備えることにより、尿検査装置の一元化とともに小形化を図ることができる。 - 特許庁 - The adaptive control system 10 for adaptively controlling a material vibration testing machine 12 is provided with a desired value signal generation part 18, an adaptive digital filter 20 and a filter coefficient adaptation part 30.
材料振動試験機１２を適応制御するための適応制御システム１０は、目標値信号発生部１８と、適応ディジタルフィルタ２０と、実測値信号発生部２２と、フィルタ係数適応部３０とを備える。 - 特許庁 - A testing system is provided, wherein a template for performing an image comparison uses the image as the template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place, and the object under test is compared with it initially.
本発明の検査装置では、画像比較を行うテンプレートを被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像にし、最初に披見物との比較を行うこととした。 - 特許庁 - To provide a card torsion testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.
本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードのねじり試験装置に関する。 - 特許庁 - To provide a measuring method for a tire uniformity in which the setup of a rim width can be changed automatically, which is low-cost and whose maintenance can be enhanced and to provide a tire uniformity testing apparatus used to execute the measuring method.
リム巾自動段取り替えを可能とし、安価でメンテナンスの向上を図ることが出来るタイヤユニフォミティーの測定方法及びその測定方法を実施するためのタイヤユニフォミティー試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an environmental testing device without requiring an exclusive carrying mechanism for delivering a workpiece between a horizontal carrying passage and a vertical carrying passage, even when the vertical carrying passage exists in the middle of the horizontal carrying passage.
水平搬送路の途中に垂直搬送路がある場合でも、水平搬送路と垂直搬送路の間のワークの受け渡しに専用の搬送機構を必要としない環境試験装置を提案すること。 - 特許庁 - To provide a suspension system and a movable load testing vehicle for performing various track characteristic tests and quantitative seizure of the influences of vibration on a track or a ground by making the supporting rigidity of a vehicle body adjustable.
懸架装置及び移動式載荷試験車において、車体の支持剛性を変更可能とすることで多種類の軌道特性試験を実施し、振動が軌道や地盤に及ぼす影響を定量的に把握可能とする。 - 特許庁 - To contemplate miniaturization, thinning and cost reduction on a mounting structure of a semiconductor device socket, for mounting the semicon ductor device socket, where a semiconductor device is mounted, on a testing circuit board.
本発明は半導体装置が装着される半導体装置用ソケットを試験用回路基板に取り付ける半導体装置用ソケットの取付構造に関し、小型薄型化及び低コスト化を図ることを課題とする。 - 特許庁 - This testing piece (10) for checking the components of the prescribed ratios in the dialyzate includes a first medium capable of indicating the concentration of bicarbonate ions and a second medium capable of indicating the concentration of the glucose.
重炭酸イオンの濃度を示すことができる第１の媒体、及びグルコースの濃度を示すことができる第２の媒体を包含する、透析液中の所望の割合の成分を確認するための試験片（１０）。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a rotary balance of a crankshaft which facilitates an automation of a measurement and which can precisely measure the rotary balance of the crankshaft even when an error is included in a phase of a crank pin.
測定の自動化が容易であり、かつクランクピンの位相に誤差が含まれている場合であってもクランク軸の回転バランスを正確に測定可能なクランクバランス試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁 - The specimen testing device is provided with a dispensing mechanism 40 which dispenses the liquid such as the reagent or the like to a plurality of recesses U1, for liquid dispensing, formed on a microplate U and a control part which controls the operation of the dispensing mechanism 40.
マイクロプレートＵに形成された複数の液体分注用凹部Ｕ１に試薬等の液体の分注を行う分注機構４０と、この分注機構４０の動作を制御する制御部とを備える。 - 特許庁 - To provide a method capable of determining the quality of a semiconductor element, even after a sealing resin or the like is formed on a wafer, with regard to a semiconductor device testing method for determining the quality of the semiconductor device.
本発明は半導体手装置の不良品判別を行う半導体装置の試験方法に関し、ウエーハ上に封止樹脂等を形成した後であっても半導体素子の良否判定を行うことを課題とする。 - 特許庁 - To provide a practical high temperature corrosion evaluation method of metallic material capable of evaluating quantitatively the influence of a temperature in the actual atmosphere without increasing a testing cost, and a projection used for the evaluation method.
試験コストを増大させることなく、実際の雰囲気で温度の影響を定量的に評価できる金属材料の実用的な高温腐食評価方法と該評価方法に用いる突起物を提供すること。 - 特許庁 - A testing or verifying device of suspension has a first track section having a first rugged section for displacing the wheel of a vehicle by a first predetermined amount when the wheel overcomes at least a part of the rugged section.
サスペンションの試験あるいは実証装置は、車両の車輪がその少なくとも一部を乗り越えるとき第１の所定量だけ上記車輪を変位させる第１の起伏部を有する第１の軌道セクションを備える。 - 特許庁 - To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.
セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁 - A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.
電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁 - In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.
本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁 - To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.
本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁 - Further, the testing device 1 includes a compact range 12 for reflecting a radio wave from the radio wave generation device 11, converting a radio wave which is a spherical wave into a plane wave, and introducing the plane wave to the antenna B.
さらに、試験装置１は、電波発生装置１１からの電波を反射すると共に球面波である電波を平面波に変換し、平面波をアンテナＢへと導くコンパクトレンジ１２をさらに備えることが望ましい。 - 特許庁 - To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.
隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual function testing apparatus which can perform a plurality of visual function tests necessary for daily life by one apparatus by applying an image providing procedure designed according to the way of viewing (visual characteristics) of a human being.
人間の眼の見え方（視覚特性）に応じて設計された映像提示手法を活用し、日常生活に重要な複数の視機能検査を一台で実行できる視機能検査装置を提供する。 - 特許庁 - To improve a processing performance in assembling and testing processes of a semiconductor device for a fingerprint sensor, by decreasing a mounting area of the semiconductor device, so as to reduce a manufacturing cost and enhance a mounting reliability.
本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。 - 特許庁 - Remaining gas in the test finishing high pressure tank 2 is recovered by a recovering apparatus 13, and, preferably, the test finishing high pressure tank 2 is replaced with a high pressure tank for a test as a next testing object.
試験終了高圧タンク２内における残りのガスを回収器１３により回収し、当該試験終了高圧タンク２を次の試験対象たる供試用高圧タンクと入れ替えることも好ましい。 - 特許庁 - To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.
本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.
広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁 - To provide a compact shaft center adjusting device for a material testing machine that allows a user to easily adjust a position and an angle of a gripper and can be attached without forming through holes on a load frame.
全高を小さくしてもつかみ具の位置および角度を容易に調整することができ、また、負荷枠に貫通孔等を形成することなく取付が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁 - The geological survey equipment 1 is equipped with a penetration rod 3 wherein a sampling section 2 for sampling the ground specimen is provided and a sounding testing screw point 4 put on the front end of the penetration rod 3.
本発明の地質調査装置１は、地盤試料をサンプリングするサンプリング部２が設けられた貫入ロッド３と、該貫入ロッド３の先端に装着されたサウンディング試験用のスクリューポイント４とを備えている。 - 特許庁 - To provide an inexpensive anemometer for a weather/light resistance testing machine capable of measuring wind speed accurately even when a sample is rotated around a light source without disturbing wind passing along the sample surface.
安価で、試料表面を通過する風を乱すことなく、試料が光源の周囲を回転した場合においても、風速を精度良く測定することが可能な、耐候光試験機用の風速計を提供する。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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